P-list和G-list.doc

P-list和G-list硬盤的數(shù)據(jù)密度很大，在生產(chǎn)過程中不可避免地會產(chǎn)生缺陷，同時在使用過程中，那些不穩(wěn)定的扇區(qū)也會逐漸老化而產(chǎn)生數(shù)據(jù)讀寫錯誤，這些缺陷和不穩(wěn)定扇區(qū)會嚴 重威脅硬盤數(shù)據(jù)的安全，為此，硬盤設計了兩個壞道表來處理這些有缺陷的扇區(qū)，他們就是P-list和G-list.，它們用于記錄硬盤的缺陷扇區(qū)的情況， 使硬盤工作時不會在缺陷扇區(qū)里讀寫數(shù)據(jù)，防止數(shù)據(jù)損壞。 壞道的產(chǎn)生可以分為兩種情況：一是生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的缺陷扇區(qū)，二是使用過程的產(chǎn)生的缺陷扇區(qū)，硬盤設計兩個壞道表就是用于分別識別和處理硬盤的兩種不同的壞道的。P-list P-list我們一般稱為工廠壞道表，嚴格來說應該稱為永久壞道表或原始壞道表，它是用于記錄工廠生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的壞道的，壞道加入P-list不會影響硬盤的讀寫性能。G-list G-list稱為增長壞道表，用于記錄硬盤使用過程中由于磁介質(zhì)性能變?nèi)醵鸬膲牡?，并將壞扇區(qū)重定向到好扇區(qū)，壞道加入G-list對該扇區(qū)的讀寫速度是有影響的。 下面我們就談談硬盤對P-list和G-list的兩種不同的處理方式。 下圖是硬盤的扇區(qū)分配情況，硬盤的全部扇區(qū)可以劃分為三個方面，固件區(qū)、工作區(qū)和保留扇區(qū)；其中固件區(qū)和保留扇區(qū)普通用戶是沒辦法操作的，硬盤的實際扇區(qū) 數(shù)比我們看到的硬盤標簽上標定的要大，其中一部份用于存儲硬盤的固件，一部分是用戶存儲數(shù)據(jù)的區(qū)域（工作區(qū)），也就是硬盤標定容量的扇區(qū)，剩下的就是保留 區(qū)，實際上硬盤上并不會物理劃出一個保留區(qū)域，只是在工廠生產(chǎn)時標定了全部的有效扇區(qū)，而硬盤的容量是小于其實際扇區(qū)總數(shù)的，在固件里定義了硬盤的容量， 超過硬盤容量的那些扇區(qū)我們就姑且把它稱為保留扇區(qū)。 上圖中藍色為固件區(qū)，白色為工作區(qū)，綠色為保留扇區(qū)，紅色為壞扇區(qū)，圖示表示的是壞扇區(qū)還沒有加入P-list和G-list的情況。大家可以看到，工作 區(qū)的LBA是從固件區(qū)后的LBA0一直連續(xù)標定到硬盤的最大工作扇區(qū)LBAmax，LBAmax以后的扇區(qū)就是保留扇區(qū)。 下圖是壞扇區(qū)被加入P-list的情況： 從圖中可以看出，壞道被加入P-list后，硬盤不會再讀寫該扇區(qū)，而是在將原讀寫該扇區(qū)的操作順延到度寫壞扇區(qū)的下一個扇區(qū)，該扇區(qū)以后的所有扇區(qū)的 LBA值都發(fā)生了改變，原來保留扇區(qū)的一個扇區(qū)成為了硬盤的LBAmax，所以壞道被加入P-list后，硬盤需要進行一次廠家低格。 下圖是壞道加入G-list的情況： 從圖中可以看出，壞道加入G-list后，當硬盤需要讀壞道所在的扇區(qū)時，會被重定位到保留扇區(qū)中的一個扇區(qū)，硬盤工作區(qū)的其它扇區(qū)不會受影響，由于保留 扇區(qū)在硬盤的內(nèi)道，讀寫速度慢，同時由于該扇區(qū)會導致硬盤的數(shù)據(jù)存儲從物理上來說不連續(xù)了，當磁頭讀取該扇區(qū)的數(shù)據(jù)