2007UT閉卷試題Ⅱ級答案

1、成績：題號題型分值扣分閱卷人簽早是非題20-選擇題40三問答題20四計(jì)算題20總計(jì)100第7頁共5頁1、 超聲波入射到C C2的凸曲面時(shí)，其透過波集聚。（O ）2、 超聲波頻率越高，近場區(qū)的長度也就越小。（X ）3、 超聲波探頭發(fā)射超聲波利用的是逆壓電效應(yīng)，而接收超聲波則是利用的正壓電效應(yīng)。（O ）4、 一臺(tái)垂直線性好的超聲波探傷儀，其回波高度與探頭接收到的聲壓成正比例（ O ）5、 探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工作探傷面上掃查的電路。（X ）6為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些（O ）7、為了在工件中得到純橫波，對于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應(yīng)

2、考慮斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速 。（O ）8、半波高度法用來測量小于聲束截面的缺陷的尺寸。（X ）9鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷。（O ） 10、焊縫探傷所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K值將變大。（X ）11絕對靈敏度法測量缺陷指示長度時(shí)，測長靈敏度高，測得的缺陷長度大。（012、在超聲波檢測中，如果使用的探測頻率過高，在探測粗晶材料時(shí)會(huì)出現(xiàn)林狀回波（0 ）13、網(wǎng)格掃查法是使用單直探頭縱波檢測鋼板的基本掃查方法之 14、低碳鋼和低合金鋼組織的晶體結(jié)構(gòu)屬于體心立方晶格，而奧氏體不銹鋼組織的晶體結(jié)構(gòu)O )x )x )O )屬于面心立

3、方晶格。（15、 鍛件中缺陷主要有折疊、白點(diǎn)、縮孔、裂紋等。（16、 超聲波傳播時(shí)不僅是能量的傳播，而且介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)也隨波前進(jìn)。（17、一般同種固體介質(zhì)中：縱波聲速橫波聲速表面波聲速 。（18、由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用K 1.5的探頭探測單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢19、 平面波垂直入射在界面上，入射能量等于透射能量與反射能量之和。（得分評卷人20、 超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對聲波的吸收作用。（、選擇題（將正確的答案代號填在括號內(nèi)，每題 2分，共40分）1. 用4MHz鋼質(zhì)保護(hù)膜直探頭經(jīng)甘油耦合后，對鋼試件進(jìn)行探測，若要得到最佳透聲效果，其耦合層厚度為（甘油Cl

4、 =1950m/s）(D )A. 1.45mm B.0.20mmC.0.7375mmD.0.24mm2. 超聲波（活塞波）在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：（D ）A. 介質(zhì)對超聲波的吸引B. 介質(zhì)對超聲波的散射C.聲束擴(kuò)散D.以上全部3. 在探測條件相同的情況下，面積比為2的兩個(gè)平底孔，其反射波高相差（A ）A.6dB B.12dB C.9dB D.3dB4. 同直徑的長橫孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍回波減弱（D ）A.6dB B.12 dB C.3 dB D.9 dB5. 用頻率常數(shù)為2000米/秒晶片，制作4MHZ的直探頭，晶片厚度：（B ）A .0.8mmB. 0.5mm

5、C.1.25mmD.以上都不對6與超聲波探傷儀性能有關(guān)的指標(biāo)是：（A）A. 水平線性、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍B. 靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)分辨力C. 動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測深度D. 垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率7、缺陷反射聲能的大小，取決于（D ）A.缺陷的尺寸B.缺陷的類型C.缺陷的形狀和取向D.以上全部8、 如果聲波在耦合介質(zhì)中的波長為入，為使透聲效果好，耦合層厚度為（D ）A.入/4的奇數(shù)倍B.入/2整數(shù)倍C.小于入/4且很薄D.以上B和C9、 采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時(shí)，下面哪種說法正確？（ B ）A. F/B相同，缺陷當(dāng)量相同B.該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C.適于對尺寸較

6、小的缺陷定量 D、適于對密集性缺陷的定量10、單斜探頭探傷時(shí)，在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可能是：（B ）A.來自工作表面的雜波B. 來自探頭的噪聲C.工作上近表面缺陷的回波D. 耦合劑噪聲11、用IIW2試塊（牛角試塊）調(diào)整時(shí)間基線，當(dāng)探頭對準(zhǔn)R50圓孤面時(shí)，示波屏上的回波位置應(yīng)如圖（B ）ABCD丨1 L丨丄bJ40102562525 5055KW12、表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（B ）A 、缺陷深度B、缺陷至探頭前沿距離C 、缺陷聲程D、以上都可以13在使用2.5MHz直探頭做鍛件探傷時(shí)，如果400mn深底波調(diào)整 3mm平底孔靈敏

7、度，底 波調(diào)整后應(yīng)提高多少dB探傷？（晶片直徑D=14mm）（ A ）A.36.5dB B.43.5dB C.50dB D.28.5dB14、用底波法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度時(shí), A.可不考慮探傷耦合差補(bǔ)償F面有關(guān)缺陷定量的敘述中哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的？（D ）C.可不使用試塊D.缺陷定量可不考慮材質(zhì)衰減差修正B. 缺陷定量可采用計(jì)算法或 A.V.C曲線法15、焊縫斜角探傷時(shí)，焊縫中與表面成一定角度的缺陷，其表面狀態(tài)對回波高度的影響是（A ）A.粗糙表面回波幅度高B.C. 光滑表面回波幅度高D.16、用直探頭探測焊縫兩側(cè)母材的目的是: A.探測熱影響區(qū)裂縫B.無影響 以上都可能（B ）探測可能影響斜探頭探測結(jié)

8、果的分層C.提高焊縫兩側(cè)母材驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，以保證焊縫質(zhì)量D. 以上都對17、以下哪一種探測方法不適宜 T型焊縫（C ）A.直探頭在翼板上掃查探測C.直探頭在腹板上掃查探測18. 鑄鋼件超聲波探傷頻率一般選擇A、2.5 5MHZBC、5 10MHZD19. 聲阻抗是A超聲振動(dòng)的參數(shù)C傳聲介質(zhì)的參數(shù)C.界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)D.以上全部B.斜探頭在翼板外側(cè)或內(nèi)側(cè)掃查探測D. 斜探頭在腹板上掃查探測(B )、0.5 2.5MHZ、1 5MHZ(CB界面的參數(shù)D以上都不對20.超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí)，其傳播方向的改變主要取決于(B )A.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速得分評卷人三問答題(每

9、題5分，共20分)1、橫波探傷焊縫時(shí)，選擇探頭 K值應(yīng)依據(jù)哪些原則?(1) 使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面(2) 使聲束中心線與主要危險(xiǎn)性缺陷垂直。(3) 保證有足夠的探傷靈敏度。2、焊縫探傷中，常見的偽缺陷波有哪幾種？(1) 儀器雜波(2) 探頭雜波(3) 耦合劑反射波(4) 焊逢表面溝槽反射波(5) 焊逢上下錯(cuò)位引起的反射波3、什么叫超聲波探傷分辨率？ 影響因素有哪些?指在儀器示波屏上區(qū)分相鄰兩缺陷的能力。 能區(qū)分相鄰兩缺陷的距離越小，分辨率越高 主要影響因素是探頭的擴(kuò)散角和儀器的發(fā)射強(qiáng)度。4、簡要說明鋼板探傷中，引起底波消失的幾種可能情況? 答：1。有平行于探測面的大缺陷。2 有傾斜于探測面

10、的大缺陷。3 有吸收性的大缺陷四.計(jì)算題(每題5分，共20分)1、試計(jì)算f=5MHz邊長13mm勺方晶片，在鋼中(Q=5900m/s)的主聲束半擴(kuò)散角為多少度？ (4分)答：入=C/F=5.9 x 106/5 x 106=1.18mm9 o=57 入 /a=57 x 1.18/13=5 02、 用2.5P 20Z探頭徑向探測500mm勺圓柱形工件，CL=5900m/s如何利用工件底波調(diào)節(jié) 500/2靈敏度。(5分)解:入=c/f=5.9/2.5=2.36mm N=D2/4 入=202/4 x 2.36=42.4mm該工件500mm3N可采用球面波公式計(jì)算：2 2 =20 lg( n /2 入

11、X)= 20 lg( n 2/2 X 2.36 X 500)=-45.5 dB將底面回波調(diào)至基準(zhǔn)波高后，增益45.5 dB即得到500/2靈敏度。3 某工件厚度T=200mm測得第一次底波為屏高90%第二次底波為屏高15%如忽略反射損 失，試計(jì)算該材料的衰減系數(shù)a值是多少？(4分)a =20lg(90% 十 15%)/2T=0.039db/mm4、用K1探頭在CSIA試塊上按深度1:1調(diào)節(jié)掃描線，如所有旋鈕不動(dòng)，改用K2探頭，問：a. R50、R100圓弧反射波的位置(兩探頭楔塊聲程相同)？( 7分)b. 此時(shí)深度比例是多少？答：K=tg Bsin B =K/ (1+K2)1/2cos B =1/ (1+K2)1/2原掃描線K