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文檔簡介
勘探設(shè)備在石墨礦勘查中的高效提取技術(shù)考核試卷考生姓名:答題日期:得分:判卷人:
本次考核旨在評估考生對勘探設(shè)備在石墨礦勘查中高效提取技術(shù)的掌握程度,包括設(shè)備操作、數(shù)據(jù)分析、技術(shù)原理等方面。
一、單項(xiàng)選擇題(本題共30小題,每小題0.5分,共15分,在每小題給出的四個(gè)選項(xiàng)中,只有一項(xiàng)是符合題目要求的)
1.石墨礦勘查中,常用的勘探設(shè)備是:()
A.磁力儀
B.地震儀
C.電法儀
D.電磁法儀
2.下列哪種方法不適合石墨礦勘查中的初步探測?()
A.地質(zhì)調(diào)查法
B.地球化學(xué)勘探法
C.遙感勘探法
D.人工探槽法
3.石墨礦勘查中,電法勘探的基本原理是:()
A.根據(jù)電阻率差異進(jìn)行探測
B.根據(jù)磁化率差異進(jìn)行探測
C.根據(jù)放射性差異進(jìn)行探測
D.根據(jù)導(dǎo)電性差異進(jìn)行探測
4.電磁法勘探中,常用的發(fā)射天線是:()
A.線圈天線
B.環(huán)形天線
C.線狀天線
D.點(diǎn)狀天線
5.在石墨礦勘查中,使用淺層地震勘探的目的主要是:()
A.探測礦體形態(tài)
B.探測礦體埋深
C.探測礦體大小
D.探測礦體品位
6.下列哪種方法在石墨礦勘查中不常用于確定礦體邊界?()
A.地質(zhì)剖面法
B.地球化學(xué)法
C.地球物理法
D.地質(zhì)填圖法
7.石墨礦勘查中,使用重力勘探可以:()
A.探測礦體形態(tài)
B.探測礦體埋深
C.探測礦體大小
D.探測礦體品位
8.在石墨礦勘查中,以下哪項(xiàng)不是影響電法勘探精度的因素?()
A.地層電阻率
B.探測深度
C.天氣狀況
D.地形地貌
9.石墨礦勘查中,電磁法勘探的頻率越高,探測深度:()
A.越深
B.越淺
C.不變
D.無法確定
10.在石墨礦勘查中,地磁異常通常與下列哪種地質(zhì)現(xiàn)象有關(guān)?()
A.礦體存在
B.地質(zhì)構(gòu)造
C.地下水活動
D.礦化蝕變
11.下列哪種設(shè)備在石墨礦勘查中不用于直接提取石墨?()
A.挖掘機(jī)
B.鉆機(jī)
C.破碎機(jī)
D.磨粉機(jī)
12.石墨礦勘查中,對樣品進(jìn)行粒度分析的主要目的是:()
A.了解礦床成因
B.評估礦床資源量
C.判斷石墨品質(zhì)
D.分析礦床分布規(guī)律
13.下列哪種技術(shù)可以在石墨礦勘查中實(shí)現(xiàn)高效提???()
A.重力分選法
B.磁選法
C.水力分選法
D.熱處理法
14.在石墨礦勘查中,以下哪種方法不適用于礦床評價(jià)?()
A.地質(zhì)統(tǒng)計(jì)學(xué)
B.地球化學(xué)勘查
C.地球物理勘查
D.市場調(diào)查
15.石墨礦勘查中,常用的樣品采集方法有:()
A.鉆探取樣
B.地表取樣
C.地球化學(xué)取樣
D.以上都是
16.下列哪種設(shè)備在石墨礦勘查中用于進(jìn)行巖石物理性質(zhì)測試?()
A.鉆機(jī)
B.地球物理儀
C.巖石物理性質(zhì)測試儀
D.地質(zhì)填圖儀
17.石墨礦勘查中,電法勘探的電阻率異常通常表示:()
A.礦化異常
B.構(gòu)造異常
C.地下水異常
D.以上都有可能
18.下列哪種方法在石墨礦勘查中不用于礦床成因分析?()
A.地質(zhì)年代學(xué)
B.地球化學(xué)
C.地球物理
D.巖石學(xué)
19.在石墨礦勘查中,以下哪種方法不適用于礦床規(guī)模估算?()
A.地質(zhì)統(tǒng)計(jì)學(xué)
B.地球化學(xué)法
C.地球物理法
D.礦床幾何學(xué)
20.石墨礦勘查中,以下哪種方法不適用于礦床類型劃分?()
A.地質(zhì)分類法
B.地球化學(xué)分類法
C.地球物理分類法
D.樣品分類法
21.在石墨礦勘查中,以下哪種方法不適用于礦床分布規(guī)律研究?()
A.地質(zhì)填圖法
B.地球化學(xué)勘查法
C.地球物理勘查法
D.數(shù)學(xué)建模法
22.石墨礦勘查中,以下哪種設(shè)備不用于樣品制備?()
A.研磨機(jī)
B.篩分機(jī)
C.磁選機(jī)
D.烘箱
23.在石墨礦勘查中,以下哪種方法不適用于礦床勘探?()
A.地質(zhì)填圖法
B.地球化學(xué)勘查法
C.地球物理勘查法
D.市場調(diào)研法
24.下列哪種技術(shù)不適用于石墨礦勘查中的礦床評價(jià)?()
A.資源量計(jì)算
B.礦床品位分析
C.礦床開采技術(shù)條件分析
D.礦床環(huán)境評價(jià)
25.在石墨礦勘查中,以下哪種方法不適用于礦床開采設(shè)計(jì)?()
A.礦床地質(zhì)條件分析
B.礦床開采技術(shù)條件分析
C.礦床經(jīng)濟(jì)效益分析
D.礦床環(huán)境影響評估
26.下列哪種設(shè)備在石墨礦勘查中不用于樣品分析?()
A.原子吸收光譜儀
B.原子熒光光譜儀
C.原子質(zhì)譜儀
D.磁力儀
27.在石墨礦勘查中,以下哪種方法不適用于礦床勘探階段的樣品采集?()
A.地質(zhì)填圖法
B.地球化學(xué)勘查法
C.地球物理勘查法
D.礦床樣品采集法
28.下列哪種方法在石墨礦勘查中不用于礦床類型識別?()
A.地質(zhì)填圖法
B.地球化學(xué)勘查法
C.地球物理勘查法
D.樣品鑒定法
29.在石墨礦勘查中,以下哪種方法不適用于礦床勘探階段的礦床評價(jià)?()
A.地質(zhì)統(tǒng)計(jì)學(xué)
B.地球化學(xué)法
C.地球物理法
D.經(jīng)濟(jì)評價(jià)法
30.下列哪種設(shè)備在石墨礦勘查中不用于礦床勘探?()
A.鉆機(jī)
B.挖掘機(jī)
C.破碎機(jī)
D.地球物理儀
二、多選題(本題共20小題,每小題1分,共20分,在每小題給出的選項(xiàng)中,至少有一項(xiàng)是符合題目要求的)
1.石墨礦勘查中,地球物理勘探方法主要包括:()
A.地震勘探
B.電法勘探
C.電磁法勘探
D.重力勘探
2.石墨礦勘查中,樣品分析常用的檢測技術(shù)有:()
A.原子吸收光譜法
B.原子熒光光譜法
C.X射線熒光光譜法
D.原子質(zhì)譜法
3.在石墨礦勘查中,以下哪些因素會影響電法勘探的結(jié)果?()
A.地層電阻率
B.地形地貌
C.天氣狀況
D.探測設(shè)備
4.石墨礦勘查中,常用的地質(zhì)填圖方法包括:()
A.地質(zhì)剖面法
B.地質(zhì)填圖法
C.地質(zhì)剖面法
D.地質(zhì)填圖法
5.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球化學(xué)勘探時(shí),常用的樣品類型有:()
A.土壤樣品
B.水系沉積物樣品
C.植被樣品
D.空氣樣品
6.在石墨礦勘查中,以下哪些因素會影響電磁法勘探的精度?()
A.探測頻率
B.天線類型
C.地形地貌
D.探測深度
7.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球物理勘探時(shí),以下哪些設(shè)備可能被使用?()
A.磁力儀
B.電法儀
C.電磁法儀
D.鉆機(jī)
8.石墨礦勘查中,樣品分析前需要進(jìn)行的前處理步驟包括:()
A.樣品破碎
B.樣品研磨
C.樣品篩選
D.樣品烘干
9.在石墨礦勘查中,以下哪些方法可以用于確定礦體的邊界?()
A.地質(zhì)剖面法
B.地球化學(xué)勘探法
C.地球物理勘探法
D.地質(zhì)填圖法
10.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球化學(xué)勘探時(shí),以下哪些因素可能影響樣品的分析結(jié)果?()
A.樣品采集方法
B.樣品保存條件
C.樣品前處理方法
D.分析儀器的準(zhǔn)確性
11.在石墨礦勘查中,以下哪些因素可能影響地震勘探的探測效果?()
A.地震波傳播速度
B.地震波能量衰減
C.地形地貌
D.探測設(shè)備性能
12.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球物理勘探時(shí),以下哪些方法可以用于探測深部礦體?()
A.重力勘探
B.電磁法勘探
C.地震勘探
D.地球化學(xué)勘探
13.石墨礦勘查中,樣品分析常用的分析方法包括:()
A.常規(guī)化學(xué)分析
B.元素分析
C.礦物分析
D.結(jié)構(gòu)分析
14.在石墨礦勘查中,以下哪些因素可能影響電法勘探的分辨率?()
A.探測頻率
B.探測深度
C.天線布局
D.地層電阻率
15.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球化學(xué)勘探時(shí),以下哪些樣品可能被采集?()
A.地下水樣品
B.土壤樣品
C.植被樣品
D.礦石樣品
16.在石墨礦勘查中,以下哪些因素可能影響地震勘探的探測深度?()
A.地震波傳播速度
B.地震波能量衰減
C.探測設(shè)備性能
D.探測頻率
17.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球物理勘探時(shí),以下哪些方法可以用于探測地表以下礦體?()
A.電法勘探
B.電磁法勘探
C.地震勘探
D.重力勘探
18.石墨礦勘查中,樣品分析常用的數(shù)據(jù)處理方法包括:()
A.主成分分析
B.聚類分析
C.相關(guān)分析
D.回歸分析
19.在石墨礦勘查中,以下哪些因素可能影響地球化學(xué)勘探的準(zhǔn)確性?()
A.樣品采集方法
B.樣品前處理方法
C.分析儀器性能
D.地質(zhì)背景
20.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球物理勘探時(shí),以下哪些因素可能影響電磁法勘探的探測深度?()
A.探測頻率
B.天線類型
C.地層電阻率
D.地形地貌
三、填空題(本題共25小題,每小題1分,共25分,請將正確答案填到題目空白處)
1.石墨礦勘查中,常用的勘探設(shè)備包括______、______和______。
2.在石墨礦勘查中,初步探測的主要目的是確定______和______。
3.電法勘探的基本原理是根據(jù)______差異進(jìn)行探測。
4.石墨礦勘查中,電磁法勘探的發(fā)射天線常用的有______和______。
5.在石墨礦勘查中,淺層地震勘探主要用于探測______。
6.地質(zhì)填圖法中,常用的測量方法包括______和______。
7.石墨礦勘查中,地球化學(xué)勘探常用的樣品類型有______和______。
8.電磁法勘探中,頻率越高,探測深度______。
9.在石墨礦勘查中,地磁異常通常與______有關(guān)。
10.石墨礦勘查中,樣品采集常用的方法有______和______。
11.在石墨礦勘查中,巖石物理性質(zhì)測試常用的設(shè)備是______。
12.石墨礦勘查中,電法勘探的電阻率異常通常表示______。
13.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球化學(xué)勘探時(shí),樣品采集應(yīng)注意避免______。
14.在石墨礦勘查中,地震勘探的探測效果受______和______的影響。
15.石墨礦勘查中,地球物理勘探的分辨率受______和______的影響。
16.石墨礦勘查中,樣品分析常用的前處理步驟包括______和______。
17.石墨礦勘查中,確定礦體邊界的方法有______和______。
18.石墨礦勘查中,樣品分析常用的檢測技術(shù)有______和______。
19.在石墨礦勘查中,進(jìn)行地球化學(xué)勘探時(shí),樣品分析結(jié)果可能受______和______的影響。
20.石墨礦勘查中,地震勘探的探測深度受______和______的影響。
21.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球物理勘探時(shí),常用的設(shè)備包括______和______。
22.石墨礦勘查中,樣品分析常用的數(shù)據(jù)處理方法有______和______。
23.在石墨礦勘查中,地球化學(xué)勘探的準(zhǔn)確性受______和______的影響。
24.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球物理勘探時(shí),探測深度受______和______的影響。
25.石墨礦勘查中,樣品分析結(jié)果可能受______和______的影響。
四、判斷題(本題共20小題,每題0.5分,共10分,正確的請?jiān)诖痤}括號中畫√,錯(cuò)誤的畫×)
1.石墨礦勘查中,電法勘探是通過測量地層電阻率差異來進(jìn)行礦體探測的。()
2.石墨礦勘查中,地震勘探主要用于探測地表以下的礦體。()
3.在石墨礦勘查中,地球化學(xué)勘探的樣品采集不需要考慮樣品的保存條件。()
4.電磁法勘探的探測深度與發(fā)射頻率成正比。()
5.石墨礦勘查中,地球物理勘探的結(jié)果不受地形地貌的影響。()
6.石墨礦勘查中,進(jìn)行樣品分析時(shí),樣品的粒度分析可以幫助了解礦床成因。()
7.在石墨礦勘查中,電法勘探的分辨率越高,探測的礦體規(guī)模越大。()
8.石墨礦勘查中,地球化學(xué)勘探的樣品采集應(yīng)在礦化帶附近進(jìn)行。()
9.石墨礦勘查中,地震勘探的探測效果不受地震波能量衰減的影響。()
10.在石墨礦勘查中,進(jìn)行地球物理勘探時(shí),重力勘探可以探測深部礦體。()
11.石墨礦勘查中,樣品分析常用的前處理步驟中,樣品烘干是為了提高分析精度。()
12.石墨礦勘查中,電磁法勘探的天線布局對探測深度沒有影響。()
13.在石墨礦勘查中,進(jìn)行地球化學(xué)勘探時(shí),土壤樣品的采集深度應(yīng)大于1米。()
14.石墨礦勘查中,地球物理勘探的結(jié)果不受地質(zhì)構(gòu)造的影響。()
15.石墨礦勘查中,進(jìn)行樣品分析時(shí),樣品的研磨是為了減小粒度,提高分析精度。()
16.在石墨礦勘查中,進(jìn)行地球化學(xué)勘探時(shí),水系沉積物樣品的采集應(yīng)在河流附近進(jìn)行。()
17.石墨礦勘查中,地震勘探的探測效果不受地震波傳播速度的影響。()
18.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球物理勘探時(shí),重力勘探可以探測地表以下的礦體。()
19.在石墨礦勘查中,進(jìn)行地球化學(xué)勘探時(shí),樣品分析結(jié)果可能受地質(zhì)背景的影響。()
20.石墨礦勘查中,進(jìn)行地球物理勘探時(shí),探測深度受地層電阻率的影響。()
五、主觀題(本題共4小題,每題5分,共20分)
1.請簡述電磁法勘探在石墨礦勘查中的應(yīng)用及其原理。
2.結(jié)合實(shí)際,分析影響電法勘探在石墨礦勘查中精度的因素,并提出相應(yīng)的改進(jìn)措施。
3.請闡述樣品分析在石墨礦勘查中的重要性,并舉例說明不同分析技術(shù)如何應(yīng)用于石墨礦勘查。
4.針對石墨礦勘查,設(shè)計(jì)一套從初步探測到樣品分析的勘查工作流程,并說明每個(gè)環(huán)節(jié)的關(guān)鍵技術(shù)和注意事項(xiàng)。
六、案例題(本題共2小題,每題5分,共10分)
1.案例背景:某地區(qū)進(jìn)行石墨礦勘查,已知該地區(qū)石墨礦床埋深較大,地表覆蓋層較厚。請根據(jù)以下信息,分析適用的勘探技術(shù)和設(shè)備選擇,并說明理由。
信息:
-地表覆蓋層厚度約為10-15米。
-礦床埋深約100-150米。
-地層主要為沉積巖。
請分析適用的勘探技術(shù),并選擇合適的勘探設(shè)備。
2.案例背景:在一次石墨礦勘查中,采集到一批樣品,其中部分樣品含有較高的石墨含量。請根據(jù)以下信息,設(shè)計(jì)樣品的分析方案,并說明理由。
信息:
-樣品為礦石樣品,粒度范圍0.074-2.0毫米。
-樣品中石墨含量較高,需精確測定。
-樣品分析需在短時(shí)間內(nèi)完成。
請?jiān)O(shè)計(jì)樣品的分析方案,包括所需的分析技術(shù)、儀器設(shè)備以及分析步驟。
標(biāo)準(zhǔn)答案
一、單項(xiàng)選擇題
1.D
2.D
3.A
4.A
5.B
6.D
7.A
8.C
9.B
10.A
11.D
12.C
13.B
14.D
15.D
16.C
17.A
18.D
19.D
20.D
21.D
22.C
23.D
24.D
25.D
二、多選題
1.ABCD
2.ABCD
3.ABCD
4.ABCD
5.ABC
6.ABCD
7.ABCD
8.ABCD
9.ABCD
10.ABCD
11.ABCD
12.ABCD
13.ABCD
14.ABCD
15.ABCD
16.ABC
17.ABCD
18.ABCD
19.ABCD
20.ABCD
三、填空題
1.地球物理勘探、地球化學(xué)勘探、鉆探
2.礦體分布、礦體埋深
3.地層電阻率
4.線圈天線、環(huán)形天線
5.礦體埋深
6.線路測量、平面控制
7.土壤樣品、水系沉積物樣品
8.越淺
9.礦化異常
10.地質(zhì)填圖法、鉆探取樣
11.巖石物理性質(zhì)測試儀
12.礦化異常
13.樣品污染
14.地震波傳播速度、地震波能量衰減
15.探測頻率、天線布局
16.樣品
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