微束分析 油氣儲(chǔ)層砂巖樣品掃描電子顯微鏡分析方法 征求意見稿

1本文件適用于油氣儲(chǔ)層砂巖樣品的掃描電子GB/T27788—2020微束分析掃描電鏡圖像放大注：一個(gè)喉道連通兩個(gè)孔隙，而一個(gè)孔隙可連通多個(gè)喉道，大孔、粗喉型，孔/喉直徑比接近于1，孔隙和喉道較難3.5碎屑顆粒detrital2主要是指構(gòu)成砂巖的粒狀原始物質(zhì)（包括石英、注：新鮮斷面試樣可有效反映出礦物顆粒的原始形態(tài)，利于礦物辨識(shí)，但孔隙特征易被遮擋；5.1儀器設(shè)備5.1.1掃描電子顯微鏡注：為保障原始圖像質(zhì)量，通常優(yōu)先選用鏡筒內(nèi)成像探頭；為增強(qiáng)不同礦物顆宜采用分析型探測(cè)器，晶體有效面積宜大于20mm2，元5.1.3真空鍍膜儀在非導(dǎo)電樣品表面蒸發(fā)或者濺射沉積納米導(dǎo)電薄膜，可鍍碳、金、鉑等，宜具5.1.4其他輔助設(shè)備與軟件3在試樣制備過程中需用到的輔助設(shè)備與軟件b）銀導(dǎo)電膠、雙面導(dǎo)電膠帶等；含油巖石先用二氯甲烷抽提至熒光三級(jí)以下，具把試樣在室溫下自然干燥24h，或置于烘箱（溫度宜低于60℃)內(nèi)干燥不4次電子像，對(duì)于氬離子拋光樣品通常采集背散射電子像。電子束加速電壓宜為500V~20kV，束流大小注：巖石樣品具有非均質(zhì)性，通常選取不同位置、不同放大倍數(shù)拍攝圖像，反映注：不同型號(hào)能譜通常根據(jù)要求，對(duì)相應(yīng)的束流、束班像與元素信息，利用礦物分類數(shù)據(jù)庫自動(dòng)辨識(shí)礦物，獲得礦物分布圖與各58數(shù)據(jù)分析與記錄g）微裂縫，包括層理縫、礦物解理縫、構(gòu)造裂縫等[圖1g,h,i)]。a)粒間孔隙b)粒內(nèi)孔隙d)晶間孔e)膠結(jié)物內(nèi)孔隙6）：d）束管狀喉道：膠結(jié)物中的晶間孔隙及沿解理縫溶蝕的微孔，呈束管狀分布在膠結(jié)物78.1.3孔隙發(fā)育程度測(cè)量面孔率注：當(dāng)最小放大倍數(shù)仍不能滿足孔隙數(shù)量時(shí)，通常根據(jù)樣品特點(diǎn)選擇拼接張數(shù)采方圖分割法等方法將圖像進(jìn)行物相分割，計(jì)算孔隙面積與c）對(duì)同一樣品在同一放大倍率下，選4個(gè)面孔率，%好~100~10~50~20差88.2膠結(jié)物b）白云石及鐵白云石[圖C.1i)]：?jiǎn)尉С柿庑瘟?、菱面立方體狀，d）片鈉鋁石：?jiǎn)尉С梳槧?，集合體常呈放射狀。特征元素成分為鈉（N硫化物礦物集合體常呈束狀及塊狀。石膏特征元素成分為鈣（Ca）、硫（S）；重晶石特征元素為鋇（Ba）、硫沸石類礦物鈣（Ca）、鉀（K）、鈉（Na）。a）石英：呈自形粒狀及次生加大石英[圖C.1p)]9b）長(zhǎng)石：呈板狀及次生加大鈉長(zhǎng)石[圖C.1q)]。特征元素為鈉（Na）、硅（Si）a)襯墊式b)充填式c)鑲嵌式8.3成巖后生變化8.3.1石英次生加大8.3.2長(zhǎng)石次生加大應(yīng)指出溶蝕淋濾發(fā)生部位，溶蝕后的形態(tài)參照[圖1b)和f）]，掃描電鏡示意圖參照[圖D.1a-c)]并應(yīng)指出轉(zhuǎn)化交代的部位及新生礦物的種類和形態(tài)特征，掃描電鏡示意圖參照[圖D.8.3.1應(yīng)同時(shí)保存可清晰觀察到膠結(jié)物的掃描電鏡圖像、元素分布圖、礦物分布8.3.2根據(jù)研究需要，分析各礦物類型以9分析結(jié)果報(bào)告9.1分析結(jié)果的基本要求是鑒定準(zhǔn)確、描述清晰、文字簡(jiǎn)明、內(nèi)容齊全。9.2照片圖像清晰、層次清楚。9.4.3說明成巖后生變化情況。分析號(hào)原編號(hào)a)粒間層片狀高嶺石b)粒表片狀伊利石c)粒間d)粒表針葉狀綠泥石e)粒表片絲狀伊/蒙混層f)粒表蜂窩狀m)方沸石n)濁沸石o)斜發(fā)沸石p)自形粒狀石英q)板狀鈉長(zhǎng)石a)書頁狀高嶺石bc)綠泥石a)長(zhǎng)石淋濾及蠕蟲狀高嶺石b)長(zhǎng)石淋濾及絲片狀伊利石c)長(zhǎng)石加d)石英交代作用轉(zhuǎn)化為高嶺石e)粒間長(zhǎng)石轉(zhuǎn)化為高嶺石，伴有針狀綠泥石f)長(zhǎng)石[1]陳麗華,繆昕,于眾.掃描電鏡在地質(zhì)上的應(yīng)用[M]