JJG45-1999光學計

中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程 JJG451999 光 學 計 Optimeter 1999-10-18發(fā)布 2000-03-15實施 國 家 質(zhì) 量 技 術(shù) 監(jiān) 督 局 發(fā) 布 JJG451999 光學計檢定規(guī)程 JJG451999 VerificationRegulation 代替 JJG451986 JJG531986 ofOptimeter 本規(guī)程經(jīng)國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局于 年 月 日批準 并自 年 1999 10 18 , 2000 月 日起施行03 15 。 歸 口 單 位:全國幾何量長度計量技術(shù)委員會 起 草 單 位:湖南省計量測試技術(shù)研究所 本規(guī)程委托全國幾何量長度計量技術(shù)委員會負責解釋 JJG451999本規(guī)程主要起草人: 左 進 湖南省計量測試技術(shù)研究所 ( ) 鮑 唯 湖南省計量測試技術(shù)研究所 ( ) 參加起草人: 姜余福 新天精密光學儀器公司 ( ) JJG451999 目 錄 概述1 (1) 檢定項目和檢定條件2 (3) 儀器檢定項目和檢定用的主要工具2.1 (3) 檢定條件2.2 (3) 技術(shù)要求和檢定方法3 (6) 外觀及各部分相互作用3.1 (6) 工作臺工作面的平面度3.2 (6) 工作臺的可調(diào)性3.3 (6) 筋形工作臺中間筋與其他筋的相對位置3.4 (7) 球筋工作臺測頭和筋條的相對位置3.5 (7) 輔助工作臺和筋形工作臺 球筋工作臺的相對位置3.6 、 (7) 筋形工作臺中間筋對測量軸線的位置3.7 (8) 固定式工作臺面與測量軸線的垂直度3.8 (8) 光管緊固螺釘固緊時所引起的示值變化3.9 (8) 平面測帽測量面與工作臺面之間的平行度 3.10 (8) 光管刻度尺在目鏡視場內(nèi)的位置 3.11 (9) 指標線或刻度尺微調(diào)機構(gòu)的作用 3.12 (9) 測力 3.13 (10) 光管測量桿和尾管測量桿受徑向力時對示值的影響 3.14 (10) 尾管測量桿徑向調(diào)整機構(gòu)的作用 3.15 (11) 工作臺工作的可靠性 3.16 (11) 光管和尾管的同軸度 3.17 (11) 平面測帽測量面之間的平行度 3.18 (12) 示值變動性 3.19 (12) 示值誤差 3.20 (12) 內(nèi)測附件工作的可靠性 3.21 (14) 平面測帽測量面的平面度 3.22 (14) 檢定結(jié)果的處理和檢定周期4 (15) 檢定結(jié)果4.1 (15) 檢定周期4.2 (15) JJG451999 光學計檢定規(guī)程 本規(guī)程適用于新制的 修理后以及使用中的分度值為 和 的光學計的 、 1m 0.2m檢定 。1 概 述 光學計是一種準確度較高的長度計量用的光學機械式儀器 按其分度值分為精密光 。學計 光學計 和 光學計 按其結(jié)構(gòu)型式可分為帶投影裝置的和不帶投影 (0.2m ) 1m ;裝置的光學計以及投影光學計 按其使用方式可分為立式光學計 臥式光學計 各類光 ; 、 。學計的外形如圖 圖 圖 圖 所示 其示值范圍和測量范圍見表 1、 2、 3、 4 , 1。 光學計的用途一般是用標準器以比較法測量工件的尺寸 。 圖 超級光學計 圖 投影精密光學計 1 2 基座 工作臺制動螺釘 臂架升降用螺母 基座 工作臺 臂架 1 ;2 ;3 ; 1 ;2 ;3