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文檔簡介
團體標準
T/CHTA005-2023
熱處理設(shè)備PID過程控制器規(guī)范
PIDprocesscontrollerspecification
forheattreatmentequipment
2023-06-01發(fā)布
中國熱處理行業(yè)協(xié)會發(fā)布
目次
前言.....................................................1
1范圍...................................................2
2規(guī)范性引用文件.........................................2
3術(shù)語和定義.............................................3
4環(huán)境條件和技術(shù)要求.....................錯誤!未定義書簽。
5試驗方法和檢驗規(guī)則.....................................5
6記錄、標志、包裝、運輸和貯存...........................9
T/CHTA005-2023
前言
請注意本標準的某些內(nèi)容可能涉及專利,本標準的發(fā)布機構(gòu)不承
擔識別這些專利的責任。
本標準由中國熱處理行業(yè)協(xié)會標準化工作委員會提出并歸口。
本標準主要起草單位:石家莊德堃電子科技有限公司、西安電爐
研究所有限公司、北京京杰頓科技有限公司、河南天利熱工裝備股份
有限公司、天津市熱處理研究所有限公司、廣州豐東熱煉有限公司、
常州新區(qū)河海熱處理工程有限公司、北京華翔電爐技術(shù)有限責任公司、
海思特(蘇州)材料科技有限公司、西安標準熱處理有限責任公司、
重慶市大正儀表股份有限公司、河北極太科技有限公司、浙江正熱智
能裝備有限公司
本標準主要起草人:李亞、任宇超、余維江、李琨、張永武、夏
曉宇、李明科、王衛(wèi)臣、宋寶敬、高新宇、任宇偉、殷和平、杜利民、
唐凱、葛大榮、肖明、周洪琴、劉勝勝、包康偉
1
T/CHTA005-2023
1范圍
本標準規(guī)定了熱處理設(shè)備PID過程控制器的術(shù)語和定義、要求、試驗方法、檢驗
規(guī)則及標志、包裝、運輸和貯存。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本標準的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日
期的版本適用于本標準。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有修改
單)適用于本標準。
GB/T15479-1995工業(yè)自動化儀表絕緣電阻、絕緣強度技術(shù)要求和試驗方法
GB/T17214.1工業(yè)過程測量和控制裝置工作條件第1部分:氣候條件
GBT17626.11-2016電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的
抗擾度試驗
GB/T17626.2—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗
GB/T18268.1-2010測量、控制和實驗室用的電設(shè)備電磁兼容性要求第1部分:
通用要求
GB/T18271-2017過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序
GB/T191-2008包裝儲運圖示標志
GB/T20819.1工業(yè)過程控制系統(tǒng)用模擬信號調(diào)節(jié)器第1部分:性能評定方法
GB/T2423.2—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T2423.4—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗D:交變濕熱
GB/T26125-2011電子電氣產(chǎn)品六種限用物質(zhì)的則定
GB/T2900.13—2008電工術(shù)語可信性與服務(wù)質(zhì)量
GB/T3358.1-2009統(tǒng)計學詞匯及符號
GB/T34050-2017智能溫度儀表通用技術(shù)條件
GB/T36414-2018工業(yè)過程測量和控制儀表容錯性能技術(shù)規(guī)范
GB4943.1-2011信息技術(shù)設(shè)備安全第一部分:通用要求
GB5296.1-2012消費品使用說明第1部分:總則
JB/T12022-2014過程控制器的可靠性要求與考核方法
JJG617-1996數(shù)字溫度指示調(diào)節(jié)儀檢定規(guī)程
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T/CHTA005-2023
3術(shù)語和定義
3.1過程控制器
為達到規(guī)定的目標而對影響過程狀態(tài)的變量進行變送、調(diào)節(jié)、操縱的儀表的
總稱。
3.2比例積分微分調(diào)節(jié)器(PID)
比例、積分和微分控制作用的調(diào)節(jié)器
a)P:比例帶
比例帶表示輸出控制量與偏差之間的比例關(guān)系,過程控制器比例帶參數(shù)P的
設(shè)定值越大,控制靈敏度低。P的設(shè)定值越小,靈敏度越高。
比例帶P的選取。由于P的大小直接影響到系統(tǒng)的超調(diào)量、過渡時間和穩(wěn)態(tài)
誤差,因此P的選取尤為重要。比例帶P減小,系統(tǒng)動作靈敏,速度加快;但偏
小,超調(diào)量增大,振蕩次數(shù)增多,調(diào)節(jié)時間過長;P增大,系統(tǒng)會趨向穩(wěn)定;若
P太大,會使系統(tǒng)動作緩慢。P的大小與穩(wěn)態(tài)誤差呈反比關(guān)系。減小比例作用,
可以減小穩(wěn)態(tài)誤差,提高控制精度。
b)I:積分時間
積分運算的目的是消除靜差。只要偏差存在,積分作用將控制量向使偏差消
除的方向移動,積分時間是表示積分強度的單位,過程控制器設(shè)定的積分時間越
短,積分作用越強。(例如過程控制器的積分時間設(shè)定為200s,表示對目前固定
的偏差,積分作用的輸出達到和比例作用相同的輸出量要用到200s時間)
積分時間I的選取。積分作用旨在消除穩(wěn)態(tài)誤差,積分時間I與積分作用的
強弱呈反比關(guān)系,I太小,積分作用太強將使系統(tǒng)不穩(wěn)定,振蕩次數(shù)較多,而I
太大,對系統(tǒng)性能影響減弱,以至于不能消除穩(wěn)態(tài)誤差。
c)d:微分時間
比例作用和積分作用是對控制結(jié)果的修正,動作響應(yīng)速度較慢,微分作用是
為了消除其缺點而補充的,微分作用根據(jù)偏差產(chǎn)生的速度對輸出量進行修正,使
控制過程盡快回到原來的控制狀態(tài),微分時間是表示微分強度的單位,過程控制
器設(shè)定的微分時間越長,表示儀表的微分作用對控制量的修正越強。
微分時間d的選取。微分控制能夠預測偏差,產(chǎn)生超前校正作用,可以較好
地改善動態(tài)特性。但是,當d偏差或偏小時,超調(diào)量和調(diào)節(jié)時間都會增加。在控
制諸如壓力、轉(zhuǎn)速等基本無滯后的量時,d應(yīng)盡可能的小。
綜上所述,將比例作用的快速性、積分作用的徹底性、微分作用的超前性這
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三點優(yōu)點結(jié)合起來就構(gòu)成了理想的PID調(diào)節(jié)器。
3.3整定
設(shè)置與系統(tǒng)特性相匹配的控制參數(shù)(PID參數(shù))來達到較好控制效果:過程
值穩(wěn)定在設(shè)定點處,成一條直線沒有波動,沒有過沖,在外部干擾造成偏差時能
夠快速的恢復。
3.4自整定
控制器采用單位階越整定的方式,自動的計算和設(shè)置PID參數(shù)。
3.5單位階越整定
通過讓輸出全開和全關(guān)的方式,是過程值產(chǎn)生波動。根據(jù)振幅和震蕩周期計
算出各項控制參數(shù)。如果系統(tǒng)不允許全功率加熱或制冷,可通過輸出限幅加以限
制,但還要保證過程值能有一定幅度的震蕩,來計算控制參數(shù)。
3.6模擬報警
報警用來對過程值超出預定限度進行提示和產(chǎn)生報警信號,是對PV值,輸
出值等變量進行報警。
報警類型分為上限報警、下限報警、上偏差報警、下偏差報警、偏差帶報警、
加熱斷線報警、輸入傳感器故障報警、程序運行結(jié)束報警。
3.7可靠性特征量
衡量產(chǎn)品可靠性的定量化尺度,描繪產(chǎn)品可靠性的參數(shù)。如可靠度(R)、平
均故障間隔工作時間(MTBF)或故障率(λ)等。
3.8可靠性驗證試驗
為驗證產(chǎn)品的可靠性特征量是否達到所需求的水平而進行的試驗。
3.9加速壽命試驗
為縮短試驗時間,在不改變故障模式和故障機理的條件下,用加大應(yīng)力的方
法進行的壽命試驗。
4.1環(huán)境條件
工作條件:溫度:-20℃~+50℃,濕度:10%~90%RH
存儲條件:溫度:-40℃~+80℃,濕度:10%~90%RH
4.2主要技術(shù)要求
a)標準ModbusRtu通訊協(xié)議,兩線制RS485
校驗方式:無校驗,奇校驗,偶校驗
通訊速度:4800bit/s,9600bit/s,19200bit/s
通訊數(shù)據(jù)格式:一位起始位,八位數(shù)據(jù)位,一位停止位
b)標準ModbusTcp協(xié)議
通訊地址:0-255
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子網(wǎng)掩碼:0-255
網(wǎng)關(guān):0-255
c)控制周期:50ms/100ms
d)測量精度:0.1%FS
e)采樣速率:20Hz/10Hz
f)信號測量輸入阻抗:電壓≥500KΩ(5V、10V≥100KΩ),電流≤60Ω,熱電
偶≥500KΩ,碳勢控制氧探頭輸入時≥50MΩ
g)信號輸出阻抗(帶負載能力):電壓式≥250K,電流時≤300Ω,繼電器
AC120V/1A,DC30V/1A
h)電阻采用三線制測量,信號傳輸導線每根線電阻不大于10歐
i)設(shè)備供電:86~260V/AC(47-63Hz)
j)隔離電壓:輸入、電源、輸出三端隔離,隔離電壓:2000VAC1分鐘
5試驗方法和檢驗規(guī)則
5.1試驗條件
試驗條件應(yīng)符合GB/T17214.1的規(guī)定
5.2試驗方法
5.2.1抗擾度試驗
根據(jù)GB/T18268的規(guī)定,抗擾度要求應(yīng)符合表1規(guī)定
表1EMC抗擾度試驗要求
序號試驗項目試驗標準試驗參數(shù)和條件
電快速瞬變在供電電源端口,保護接地(PE)電壓峰值為
1脈沖群抗擾GB/T17626.42KV,重復頻率為5KHz;在I/O信號、數(shù)據(jù)和控
度制端口,電壓峰值為1kV,重復頻率為5KHz
波前時間為1.2us,半峰值時間為50us,浪涌
2浪涌抗擾度GB/T17626.5
電壓幅度1kV
射頻電磁場頻率范圍:80MHz~1000MHz,試驗場強:10V/m
3GB/T17626.3
輻射抗擾度
5.2.2模擬量和開關(guān)量輸入通道試驗
在信號輸入端分別輸入各種信號,操作數(shù)據(jù)鍵盤顯示設(shè)定組件上的輸入數(shù)據(jù)
鍵,由顯示部分監(jiān)視轉(zhuǎn)換結(jié)果,與標準數(shù)據(jù)誤差不應(yīng)超過表2規(guī)定。
GB/T26156.2-2010
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表2輸入通道數(shù)據(jù)誤差
名稱信號量程誤差
(4~20)mAa%FS±d
電流信號輸入
(0~10)mAa%FS±d
(0~5)Va%FS±d
電壓或熱電偶信號輸入(-20~20)mVa%FS±d
(0~10)mVa%FS±d
Pt100a%FS±d
熱電阻信號或電阻信號輸入Cu50a%FS±d
(0~400)Ωa%FS±d
a-量化誤差之外的其它因素引起的綜合最大測量誤差系數(shù),即準確度等級。準確
度等級a應(yīng)從下列數(shù)系中選?。?.1、0.2、0.5。
FS-輸入信號的量程。
d-輸出信息末位1個字所表示的值。
5.2.3輸出通道試驗
鍵盤顯示設(shè)定組件,通過精密測試儀監(jiān)視轉(zhuǎn)換結(jié)果,與標準數(shù)據(jù)比較其誤差
不應(yīng)超過表3規(guī)定。
表3輸出通道數(shù)據(jù)誤差
輸出信號和數(shù)字顯示等誤差
(0~10)Va%FS±d
(1~5)Va%FS±d
(4~20)mAa%FS±d
(0~20)mAa%FS±d
(0~10)mAa%FS±d
開關(guān)量0~9999a%FS±d
數(shù)字顯示-1999~1999a%FS±d
注:誤差欄的字母含義見表2注。
5.2.4數(shù)據(jù)通信試驗
利用PID過程控制器與上位機聯(lián)結(jié)方法進行通信測試,按照GB/T3453進行
試驗。
5.2.5指示表指示試驗
手動方式分別使給定值、被控值和輸出指示表指示值依次對準標度值為0%、
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T/CHTA005-2023
25%、50%、75%、100%,記下標準儀器的相應(yīng)示值。然后,再依次對準標度值為
100%、75%、50%、25%、0%,記下標準儀器的相應(yīng)示值。
上述步驟重復三次,從這些測試中,計算出平均誤差及回差并取得最大值。
5.2.6比例、微分、積分作用實驗
a)比例作用試驗:按照GB/T20819.1進行試驗。
b)微分作用試驗:按照GB/T20819.1進行試驗。
c)積分作用試驗:按照GB/T20819.1進行試驗。
5.2.7給定值與手操輸出試驗
在手動狀態(tài)下,操作對應(yīng)的操作按鈕,使給定值及手操輸出變化到最大值及
最小值,檢查0%~100%范圍調(diào)整時,其對應(yīng)端信號是否滿足4mA~20mA、0mA~
10mA、1V~5V、0V~10V等。
5.2.8環(huán)境溫度變化影響試驗
按照GB/T18271.3進行試驗。
5.2.9相對濕度變化影響試驗
按照GB/T18271.3進行試驗。
5.2.10機械振動影響試驗
按照GB/T18271.3進行試驗。
5.2.11供電電源變化影響試驗
按照GB/T17626.11進行試驗。
5.2.12電源瞬間中斷影響試驗
按照GB/T17626.11進行試驗。
5.2.13電源瞬時低降影響試驗
按照GB/T17626.11進行試驗。
5.2.14共模干擾試驗
按照GB/T18271.3進行試驗。
5.2.15串模干擾試驗
按照GB/T18271.3進行試驗。
5.2.16輸入阻抗和負載變化影響試驗
輸入阻抗和負載變化影響方法如下:使過程控制器的輸出信號穩(wěn)定在量程
50%處;測量當負載阻抗從最小值變化到最大值時,所引起的過程控制器輸出變
化量。過程控制器還應(yīng)在開環(huán)情況下進行1min負載短路及負載開路試驗,然后
恢復標準負載,測量過程控制器操作輸出變化量。
5.2.17手動-自動切換
按照GB/T20819.1進行試驗。
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T/CHTA005-2023
5.2.18絕緣電阻試驗
按照GB/T15479進行試驗。
5.2.19絕緣強度試驗
按照GB/T15479進行試驗。
5.2.20抗運輸環(huán)境性能試驗
按JB/T9329進行試驗
5.2.21可靠性試驗
按JB/T50187相關(guān)規(guī)定進行試驗
5.3檢驗規(guī)則
5.3.1外觀要求檢查
在自然光線下通過目視檢查。對于產(chǎn)品表面印刷的說明性文字、符號和標
志等,通過檢查和擦拭標志進行試驗,方法為:用手拿蘸有水的棉布擦標志15S,
再用蘸有溶劑油擦拭15S后,標志仍應(yīng)清晰易讀,加貼的標記銘牌應(yīng)當牢固,不
易揭下并且不應(yīng)卷邊。
5.3.2結(jié)構(gòu)要求檢查
a)在自然光線下通過目視檢查。
b)按GB4943.1-2011中的第4章規(guī)定的方法進行檢驗。
5.3.2尺寸要求檢查
使用長度、角度等測量工具或儀器在自然光線下檢查。
5.3.3環(huán)保要求
按GB/T26125-2011規(guī)定的測試方法對其進行有害物質(zhì)檢測。
5.3.4產(chǎn)品老化試驗
按GB2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高
溫進行。
5.3.4.1目的
本試驗方法用來進行非散熱試驗樣品的高溫老化試驗,試驗樣品在高溫條件
下放置48小時以達到溫度穩(wěn)定,實現(xiàn)試驗樣品老化目的。
5.3.4.2概述
將試驗樣品放入溫度為試驗溫度的老化箱中,然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)
定的嚴酷等級溫度,當試驗樣品溫度達到穩(wěn)定后,在該條件下暴露48小時。出
箱后將試驗樣品在4.5.1工作條件中放置1h時間恢復,進行上機檢測,記錄
高溫環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
5.3.5出廠檢測
每臺裝置出廠前必須由制造廠的檢驗部門進行出廠檢驗,出廣檢驗在試驗的
8
T/CHTA005-2023
標準大氣條件下進行。
批量生產(chǎn)或連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品,應(yīng)按批次進行出廠檢驗。出廠檢驗出現(xiàn)任一項
不合格時,加倍抽樣后重新進行檢驗。若再次出現(xiàn)任一項不合格時,該產(chǎn)品被判
為不合格產(chǎn)品。對于不合格品應(yīng)返工后重新提交檢驗,檢驗合格后方可入庫。
5.3.6型式檢驗
型式檢驗按GB/T26156.1規(guī)定的全部項目進行試驗。
5.3.6.1型式檢驗規(guī)定
遇到下列情況,應(yīng)進行型式檢驗:
a)新產(chǎn)品定型鑒定前;
b)產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)定型鑒定前;
c)連續(xù)批量生產(chǎn)的裝置每一年一次;
d)正式投產(chǎn)后,如設(shè)計、工藝、材料、元器件有較大改變,可能影響產(chǎn)品
性能時;
e)產(chǎn)品停產(chǎn)一年以上又重新恢復生產(chǎn)時;
f)國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督機構(gòu)或受委托的質(zhì)量技術(shù)檢驗部門提出型式檢驗要求
時;
g)合同規(guī)定時;
h)出廠檢驗結(jié)果與上次型式檢驗有較大差異時。
5.3.6.2形式檢驗項目
a)依據(jù)標準:JJG617-1996數(shù)字溫度指示調(diào)節(jié)儀檢定規(guī)程
b)外觀檢查:
c)示值誤差校準:
5.3.7取樣方法
型式試驗每批次隨機抽取15個產(chǎn)品進行檢驗,出廠檢驗每批次隨機抽取5
個產(chǎn)品進行檢驗。
5.3.8判定規(guī)則
檢驗結(jié)果有一項不符合本標準規(guī)定時,可再次抽樣復檢,若仍不符合規(guī)定,
則判該批產(chǎn)品為不合格產(chǎn)品。
6記錄、標志、包裝、運輸和貯存
6.1電子記錄
電子記錄是由計算機系統(tǒng)創(chuàng)建、修改、維護、存檔、檢索或分發(fā)的文本、
溫馨提示
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