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文檔簡介

1、計算機組成原理實驗報告冊課程名稱 計算機組成原理院 別 計算機學院專 業(yè) 計算機技術與應用年 級 2011級學 號 201124131147學生姓名 黎慶強指導教師 蔡文偉學 期 2012-2013學年第1學期實驗一 運算器實驗:算術邏輯運算實驗一、 實驗目的與要求:1、了解運算器的組成結(jié)構;2、掌握算術邏輯運算器的工作原理;3、掌握簡單運算器的數(shù)據(jù)傳送通道;4、驗算由74LS181等組合邏輯組成的運算發(fā)生器的組合功能;二、實驗設備 TDN-CM+計算機組成原理教學實驗系統(tǒng)一臺,排線若干。三、實驗原理圖1 運算器數(shù)據(jù)通路圖實驗中所用的運算器數(shù)據(jù)通路圖如上圖所示。圖中所示的是由兩片 74LS18

2、1 芯片以并/串形式構成的 8 位字長的運算器。右方為低 4 位運算芯片,左方為高 4 位運算芯片。低位芯片的進位輸出端 Cn+4 與高位芯片的進位輸入端 Cn 相連,使低 4 位運算產(chǎn)生的進位送進高 4位運算中。低位芯片的進位輸入端 Cn 可與外來進位相連,高位芯片的進位輸出引至外部。 兩個芯片的控制端 S0S3 和 M 各自相連,其控制電平見下表。 表1 74LS181邏輯功能表為進行雙操作數(shù)運算,運算器的兩個數(shù)據(jù)輸入端分別由兩個數(shù)據(jù)暫存器 DR1、DR2(用鎖存器 74LS273 實現(xiàn))來鎖存數(shù)據(jù)。要將內(nèi)總線上的數(shù)據(jù)鎖存到 DR1 或 DR2 中,則鎖存器74LS273 的控制端 LDD

3、R1 或 LDDR2 須為高電平。當 T4 脈沖來到的時候,總線上的數(shù)據(jù)就被鎖存進 DR1 或 DR2 中了。 為控制運算器向內(nèi)總線上輸出運算結(jié)果,在其輸出端連接了一個三態(tài)門(用 74LS245 實現(xiàn))。若要將運算結(jié)果輸出到總線上,則要將三態(tài)門 74LS245 的控制端 ALU-B 置低電平。否則輸出高阻態(tài)。數(shù)據(jù)輸入單元(實驗板上印有 INPUT DEVICE)用以給出參與運算的數(shù)據(jù)。其中,輸入開關經(jīng)過一個三態(tài)門(74LS245)和內(nèi)總線相連,該三態(tài)門的控制信號為 SW-B,取低電時,開關上的數(shù)據(jù)則通過三態(tài)門而送入內(nèi)總線中??偩€數(shù)據(jù)顯示燈(在 BUS UNIT 單元中)已與內(nèi)總線相連,用來顯示

4、內(nèi)總線上的數(shù)據(jù)。 控制信號中除 T4 為脈沖信號,其它均為電平信號。 由于實驗電路中的時序信號均已連至“W/R UNIT”單元中的相應時序信號引出端,因此,需要將“W/R UNIT”單元中的 T4 接至“STATE UNIT”單元中的微動開關 KK2 的輸出端。在進行實驗時,按動微動開關,即可獲得實驗所需的單脈沖。 S3、S2、 S1、S0 、Cn、M、LDDR1、LDDR2、ALU-B、SW-B 各電平控制信號則使用“SWITCH UNIT”單元中的二進制數(shù)據(jù)開關來模擬,其中 Cn、ALU-B、SW-B 為低電平有效,LDDR1、LDDR2 為高電平有效。 對于單總線數(shù)據(jù)通路,作實驗時就要分

5、時控制總線,即當向 DR1、DR2 工作暫存器打入數(shù)據(jù)時,數(shù)據(jù)開關三態(tài)門打開,這時應保證運算器輸出三態(tài)門關閉;同樣,當運算器輸出結(jié)果至總線時也應保證數(shù)據(jù)輸入三態(tài)門是在關閉狀態(tài)。四、實驗內(nèi)容1、輸入數(shù)據(jù)通過三態(tài)門74LS245后送往數(shù)據(jù)總線,在數(shù)據(jù)顯示燈和數(shù)碼顯示管LED上顯示。2、向DR1(或DR2)中置數(shù),經(jīng)ALU直傳后,經(jīng)過三態(tài)門245送入數(shù)據(jù)總線,在數(shù)據(jù)顯示燈和數(shù)碼顯示管LED上顯示。3、將輸入DR1和DR2中的兩個數(shù)進行算術邏輯運算,驗證ALU的功能,結(jié)果在數(shù)據(jù)顯示燈和數(shù)碼顯示管LED上顯示。五、實驗步驟1按圖 2連接實驗電路并檢查無誤。圖中需要連接的信號線已用小圓圈標明。 圖2 總線

6、數(shù)據(jù)顯示連線圖2開電源開關。 3用輸入開關向暫存器 DR1 置數(shù)65H。 撥動輸入開關形成二進制數(shù)01100101(或其它數(shù)值)。(數(shù)據(jù)顯示燈亮為0,滅為1)。 使 SWITCH UNIT 單元中的開關 SW-B=0(打開數(shù)據(jù)輸入三態(tài)門)、ALU-B=1(關閉ALU輸出三態(tài)門)、LDDR1=1、LDDR2=0。 按動微動開關 KK2,則將二進制數(shù) 01100101 置入 DR1 中。 4用輸入開關向暫存器 DR2 置數(shù)A7H。 撥動輸入開關形成二進制數(shù) 10100111(或其它數(shù)值)。 SW-B=0、ALU-B=1 保持不變,改變 LDDR1、LDDR2,使 LDDR1=0、LDDR2=1。

7、按動微動開關 KK2,則將二進制數(shù) 10100111 置入 DR2 中。 5檢驗 DR1 和 DR2 中存的數(shù)是否正確。 關閉數(shù)據(jù)輸入三態(tài)門(SW-B=1),打開 ALU輸出三態(tài)門(ALU-B=0),并使LDDR1=0、LDDR2=0,關閉寄存器。 置 S3、S2、 S1、S0 、M 為 1 1 1 1 1,總線顯示燈則顯示 DR1 中的數(shù)。 置 S3、S2、 S1、S0 、M 為 1 0 1 0 1,總線顯示燈則顯示 DR2 中的數(shù)。 6改變運算器的功能設置,觀察運算器的輸出。 SW-B=1、ALU-B=0 保持不變。 按表 2-2 置 S3、S2、 S1、S0 、M、Cn 的數(shù)值,并觀察總

8、線顯示燈顯示的結(jié)果。 例如:置 S3、S2、 S1、S0 、M、Cn 為 1 0 0 1 0 1,運算器作加法運算。 置 S3、S2、 S1、S0 、M、Cn 為 0 1 1 0 0 0,運算器作減法運算。 7驗證 74LS181 的算術運算和邏輯運算功能(采用正邏輯) 在給定 DR1=65、DR2=A7 的情況下,改變運算器的功能設置,觀察運算器的輸出,填入表2中,并和理論分析進行比較、驗證。六、實驗結(jié)果DR1DR2S3 S2 S1 S0M=0(算術運算)M=1(邏輯運算)Cn=1無進位Cn=0有進位656565A7A7A70000000100100011010001010110011110

9、001001101010111100110111101111F=(65)F=(E7)F=(7D)F=( FF )F=( A5)F=(27 )F=( BD )F=( 3F )F=( 8A )F=( 0C )F=( A2 )F=( 24 )F=( CA )F=( 4C )F=( E2)F=( 64 )F=(66)F=(E8)F=(7E)F=( 0 0)F=( A6 )F=( 28 )F=( BE )F=( 40 )F=( 8B )F=( 0D )F=( A3 )F=( 25 )F=( CB )F=( 4D )F=( E3 )F=( 65 )F=(9A)F=(18)F=(82)F=( 00 )F=(

10、 DA )F=( 58 )F=( C2 )F=( 40 )F=( BF )F=( 3D )F=( A7 )F=( 25 )F=( FF)F=( 7D )F=( E7 )F=( 65 )七、實驗結(jié)論表2中的實驗結(jié)果與按照表1的邏輯功能理論計算的結(jié)果相同,驗證運算功能發(fā)生器(74LSl81)的組合功能。這說明按照圖1設計的運算器是能夠完成我們要求的功能的,其設計是正確的。八、問題及討論1、檢驗 DR1 和 DR2 中存的數(shù)是否正確時,發(fā)現(xiàn)兩個寄存器都是同一個數(shù)。仔細想了一下,發(fā)現(xiàn)都是存入寄存器DR2的數(shù)A7H。于是判斷應該是因為向DR2打入數(shù)據(jù)時沒有把DR1的控制端LDDR1關閉,導致A7H在存入

11、DR2的同時也存入了DR1,覆蓋了原來的數(shù)65H。九、實驗心得通過本次試驗,我最大的心得就是做實驗前一定要明白實驗的原理,這樣才能夠在實驗中一步一步將實驗的結(jié)果與理論值的對照,當出現(xiàn)問題時才能夠有依據(jù)地進行判斷排錯。實驗中接線要有耐心,不要接錯、接反。經(jīng)過本次試驗我這次做的實驗還算是比較成功的,因為我掌握了算術邏輯運算器單元ALU(74LS181)的工作原理,并熟悉了怎樣輸入輸出數(shù)據(jù)和驗算由74LS181等組合邏輯電路的運算功能發(fā)生器運算功能等實驗步驟和要求.同時也在不知不覺中提高了動手能力和獨立分析思考問題、解決問題的能力。思考題:1.在運算器數(shù)據(jù)通路圖中,DR1,DR2連接到74LS181

12、是為什么要交叉?答:為了讓DR1中數(shù)據(jù)的高四位和DR2中數(shù)據(jù)的高四位輸入到同一塊74SL181中進行運算,與此同時讓DR1中數(shù)據(jù)的低四位和DR2中數(shù)據(jù)的低四位輸入到另一塊74SL181中進行運算;之后兩塊74SL181得到的數(shù)據(jù)就分別為高四位、第四位的和,到達總線的數(shù)據(jù)正好為DR1和DR2中數(shù)據(jù)進行運算后的結(jié)果! 2.兩個4位74LS181是如何構成8位的ALU的?答:本實驗中兩片74LS181(每片4位)以串行方式構成字長為8為的運算器;如圖所示: 3.“+”和“加”的區(qū)別是什么?答:“+”只是一個字符,而“加”代表一種運算,即加法運算。4.數(shù)據(jù)輸入DR1,DR2時控制有何限制? 答:要使數(shù)

13、據(jù)只輸入DR1中,則LDDR1必須置為高電平同時LDDR2要置為低電平,之后再給DR1來一個T4脈沖,讓總線上的數(shù)據(jù)進入DR1上。即要讓數(shù)據(jù)進入哪個數(shù)據(jù)緩沖寄存器就要開啟該寄存器,同時使其他寄存器處于關閉狀態(tài)。5.運算器是如何完成不同的功能的?怎么控制它?答:根據(jù)所要求的功能,寫出其邏輯表達式,之后根據(jù)邏輯表達式運用與門,或門,非門,異或,同或門等邏輯部件畫出電路圖,最后根據(jù)電路圖做出實際電路。74181ALU有兩種工作方式,對正邏輯操作來說,算術運算稱正邏輯操作,對于負邏輯操作數(shù)來說,正好相反。由于S0S3有16種狀態(tài)組合,因此對正邏輯輸入與輸出而言,有16種算術運算功能和16種邏輯算術功能

14、。分別可以通過控制S0S3和M的值來控制運算器的功能。實驗二 運算器實驗:進位控制實驗一、 實驗目的與要求:1驗證帶進位控制的運算器的組成結(jié)構。2驗證帶進位控制的運算器的功能。二、實驗設備 TDN-CM+計算機組成原理教學實驗系統(tǒng)一臺,排線若干。三、實驗原理 圖1 帶進位運算器通路圖進位控制運算器的實驗原理在實驗(1)的基礎上增加進位控制部分,其中181的進位進入一個74鎖存器,其寫入是又T4和AR信號控制,T4是脈沖信號,實驗時將T4連至“STATE UNIT”的微動開關KK2上,AR是電平控制信號(低電平有效),可用實現(xiàn)帶進位控制實驗,而T4脈沖是將本次運算的進位結(jié)果鎖存到進位鎖存器中。圖

15、所示為進位鎖存及其顯示電路。運算器最高位進位輸出Cn+4 連接到一個鎖存器(用74LS74 實現(xiàn))的輸入端D,鎖存器控制端的控制信號AR 必須置為低電平,當T4 脈沖來到時,進位結(jié)果就被鎖存到進位鎖存器中了,發(fā)光二極管這時顯示為“滅”。同時也將本次的進位輸出結(jié)果帶進了下次的運算中,作為下次運算的進位輸入。四、實驗內(nèi)容通過輸入幾組不同的數(shù)據(jù)(一組產(chǎn)生進位,一組不產(chǎn)生進位),完成指定的運算,觀察進位標志和零標志燈的狀態(tài),以及進位對ALU下一步操作的影響。五、實驗步驟1. 按照“進位控制實驗原理圖”,連接實驗電路。 2. 仔細查線無誤后,接通電源。3. 用二進制數(shù)碼開關向DR1和DR2寄存器置數(shù),方

16、法同實驗一。4. 關閉數(shù)據(jù)輸入三態(tài)門(SW-B=1),打開ALU輸出三態(tài)門(ALU-B=0),并使LDDR1=0、LDDR2=0,關閉寄存器打入控制門。 5. 對進位標志清零。實驗板上“SWITCH UNIT”單元中的CLR開關為標志CY、ZI的清零開關,它為零狀態(tài)時是清零狀態(tài),所以將此開關做101操作,即可使標志位清零。 6. 注意:進位標志指示燈CY亮時表示進位標志為“0”,無進位;指示燈CY滅時表示進位標志為“1”,有進位。 7. 驗證帶進位運算及進位鎖存功能,使Cn=1,AR=0,進行帶進位算術運算。8. T4脈沖到來時,將本次運算的進位結(jié)果鎖存到進位鎖存器中。注意觀察進位標志顯示燈C

17、Y。 例如:做加法運算,首先向DR1、DR2置數(shù),然后使ALU-B=0, S3、S2、S1、S0、M狀態(tài)為1、0、0、1、0,此時數(shù)據(jù)總線上顯示的數(shù)據(jù)為DR1加DR2加當前進位標志的和,但這時的進位狀態(tài)位還沒有打入鎖存器中,(它要靠T4節(jié)拍打入的)。這個結(jié)果是否產(chǎn)生進位,則要按動微動開關KK2,若進位標志燈亮,表示無進位;反之,有進位。因為做加法運算時數(shù)據(jù)總線一直顯示的數(shù)據(jù)是DR1+DR2+CY,所以當有進位輸入到進位鎖存器時,總線顯示的數(shù)據(jù)將為加上當前進位鎖存器中鎖存的進位的結(jié)果。六、實驗結(jié)果表2七、實驗結(jié)論表2中的實驗結(jié)果與按照表1的邏輯功能理論計算的結(jié)果相同,驗證帶進位控制的運算器的組成

18、結(jié)構,也驗證帶進位控制的運算器的功能。這說明按照圖1設計的運算器是能夠完成我們要求的功能的,其設計是正確的。八、實驗心得通過本次試驗,我最大的心得就是做實驗前一定要明白實驗的原理,這樣才能夠在實驗中一步一步將實驗的結(jié)果與理論值的對照,當出現(xiàn)問題時才能夠有依據(jù)地進行判斷排錯。實驗中接線要有耐心,不要接錯、接反。經(jīng)過本次試驗我這次做的實驗還算是比較成功的,同時也在不知不覺中提高了動手能力和獨立分析思考問題、解決問題的能力。實驗三 靜態(tài)隨機存儲器實驗一、實驗目的 掌握靜態(tài)隨機儲存器RAM的工作特性和數(shù)據(jù)的讀寫方法 二、實驗設備 TDN-CM+計算機組成原理教學實驗系統(tǒng)一套,導線若干。 三、實驗原理

19、實驗所用的半導體靜態(tài)存儲器電路原理如圖1所示,實驗中的靜態(tài)存儲器由一片6116(2K×8)構成,其數(shù)據(jù)線接至數(shù)據(jù)總線,地址線由地址鎖存器(74LS273)給出。地址燈ADOAD7與地址線相連,顯示地址線內(nèi)容。數(shù)據(jù)開關經(jīng)三態(tài)門(74LS245)連至數(shù)據(jù)總線,分時給出地址和數(shù)據(jù)。 因地址寄存器為8位,接入6116的地址A7-AO,而高三位A8A1O接地,所以其實際容量為256字節(jié)。6116有三個控制線:CE(片選線)、0E(讀線)、WE(寫線)。當片選有效(CE=O)時,OE=O時進行讀操作,WE=0時進行寫操作。本實驗中將0E常接地,因此6116的引腳信號WE=1時進行讀操作, WE=

20、0時進行寫操作。 在此情況下,要對存儲器進行讀操作,必須設置控制端CE=O、WE=O,同時有T3脈沖到來,要對存儲器進行寫操作,必須設置控制端CE=O、WE=1,同時有T3脈沖到來,其讀寫時間與T3脈沖寬度一致。 實驗時將T3脈沖接至實驗板上時序電路模塊的TS3相應插孔中,其脈沖寬度可調(diào),其它電平控制信號由“SWITCH UNIT”單元的二進制開關模擬,其中SW-B為低電平有效,LDAR為高電平有效。 四、實驗內(nèi)容 1. 向存儲器中指定的地址單元輸入數(shù)據(jù),地址先輸入AR寄存器,在地址燈上顯示;再將數(shù)據(jù)送入總線后,存到指定的存儲單元,數(shù)據(jù)在數(shù)據(jù)顯示燈和數(shù)碼顯示管顯示。 2. 從存儲器中指定的地址

21、單元讀出數(shù)據(jù), 地址先輸入AR寄存器,在地址燈顯示; 讀出的數(shù)據(jù)送入總線, 通過數(shù)據(jù)顯示燈和數(shù)碼顯示管顯示。 五、實驗步驟圖2 存儲器實驗接線圖(1) 按圖2連接實驗線路,仔細查線無誤后接通電源(2) 將時序電路模塊中的和H23排針相連。 將時序電路模塊中的二進制開關“STOP”設置為“RUN”狀態(tài)、將“STEP”設置為"STEP"狀態(tài)。 注意:關于stop和step的說明: 將“STOP”開關置為“Run"狀態(tài)、“STEP”開關置為“EXEC”狀態(tài)時,按動微動開關START,則T3輸出為連續(xù)的方波信號,此時調(diào)節(jié)電位器W1,用示波器觀察,使T3輸出實驗要求的脈沖信

22、號。當“STOP”開關置為“RUN”狀態(tài)、“STEP”開關置為"STEP"狀態(tài)時,每按動一次微動開關START,則T3輸出一個單脈沖,其脈沖寬度與連續(xù)方式相同。(3) 向存儲器指定的地址送入數(shù)據(jù),如:向00單元中輸入11, 步驟如下: 向地址寄存器AR中輸入地址00的流程如下:1)操作步驟是,設置:a、SW-B=1; b、從輸入開關輸入00000000; c、打開輸入三態(tài)門:SW-B=0; d、將地址打入地址鎖存器中:LDAR=1,按START發(fā)T3脈沖。 2)觀察地址燈的變化。 輸入要存放的數(shù)據(jù)11的流程如下:)操作步驟是,設置:a、SW-B=1; b、從輸入開關輸入00

23、010001; c、打開輸入三態(tài)門:SW-B=0; d、關閉地址寄存器:LDAR=0; e、將數(shù)據(jù)寫入存儲單元:CE=0,WE=1,按START發(fā)T3脈沖; f、輸入數(shù)據(jù)在數(shù)碼管上顯示:LED-B=0,發(fā)W/R脈沖2)觀察數(shù)據(jù)顯示燈和數(shù)碼顯示管的變化。 按照的步驟繼續(xù)向下面的幾個地址中輸入下述數(shù)據(jù):(4) 從存儲器指定的地址中讀出數(shù)據(jù). 如從00中讀出的流程如下:1)操作步驟是,設置:a、SW-B=1; b、 禁止存儲器讀寫CE=1; c、從輸入開關輸入00000000; d、打開輸入三態(tài)門:SW-B=0; e、將地址打入地址鎖存器中:LDAR=1,按START發(fā)T3脈沖。 f、關閉輸入三態(tài)門

24、:SW-B=0; g、關閉地址寄存器:LDAR=0; h、從存儲器中讀出數(shù)據(jù):CE=0,WE=0; i、數(shù)據(jù)在數(shù)碼管上顯示:LED-B=0,發(fā)W/R脈沖。 2)同樣從其它4個地址: 01 ,02 ,03 , 04中讀出數(shù)據(jù),觀察地址顯示燈, 數(shù)據(jù)顯示燈和數(shù)碼顯示管的變化,并檢查是否和輸入的數(shù)據(jù)一致。六、實驗結(jié)果 步驟3向存儲器指定的地址輸入數(shù)據(jù)結(jié)果:步驟四中,地址顯示燈, 數(shù)據(jù)顯示燈和數(shù)碼顯示管的變化,和輸入的數(shù)據(jù)一致。 七、小結(jié) 通過這次實驗,較好的掌握了靜態(tài)存儲器的工作特性及使用方法。掌握了半導體隨機存儲器如何存儲數(shù)據(jù)及讀出數(shù)據(jù)。從此次實驗中懂得了在實驗接線時要細心。在操作過程中,若出現(xiàn)問

25、題應能在最短時間內(nèi)檢查出問題,從而使實驗過程更順利。實驗四 數(shù)據(jù)傳送實驗一、實驗目的1.理解總線的概念及其特性:三態(tài)控制,單向雙向傳送等。 2.掌握總線傳輸控制特性。 二、實驗設備TDNCM+計算機組成原理教學實驗系統(tǒng)一臺,排線若干 三、實驗原理總線是多個系統(tǒng)部件之間進行數(shù)據(jù)傳送的公共通路,是構成計算機系統(tǒng)的骨架。借助總線連接,計算機在系統(tǒng)各部件之間實現(xiàn)傳送地址、數(shù)據(jù)和控制信息的操作。因此,總線就是指能為多個功能部件服務的一組公用信息線。 本實驗所用總線傳輸實驗框圖如圖3-1所示,需要用排線連接,使幾種不同的設備掛至總線上,有存儲器、輸入設備、輸出設備、寄存器。這些設備都需要有三態(tài)輸出控制,按

26、照傳輸要求恰當有序地控制它們,就可實線總線信息的傳輸。圖1 總線傳送實驗框圖四、實驗內(nèi)容1.輸入設備將一個數(shù)打入RO寄存器。2.輸入設備將另一個數(shù)(存儲器地址)打入地址寄存器AR。3.將RO寄存器中的數(shù)寫入到地址寄存器制定的存儲器地址單元中。4.將存儲器制定地址單元中的讀書出用LED數(shù)碼管五、實驗步驟(1)、按下圖連接實驗線路,仔細查線無誤后接通電源。圖2 數(shù)據(jù)傳送接線圖(2)、設置初始狀態(tài):(3)、從輸入開關向RO中輸入數(shù)據(jù)63H,設置;(4)、從輸入開關將存儲器地址20H輸入AR中:(5)、將RO中的數(shù)據(jù)63H讀出,送入到AR指定的存儲器單元20H中,設置:(6)、將AR中指定的RAM地址

27、單元20H中的數(shù)據(jù)63H讀出,送入到數(shù)碼顯示管中顯示,設置:(7)、按同樣的方式重復步驟(3)(7),輸入數(shù)據(jù)64到存儲蓄單元21中。(8)、檢查數(shù)據(jù)是否寫入到指定的存儲單元中,步驟如下:六、實驗結(jié)果1、輸入過程:2、檢驗結(jié)果:數(shù)碼顯示管與總線數(shù)據(jù)燈顯示一致,實驗結(jié)果和預期結(jié)果一樣。七、實驗小結(jié)1、由于一開始沒有認清存儲器W/R與輸出設備W/R,導致實驗出錯,后來經(jīng)過仔細的對比、調(diào)整,最后順利的完成了數(shù)據(jù)傳送實驗。2、通過這次試驗,掌握了總線傳輸控制特性,理解總線的概念。實驗五 微控制器實驗一、實驗目的(1)掌握時序發(fā)生器的組成原理(2)掌握微程序控制器的組成原理(3)掌握微程序的編制、寫入、

28、觀察微程序的運行情況。二、實驗設備 TDN-CM+計算機組成原理教學實驗系統(tǒng)一套,導線若干。 三、實驗原理 控制器的功能是產(chǎn)生執(zhí)行指令所需的控制信號,但指令執(zhí)行時所需的控制信號是依賴于具體計算機的數(shù)據(jù)通路的。本實驗所用模型機的數(shù)據(jù)通路如圖5-1所示。即指令執(zhí)行時需產(chǎn)生標注的控制信號。圖1 數(shù)據(jù)通路結(jié)構框圖1、 微程序控制器的工作原理:微程序控制的計算機的工作原理是:計算機所識別的全部指令都是通過執(zhí)行相應的微程序來完成的。因此應將機器能識別的所有指令編成對應的微程序,寫入控制存取器中,以后在執(zhí)行用戶程序的過程中,每次先從內(nèi)存儲器中取出一條機器指令,其解釋執(zhí)行過程都是從控制存儲器中讀出相應的微程序

29、,執(zhí)行每條微指令的過程。本實驗實現(xiàn)的模型機共包含五條機器指令:IN(輸入)、ADD(加法)、STA(存數(shù))、OUT(輸出)、JMP(無條件轉(zhuǎn)移),其指令格式如下(前4位為操作碼):助記符機器指令碼說明IN 00000000“INPUT DEVICE”中的開關狀態(tài)>ROADD addr00010000 XXXXXXXXRO+addr>ROSTA addr00100000 XXXXXXXXRO>addrOUT addr00110000 XXXXXXXXaddr>LEDJMP addr01000000 XXXXXXXXaddr>PC 其中IN為單字長(8位),其余為雙字

30、長指令,XXXXXXXX為addr的對應的二進制地址碼。下圖是上述幾條機器指令對應的參考微程序流程流程:圖2 微程序流程圖SWBSWA控制臺指令00讀內(nèi)存(KRD)01寫內(nèi)存(KWE)11啟動程序(PR)控制臺操作微程序流程圖如下:圖3 控制臺操作微程序流程圖在編制微程序之前,必須確定微指令的格式。在實驗中使用的模型機的指令格式如下給定,長度共24位。其中UA5UA0為6位的后續(xù)微地址,A、B、C為三個譯碼字段,分別由三個控制位譯碼出多位。其含義如下:A字段B字段C字段151413選擇121110選擇987選擇000000000001LDRi001RS-B001P(1)010LDDR1010R

31、D-B010P(2)011LDDR2011RI-B011P(3)100LDIR100299-B100P(4)101LOAD101ALU-B101AR110LDAR110PC-B110LDPC 當每條機器指令對應的微程序全部設計完畢后,應將全部微程序按指令格式變成二進制代碼,如下: 其中,微地址表示控制器中存放該微指令的地址。最后就可以將這些內(nèi)容輸入到控制器中。2、微程序控制電路 微程序控制器的組成見圖3-2,其中控制存儲器采用3片2816的E2PROM,具有掉電保護功能,微指令寄存器18位,用兩片8D觸發(fā)器(273)和一片4D(175)觸發(fā)器組成。微地址寄存器6位,用三片正沿觸發(fā)的雙D觸發(fā)器(

32、74)組成,它們帶有清“0”端和預置端。在不判別測試的情況下,T2時刻打入微地址寄存器的內(nèi)容即為下一條微指令地址。當T4時刻進行測試判別時轉(zhuǎn)移邏輯滿足條件后輸出的負脈沖通過強置端將某一觸發(fā)器置為“1”狀態(tài),完成地址修改。 在該實驗電路中設有一個編程開關(位于實驗板右上方),它具有三種狀態(tài):PROM(編程)、READ(校驗)、RUN(運行)。當處于“編程狀態(tài)”時,學生可根據(jù)微地址和微指令格式將微指令二進制代碼寫入到控制存儲器2816中。當處于“校驗狀態(tài)”時,可以對寫入控制存儲器中的二進制代碼進行驗證,從而可以判斷寫入的二進制代碼是否正確。當處于“運行狀態(tài)”時,只要給出微程序的入口微地址,則可根據(jù)微程序流程圖自動執(zhí)行微程序。圖中微地址寄存器輸出端增加了一組三態(tài)門,目的是隔離觸發(fā)器的輸出,增加抗干擾能力,并用來驅(qū)動微地址顯示燈。四實驗內(nèi)容1.將微程序輸入到控制器中并校驗;2.單步運行、連續(xù)運行,觀察微程序控制器的工作原理;五、實驗步驟1、 按下圖接線:2、 將微程序輸入控制存儲器中將編程

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