安規(guī)電容檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn).doc

X/X深圳TT電子有限公司檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)X/XX-XXXX.2010安規(guī)電容檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)2010年XX月XX日 發(fā)布 2010年XX月XX日 實(shí)施深圳TT電子有限公司研發(fā)部 發(fā)布 目錄目錄使用前言說明. 標(biāo)準(zhǔn)范圍及引用. 1 主體材料分類說明.12 使用環(huán)境要求.13 產(chǎn)品MARKING標(biāo)示要求.14 部品外觀相關(guān)要求.15 包裝、儲(chǔ)存要求.16 阻燃狀況要求.17 部品儀器設(shè)備的要求.28 各國安規(guī)標(biāo)示識(shí)別.2-49 檢驗(yàn)規(guī)則.59.1 適用規(guī)范.59.2 檢驗(yàn)樣品的抽取說明.59.3 檢驗(yàn)結(jié)果的判定及處理.510 部品常規(guī)檢驗(yàn)要求.510.1 部品尺寸檢驗(yàn)方法.510.2 部品基本電性能檢測(cè).510.3 可焊性檢測(cè)方法.510.4 機(jī)械性檢測(cè)方法.610.5 標(biāo)示耐擦性檢測(cè)方法.610.6 RoHS測(cè)試.611 可靠性實(shí)驗(yàn).611.1 高溫負(fù)荷.611.2 溫度沖擊.711.3 耐濕負(fù)荷.711.4 溫度特性.811.5 高溫儲(chǔ)存.8 -標(biāo)準(zhǔn)使用前言說明安規(guī)電容是我司電源產(chǎn)品主要的構(gòu)成原器件，有著對(duì)電源電路濾波、隔直流、等重要作用！根據(jù)安規(guī)電容的承認(rèn)書和中華人民共和國標(biāo)準(zhǔn)化法規(guī)定，特制訂本檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)作為IQC部品來料檢驗(yàn)及部品工程認(rèn)定和組織生產(chǎn)銷售的依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)的格式和結(jié)構(gòu)安排符合GB/T 1.1-2000和GB/T 1.2-2002標(biāo)準(zhǔn)要求。本標(biāo)準(zhǔn)由深圳市TT電子有限公司提出并負(fù)責(zé)解釋。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：深圳TT電子有限公司本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布日期：-標(biāo)準(zhǔn)范圍及引用1 范圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了安規(guī)電容的材料分類、使用環(huán)境要求、產(chǎn)品標(biāo)示要求、本體外觀要求、包裝貯存要求、阻燃要求、檢測(cè)設(shè)備要求、檢測(cè)規(guī)則、部品常規(guī)檢驗(yàn)、可靠性實(shí)驗(yàn)。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于各供應(yīng)商交給TT的所有安規(guī)電容材料的標(biāo)準(zhǔn)驗(yàn)收。2 規(guī)范性標(biāo)準(zhǔn)引用文件 下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。 GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部份：總則 GB/T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A: 低溫試驗(yàn)方法GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B: 高溫試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca: 恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N: 溫度變化試驗(yàn)方法GB/T 4857.5-92 包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法 IEC60384-14 安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)方法 JIS5102-1994 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)適用于安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)方法-1 主體材料分類說明安規(guī)電容按耐電壓強(qiáng)度可分為:X1、X2、X3、Y1、Y2、Y3、Y4等,我公司常用的有X2、Y1、Y2安規(guī)電容2 使用環(huán)境要求 如無特別規(guī)定及特殊要求,在下述條件下使用：溫度: -25-90濕度: 30%-95%RH氣壓: 86-106KPa3 產(chǎn)品MARKING標(biāo)示要求 安規(guī)電容本體應(yīng)有該電容的品牌標(biāo)示、系列、容量、耐壓、精度、生產(chǎn)周期以及所取得的安規(guī)認(rèn)證標(biāo)示,且印字要清晰! 4.部品其它外觀要求4.1本體標(biāo)示要清晰,無模糊等不良現(xiàn)象4.2引線要光滑明亮,無氧化等不良現(xiàn)象4.3本體表面不應(yīng)有銹蝕、裂痕、和其它機(jī)械不良現(xiàn)象5.包裝、儲(chǔ)存的要求5.1包裝 包裝箱應(yīng)標(biāo)示有制造廠名稱、產(chǎn)品名稱、產(chǎn)品型號(hào)、檢驗(yàn)日期、生產(chǎn)周期和包裝數(shù)量，有要求的要標(biāo)示我司元件料號(hào)。對(duì)無鉛產(chǎn)品要在包裝箱上貼上無鉛標(biāo)簽。包裝箱外應(yīng)印刷或貼有“小心輕放”、“怕濕”、“向上”等運(yùn)輸標(biāo)志，運(yùn)輸標(biāo)志應(yīng)符合GB 191的規(guī)定。包裝箱外印刷或貼的標(biāo)志不可因運(yùn)輸條件和自然條件而褪色、脫落。包裝箱應(yīng)符合防潮、防塵、防震的要求，包裝箱內(nèi)應(yīng)有裝箱清單、產(chǎn)品合格證、附件及相關(guān)隨機(jī)文件。5.2儲(chǔ)存 產(chǎn)品使用前應(yīng)存放在原包裝箱內(nèi)，存放產(chǎn)品的倉庫環(huán)境溫度-2040，相對(duì)濕度不大于93%，倉庫內(nèi)不允許有各種有害氣體、易燃、易爆的產(chǎn)品及有腐蝕性的化學(xué)物品，并且應(yīng)無強(qiáng)烈的機(jī)型振動(dòng)、沖擊和強(qiáng)磁場(chǎng)作用，包裝箱應(yīng)墊離墻壁、地面至少10cm，距離熱源、冷源、窗口或空氣入口至少50cm，在本規(guī)定條件下的儲(chǔ)存期，若無特殊規(guī)定一般應(yīng)為六個(gè)月，超過六個(gè)月時(shí)要重新交收檢驗(yàn)。6.阻燃狀況安規(guī)電容應(yīng)符合UL 94-VO級(jí)要求，其包封材料要符合UL 94-VO級(jí)要求 7.部品儀器設(shè)備的要求7.1漏電流測(cè)試儀輸出電壓誤差3V7.2電橋測(cè)試儀測(cè)試頻率1KHz測(cè)試電壓1.0V(如有特殊要求,按承認(rèn)書要求測(cè)試) -1-7.3高溫箱溫度誤差57.4恒濕恒溫箱溫度誤差3,濕度誤差5%7.5直流電源電壓誤差3V7.6萬用表電壓誤差3V;電流誤差3mA7.7 RoHS測(cè)試儀應(yīng)符合歐盟要求7.8 游標(biāo)卡尺誤差5mm7.9 錫爐溫度37.10 變頻電源電壓誤差3V8.各國安規(guī)標(biāo)示識(shí)別-2- -3- -4-9.檢驗(yàn)規(guī)則9.1適用規(guī)范 a)適用于TTIQC的進(jìn)料檢驗(yàn) b)適用于部品部新品認(rèn)定與第二供應(yīng)商的導(dǎo)入工作c)適用于部品定型/例行試驗(yàn)的判定標(biāo)準(zhǔn)9.2檢驗(yàn)樣品的抽取說明 為了檢驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，檢驗(yàn)樣品數(shù)量不可小于5PCS9.3檢驗(yàn)結(jié)果的判定及處理a)檢驗(yàn)數(shù)據(jù)應(yīng)100%符合承認(rèn)書要求b)若不符合承認(rèn)書要求的出具不合格報(bào)告,并以“新部品不合格聯(lián)絡(luò)函”的形式通知供應(yīng)商前來解決!10.部品常規(guī)檢驗(yàn)要求10.1部品尺寸檢驗(yàn)方法 檢驗(yàn)前游標(biāo)卡尺要?dú)w零，檢驗(yàn)樣品應(yīng)符合承認(rèn)書要求，若承認(rèn)書未做說明按以下要求檢驗(yàn)：高度直徑腳距線徑0.50.50.50.0510.2部品基本電性能檢測(cè)參數(shù)測(cè)試方法測(cè)試儀器判定要求容量1KHz/1.0V條件下測(cè)試LCR電橋符合承認(rèn)書要求DF（損耗角）1KHz/1.0V條件下測(cè)試LCR電橋符合承認(rèn)書要求漏電流規(guī)格書要求電壓測(cè)試60S19073高壓測(cè)試儀符合承認(rèn)書要求絕緣電阻100VDC/60S或500 VDC/60TH2683型絕緣電阻儀符合承認(rèn)書要求注：漏電流若無做明確要求的，定為4mAMax10.3可焊性檢測(cè)方法 將焊槽中焊料(無鉛錫)的溫度預(yù)調(diào)到2603，并將錫面雜質(zhì)刮除,保持錫面清潔光亮,然后將沾過助焊劑的引出端使用部分侵入焊槽內(nèi)保持5S,然后取出冷卻后,用放大鏡對(duì)粘錫面進(jìn)行觀察,焊錫面積應(yīng)大于95%且引腳要光滑明亮、無發(fā)黑不沾錫等不良現(xiàn)象10.4機(jī)械性能測(cè)試方法10.4.1 引線拉力強(qiáng)度 如無特殊要求按以下條件檢驗(yàn)：引線標(biāo)稱直徑拉力強(qiáng)度持續(xù)時(shí)間0.3d0.55N101S0.5d0.810N101S0.8d1.2520N101S-20N101S -5-10.4.2引線彎曲強(qiáng)度引線標(biāo)稱直徑拉力強(qiáng)度參考重量（Kg）0.3d0.52.5N0.250.5d0.85N0.50.8d1.2510N110.5標(biāo)示耐擦性檢驗(yàn)方法 用酒精來回擦拭標(biāo)示三次，應(yīng)無模糊不清等不良現(xiàn)象10.6 RoHS測(cè)試 若無特殊情況按TTRoHS測(cè)試內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)：鉛（Pb）鎘（Cd）汞（Hg）六價(jià)鉻(CR+6)PPBPBDE300ppmMax100ppmMax1000ppmMax1000ppmMax1000ppmMax1000ppmMax 若仍有疑問按歐盟測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)鉛（Pb）鎘（Cd）汞（Hg）六價(jià)鉻(CR+6)PPBPBDE1000ppmMax100ppmMax1000ppmMax1000ppmMax1000ppmMax1000ppmMax11.可靠性試驗(yàn)11.1高溫負(fù)荷11.1.1 Y電容高溫負(fù)荷項(xiàng)目參數(shù)試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求試驗(yàn)方法高溫負(fù)荷外觀無顯著異常試驗(yàn)溫度:最高溫度+10試驗(yàn)時(shí)間:96H+8H實(shí)驗(yàn)電壓：Y1、Y2：1000VAC電容并聯(lián)測(cè)試恢復(fù)12小時(shí)測(cè)試電性能容量變化率試驗(yàn)前后的Cpk值1.5漏電流試驗(yàn)前后的Cpk值1.5DF(損耗角)試驗(yàn)前后的Cpk值1.5絕緣電阻試驗(yàn)前后的Cpk值1.5注:試驗(yàn)電路板上要串聯(lián)一個(gè)大約1K 1/4W的保護(hù)電阻,且施加負(fù)荷電壓時(shí)不可瞬間施加其試驗(yàn)電壓,應(yīng)逐步加壓至試驗(yàn)電壓,待其穩(wěn)定后每4H檢測(cè)負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)!11.1.2 X電容高溫負(fù)荷項(xiàng)目參數(shù)試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求試驗(yàn)方法高溫負(fù)荷外觀無顯著異常試驗(yàn)溫度:最高溫度115試驗(yàn)時(shí)間:96H+8H實(shí)驗(yàn)電壓：700VDC3V電容并聯(lián)測(cè)試恢復(fù)12小時(shí)測(cè)試電性能容量變化率試驗(yàn)前后的Cpk值1.5漏電流試驗(yàn)前后的Cpk值1.5DF(損耗角)試驗(yàn)前后的Cpk值1.5絕緣電阻試驗(yàn)前后的Cpk值1.5注:試驗(yàn)電路板上要串聯(lián)一個(gè)大約1K 1/4W的保護(hù)電阻,且施加負(fù)荷電壓時(shí)不可瞬間施加其試驗(yàn)電壓,應(yīng)逐步加壓至試驗(yàn)電壓,待其穩(wěn)定后每4H檢測(cè)負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)! -6- 11.2溫度沖擊 11.2.1 Y電容溫度沖擊項(xiàng)目參數(shù)試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求試驗(yàn)方法溫 度 沖 擊外觀無顯著異常試驗(yàn)條件:最高溫度與最低溫度來回循環(huán)5次,每次0.5H恢復(fù)12小時(shí)測(cè)試電性能容量變化率試驗(yàn)前后的Cpk值1.5漏電流試驗(yàn)前后的Cpk值1.5DF(損耗角)試驗(yàn)前后的Cpk值1.5絕緣電阻試驗(yàn)前后的Cpk值1.511.2.2 X電容溫度沖擊項(xiàng)目參數(shù)試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求試驗(yàn)方法溫 度 沖 擊外觀無顯著異常試驗(yàn)條件:最高溫度與最低溫度來回循環(huán)5次,每次0.5H恢復(fù)12小時(shí)測(cè)試電性能容量變化率試驗(yàn)前后的Cpk值1.5漏電流試驗(yàn)前后的Cpk值1.5DF(損耗角)試驗(yàn)前后的Cpk值1.5絕緣電阻試驗(yàn)前后的Cpk值1.511.3耐濕負(fù)荷11.3.1 Y電容耐濕負(fù)荷項(xiàng)目參數(shù)試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求試驗(yàn)方法耐 濕負(fù)荷外觀無顯著異常試驗(yàn)溫度:403濕度:93%3%試驗(yàn)時(shí)間:96H+8H實(shí)驗(yàn)電壓：Y1、Y2：1000VAC電容并聯(lián)測(cè)試恢復(fù)12小時(shí)測(cè)試電性能容量變化率試驗(yàn)前后的Cpk值1.5漏電流試驗(yàn)前后的Cpk值1.5DF(損耗角)試驗(yàn)前后的Cpk值1.5絕緣電阻試驗(yàn)前后的Cpk值1.5注：試驗(yàn)電路板上要串聯(lián)一個(gè)大約1K 1/4W的保護(hù)電阻,且施加負(fù)荷電壓時(shí)不可瞬間施加其試驗(yàn)電壓,應(yīng)逐步加壓至試驗(yàn)電壓,待其穩(wěn)定后每4H檢測(cè)負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)! 11.3.2 X電容高溫負(fù)荷項(xiàng)目參數(shù)試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求試驗(yàn)方法耐 濕負(fù)荷外觀無顯著異常試驗(yàn)溫度:403濕度:93%3%試驗(yàn)時(shí)間:96H+8H實(shí)驗(yàn)電壓：700VDC3V電容并聯(lián)測(cè)試恢復(fù)12小時(shí)測(cè)試電性能容量變化率試驗(yàn)前后的Cpk值1.5漏電流試驗(yàn)前后的Cpk值1.5DF(損耗角)試驗(yàn)前后的Cpk值1.5絕緣電阻試驗(yàn)前后的Cpk值1.5注：試驗(yàn)電路板上要串聯(lián)一個(gè)大約1K 1/4W的保護(hù)電阻,且施加負(fù)荷電壓時(shí)不可瞬間施加其試驗(yàn)電壓,應(yīng)逐步加壓至試驗(yàn)電壓,待其穩(wěn)定后每4H檢測(cè)負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)! -7-11.4溫度特性11.4.1低溫特性項(xiàng)目參數(shù)試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求試驗(yàn)方法低溫特性外觀無顯著異常測(cè)試條件:最低溫度30.5H后測(cè)試其電性參數(shù)容量變化率試驗(yàn)前后的Cpk值1.0DF(損耗角)試驗(yàn)前后的Cpk值1.011