CMMI-管理-指南-階段缺陷清除率指南

1、CMMI-管理-指南-階段缺陷清除率指南銀行階段缺陷清除率指南文檔信息:版本：VI. 0. 0類別：指南 密級：內(nèi)部修訂記錄:日期版本修訂描述作者修訂內(nèi)容:版本修訂內(nèi)容V0.1.0根據(jù)內(nèi)部評審意見對指南進行了修改V1.0.0對文檔內(nèi)的內(nèi)容及相關(guān)文檔之間的狀態(tài)：非受拴軟件開發(fā)中心保密級別：公開目錄1 .引言11.1. 目的11.2. 預(yù)期讀者11.3. 術(shù)語表11.4. 參考資料12 .階段缺陷清除率(DRE)模型基本數(shù)學(xué)定義13 .階段缺陷清除率(DRE)應(yīng)用示例4階段缺陷清除率指南-1/1 -軟件開發(fā)中心軟件開發(fā)中心保密級別：公開1*引言1.1. 目的本文檔目的是為理解階段缺陷清除率的數(shù) 學(xué)

2、定義及計算提供指引。1.2. 預(yù)期讀者1、軟件開發(fā)中心及總行相關(guān)部門領(lǐng)導(dǎo)和主 管2、EPG全體成員3、項目組全體成員1.3. 術(shù)語表無1.4. 參考資料1231m缺 陷 清 除 活 動活動1D”D*i活動2D12D22D*2活動3Dl3D23D33D*3D*j-i活動JDijD2jDijD*j活動nDinD2nDinDmnD*n合計DrD2*D3*Dj*Dm*Dmn計算階段缺陷清除率(Phase DRE)的步驟：考察開發(fā)過程中哪些活動會為產(chǎn)品注入缺陷考察開發(fā)過程中哪些活動會從產(chǎn)品中清除一般的，注入缺陷的活動執(zhí)行結(jié)束后，會相 應(yīng)地發(fā)起缺陷清除活動。如果活動與生命周 期階段一致,可以認為是階段的缺

3、陷注入和清除。當考察階段缺陷注入和清除率時，需要注意 一個階段可能包含多個缺陷注入活動和多 個缺陷清除活動。執(zhí)行完缺陷清除活動j之后，分析發(fā)現(xiàn)的缺陷,按照這些缺陷的注入原因分別統(tǒng)計缺陷 數(shù)，并填入上表中相應(yīng)的位置如上表：清除活動j 一共發(fā)現(xiàn)了 D*j個缺陷, 注入活動1到i分別注入了 Dib D2j .Dij 個缺陷。項目執(zhí)行完成時，注入和清除活動都被執(zhí)行，上表就被填寫完畢可計算缺陷清除活動j的清除率:DRE.=彳-7c x 100%(。產(chǎn) + D?* + + DQ + D*2 + + D* 尸1)解釋：分子很顯然，是這個清除活動j發(fā)現(xiàn)的缺陷總數(shù)分母實際上是在進入清除活動j的入口處產(chǎn)品中還遺留

4、的缺陷數(shù)，它是:清除活動j之前執(zhí)行的所有注入活動注入的階段缺陷清除率指南軟件開發(fā)中心軟件開發(fā)中心保密級別：公開缺陷總數(shù)清除活動j之前執(zhí)行的所有清除活動發(fā)現(xiàn)的 缺陷總數(shù)兩者之間的差值。注意:理論上，產(chǎn)品中的缺陷個數(shù)是無法得知的，因 此缺陷清除率模型有個假設(shè)前提：忽略產(chǎn)品中那些沒有被發(fā)現(xiàn)的缺陷3.階段缺陷清除率（DRE）應(yīng)用示例假定一個項目有4個主要的活動能夠注入缺陷, 分別是：需求定義概要設(shè)計詳細設(shè)計編碼 項目生命周期也有同名的4個階段。同時，開發(fā)過程有6個主要的活動能夠清除缺陷，分別是：需求評審（需求定義之后、概要設(shè)計之前）概要設(shè)計評審（概要設(shè)計之后、詳細設(shè)計之前）階段缺陷清除率指南-4 7

5、一軟件開發(fā)中心軟件開發(fā)中心保密級別：公開詳細設(shè)計評審（詳細設(shè)計之后、編碼之前）單元測試（編碼之后）代碼評審（編碼之后）系統(tǒng)測試（編碼之后） 并且項目在交付后進行缺陷對應(yīng)期間也記錄、統(tǒng) 計了交付后發(fā)現(xiàn)的缺陷。項目執(zhí)行完畢后統(tǒng)計到的缺陷數(shù)按照注入和清 除活動劃分，得下表：缺陷注入活動（或階段）需求 定義概要 設(shè)計詳細 設(shè)計編碼合 計需求評審3535慟概要設(shè)計 評審46468詳細設(shè)計 評審6128210 0單元測試1025256124415代碼評審0458168230系統(tǒng)測試1218867919階段缺陷清除率指南軟件開發(fā)中心軟件開發(fā)中心保密級別：公開5交付后缺 陷對應(yīng)26182248合計691295

6、003931091于是: 詳細設(shè)計評審的DRE = 100/ (69+129+500)-(35+68) *100% = 17%系統(tǒng)測試的 DRE = 195/ (69+129+500+393) -(35+68+100+415+230) *100% = 80%考察編碼階段的缺陷清除率時，這個階段包含了 兩個缺陷清除活動:單元測試和代碼評審。于是, 單獨考察其中一個活動的缺陷清除率就意義不 大了，因為我們認為只要兩個活動合起來能夠盡 可能多的清除缺陷就可以了，單一活動清除率的 高低并不重要。因此將單元測試和代碼評審合起 來作為對編碼階段結(jié)束的一個檢查點，那么編碼 階段的缺陷清除率應(yīng)該是:(415+230 ) / ( 69+129+500+393 )-(35+68+100) *100% = 73%當然，單獨考察一個活動的缺陷清除率也可以。還可以計算某個缺陷清除活動之前所有清除活 動總的缺陷清除率，例如:交付前所有缺陷清除活動總的DRE：(1