材料與化工現(xiàn)代研究方法知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋嘉興大學(xué)

材料與化工現(xiàn)代研究方法知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋嘉興大學(xué)第一章單元測試

石墨烯材料的形貌可以采用（）.

A:原子光譜法B:掃描電鏡分析C:分子光譜法D:熱分析法

答案:掃描電鏡分析掃描電子顯微鏡能達(dá)到原子級別的分辨率。（）

A:錯B:對

答案:錯物相分析是指利用衍射的方法探測晶格類型和晶胞常數(shù)，確定物質(zhì)的相結(jié)構(gòu)。（）

A:對B:錯

答案:對按照出射信號的不同，成分分析手段可以分為兩類的是（）。

A:原子發(fā)射光譜和紫外可見吸收光譜B:X光譜和紫外可見吸收光譜C:核磁共振波譜和電子能譜D:X光譜和電子能譜

答案:X光譜和電子能譜物質(zhì)的化學(xué)組成及分子結(jié)構(gòu)分析采用（）.

A:熱分析法B:掃描電鏡分析C:透射電鏡分析D:光分析法

答案:光分析法

第二章單元測試

突破光學(xué)顯微鏡分辨率的關(guān)鍵是尋找波長短又能聚焦的新型照明源。（）

A:對B:錯

答案:對原子力顯微鏡只能檢測導(dǎo)電樣品。（）

A:對B:錯

答案:錯掃描電子顯微鏡得到的圖像，其放大的倍率等于樣品上掃描幅度比上熒光屏上掃描幅度。（）

A:對B:錯

答案:錯光學(xué)顯微鏡的成像過程包含（）。

A:沒有衍射過程只有干涉過程B:既沒有衍射過程野沒有干涉過程C:只有衍射過程沒有干涉過程D:既有衍射過程又有干涉過程

答案:既有衍射過程又有干涉過程樣品表面凹凸部位產(chǎn)生的二次電子強(qiáng)度關(guān)系是（）。

A:凹處產(chǎn)生的二次電子強(qiáng)度高于凸起部分B:無法比較C:凹處產(chǎn)生的二次電子強(qiáng)度低于凸起部分D:凹處產(chǎn)生的二次電子強(qiáng)度等于凸起部分

答案:凹處產(chǎn)生的二次電子強(qiáng)度低于凸起部分掃描電子束應(yīng)具有較()的亮度和盡可能()的束斑直徑（）。

A:高、小B:高、大C:低、小D:低、大

答案:高、小原子力顯微鏡在接觸模式下運行，具備哪兩種成像方式（）。

A:恒壓、恒力B:恒高、恒力C:恒高、恒流D:恒壓、恒流

答案:恒高、恒力下列說法正確的是（）。

A:背散射電子是被固體樣品中原子反射回來的一部分入射電子B:二次電子能量低于背散射電子C:二次電子是在表層5~10nm深度范圍內(nèi)發(fā)射出來D:背散射電子對表面狀態(tài)敏感，能顯示表面微區(qū)的形貌

答案:背散射電子是被固體樣品中原子反射回來的一部分入射電子；二次電子能量低于背散射電子；二次電子是在表層5~10nm深度范圍內(nèi)發(fā)射出來掃描隧道顯微鏡主要常用的有哪幾種掃描模式（）。

A:恒定電流模式B:恒定高度模式C:恒定電壓模式D:恒定作用力模式

答案:恒定電流模式；恒定高度模式原子力顯微鏡主要由以下那幾個系統(tǒng)構(gòu)成（）。

A:掃描系統(tǒng)B:反饋系統(tǒng)C:檢測系統(tǒng)D:探針系統(tǒng)

答案:掃描系統(tǒng)；反饋系統(tǒng)；檢測系統(tǒng)；探針系統(tǒng)

第三章單元測試

高能電子衍射只能用于薄膜分析。（）

A:錯B:對

答案:對倒空間的一個點或一個矢量代表正空間的一組晶面。（）

A:對B:錯

答案:對只要滿足布拉格方程，X射線就能夠產(chǎn)生衍射。（）

A:錯B:對

答案:錯下列表示晶向指數(shù)的是（）。

A:{hkl}B:(hkl)C:<hkl>D:[hkl]

答案:[hkl]第一位發(fā)現(xiàn)X射線的科學(xué)家是（）。

A:布拉格父子B:倫琴C:厄瓦爾德D:勞埃

答案:倫琴X射線管中哪個部件可以急劇改變電子運動速度（）。

A:熱陰極B:高壓電場C:陽極靶D:鈹金屬窗口

答案:陽極靶物相分析的手段包含（）。

A:質(zhì)子衍射B:電子衍射C:X射線衍D:中子衍射

答案:電子衍射；X射線衍；中子衍射選取復(fù)雜陣胞需需要滿足哪些條件（）。

A:盡可能多的直角B:同時反映空間點陣的周期性和對稱性C:體積最小D:體積最大

答案:盡可能多的直角；同時反映空間點陣的周期性和對稱性；體積最小X射線衍射定性分析中主要的檢索索引的方法有（）。

A:哈那瓦特數(shù)字索引B:圖表索引C:字順?biāo)饕鼶:芬克數(shù)字索引

答案:哈那瓦特數(shù)字索引；字順?biāo)饕环铱藬?shù)字索引影響質(zhì)厚襯度的因素有哪些（）。

A:原子序數(shù)B:施加電壓C:試樣密度D:試樣厚度

答案:原子序數(shù)；施加電壓；試樣密度；試樣厚度

第四章單元測試

電子探針是通過樣品被電子束轟擊后產(chǎn)生的（）來測定其成分的。（）。

A:x射線B:陰極射線C:一般射線D:γ射線

答案:x射線既能對試樣表層形貌進(jìn)行分析，又能對試樣表層各種元素組成進(jìn)行分析的表層分析儀器是（）。

A:電子探針B:掃描電子顯微鏡C:都可以D:俄歇電子能譜儀

答案:電子探針某半導(dǎo)體材料表面經(jīng)摻雜處理后，要分析摻雜元素在表面的分布及深度剖析，可以選擇方法（）。

A:透射電鏡（TEM）；B:掃描電鏡（SEM）；C:紫外光電子能譜（UPS）；D:X射線光電子能譜（XPS）。

答案:X射線光電子能譜（XPS）。當(dāng)X射線將某物質(zhì)原子的K層電子打出去后，L層電子回遷K層，多余能量將另一個L層電子打出核外，這整個過程將產(chǎn)生（）。

A:光電子；B:（A+C）C:二次熒光；D:俄歇電子；

答案:（A+C）M層電子回遷到K層后，多余的能量放出的特征X射線稱（）。

A:Lα。B:Kγ；C:Kβ；D:Kα；

答案:Kβ；俄歇電子能譜不能分析固體表面的H和He。（）

A:錯B:對

答案:對俄歇電子能譜適合于分析所有固體樣品的表面化學(xué)成分。。（）

A:對B:錯

答案:錯X射線光電子能譜可用于固體表面元素的定性、定量和化學(xué)狀態(tài)分析。（）

A:對B:錯

答案:對X射線光電子的動能只與樣品元素組成有關(guān)，不隨入射光子的能量而改變，故入射束不需單色。（）

A:對B:錯

答案:錯產(chǎn)生特征X射線的前提是原子內(nèi)層電子被打出核外，原子處于激發(fā)狀態(tài)。（）

A:對B:錯

答案:對

第五章單元測試

下列屬于線光源的是（）。

A:鎢絲燈B:氘燈C:空心陰極燈D:氙燈

答案:空心陰極燈下列有關(guān)原子發(fā)射光譜的敘述中正確的是（）。

A:原子發(fā)射光譜法是一種不需要標(biāo)準(zhǔn)試樣的絕對分析法B:一次只能對一種元素進(jìn)行定性、定量分析C:原子發(fā)射光譜法適用于物質(zhì)中元素的組成和含量的測定D:原子發(fā)射是帶狀光譜，因此也能確定化合物的分子結(jié)構(gòu)

答案:原子發(fā)射光譜法適用于物質(zhì)中元素的組成和含量的測定欲快速準(zhǔn)確地分析鋼水中的Fe、Cr、Mn等多種元素的含量,最佳的檢測方法為（）。

A:紫外吸收光譜法B:原子發(fā)射光譜分析法C:核磁共振波譜法D:紅外光譜法

答案:原子發(fā)射光譜分析法原子化器的主要作用是（）。

A:將試樣中待測元素轉(zhuǎn)化為基態(tài)原子B:將試樣中待測元素轉(zhuǎn)化為吸收特征輻射的離子C:將試樣中待測元素轉(zhuǎn)化為中性分子D:將試樣中待測元素轉(zhuǎn)化為激發(fā)態(tài)原子

答案:將試樣中待測元素轉(zhuǎn)化為基態(tài)原子火焰原子吸收法測定鈣含量中使用的光源應(yīng)為（）

A:空心陰極燈B:碘鎢燈C:硅碳棒D:氘燈

答案:空心陰極燈下列哪種方法屬于發(fā)射光譜的是（）。

A:原子吸收光譜B:磷光光譜C:紅外光譜D:紫外-可見光譜

答案:磷光光譜下列關(guān)于熒光發(fā)射光譜的敘述不正確的是（）。

A:發(fā)射光譜位于激發(fā)光譜的右側(cè)B:發(fā)射光譜也可進(jìn)行定量分析C:發(fā)射光譜的形狀與激發(fā)波長無關(guān)D:發(fā)射光譜與激發(fā)光譜無任何關(guān)系

答案:發(fā)射光譜與激發(fā)光譜無任何關(guān)系分子熒光的產(chǎn)生過程中，屬于輻射躍遷的是（）。

A:振動弛豫B:系間跨越C:熒光D:內(nèi)轉(zhuǎn)換

答案:熒光丙酮在已烷中的紫外吸收為279nm，為14.8L/(mol·cm)

。引起該吸收帶躍遷是:（）。

A:n*B:n*C:*D:*

答案:n*在分光光度法測定中，如其他試劑對測定無干擾時，一般常選用最大吸收波長max作為測定波長，這是由于（）。

A:操作最方便B:靈敏度最高C:選擇性最好D:精密度最高

答案:靈敏度最高某化合物在紫外光譜的220~280nm范圍沒有吸收。該化合物可能屬于（）。

A:含共軛雙鍵化合物B:醛類C:醇類D:芳香族化合物

答案:含共軛雙鍵化合物；醇類；芳香族化合物若從紅外光譜辨認(rèn)芳香化合物，以下四種說法不正確的是:（）

A:=C-H面外彎曲譜帶可以用來判斷苯環(huán)取代情況B:=C-H面外彎曲吸收在900~600cm1C:=C-H伸縮振動吸收總是稍小于3000cm1D:環(huán)的骨架振動C=C,一般有~1600cm1,~1500cm1和1450cm1等譜帶

答案:=C-H伸縮振動吸收總是稍小于3000cm1不考慮其他因素的影響，下列羰基化合物的伸縮振動頻率的大小順序為：酰鹵>酰胺>酸>醛>酯。（）

A:對B:錯

答案:錯已知某化合物不含氮，它的紅外光譜中在2240~2100處有吸收，則該化合物可能是:（）

A:B:C:D:

答案:；拉曼光譜只記錄（）。

A:anti-Stokes線B:Rayleigh散射C:Raman散射D:Stokes線

答案:Stokes線下列敘述錯誤的是（）。

A:紅外光譜不能用水做溶劑B:拉曼光譜與紅外光譜產(chǎn)生的機(jī)理相同C:紅外光譜的入射光及檢測光都是紅外光D:拉曼光譜可以分析固體、液體及氣體樣品

答案:拉曼光譜與紅外光譜產(chǎn)生的機(jī)理相同只有引起極化率變化的分子振動才產(chǎn)生拉曼散射。（）

A:錯B:對

答案:對核磁共振氫譜中，不能直接提供的化合物結(jié)構(gòu)信息是（）。

A:不同質(zhì)子種類數(shù)B:相鄰碳原子上的質(zhì)子個數(shù)C:同類質(zhì)子個數(shù)D:化合物中雙鍵的個數(shù)與位置

答案:不同質(zhì)子種類數(shù)質(zhì)量數(shù)為奇數(shù)，核電荷數(shù)為偶數(shù)的原子核，其自旋量子數(shù)為零。（）

A:對B:錯

答案:錯氫譜主要通過信號的特征提供分子結(jié)構(gòu)信息，以下選項中不是信號特征的是（）。

A:峰高B:峰的裂分C:積分線高度D:峰位置

答案:峰高

第六章單元測試

根據(jù)差熱曲線方程，為了提高儀器的檢測靈敏度，采用如下哪種方法（）。

A:采用惰性氣氛B:低升溫速率C:采用氧化氣氛D:高升溫速率

答案:高升溫速率熱重分析、導(dǎo)數(shù)熱重分析、差熱分析和差示掃描量熱中，樣品和參比物的溫度始終相等的是（）

A:DTAB:DSCC:TGD:DTG

答案:DSC差熱分析中，對參比物的要求錯誤的是（）

A:比熱和導(dǎo)熱性能與樣品接近B:無任何要求C:常用1520度煅燒的高純氧化鋁粉D:在整個測溫范圍無熱效應(yīng)

答案:無任何要求用差熱分析儀測定固定樣品的相變溫度，基準(zhǔn)物教合適的是（）

A:水楊酸B:三氧化二鋁C:苯甲酸D:無水氯化鈣

答案:三氧化二鋁有關(guān)熱分析的敘述，錯誤的是（）

A:DTA可以測出沒有質(zhì)量變化的熱效應(yīng)B:用TG測定的晶型轉(zhuǎn)換可以獲得好結(jié)果C:DSC的分析曲線與DTA的基本相同D: