【計量標準】JJG754-2005光學傳遞函數測量裝置檢定規(guī)程.pdf

中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程 JJG7542005 光學傳遞函數測量裝置 MeasuringEquipmentforOpticalTransferFunction 2005-09-05發(fā)布 2006-03-05實施 國 家 質 量 監(jiān) 督 檢 驗 檢 疫 總 局 發(fā) 布 中 華 人 民 共 和 國 國 家 計 量 檢 定 規(guī) 程 光學傳遞函數測量裝置 JJG7542005 國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布 * 中 國 質 檢 出 版 社 出 版 發(fā) 行北京市朝陽區(qū)和平里西街甲 號 2 (100029) 北京市西城區(qū)三里河北街 號 16 (100045) 網址 : 服務熱線 :400-168-0010 年 月第二版 2018 2 * 書號 :155026J-1998 版權專有 侵權必究 JJG7542005 光學傳遞函數 測量裝置檢定規(guī)程 JJG7542005 代替JJG754 1991 VerificationRegulationofMeasuring EquipmentforOpticalTransferFunction 本檢定規(guī)程經國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局于 年 月 日批準 2005 09 05 ,并自 年 月 日起施行 2006 03 05 。 歸 口 單 位 全國光學計量技術委員會 : 主要起草單位 中國計量科學研究院 : 參加起草單位 中國兵器工業(yè)第二零五所 : 本規(guī)程委托全國光學計量技術委員會負責解釋 JJG7542005本規(guī)程主要起草人 : 陳 燕 中國計量科學研究院 ( ) 王莉茹 中國計量科學研究院 ( ) 參加起草人 : 楊 紅 中國兵器工業(yè)第二零五所 ( ) 楊朋利 中國兵器工業(yè)第二零五所 ( ) JJG7542005 目 錄 范圍1 (1) 引用文獻2 (1) 術語3 (1) 最佳像面3.1 (1) 基準像面3.2 (1) 概述4 (1) 物方和像方均處于有限遠4.1 (1) 物方處于無限遠4.2 (2) 物方和像方均處于無限遠4.3 (2) 計量性能要求5 (3) 示值5.1 MTF (3) 示值5.2 PTF (3) 通用技術要求6 (4) 計量器具控制7 (5) 檢定條件7.1 (5) 檢定項目7.2 (8) 檢定方法7.3 (8) 紅外波段光學傳遞函數測量裝置 示值的校準7.4 MTF (9) 檢定結果的處理7.5 (10) 檢定周期7.6 (10)附錄 光學傳遞函數測量裝置檢定證書 檢定結果通知書內頁格式 A 、 (11)附錄 光學傳遞函數測量裝置檢定記錄格式 B (12)附錄 紅外光學傳遞函數測量裝置的校準 C (13)附錄 光學傳遞函數測量結果不確定度的評定 D (15) JJG7542005 光學傳遞函數測量裝置檢定規(guī)程1 范圍 本規(guī)程適用于各種原理的 基于可見光波段的光學傳遞函數測量裝置 以下簡稱傳 、 (函測量裝置 的首次檢定 后續(xù)檢定和使用中檢驗 ) 、 。 注:基于紅外波段的光學傳遞函數測量裝置的校準可參照本規(guī)程附錄 進行。 C2 引用文獻 測量不確定度評定與表示 JJF10591999 光學傳遞函數 術語 符號 GB4315.11984 、 紅外光學傳遞函數測量裝置檢定規(guī)程 GJB/J52272003 光學和光學儀器 光學傳遞函數 原理和測量過程 ISO93351995 使用本規(guī)程時 應注意使用上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本 , 。3 術語 最佳像面3.1 Optimum FocalPlane 在軸上某一特定孔徑和空間頻率下取得調制傳遞函數最大峰值的像面 。 基準像面3.2 Datum FocalPlane 對最佳像面進行離焦 向靠近樣品一方 后得到峰值 的像面 ( ) 50% 。4 概述 傳函測量裝置用于對在等暈區(qū)內滿足線性條件的照相物鏡 望遠系統(tǒng) 復印機用鏡 、 、頭 電視和電影攝像鏡頭 航測鏡頭 紅外成像鏡頭 人工晶體 視覺矯正鏡片等各類 、 、 、 、 、光學系統(tǒng)的成像質量進行評價和測量 光學傳遞函數 以下簡稱 是一個復函數 。 ( OTF) ,它由調制傳遞函數 以下簡稱 和相位傳遞函數 以下簡稱 兩部分組成 ( MTF) ( PTF) 。 光學傳遞函數表示為 : rs rs i rs OTF( ,)=MTF( ,)exp- PTF( ,) (1) 傳函測量裝置按工作原理又分為光電傅立葉分析法和數字法等 。 傳函測量裝置一般由光學工作臺 或導軌 測試目標 被測樣品夾持器 像分析 ( )、 、 、器 輔助成像系統(tǒng)等幾部分組成 、 。 根據被測樣品的不同特性要求 傳函測量裝置的測試目標一般有圓孔 狹縫 刀 , 、 、口 光柵或自發(fā)光系統(tǒng)等幾種不同的方式 、 。 像分析器一般采用狹縫