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《ASIC庫(kù)設(shè)計(jì)》PPT課件——深入解析硬件設(shè)計(jì)庫(kù)的構(gòu)建與應(yīng)用ASIC庫(kù)設(shè)計(jì)是現(xiàn)代硬件設(shè)計(jì)中不可或缺的一部分。它提供了構(gòu)建復(fù)雜硬件系統(tǒng)的基礎(chǔ)模塊,能夠顯著提升設(shè)計(jì)效率、降低開(kāi)發(fā)成本。ASIC設(shè)計(jì)流程概述設(shè)計(jì)輸入ASIC設(shè)計(jì)以硬件描述語(yǔ)言(HDL)或圖形工具作為設(shè)計(jì)輸入。HDL能夠描述電路的結(jié)構(gòu)和行為。設(shè)計(jì)輸入需經(jīng)過(guò)語(yǔ)法和語(yǔ)義檢查,并轉(zhuǎn)換為可理解的格式。邏輯綜合綜合工具將HDL描述的電路轉(zhuǎn)換為門級(jí)網(wǎng)表,并優(yōu)化電路性能、面積和功耗。此階段會(huì)根據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)單元選擇合適的門級(jí)電路。布局布線布局布線工具將門級(jí)網(wǎng)表轉(zhuǎn)換為物理布局,確定每個(gè)元件在芯片上的位置和互連方式。此階段會(huì)根據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行布局規(guī)劃和布線優(yōu)化。驗(yàn)證與測(cè)試ASIC設(shè)計(jì)需要進(jìn)行嚴(yán)格的驗(yàn)證和測(cè)試,確保電路功能和性能符合預(yù)期。驗(yàn)證測(cè)試通常利用仿真工具進(jìn)行。什么是ASIC庫(kù)基本單元ASIC庫(kù)包含基本的邏輯門單元,例如與門、或門、非門、異或門等。這些單元是構(gòu)成復(fù)雜電路的基礎(chǔ)。功能單元ASIC庫(kù)還包含一些功能單元,例如加法器、乘法器、比較器、移位器等。這些單元可以完成特定的功能,可以用于構(gòu)建復(fù)雜電路。IP核IP核是預(yù)先設(shè)計(jì)好的、可重復(fù)使用的功能模塊,可以用于構(gòu)建復(fù)雜的ASIC系統(tǒng)。IP核通常由第三方供應(yīng)商提供。ASIC庫(kù)的重要性ASIC庫(kù)提供了預(yù)先設(shè)計(jì)好的、經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)單元,能夠顯著提升設(shè)計(jì)效率。無(wú)需從頭開(kāi)始設(shè)計(jì)每個(gè)單元,設(shè)計(jì)師可以專注于系統(tǒng)級(jí)的設(shè)計(jì)。ASIC庫(kù)中的單元通常經(jīng)過(guò)優(yōu)化,能夠?qū)崿F(xiàn)最佳的性能、面積和功耗,從而優(yōu)化芯片的設(shè)計(jì)。ASIC庫(kù)中的IP核可以重復(fù)使用,可以縮短設(shè)計(jì)周期,降低開(kāi)發(fā)成本。IP核的使用還可以提升芯片的功能和復(fù)雜度。ASIC庫(kù)的組成部分1ASIC庫(kù)包含各種各樣的基本單元、功能單元和IP核,它們共同組成了ASIC設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)。2標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)包含大量的標(biāo)準(zhǔn)單元,例如各種邏輯門、加法器、乘法器等,這些單元用于構(gòu)建數(shù)字電路。3IP核庫(kù)包含預(yù)先設(shè)計(jì)好的功能模塊,例如處理器、存儲(chǔ)器控制器、接口模塊等,可以用于構(gòu)建復(fù)雜的ASIC系統(tǒng)。4ASIC庫(kù)還包含一些設(shè)計(jì)工具,例如綜合工具、布局布線工具、仿真工具等,這些工具可以幫助設(shè)計(jì)師設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和測(cè)試ASIC芯片。電路單元設(shè)計(jì)要求功能正確電路單元必須實(shí)現(xiàn)其設(shè)計(jì)的功能,不能出現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤或功能缺陷。性能滿足要求電路單元的性能必須滿足系統(tǒng)的設(shè)計(jì)要求,例如延遲、功耗、面積等??蓽y(cè)試性電路單元必須具有良好的可測(cè)試性,能夠方便地進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)證??梢浦残噪娐穯卧獞?yīng)該能夠移植到不同的工藝節(jié)點(diǎn),并保持其功能和性能。電路單元設(shè)計(jì)實(shí)踐需求分析根據(jù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)需求,確定電路單元的功能和性能指標(biāo)。1邏輯設(shè)計(jì)使用硬件描述語(yǔ)言(HDL)或圖形工具設(shè)計(jì)電路單元的邏輯結(jié)構(gòu)。2功能驗(yàn)證利用仿真工具驗(yàn)證電路單元的功能是否符合預(yù)期,并對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行必要的調(diào)試。3性能優(yōu)化對(duì)電路單元進(jìn)行優(yōu)化,以提升其性能、面積和功耗指標(biāo)。4布局布線將電路單元布局在芯片上,并連接各個(gè)元件,生成物理布局。5電路單元仿真與驗(yàn)證1功能仿真使用仿真工具驗(yàn)證電路單元的功能是否符合預(yù)期,并對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行必要的調(diào)試。2時(shí)序仿真使用仿真工具分析電路單元的時(shí)序特性,確保電路單元能夠滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。3功耗仿真使用仿真工具分析電路單元的功耗特性,確保電路單元能夠滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。電路單元布局布線自動(dòng)布局布線使用布局布線工具自動(dòng)生成電路單元的物理布局,并連接各個(gè)元件。手動(dòng)布局布線手動(dòng)調(diào)整電路單元的布局和布線,以優(yōu)化其性能、面積和功耗。電路單元性能優(yōu)化1面積優(yōu)化減少電路單元的面積,從而降低芯片的成本和功耗。2速度優(yōu)化提升電路單元的速度,從而提高芯片的性能。3功耗優(yōu)化降低電路單元的功耗,從而延長(zhǎng)芯片的使用壽命。IP核的概念與分類什么是IP核IP核是預(yù)先設(shè)計(jì)好的、可重復(fù)使用的功能模塊,可以用于構(gòu)建復(fù)雜的ASIC系統(tǒng)。IP核分類IP核可以根據(jù)其功能和用途進(jìn)行分類,例如處理器核、存儲(chǔ)器控制器、接口模塊、協(xié)議棧等。IP核設(shè)計(jì)規(guī)范設(shè)計(jì)規(guī)范IP核設(shè)計(jì)必須遵循嚴(yán)格的設(shè)計(jì)規(guī)范,確保其功能正確、性能可靠、可測(cè)試性良好。文檔規(guī)范IP核必須提供完整的文檔,包括功能描述、接口定義、時(shí)序信息、測(cè)試方法等。驗(yàn)證規(guī)范IP核必須經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的驗(yàn)證測(cè)試,以確保其功能和性能符合設(shè)計(jì)要求。IP核的建模與仿真1使用硬件描述語(yǔ)言(HDL)或其他建模工具對(duì)IP核進(jìn)行建模,描述其功能和行為。2利用仿真工具驗(yàn)證IP核的功能是否符合預(yù)期,并對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行必要的調(diào)試。3使用仿真工具分析IP核的時(shí)序特性,確保其能夠滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。IP核的版權(quán)保護(hù)版權(quán)聲明IP核必須包含版權(quán)聲明,以保護(hù)其設(shè)計(jì)者和使用者的合法權(quán)益。許可協(xié)議IP核的使用必須遵守相應(yīng)的許可協(xié)議,例如開(kāi)源協(xié)議、商業(yè)協(xié)議等。加密技術(shù)可以采用加密技術(shù)來(lái)保護(hù)IP核的代碼和設(shè)計(jì)信息。IP核的集成應(yīng)用選擇IP核根據(jù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)需求,選擇合適的IP核,例如處理器核、存儲(chǔ)器控制器、接口模塊等。集成IP核將IP核集成到系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,并連接各個(gè)模塊,構(gòu)建完整的ASIC系統(tǒng)。驗(yàn)證測(cè)試對(duì)整個(gè)ASIC系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)試,確保其功能和性能符合預(yù)期。面向ASIC的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)單元標(biāo)準(zhǔn)單元是ASIC設(shè)計(jì)中的基本單元,它們是構(gòu)成復(fù)雜電路的基礎(chǔ)。標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)包含大量的標(biāo)準(zhǔn)單元,例如各種邏輯門、加法器、乘法器等。設(shè)計(jì)流程標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的設(shè)計(jì)流程包括單元設(shè)計(jì)、驗(yàn)證測(cè)試、布局布線、特性建模等步驟。這些步驟確保標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的質(zhì)量和可靠性。標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)設(shè)計(jì)的挑戰(zhàn)1標(biāo)準(zhǔn)單元的設(shè)計(jì)必須滿足嚴(yán)格的性能要求,例如延遲、功耗、面積等。同時(shí)還要考慮其可測(cè)試性和可移植性。2標(biāo)準(zhǔn)單元的布局布線需要考慮芯片的面積利用率、布線擁塞、信號(hào)延遲等問(wèn)題。3標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)需要針對(duì)不同的工藝節(jié)點(diǎn)進(jìn)行設(shè)計(jì)和優(yōu)化,以確保其在不同的工藝條件下能夠正常工作。標(biāo)準(zhǔn)單元的選擇與優(yōu)化1單元選擇根據(jù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)需求選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)單元,例如延遲、功耗、面積等要求。2單元優(yōu)化對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行優(yōu)化,以提升其性能、面積和功耗指標(biāo)。例如,使用更小的晶體管尺寸或更先進(jìn)的電路結(jié)構(gòu)。標(biāo)準(zhǔn)單元布局布線策略1標(biāo)準(zhǔn)單元布局布線需要考慮芯片的面積利用率、布線擁塞、信號(hào)延遲等問(wèn)題。常見(jiàn)的布局布線策略包括。2**切片式布局:**將標(biāo)準(zhǔn)單元按照功能和類型分組,排列成切片,并連接各個(gè)切片,形成完整的電路布局。3**區(qū)域式布局:**將芯片分成不同的區(qū)域,并將不同的標(biāo)準(zhǔn)單元布局到不同的區(qū)域,以優(yōu)化芯片的面積利用率和布線擁塞。標(biāo)準(zhǔn)單元性能驗(yàn)證功能驗(yàn)證使用仿真工具驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)單元的功能是否符合預(yù)期,并對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行必要的調(diào)試。時(shí)序驗(yàn)證使用仿真工具分析標(biāo)準(zhǔn)單元的時(shí)序特性,確保其能夠滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。功耗驗(yàn)證使用仿真工具分析標(biāo)準(zhǔn)單元的功耗特性,確保其能夠滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。標(biāo)準(zhǔn)單元特性建模SPICE模型SPICE模型是常用的標(biāo)準(zhǔn)單元特性建模方法,它可以描述標(biāo)準(zhǔn)單元的電流-電壓關(guān)系、延遲、功耗等特性。延時(shí)模型延時(shí)模型可以描述標(biāo)準(zhǔn)單元的延遲隨輸入信號(hào)變化、溫度變化和工藝變化的規(guī)律。功耗模型功耗模型可以描述標(biāo)準(zhǔn)單元的靜態(tài)功耗和動(dòng)態(tài)功耗,以及功耗隨輸入信號(hào)變化、溫度變化和工藝變化的規(guī)律。工藝依賴性與可移植性標(biāo)準(zhǔn)單元的設(shè)計(jì)必須考慮工藝依賴性,例如不同的工藝節(jié)點(diǎn)、不同的制造工藝參數(shù)等都會(huì)影響標(biāo)準(zhǔn)單元的性能。為了提高標(biāo)準(zhǔn)單元的可移植性,需要對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行優(yōu)化,使其能夠移植到不同的工藝節(jié)點(diǎn),并保持其功能和性能。ASIC庫(kù)數(shù)字設(shè)計(jì)實(shí)踐電路設(shè)計(jì)使用硬件描述語(yǔ)言(HDL)或圖形工具設(shè)計(jì)數(shù)字電路,并根據(jù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)需求選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)單元。1功能驗(yàn)證使用仿真工具驗(yàn)證數(shù)字電路的功能是否符合預(yù)期,并對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行必要的調(diào)試。2時(shí)序優(yōu)化對(duì)數(shù)字電路進(jìn)行時(shí)序優(yōu)化,以提升其速度和性能。3布局布線將數(shù)字電路布局在芯片上,并連接各個(gè)元件,生成物理布局。4驗(yàn)證測(cè)試對(duì)整個(gè)ASIC系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)試,確保其功能和性能符合預(yù)期。5數(shù)字電路綜合設(shè)計(jì)1邏輯綜合使用綜合工具將HDL描述的電路轉(zhuǎn)換為門級(jí)網(wǎng)表,并優(yōu)化電路性能、面積和功耗。2技術(shù)映射根據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)單元選擇合適的門級(jí)電路,并對(duì)電路進(jìn)行優(yōu)化,以提升其性能、面積和功耗指標(biāo)。3時(shí)序分析使用時(shí)序分析工具分析電路的時(shí)序特性,確保電路能夠滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。時(shí)序優(yōu)化與分析時(shí)序優(yōu)化對(duì)電路進(jìn)行時(shí)序優(yōu)化,以提升其速度和性能。常見(jiàn)的時(shí)序優(yōu)化方法包括門級(jí)優(yōu)化、布局布線優(yōu)化、時(shí)鐘樹(shù)優(yōu)化等。時(shí)序分析使用時(shí)序分析工具分析電路的時(shí)序特性,例如路徑延遲、關(guān)鍵路徑、時(shí)鐘偏移等,確保電路能夠滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。低功耗設(shè)計(jì)技術(shù)1電壓降級(jí)降低芯片的供電電壓,以減少功耗。此方法通常需要調(diào)整電路的時(shí)序特性。2門控時(shí)鐘當(dāng)電路處于非工作狀態(tài)時(shí),關(guān)閉時(shí)鐘信號(hào),以減少動(dòng)態(tài)功耗。3電源管理采用高效的電源管理技術(shù),以減少芯片的靜態(tài)功耗和動(dòng)態(tài)功耗。ASIC庫(kù)模擬設(shè)計(jì)實(shí)踐1模擬電路設(shè)計(jì)需要考慮電路的增益、帶寬、噪聲、失真等性能指標(biāo),并選擇合適的器件和電路結(jié)構(gòu)。2模擬電路的設(shè)計(jì)流程包括電路設(shè)計(jì)、仿真驗(yàn)證、布局布線、工藝離差分析等步驟。3模擬電路的驗(yàn)證測(cè)試需要使用專門的仿真工具和測(cè)試方法,以確保電路的功能和性能符合預(yù)期。模擬電路設(shè)計(jì)運(yùn)放運(yùn)算放大器是模擬電路中最常用的基本單元之一,用于放大信號(hào)的幅度。比較器比較器用于比較兩個(gè)信號(hào)的大小,并輸出相應(yīng)的邏輯信號(hào)。濾波器濾波器用于去除信號(hào)中的特定頻率成分,例如低通濾波器、高通濾波器等。布局布線與EM/IR分析布局布線將模擬電路布局在芯片上,并連接各個(gè)元件,生成物理布局。EM/IR分析對(duì)模擬電路進(jìn)行電磁場(chǎng)分析和寄生參數(shù)提取,以評(píng)估其性能和可靠性。工藝離差與可靠性工藝離差是指芯片制造過(guò)程中出現(xiàn)的參數(shù)偏差,例如晶體管尺寸、器件參數(shù)等,會(huì)影響電路的性能和可靠性。需要對(duì)模擬電路進(jìn)行工藝離差分析,以評(píng)估其在不同工藝條件下的性能和可靠性。ASIC庫(kù)的設(shè)計(jì)工具EDA工具鏈EDA工具鏈?zhǔn)茿SIC設(shè)計(jì)中常用的軟件工具集合,包括邏輯綜合工具、布局布線工具、仿真工具、驗(yàn)證工具等。設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)管理設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)管理工具用于管理ASIC設(shè)計(jì)過(guò)程中產(chǎn)生的各種數(shù)據(jù),例如HDL代碼、網(wǎng)表、布局布線文件等。版本控制版本控制工具用于跟蹤ASIC設(shè)計(jì)過(guò)程中的代碼和文件修改,方便回滾和恢復(fù)到之前的版本。EDA工具鏈概述1邏輯綜合工具將HDL描述的電路轉(zhuǎn)換為門級(jí)網(wǎng)表,并優(yōu)化電路性能、面積和功耗。2布局布線工具將門級(jí)網(wǎng)表轉(zhuǎn)換為物理布局,確定每個(gè)元件在芯片上的位置和互連方式。3仿真工具用于驗(yàn)證電路的功能和性能,并對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行必要的調(diào)試。4驗(yàn)證工具用于驗(yàn)證電路的時(shí)序、功耗和可靠性等特性。設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)管理文件管理管理ASIC設(shè)計(jì)過(guò)程中產(chǎn)生的各種文件,例如HDL代碼、網(wǎng)表、布局布線文件等。版本控制跟蹤ASIC設(shè)計(jì)過(guò)程中的代碼和文件修改,方便回滾和恢復(fù)到之前的版本。配置管理管理ASIC設(shè)計(jì)過(guò)程中的配置信息,例如工藝庫(kù)、工具選項(xiàng)、設(shè)計(jì)參數(shù)等。版本控制與配置管理版本控制版本控制工具可以跟蹤ASIC設(shè)計(jì)過(guò)程中的代碼和文件修改,方便回滾和恢復(fù)到之前的版本。常用的版本控制工具包括Git、SVN等。配置管理配置管理工具可以管理ASIC設(shè)計(jì)過(guò)程中的配置信息,例如工藝庫(kù)、工具選項(xiàng)、設(shè)計(jì)參數(shù)等。常用的配置管理工具包括Jenkins、TravisCI等。設(shè)計(jì)自動(dòng)化腳本1腳本語(yǔ)言使用腳本語(yǔ)言編寫自動(dòng)化腳本,例如Python、Perl等,可以自動(dòng)化執(zhí)行一些重復(fù)性的設(shè)計(jì)任務(wù)。2腳本功能自動(dòng)化腳本可以完成各種任務(wù),例如運(yùn)行仿真工具、生成測(cè)試用例、分析設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)等。ASIC庫(kù)的測(cè)試驗(yàn)證電路單元測(cè)試對(duì)ASIC庫(kù)中的每一個(gè)電路單元進(jìn)行測(cè)試,確保其功能和性能符合預(yù)期。IP核測(cè)試對(duì)ASIC庫(kù)中的每一個(gè)IP核進(jìn)行測(cè)試,確保其功能和性能符合預(yù)期。標(biāo)準(zhǔn)單元測(cè)試對(duì)ASIC庫(kù)中的每一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行測(cè)試,確保其功能和性能符合預(yù)期。電路單元測(cè)試1設(shè)計(jì)測(cè)試用例,覆蓋電路單元的所有功能和邊界條件。2使用仿真工具運(yùn)行測(cè)試用例,并分析測(cè)試結(jié)果,確保電路單元的功能和性能符合預(yù)期。3對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和評(píng)估,找出潛在的問(wèn)題并進(jìn)行修復(fù)。IP核測(cè)試功能測(cè)試驗(yàn)證IP核的功能是否符合預(yù)期,并對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行必要的調(diào)試。性能測(cè)試測(cè)試IP核的性能指標(biāo),例如延遲、功耗、面積等,確保其滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。接口測(cè)試驗(yàn)證IP核的接口定義和協(xié)議是否符合預(yù)期。標(biāo)準(zhǔn)單元測(cè)試功能測(cè)試驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)單元的功能是否符合預(yù)期,并對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行必要的調(diào)試。性能測(cè)試測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)單元的性能指標(biāo),例如延遲、功耗、面積等,確保其滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求??蓽y(cè)試性測(cè)試驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)單元的可測(cè)試性,確保其能夠方便地進(jìn)行測(cè)試和驗(yàn)證。綜合集成測(cè)試測(cè)試策略制定合理的測(cè)試策略,例如覆蓋率測(cè)試、邊界條件測(cè)試、隨機(jī)測(cè)試等。測(cè)試工具使用專業(yè)的測(cè)試工具,例如仿真工具、測(cè)試生成工具等,進(jìn)行綜合集成測(cè)試。ASIC庫(kù)的發(fā)布維護(hù)版本管理對(duì)ASIC庫(kù)進(jìn)行版本管理,方便用戶獲取最新的版本。問(wèn)題修復(fù)及時(shí)修復(fù)ASIC庫(kù)中發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題,并發(fā)布新的版本。技術(shù)文檔提供完整的ASIC庫(kù)技術(shù)文檔,方便用戶使用和維護(hù)。版本管理策略1采用合理的版本命名規(guī)則,例如使用日期、版本號(hào)等信息。2建立版本控制系統(tǒng),方便用戶獲取最新的版本,并記錄版本更新歷史。3定期發(fā)布新版本,修復(fù)問(wèn)題并提升性能。問(wèn)題修復(fù)與升級(jí)1及時(shí)修復(fù)ASIC庫(kù)中
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