GB 15849-1995 密封放射源的泄漏檢驗(yàn)方法

GB15849-1995

前臺(tái)

本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO9978-1992第一版。

1979年，國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織曾在技術(shù)報(bào)告ISO/TR4826-1979中對(duì)密封放射源的泄漏檢驗(yàn)方法作

過(guò)規(guī)定，當(dāng)時(shí)由于實(shí)驗(yàn)不夠充分，沒(méi)有作為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布，經(jīng)過(guò)13年的經(jīng)驗(yàn)總結(jié)，將該技術(shù)報(bào)告修改為

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，即ISO9978-1992。它與原來(lái)的技術(shù)報(bào)告相比，不但增補(bǔ)了一些內(nèi)容，而且對(duì)某些檢驗(yàn)方法

的探測(cè)Iig值和限值也作了修改。它是檢驗(yàn)密封放射源的比較完善而適用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn).

目前，密封放射源已廣泛應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、醫(yī)學(xué)、科研等各個(gè)領(lǐng)域，有關(guān)密封放射源的安全問(wèn)題已

引起社會(huì)各界的普遍關(guān)注。因此，制定一個(gè)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)已成為當(dāng)務(wù)之急。經(jīng)國(guó)內(nèi)專(zhuān)家對(duì)ISO9978-1992進(jìn)

行研究、論證，認(rèn)為該國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)我國(guó)密封放射源的泄漏檢驗(yàn)完全適用，故將該國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)化為我國(guó)的

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

本標(biāo)準(zhǔn)從1995年8月1日起實(shí)施，從生效之日起，GB4075-83的附錄E作廢。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為標(biāo)準(zhǔn)的附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄B為提示的附錄

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)核能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人睿培慶、王玲琦。

IS()前一言

鑒于密封放射源的使用越來(lái)越廣泛，因此，有必要制定一些標(biāo)準(zhǔn)以指導(dǎo)用戶、生產(chǎn)廠和管理機(jī)構(gòu).r,

制定這些標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)候，首先要考慮輻射防護(hù)

密封放射源的泄漏檢驗(yàn)方法在ISO/TR4826'’中曾發(fā)布過(guò)，自那時(shí)以來(lái)所積累的經(jīng)驗(yàn)有助I-v'ICI

際標(biāo)R日臻完善

1)1SO/TR18261979密封放射源的泄漏檢驗(yàn)方法

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

密封放射源的泄漏檢驗(yàn)方法

CB15849-1995

eqvISO9978--1992

Sealedradioactivesources

-Leakagetestmethods

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定r密封放射源不同的泄漏檢驗(yàn)方法，制定了一套使用放射性方法和非放射性方法的全

面檢驗(yàn)程序。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于下列幾種控制:

a)按照GB4075對(duì)原型密封放射源進(jìn)行分級(jí)時(shí)為廠使確定分級(jí)所要求的檢驗(yàn)有效而進(jìn)行的質(zhì)址

控制;

1))各種密封放射源的’婦I控制;

門(mén)在有效使用期內(nèi)，按照規(guī)定的時(shí)間間隔對(duì)密封放射源所進(jìn)行的定期檢查。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)給出了指導(dǎo)用戶按照控制類(lèi)型和密封放射源的類(lèi)型選擇最含適的檢

驗(yàn)力一法的建議。

本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)那些要求特殊檢驗(yàn)的特殊情況未作規(guī)定。

對(duì)于密封放射源的生產(chǎn)、使用、貯存和運(yùn)輸除了符合本標(biāo)準(zhǔn)外，還應(yīng)符合我國(guó)有關(guān)法規(guī)的要求

2引用標(biāo)準(zhǔn)

下列標(biāo)準(zhǔn)包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成本標(biāo)準(zhǔn)的條文。在標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí)，所示版本均為有

效所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性

GB，1075-1983密封放射源分級(jí)

3定義

本標(biāo)準(zhǔn)采用下列定義

3.1密封放射源sealedradioactivesource

水久地密封在一層或幾層包殼內(nèi)，并(或)與某種材料緊密結(jié)合的放射性物質(zhì)。在設(shè)計(jì)的使用條件和

正常磨損情況下，這種包殼和(或)材料必須足以保持密封源的密封性

注:為了敘述簡(jiǎn)便起見(jiàn)，在本標(biāo)準(zhǔn)條文中用術(shù)語(yǔ)“密封源，，代替“密封放射源”。

3.2密封的leaktight

密封源經(jīng)受泄漏檢驗(yàn)之后，能滿足表1規(guī)定的限值

3.3包殼capsule

防止放射性物質(zhì)泄漏的保護(hù)性外殼，通常由金屬制成

3.4假密封源dummysealedsource

某種密封源的仿制品，其包殼的結(jié)構(gòu)和材料與所代表的密封源完全相同，但源芯中的放射性物質(zhì)被

一種物理和化學(xué)性質(zhì)盡可能相似的非放射性物質(zhì)所代替。

國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局1995門(mén)2一13批準(zhǔn)

1996一08一01實(shí)施

GB15849-1995

3-5模擬密封源simulatedsealedsource

某種密封源的仿制品，其包殼的結(jié)構(gòu)和材料與它代表的密封源完全相同、但源芯中的放射性物質(zhì)被

一種物理和化學(xué)性質(zhì)盡可能相似，且僅含有示蹤量的放射性物質(zhì)所代替。

注:示蹤量的故射性物質(zhì)在不腐蝕源包殼的溶劑中必須可溶解，且最大活度應(yīng)與密封殼一樸采用的話度相當(dāng)-

3.6型號(hào)標(biāo)志modeldesignation

為了標(biāo)識(shí)某種特定密封源的設(shè)計(jì)而采用的說(shuō)明項(xiàng)或參考號(hào)碼。

3.7原型密封源prototypesealedsource

某種密封源的原始樣本，它是制造所有具有相同型號(hào)標(biāo)志所標(biāo)識(shí)的密封源的模型

3.8質(zhì)堂控制qualitycontrol

為確保密封源符合GB4075的質(zhì)量要求，對(duì)原型密封源進(jìn)行的控制。

3.9生產(chǎn)控制productioncontrol

，種新型號(hào)標(biāo)志的密封源在其投入實(shí)際制造和使用之前所進(jìn)行的性能檢驗(yàn)。

3.10定期檢查recurrentinspections

為了確定密封源在貯存和使用期間的密封性，每隔一定的時(shí)間間隔對(duì)密封源所進(jìn)行的特別控制。

3.11泄漏leakage

放射性物質(zhì)由密封源向環(huán)境的遷移

3.12不可浸出的non-leachable

指封裝在密封源中的放射性物質(zhì)是不溶于水的，也不能轉(zhuǎn)變?yōu)榭蓴U(kuò)散的產(chǎn)物。

3.13標(biāo)準(zhǔn)氦泄漏率standardheliumleakagerate

在23士7C的溫度下，入日壓力為10'+5X10'Pa，出口壓力不大于10'Pa時(shí)的氦泄漏率單位為

ppa·m''·.-',1tPa.m'·s-i二1。一‘Pa·m'·s-'=10-'arm·cm'·s一‘。

4要求

本標(biāo)準(zhǔn)所提到的檢驗(yàn)必須由能勝任的，且經(jīng)過(guò)輻射防護(hù)培訓(xùn)的合格人員完成。

根據(jù)控制類(lèi)型和密封源的類(lèi)型，至少選擇5,6兩章中所介紹的檢驗(yàn)方法中的一種進(jìn)行檢驗(yàn)。檢驗(yàn)方

法的選擇見(jiàn)附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)。

在進(jìn)行本標(biāo)準(zhǔn)未規(guī)定的特殊檢驗(yàn)時(shí)，使用者應(yīng)能證明所采用的方法至少和本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的相應(yīng)方法

同等有效。

對(duì)密封源進(jìn)行一種以上的泄漏檢驗(yàn)時(shí)，為了進(jìn)行沾污檢查通常還要進(jìn)行最終擦拭檢驗(yàn)。

當(dāng)檢驗(yàn)結(jié)束時(shí)，如果密封源符合表1規(guī)定的限值，就確認(rèn)它是密封的

如果不同方法的測(cè)量水平不完全一致，其結(jié)果將取決于測(cè)量設(shè)備和程序。

在大多數(shù)情況下，當(dāng)不可浸出的固體內(nèi)容物泄漏率為10FaPa"m''"s-’和可浸出的固體、液體和氣

體的內(nèi)容物泄漏率為。.1pPa"m'"s-‘時(shí)，可以認(rèn)為與2KBq(x50nCi)的放射性活度釋放限值相當(dāng)。

不管內(nèi)容物的性質(zhì)如何，在溫度為25'C的干燥空氣中，相對(duì)真空度等于或低于10'Pa,跳內(nèi)外壓差

為10'Pa時(shí)，出現(xiàn)等于或大于10-rkPa·m'·s-‘的泄漏率表示不密封。

除定期檢查外，在進(jìn)行任何檢驗(yàn)之前，必須將密封源徹底清洗，并進(jìn)行仔細(xì)的目視檢查

檢驗(yàn)使用的一切設(shè)備必須進(jìn)行適當(dāng)維護(hù)，并定期進(jìn)行校準(zhǔn)。

在檢驗(yàn)場(chǎng)所，無(wú)論哪次檢驗(yàn)應(yīng)盡可能地規(guī)定下列參數(shù):

—壓力;

—溫度;

—密封源的體積與某些泄漏檢驗(yàn)使用的檢漏小室的體積以及浸沒(méi)被檢驗(yàn)密封源使用的液體體積

之}it]的比例因子。

擦拭檢驗(yàn)在一般情況下不應(yīng)作為泄漏檢驗(yàn)方法，只有對(duì)某些特殊類(lèi)型的源(例如，薄窗源)進(jìn)行定期

GB15849---1995

檢查，且在沒(méi)有其他更合適的檢驗(yàn)方法的情況下才使用擦拭檢驗(yàn)法

不同檢驗(yàn)方法的探測(cè)闌值和限值

}、，值卜—

}}不可櫻出內(nèi)容物

限值

可浸出內(nèi)4物或氣體tN容物

幽麟一十1|1止︸

活度

13q

02-棍們

10^-1

10-1

工0-1

4-0.4

0.4--0.004

10--1

10-1

02("z'Rnt12h)

0.2fs1Rn門(mén)Zh)

a.20.2:.:

1縣J一飛231212

王一條一1工12233

表一章一樂(lè)。55。。5

檢臉?lè)椒?/p>

熱液體浸泡檢驗(yàn)

沸騰液體浸泡檢驗(yàn)

液體閃爍液攫泡檢驗(yàn)

射氣檢驗(yàn)

液體閃爍射氣檢驗(yàn)

澀式擦拭檢驗(yàn)

十式擦拭檢驗(yàn)

標(biāo)準(zhǔn)氮泄漏率9P.

氦儉驗(yàn)

氦加壓檢驗(yàn)

真空鼓泡檢驗(yàn)

熱液體鼓泡檢驗(yàn)

氣體加壓鼓泡檢驗(yàn)

液氮鼓泡檢Ift

:，:.

10-101-10-1102

t^"10芝

::一}:，

6，23

624

10-zz,

10乙

水的質(zhì)量增量,7+5

水加爪檢驗(yàn)

1)不適用。

2)這些探惻限值僅適干良好觀察條件下的單次泄漏.

”不夠靈敏

在通常情況下，用更精確的已校準(zhǔn)的裝置進(jìn)行最終測(cè)里之前，應(yīng)該先用常用的沾污測(cè)量裝置(例如，

蓋革計(jì)數(shù)管)立即核查擦拭檢驗(yàn)或液體浸泡檢驗(yàn)樣品，以確定是否有明顯沾污。

本標(biāo)準(zhǔn)參考資料列于附錄B(提示的附錄)，充分考慮了標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容與相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的協(xié)調(diào)一致

5放射性檢驗(yàn)方法

5-飛浸泡檢驗(yàn)

5.1.1熱液體浸泡檢驗(yàn)

將密封源浸泡在既不腐蝕源表面材料，又能在這種檢驗(yàn)條件下有效地去除泄漏出來(lái)的所有痕魚(yú)放

射性物質(zhì)的液體中(這類(lèi)液體有蒸餾水、稀的洗滌劑溶液或贅合劑、5%左右的微酸性溶液或微堿性YFr

液)。將液體加熱到5。士5C,使源在該溫度下浸泡4h以上。取出密封源，并Mil量液體的放射性活度

注也可使用超聲清洗法，使用該法時(shí)，密封源在70士5、C的液休中浸泡時(shí)間可以減少到30mm左右

5.1.2沸騰液體浸泡檢驗(yàn)

GB15849-1995

將密封源浸泡在既不腐蝕源的表面材料，又能在這種檢驗(yàn)條件下有效地去除泄漏出來(lái)的所有痕給

放射性物質(zhì)的液體中，煮沸10min，使其冷卻，然后用新鮮浸泡液清洗密封源。再把密封源浸泡在一份

新鮮浸泡液中，煮沸10min取出密封源，并測(cè)量液體的放射性活度。

5門(mén).3液體閃爍液浸泡檢驗(yàn)

室溫下.將密封源浸泡在不腐蝕源表面材料的液體閃爍液內(nèi)至少3h}避光存放，以防光致發(fā)光。取

出密封源，并用液體閃爍計(jì)數(shù)法測(cè)量液體的放射性活度。

5.1.4'4溫浸泡檢驗(yàn)”

將密封源浸泡在20士5C的既不腐蝕源表面材料，又能在這種檢驗(yàn)條件下有效地去除泄漏出來(lái)的

所有痕最放射性物質(zhì)的液體中24h取出密封源，并測(cè)量液體的放射性活度

5門(mén).5判定檢驗(yàn)合格的準(zhǔn)則

如果測(cè)得放射性活度不超過(guò)。.2k鞠(--5nCi)，則判定源是密封的。

5.2q,t氣檢驗(yàn)

5.2.1射氣檢驗(yàn)—吸收法(適用于鐳一226密封源)

將密封源放'2i在一個(gè)小氣密容器中，容器內(nèi)放一些合適的吸收劑，例如，活性碳、棉花或聚乙烯，放

'i`i`3h以上。迅速取出密封源并關(guān)閉容器，立刻測(cè)量吸收劑上的放射性活度。

5.2.2液體閃爍浸泡射氣檢驗(yàn)法(適用于鐳一2“密封源)

按照5.1.3敘述的步驟進(jìn)行。

5.2.3射氣檢驗(yàn)法(適用于t-85密封源)

將密封源在減壓條件下放置24h用塑料閃爍計(jì)數(shù)法測(cè)量密封小室中氫-85的含量,7d以后重復(fù)

進(jìn)行該檢驗(yàn)。

5.2.4其他射氣檢驗(yàn)方法

可以使用與5.2.1-5.2.3相當(dāng)?shù)娜魏纹渌麢z驗(yàn)方法。

5.2.5判定檢驗(yàn)合格的準(zhǔn)則

當(dāng)完成5.2.1和5.2.2的檢驗(yàn)后，如果12h收集的氧的放射性活度不超過(guò)。.2kBq(}5nCi)時(shí)，

則判定源是密封的。當(dāng)檢驗(yàn)周期小于12h時(shí)，必須作相應(yīng)的修正。

當(dāng)完成5.2.3和5.2.4的檢驗(yàn)后，如果測(cè)得的放射性活度不超過(guò)4kBq/24h(-100nCi/24h)時(shí).

則判定源是密封的。

5.3擦拭檢驗(yàn)

如果在進(jìn)行機(jī)械的或加熱的原型檢驗(yàn)之后使用擦拭檢驗(yàn)檢查源的密封性時(shí)，必須在檢驗(yàn)之前首先

清洗(去污)被檢驗(yàn)的密封源

當(dāng)用擦拭檢驗(yàn)作為制造階段進(jìn)行泄漏檢驗(yàn)的手段時(shí)，必須在檢驗(yàn)之前首先清洗密封源，并應(yīng)存放觀

察7d。

5.11濕式擦拭檢驗(yàn)

用濾紙或其他合適的高吸濕性材料作成擦帚，將其用不腐蝕源外表材料的液體潤(rùn)濕，而且，在這種

檢驗(yàn)條件下使用的液體必須能有效地去除源表面沾有的任何放射性物質(zhì)。用擦帚徹底地擦拭密封源的

所有外表面，并測(cè)量擦帚的放射性活度。

5.3.2干式擦拭檢驗(yàn)

對(duì)不適于使用濕擦帚的場(chǎng)所，例如，對(duì)于高活度的鉆一60源的檢查或某些源的定期檢查，可以使用

干式擦拭檢驗(yàn)。

為了進(jìn)行這種檢驗(yàn)，先用于濾紙擦帚徹底擦密封源的所有外表面，再測(cè)量擦帚的放射性活度

I)該檢驗(yàn)對(duì)沒(méi)有熱液體檢驗(yàn)方法的場(chǎng)所可能是有用的，但是，在可能的情況下，推薦使用熱液體檢驗(yàn)法，因?yàn)闊嵋?/p>

體檢驗(yàn)法已)一泛使用多年，而且很有效。

GB15849-1995

5.13判定檢驗(yàn)合格的準(zhǔn)則

如果測(cè)得的放射性活度不超過(guò)。.2kBq(--5nCi)，則判定源是密封的。

注:對(duì)干可接近的表面，使用擦拭檢驗(yàn)的要點(diǎn)是盡可能地接近密封源，而且需要注意輻射防護(hù)

6非放射性檢驗(yàn)法

當(dāng)采用非放射性檢驗(yàn)程序時(shí)，應(yīng)該確定容積泄漏率和放射性物質(zhì)損失量之間的關(guān)系。實(shí)際上，要確

定這種關(guān)系是困難的，因?yàn)槊芊庠粗惺褂玫姆派湫晕镔|(zhì)的形態(tài)是多種多樣的，而且泄漏的類(lèi)型也不相

同。

本標(biāo)準(zhǔn)中給出的容積泄漏率和放射性物質(zhì)損失量之間關(guān)系值是來(lái)源于國(guó)際原子能機(jī)構(gòu)文件公布的

數(shù)據(jù)，雖然還未被實(shí)驗(yàn)工作完全證實(shí)，但容積泄漏檢驗(yàn)法已使用多年，經(jīng)驗(yàn)表明，這些有效的檢驗(yàn)方法是

可以接受的

在按照6.1--6.3進(jìn)行檢驗(yàn)之前，首先應(yīng)該徹底地清洗密封源，并使之完全干燥。

對(duì)可浸出的或氣態(tài)內(nèi)容物的密封源可以采用6.1的氦氣檢驗(yàn)。

必須保證檢驗(yàn)方法不存在可能導(dǎo)致檢驗(yàn)結(jié)果無(wú)效的嚴(yán)重不足，例如，目視檢查，或是比本標(biāo)準(zhǔn)敘述

的檢驗(yàn)靈敏度差的方法。除6.3敘述的檢驗(yàn)之外，要使檢驗(yàn)有效，密封源內(nèi)的自由空間必須大于0.1

cm'。如果把這種檢驗(yàn)用于自由空間小于。.1cm'的密封源，使用者必須能證明這種檢驗(yàn)是有效的。

對(duì)于可浸出的或氣態(tài)內(nèi)容物的密封源只能利用探測(cè)限低的氦檢驗(yàn)(6.1)

6門(mén)氦質(zhì)譜儀泄漏檢驗(yàn)

6.飛.飛氦檢驗(yàn)

把內(nèi)部充氦氣的密封源放于合適的真空室內(nèi)，隨即用氦質(zhì)譜儀抽真空。按照泄漏檢驗(yàn)設(shè)備廠家的推

薦方法，估算實(shí)際的氦泄漏率。

必須保證密封源內(nèi)充人的工業(yè)級(jí)氦的濃度大于5%。用前面估算的指示氦泄漏率除以自由空間內(nèi)

氦濃度，就得到實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)氦泄漏率。

6.1.2氦加壓檢驗(yàn)

把密封源放入加壓室內(nèi)，用氦氣清除氣室內(nèi)的空氣。將氣室加壓到規(guī)定的氦氣壓力，并維持該壓力

到規(guī)定的時(shí)間。將氣室泄壓，用千燥氦氣沖洗或用揮發(fā)的氟代烴液體清洗密封源，將源轉(zhuǎn)移到合適的真

空室內(nèi)，按照6.1.1的程序測(cè)量氦泄漏率。

按照下列公式計(jì)算指示氦泄漏率Q和實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)氦泄漏率L:

Q=

LA

P蕊V

一。??。·..·‘················，··。。?(1

式中:Q—指示氦泄漏率，pPa"m'"s-',

I,—在1pPa"m'"s-'-10-'pPa"m'"s-’范圍內(nèi)的實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)氦泄漏率，pPa"m''

1.7"/QV/Pt);

P.—標(biāo)準(zhǔn)大氣壓，pPa,P,=1.01325X10'pPa;

P氦氣壓力，pPa;

t—加壓時(shí)間，5;

V-源內(nèi)自由空間，m3。

注I:如果氦氣壓力為P，單位為兆帕(實(shí)際氦氣壓力在0.5MPa和10MPa之間)，維持壓力P在某-

i.t的單位為小時(shí)，在加壓和惻量之間的延遲時(shí)間小干10min.而且，考慮到密封源內(nèi)白由空問(wèn)V(

厘米)大于0.1cm'的情況，可以選擇簡(jiǎn)便的檢驗(yàn)參數(shù)，用下式計(jì)算檢驗(yàn)結(jié)果:

·1一’(工蓉

規(guī)定的時(shí)間

單位為立方

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Q一。.35X學(xué)

...................................。二(2)

注2:在分f-流通過(guò)單孔或多孔泄漏的情況下，公式(2)是有效的。在高百分比粘滯層流的情況下，該公式會(huì)導(dǎo)致實(shí)

際標(biāo)準(zhǔn)氦泄漏率的結(jié)果略微偏高，而這個(gè)因素對(duì)檢驗(yàn)結(jié)果的影響很小.

6.1.3判定檢驗(yàn)合格的準(zhǔn)則

當(dāng)完成這些檢驗(yàn)的時(shí)候，如果對(duì)不可浸出的內(nèi)容物實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)氦泄漏率低于1pPa"m''"s’，而對(duì)

可浸出的或氣態(tài)內(nèi)容物實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)氦泄漏率低于10-2ppa"ui'"s-'，則判定源是密封的(見(jiàn)表1)

6.2鼓泡泄漏檢驗(yàn)

鼓泡泄漏檢驗(yàn)依靠增加內(nèi)壓，隨后，氣體從內(nèi)部孔隙滲漏出來(lái)，在液體浴中形成一些可見(jiàn)的氣泡對(duì)

某種特定的漏孔而言，鼓泡率隨著液體表面張力的降低而增加。

6，2.1真空鼓泡檢驗(yàn)

向個(gè)適當(dāng)大小的真空室內(nèi)，放入乙二醇、異丙醇、礦物油(或硅油)或含有潤(rùn)濕劑的水作為泄漏檢

驗(yàn)用的液體。將真空室抽氣lmin以上，以降低液體內(nèi)的空氣含量。再恢復(fù)到常壓，將密封源完全浸沒(méi)在

液體中，使源的頂端在液面以下至少5cm。再將真空室內(nèi)的絕對(duì)壓力降低到1525kPa之間。觀察

1mai以上，看是否有氣泡從密封源逸出。

6.2.2熱液體鼓泡檢驗(yàn)

檢驗(yàn)前，確保密封源處于室溫下。將室溫下的密封源放入90.95℃的水浴中，源的頂端至少在水面

以下5cm的深度。也可以用120-150C的甘油代替水。觀察1min以上，看是否有氣泡從密封源逸出

在可能的情況下，最好觀察2min以上，特別是在源殼熱容量較大和導(dǎo)熱系數(shù)較差的時(shí)候，必須觀察

2--以_L

6.2.3氣體加壓鼓泡檢驗(yàn)

將密封源放入合適的耐壓室內(nèi)，其室內(nèi)空間至少二倍于源的體積和五倍于源內(nèi)自由空間體積。向耐

壓室充入氦氣，至壓力在1MPa以上維持15min。迅速泄壓，將密封源取出，并立即浸泡在乙二醇、異丙

醇、丙酮或含有潤(rùn)濕劑的水中，使源頂端在液面以下至少5cm，觀察1min以上，看是否有氣泡從密封

源逸出。

6.2.4液氮鼓泡檢驗(yàn)

將密封源完全浸泡在液氮中約5min，隨后，立即轉(zhuǎn)移到檢驗(yàn)液體(通常使用甲醇)內(nèi)，觀察1min以

L，看是否有氣泡從密封源逸出。

6.2.5判定檢驗(yàn)合格的準(zhǔn)則

當(dāng)完成6.2.1-6.2.4所敘述的檢驗(yàn)之后，如果看不到氣泡出現(xiàn)，就可斷定密封源的泄漏率低于

1;iPa"m'"s-'，如果內(nèi)容物是不可浸出的，就可判定源是密封的。

6.3水加壓檢驗(yàn)

先在天平上準(zhǔn)確稱量密封源的質(zhì)量，再用水進(jìn)行實(shí)驗(yàn)性加壓檢驗(yàn)，擦干密封源，再用同一臺(tái)夭平準(zhǔn)

確稱t源的質(zhì)量。

如果質(zhì)量的增加小于50pg，密封源的內(nèi)容物是不可浸出的，則可判定源是密封的。

只有當(dāng)計(jì)算的密封源內(nèi)自由空間容納的水量比天平靈敏度大5倍以上時(shí)，該檢驗(yàn)才是有效的。這種

檢驗(yàn)特別適用于評(píng)定GB4075中3,4,5,6級(jí)的外壓檢驗(yàn)

GB15849-1995

附錄A

(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)

按照控制類(lèi)型和密封源類(lèi)型選擇檢驗(yàn)方法指南

本附錄給出了按照密封源的類(lèi)型(設(shè)計(jì)和特性等)選擇最合適的檢驗(yàn)方法的指南，以進(jìn)行質(zhì)量控制、

生產(chǎn)控制和定期檢查。

盡管表A1的內(nèi)容不很全面，但它包括了一個(gè)很寬的范圍，對(duì)許多密封源的設(shè)計(jì)都能起到指導(dǎo)作

用〔表A1分別列出了首選檢驗(yàn)方法和次選檢驗(yàn)方法。

A1密封源生產(chǎn)的泄漏檢驗(yàn)

對(duì)于含有放射性核素的密封源的生產(chǎn)，可以按照各種密封源的設(shè)計(jì)和工藝，從表A1中選定最合適

的泄漏檢驗(yàn)方法

A2原型密封源的泄淚檢驗(yàn)

為了使按照GB4075確定原型密封源的分級(jí)檢驗(yàn)有效，可以按照下列幾種源的類(lèi)型進(jìn)行泄漏檢

驗(yàn)

a)具有名義放射性含量的原型密封源;

b)模擬密封源;

c)假密封源。

顯然，最后一種密封源必須使用非放射性泄漏檢驗(yàn)方法

根據(jù)密封源的工藝和設(shè)計(jì)，從表A1中可以選定最合適的泄漏檢驗(yàn)方法。

A3定期檢查

當(dāng)密封源從生產(chǎn)廠供貨之后，每隔一定時(shí)間就需要進(jìn)行檢驗(yàn)，以檢查這些密封源是否有泄漏。檢驗(yàn)

的周期隨著密封源的類(lèi)型、設(shè)計(jì)和工作環(huán)境的不同而變化。

這些檢驗(yàn)方法不需要和生產(chǎn)密封源使用的檢驗(yàn)方法相同。重要的一點(diǎn)是考慮密封源使用的環(huán)境以

及它在有效使用期內(nèi)可能遭受的各種危險(xiǎn)。

實(shí)際上，在考慮密封源的定期檢驗(yàn)時(shí)，可能會(huì)遇到下列幾種情況:

a)密封源只能在使用現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)，而且，對(duì)最可接近的部位只能用擦拭檢驗(yàn)。在這種情況下，選擇擦

拭檢驗(yàn)(5.3)如果可能，還應(yīng)對(duì)密封源進(jìn)行目視檢查。

表A1與制造工藝有關(guān)的泄漏檢驗(yàn)方法的選擇

廠一一一一一一一-一‘!生產(chǎn)源使用的檢驗(yàn)}確定源的分級(jí)使用的檢、

源的類(lèi)型

首選次選

首選次選

A含放射性物質(zhì)的密封源

Al單層薄窗源

例如，煙霧探測(cè)器

A2低活度標(biāo)準(zhǔn)源

例如，封裝在塑料中的源

浸泡(5.1)擦拭(5.3)

浸泡(5.1)擦拭(5.3)

GB15849-1995

續(xù)表A1

源的類(lèi)型

生產(chǎn)源使用的檢驗(yàn)確定源的分級(jí)使用的檢驗(yàn)

首選次選首選次選

A3計(jì)量，射線照相和近距離射線治療用的單層或

雙層密封源('H和’'sRa除外)

浸泡(5.1)

氦檢驗(yàn)(6.1)

鼓泡(6.2)浸泡(5.1)

氦檢驗(yàn)(6.1)

鼓泡(6.2)

A4單層或雙層密封的鐳226和其他氣體源射氣檢驗(yàn)(5.2)浸泡(5.1)射氣檢驗(yàn)(5.2)

浸泡(5.1)

A5遠(yuǎn)距離治療用的雙層密封源和高活度的輻照

源

氦檢驗(yàn)(6.1)

浸泡(5.1)

擦拭(5.3.2)

浸泡(5.1)

氦檢驗(yàn)(6.1)

鼓泡(6.2)

RA3,A4和A5型的模擬密封源

浸泡(5.1)

氦檢驗(yàn)(6.1)

鼓泡(6.2)

C假密封源氦檢驗(yàn)(6.1)鼓泡(6.2)

b)密封源只能在使用現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)，而且，直接接觸源是不可能的或是不希望的，因?yàn)檫M(jìn)行這種檢驗(yàn)，

操作人員要受到超劑量的照射。例如，高活度遠(yuǎn)距離治療源或是密封容器中的其它源。在這種情況下，

應(yīng)對(duì)源的最可接近的部位進(jìn)行擦拭檢驗(yàn)。

值得注意的是，如果檢驗(yàn)發(fā)現(xiàn)有放射性存在，即使在。.2kBq(}5nCi)限值以下也應(yīng)采取措施，以

判定是否由于源的泄漏引起的。在這種情況下隔一定的時(shí)間要進(jìn)行重復(fù)檢驗(yàn)，以確定測(cè)定的放射性活度

是否在增加。

c)在某些單位(例如，醫(yī)院)當(dāng)有條件利用擦拭以外的方法檢驗(yàn)密封源，或?qū)⒃催\(yùn)回生產(chǎn)廠或其他

合適的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí)，可使用表A1中生產(chǎn)密封源推薦使用的檢驗(yàn)方法。如有可能，還應(yīng)對(duì)密封源

進(jìn)行目視檢查。

應(yīng)特別注意，當(dāng)進(jìn)行定期檢驗(yàn)時(shí)必須保證控制輻射照射水平在可接受的限值之內(nèi)。

附錄B

(提示的附錄)

參考資料

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