CNAS-GL054：2023 測量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定和調(diào)整方法指南

2023年12月31日發(fā)布2023年12月31日實施測量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定和調(diào)整方法指南本文件適用于實驗室等合格評定機構(gòu)和其他相關(guān)方對測量設(shè)備校準(zhǔn)周期的確定CIPMMRA-G-13:2022CIPMMRA框4.8實驗室宜選擇適當(dāng)?shù)姆椒ㄓ糜诖_定校準(zhǔn)周期，并將所選用的方法進(jìn)行文件化規(guī)d)制造商關(guān)于測量設(shè)備的建議(如當(dāng)實驗室根據(jù)儀器準(zhǔn)確度評定測量不確定度）；h)被測量對測量結(jié)果的影響(如高溫對熱電偶的影響)；b)由于時間或使用而產(chǎn)生的漂移，測量設(shè)備的性能是否符合規(guī)定限值(如最大允勢可能表明有必要調(diào)整校準(zhǔn)周期。實驗室有必要對校準(zhǔn)周期和設(shè)備性能進(jìn)行持續(xù)評6.2.3實驗室不宜使用此方法設(shè)置過長的校準(zhǔn)周期，因為可能會導(dǎo)致召回大量證書/注:該方法不適用于沒有漂移的測量設(shè)備，適用于具有單一量值的實壓力的活塞式壓力計或長度量規(guī)(即可能受到機該方法的主要優(yōu)點是校準(zhǔn)頻次及由此產(chǎn)生的a)不適用于包含無源(不需額外的能量輸入源提供輸出)測量儀器(如衰減器)或無進(jìn)行簡單快速核查的情況。實驗室使用便攜式校準(zhǔn)裝置對關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行頻繁核查(如每天一次或更頻繁)，或者使用專門設(shè)計的“黑盒”對所選參數(shù)進(jìn)行核查。如果發(fā)現(xiàn)測量設(shè)備超出最大允許誤差(或其他規(guī)定限值)，需對測量設(shè)備進(jìn)行全面的校準(zhǔn)和調(diào)注1：適用于此方法的測量儀器：密度計(諧振式)、鉑電阻溫度計(結(jié)合日歷時6.5.3該方法在原則上非?？煽?，但也存在不確定性，因為測量設(shè)備可能在“黑盒”中高中高中低高中低高中中低中低中低高高低中中中高中調(diào)整后的校準(zhǔn)周期I1可通過公式（A.1）或I1I0(1a)I1I0(1b)b1(1a)Rt/(1Rt)A.4通常情況下，實驗室可先設(shè)定a值和長期平均測量可靠性目標(biāo)Rt值，b值可通過A.5選擇a值時，實驗室可根據(jù)以下情況進(jìn)行權(quán)衡：a值越大，則該方法使校準(zhǔn)周期測量設(shè)備為3等量塊（負(fù)10塊組初始的校準(zhǔn)周期I012月，取a0.11、Rt90%，按照公式（A.3）計算得到b=0.61，值/mm/μm/μm/μm/μm變動/μm/μm/μm/μmI1I0(1a)12(10.11)13(月)I2I1(1a)13(10.11)14(月)I3I2(1a)14(10.11)16(月)B.1增量反應(yīng)調(diào)整法也是基于測量設(shè)備的校準(zhǔn)結(jié)果對其校準(zhǔn)周期進(jìn)行調(diào)整的一種簡Im1Im[1m1(R)1ym1(R)ym1]（B.1）m1，00ym——計算因子，當(dāng)?shù)趍次校準(zhǔn)結(jié)果滿足要求時ym1，當(dāng)?shù)趍次校準(zhǔn)結(jié)果不滿足要求時ym0；準(zhǔn)第2次校準(zhǔn)準(zhǔn)準(zhǔn)1±1.02±1.2±1.25±1.6±2.0±2.5±2.5±3.0±5.056553±1066553±1077668±25y1011I1I0[11(R)1y1(R)y1]12[11(0.9)11(0.9)1]22.823(月)12y20,11,2010.52I2I1[12(R)1y2(R)y2]23[10.5(0.9)10(0.9)0]12.6513(月)y31,20.5,30.25I3I2[13(R)1y3(R)y3]13[10.25(0.9)11(0.9)1]15.92516(月)0.252y41,30.25,4110.252I4I3[14(R)1y4(R)y4]16[10.25(0.9)11(0.9)1]19.620(月)C.2根據(jù)方法要求和使用需求，實驗室可選擇重要參數(shù)及關(guān)鍵測量點對測量設(shè)備進(jìn)行[1]CNAS-CL01-G002測量結(jié)果的計量溯源性要求[2]GB/T231.1金屬材料布氏硬度試驗第1部分：