• 現(xiàn)行
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  • 2025-02-20 頒布
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【正版授權(quán)-英語版】 ISO/TS 25138:2025 EN Surface chemical analysis - Analysis of metal oxide films by glow discharge optical emission spectrometry_第1頁
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基本信息：

  • 標準號：ISO/TS 25138:2025 EN
  • 標準名稱：金屬氧化物薄膜的輝光放電光學(xué)發(fā)射光譜分析
  • 英文名稱：Surface chemical analysis — Analysis of metal oxide films by glow discharge optical emission spectrometry
  • 標準狀態(tài)：現(xiàn)行
  • 發(fā)布日期：2025-02-20

文檔簡介

ISO/TS25138:2025《表面化學(xué)分析——用輝光放電等離子發(fā)射光譜法分析金屬氧化物薄膜》是針對金屬氧化物薄膜的分析方法的標準，提供了一種具體分析步驟和規(guī)范化的方法，其主要包括以下幾個部分：

一、引言部分：對標準的基本概述和背景信息，明確該標準的目的和范圍。

二、原理部分：詳細解釋了使用輝光放電等離子發(fā)射光譜法進行分析的基本原理，包括該方法的優(yōu)點和局限性。

三、設(shè)備與材料部分：詳細介紹了進行金屬氧化物薄膜分析所需的設(shè)備、試劑和樣品制備方法等，包括各種必要的條件和參數(shù)設(shè)置。

四、實驗部分：詳細描述了實驗的步驟和方法，包括樣品放置、輝光放電條件設(shè)置、光譜采集和分析等。

五、結(jié)果與討論部分：對實驗結(jié)果進行詳細描述，并對結(jié)果進行討論和分析，可能包括對誤差的評估和討論。

六、參考文獻部分：列出標準中引用的所有文獻和資料，以供讀者參考。

ISO/TS25138:2025《表面化學(xué)分析——用輝光放電等離子發(fā)射光譜法分析金屬氧化物薄膜》提供了一種詳細、規(guī)范化的方法，用于金屬氧化物薄膜的分析，可以幫助實驗室更好地理解和掌握金屬氧化物薄膜的性質(zhì)和變化規(guī)律。

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