(高清版)DB32∕T 4027-2021 石墨烯粉體電導(dǎo)率測定 動態(tài)四探針法　

DB32Determinationofelectricalconductivityofgraphenepowder—Dynamicfourpointprobemethod江蘇省市場監(jiān)督管理局發(fā)布本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作本文件主要起草人：張小敏、董國材、姜鵬、周志峰、陳智棟、梁楓、唐本文件規(guī)定了利用四探針動態(tài)測定石墨烯粉體電導(dǎo)率的本文件適用于氧化還原法和化學(xué)插層剝離法等方法制備的壓實(shí)后電導(dǎo)率無宏觀各向異性的石墨烯2規(guī)范性引用文件2四探針法fourpointprobenthod動態(tài)四探針法dymanicfourpointprobenethod4原理將石墨烯粉體填裝至樣品槽中(見圖1),通過對加壓板逐步施加壓力，使樣品槽內(nèi)石墨烯粉體與位差。通過動態(tài)四探針法，測試不同壓強(qiáng)下的方塊電阻，分別利用公式(1)和公式(2)計(jì)算得到不同壓強(qiáng)下的電阻率和電導(dǎo)率，再利用公式(3)計(jì)算不同壓強(qiáng)下的石墨烯壓實(shí)密度。最后得到電導(dǎo)率對壓實(shí)密度的關(guān)系曲線(見圖2)。1-T1、T4兩根探針之間施加電流強(qiáng)度；探頭；4—含四探針探頭的上電極；5—樣品槽；6—石墨!——石墨烯粉體的電阻率；=1/!………………⑵140!——石墨烯粉體的電阻率。12010060電導(dǎo)率(S/cm電導(dǎo)率(S/cm)400.00.20.00.20.40.60.81.0壓實(shí)密度(g/cm3)其他：玻璃培養(yǎng)皿、尖頭鑷子、無塵布、無塵紙、稱量紙整個(gè)實(shí)驗(yàn)過程需穿實(shí)驗(yàn)服并佩戴手套和口罩，防止吸入石稱重樣品槽，記為45。平坦的填充于樣品槽內(nèi)。稱重，記為46。46和45的差值74為投樣質(zhì)量。每隔一定壓強(qiáng)記錄樣品厚度h、電導(dǎo)率、電阻率!，保存原始測量數(shù)據(jù)。測量數(shù)據(jù)點(diǎn)不少于10個(gè)；每四探針儀的加壓部位進(jìn)行空跑測試，監(jiān)控高度零位。若高度零位超出±0.05mm按照公式（1）計(jì)算不同壓強(qiáng)下的電阻率，按照公式（2）計(jì)算出相應(yīng)的電導(dǎo)率，按照公對同一被測樣品的至少2個(gè)～3個(gè)不同質(zhì)量，做電導(dǎo)率-壓實(shí)密度曲線(見圖3)。1401400.0559g0.0387g0.0259g電導(dǎo)率(電導(dǎo)率(S/cm)1008060402000.00.20.40.60.81.0壓實(shí)密度(g/cm3)12001401201000.0425g0.0384g0.0318g對不同制備方法的石墨烯粉體的至少2個(gè)～12001401201000.0425g0.0384g0.0318g0.0387g0.0256g0.0130g1000AB電導(dǎo)率(S/cm電導(dǎo)率(S/cm)電導(dǎo)率(S/cm)8060060400402002001.201.21.42.20.00.20.40.6壓實(shí)密度(g/cm3)0.80.60.81.01.61.82.0壓實(shí)密度(g/cm3)a)氧化還原法石墨烯電導(dǎo)率-壓實(shí)密度曲線b)插層剝離法石墨烯電導(dǎo)率g率溫度℃濕度序號121224243636484855667788998642g溫度℃121224243636484855667788998642g高度密度溫度℃序號12122424363648485566778899864212001000電導(dǎo)率(S/電導(dǎo)率(S/cm)6004002000.0425g0.0316g0.0220g0.00.2