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文檔簡介
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:
電子有限公司受控狀態(tài):
碳膜電阻修改頁:
第1頁共53頁
抽樣檢驗標(biāo)準(zhǔn):
依據(jù)MIL-STD-105D-II;MI:AQL=1.5;MA:AQL=1.0;CR:AQL=0.65
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
檢
序
依
項
號H檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗方法
色環(huán)標(biāo)識與電阻標(biāo)稱值精度等級是否一一致.
色環(huán)標(biāo)識MI目測
1外觀用毛刷沾洗板水輕擦色環(huán),不能出現(xiàn)脫色現(xiàn)象。
元件體電阻有無破損,引腳是否氧化。MI目測
2尺寸符合產(chǎn)品工程圖;符合實際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺
1.用LCR電橋測量電阻值是否在偏差允許范圍內(nèi),電阻值
小于10K的用串聯(lián)方式,頻率選用100Hz.電阻值大于
等于10K的用并聯(lián)方式,頻率選用lOOHzo
3
電性2.分別在高溫85℃、低溫-20℃、溫度93%±3%、100CM高M(jìn)ALCR電橋
度自山跌落3次,其對應(yīng)R值均符合標(biāo)稱值及偏差允許
范圍。
3.碳膜電阻誤差值:±5%
用40W烙鐵快速一次上錫,要求焊點飽滿,引腳放在230+5℃烙鐵
4可焊性MA
錫爐中一次上錫面積大于85%。表面色環(huán)顏色不發(fā)生變化。小錫爐
1.所用材料與樣品相符。
目測、對比樣品
5材料2.與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA
刀片
3.外殼用刀片刮取,殼體堅韌度需符合。
1、包裝材料用料正確。2、小包裝方式、數(shù)量無誤。
包裝
63、裝箱方式、數(shù)量無誤。4、(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識MA目測
標(biāo)識
單內(nèi)容正確。
擬制:審核:批準(zhǔn):
日期日期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/HV-12-002
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
金屬膜電阻類第2頁共53頁
抽樣檢驗標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MIL-STD-105D-H;MI:AQL=1.5;MA:AQL=1.0;CR:AQL=0.65
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
序
檢驗
號檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗方法
項目
色環(huán)標(biāo)識與電阻標(biāo)稱值精度等級是否一
色環(huán)標(biāo)識MI目測
1外觀致。
元件體電阻有無破損,引腳是否氧化。MI目測
2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺
1.室溫下用LCR電橋測量電阻值是否在偏差允許范圍內(nèi),
電阻值小于10K的用串聯(lián)方式,頻率選用100Hz;電阻
3值大于等于10K的用并聯(lián)方式,頻率選用lOOHzoMA
電性2.分別在75℃、-5℃以下、濕度93%±3%、100CM高度LCR電橋
自由跌落3次,對應(yīng)R值均符合標(biāo)稱值及偏差允許范圍。
3.金屬膜、精密電阻阻值偏差不得超出標(biāo)稱值的上下限。
4CR
4.金屬膜電阻誤差值±1%
用40W烙鐵快速一次上錫,要求焊點飽滿,引腳放在230烙鐵
5可焊性MA
±5℃錫爐中,一次上錫面積大于85虬小錫爐
1、所用材料與樣品相符。
6材料MA目測、對比樣品
2、與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。
1、包裝材料用料正確。
包裝2、小包裝方式、數(shù)量無誤。
7MI目測
標(biāo)識3、裝箱方式、數(shù)量無誤。
4、(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識單內(nèi)容正確。
擬制:審核:批準(zhǔn):
日期日期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/HV-12-003
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
氧化膜電阻第3頁共53頁
抽樣來料檢驗標(biāo)準(zhǔn):
依據(jù)MIL-STDT05DTI;MI:AQL=1.0;MA:AQL=0.65;CR:AQL=0
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
序
檢驗
號檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗方法
項目
色環(huán)標(biāo)識與電阻標(biāo)稱值精度等級是否一
絲印MI目測
致。
1外觀
元件
電阻有無破損,引腳是否氧化。MI目測
體
2尺寸外形尺寸是否符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺
1.用LCR電橋測量電阻值是否在偏差允許范圍內(nèi),
電阻值小于10K的用串聯(lián)方式,頻率選用100Hz;
3電性2.分別在75℃、-5℃、濕度93%±3%、100CM高CRLCR電橋
度自由跌落3次,對應(yīng)R值均符合標(biāo)稱值及偏
差允許范圍
4材料所用材料與樣品相符MA目測、對比樣品
1.包裝材料用料正確。
2.小包裝方式、數(shù)量無誤。
5包裝標(biāo)識MI目測
3.裝箱方式、數(shù)量無誤。
4.(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識單內(nèi)容正確。
擬制:審核:批準(zhǔn):
日期日期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗通用標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/IW-12-004
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
AI機(jī)用的電阻、二極管引腳標(biāo)準(zhǔn)要求第4頁共53頁
抽樣檢驗標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MIL-STDT05D-H;MI:AQL=1.5;MA:AQL=1.0;CR:AQL=0.65
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
碳膜電阻、金膜電阻、二極管1N4148、二極管1N4007引腳直徑
序
檢驗
號檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗方法
項目
L1/4W碳膜、金膜電阻引腳直徑要求必需達(dá)0.43-0.5mm
電阻2.1/4W電阻要求帶編帶(26mm),編帶中間電阻引腳的兩端尺數(shù)字卡尺
1CR
引腳寸為26mm,也有52mm0目測
3.電阻引腳與編帶不允許有歪斜、彎曲、變形等現(xiàn)象。
1、二極管1N4148引腳直徑為0.45-0.5mm0
二極管2.二極管1N4148要求帶編帶(26mm),編帶中間二極管1N4148
數(shù)字卡尺
21N4148引腳的兩端尺寸為26mm。CR
目測
引腳3.二極管1N4148引腳與編帶不允許有歪斜、彎曲、變形等
現(xiàn)象
1.二極管1N4007引腳直徑為0.68-0.73mm。
二極管2.二極管1N4007要求帶編帶(58mm),編帶中間二極管1N4007
數(shù)字卡尺
31N4007引腳的兩端尺寸為58mm。CR
目測
引腳3.二極管1N4007引腳與編帶不允許有歪斜、彎曲、變形等
現(xiàn)象
用40W烙鐵快速一次上錫,要求焊點飽滿,引腳放在230±5℃烙鐵
4可焊性MI
錫爐中,一次上錫面積大于85%。小錫爐
1.所用材料與樣品相符。目測、對比樣
5材料MA
2.與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。品
包裝1.包裝材料用料正確。3.裝箱方式、數(shù)量無誤。
6MI目測
標(biāo)識2.小包裝方式、數(shù)量無誤。4.內(nèi)包裝、外箱標(biāo)識單內(nèi)容正確。
擬制:審核:批準(zhǔn):
日期日期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/HV-12-005
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
瓷片電容第5頁共53頁
抽樣檢驗標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MIL-STDT05DTI;MI:AQL=1.5;MA:AQL=1.0;CR:AQL=0.65
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
電容:104P/50V+80%-20%102P/50V+80%-20%(直徑4)5腳距5mm)
序檢驗
檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗方法
號項目
絲印絲印是否清晰可辯,標(biāo)識是否與來料相符。MI目測
1外觀
元件體引腳是否氧化,元件體是否有毛刺和破損、劃傷、裂痕等。MI目測
2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。腳距5mm,66mm,符合實際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺
1.用數(shù)字電容測試儀檢測其容量是否在允許范圍內(nèi),漏電流檢
測儀檢測其額定耐壓與漏電流的大小。
2.常溫下用數(shù)字電容測試儀檢測電容值為0.lUF+80%-20%
(0.OOlmF+80%-20%),損耗角WO.05。
數(shù)字電容測試儀
3.常溫下,用絕緣電阻測試儀測其絕緣阻210000MQ
漏電流測試儀
4.常溫下,用耐壓測試儀測端子間耐壓值75V;端子與外殼間
3電性CR耐壓測試儀
耐壓值為100V,應(yīng)元擊穿或飛弧現(xiàn)象(高溫區(qū)95℃-105℃檢
絕緣電阻測試儀
測方法相同)。
5.將其放于95℃?105℃及低溫-18℃以下,用數(shù)字電容測試儀
檢測測其電容值為0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).
6.手工浸水濕度93%±3%用數(shù)字電容測試儀測其電容
0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).
用烙鐵快速一-次上錫,要求焊點飽滿,引腳放在230±5℃錫爐烙鐵
4可焊性MI
中,一次上錫面積大于85%。小錫爐
3.所用材料與樣品相符。
5材料MA目測、對比樣品
4.與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。
包裝標(biāo)3.包裝材料用料正確。2.小包裝方式、數(shù)量無誤。
6MI目測
識3.裝箱方式、數(shù)量無誤。4.內(nèi)包裝、外箱標(biāo)識單內(nèi)容正確。
擬制:審核:批準(zhǔn):
日期日期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/HV-12-006
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
身壓瓷片電容第6頁共53頁
抽樣檢驗標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MIL-STD-105D-H;MI:AQL=1.5;MA:AQL=1.0;CR:AQL=0.65
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
電容:101P/1KV(直徑4>5腳距5111111)102P/1KV(直徑4>6.5腳距5mm)103P/1KV(直徑4>8.5腳距5nm)
序檢驗
檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗方法
項目
絲印絲印是否清晰可辯,標(biāo)識是否與來料相符。MI目測
1外觀
元件體引腳是否氧化,元件體是否有毛刺和破損、劃傷、裂痕等。MI目測
2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺
1.用數(shù)字電容測試儀檢測其容量是否在允許范圍內(nèi),漏電流檢測
儀檢測其額定耐壓與漏電流的大小。
2.常溫下用數(shù)字電容測試儀檢測電容值為0.lUF+80%-20%
(0.001mF+80%-20%),損耗角WO.05。
數(shù)字電容測試儀
3.常溫下,用絕緣電阻測試儀測其絕緣阻210000MQ
漏電流測試儀
4.常溫下,用耐壓測試儀測端子間耐壓值1.6Ur(5s);端子與外
3電性CR耐壓測試儀
殼間耐壓值為1250V,應(yīng)元擊穿或飛弧現(xiàn)象(高溫區(qū)95℃-105℃
絕緣電阻測試儀
檢測方法相同)。
5.將其放于95c?105℃及低溫-18"C以下,用數(shù)字電容測試儀檢
測測其電容值為0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).
6.手工浸水濕度93%±3%用數(shù)字電容測試儀測其電容
0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).
用烙鐵快速一次上錫,要求焊點飽滿,引腳放在230±5℃錫爐中,烙鐵
4可焊性MI
一次上錫面積大于85%。小錫爐
5.所用材料與樣品相符。
5材料MA目測、對比樣品
6.與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。
包裝4.包裝材料用料正確。2.小包裝方式、數(shù)量無誤。
6MI目測
標(biāo)識3.裝箱方式、數(shù)量無誤。4.內(nèi)包裝、外箱標(biāo)識單內(nèi)容正確。
擬制:審核:批準(zhǔn):
11期日期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/HVT2-007
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
高壓金屬膜電容第7頁共53頁
抽樣來料檢驗標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MIL-STDT05DTI;MI:AQL=1.5;MA:AQL=1.0;CR:AQL=0.4
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
高壓電容(CBB金屬膜電容)CBB21-473J400V(腳距10mm)
序檢驗
檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗方法
號項目
絲印是否清晰可辯,有明確認(rèn)證標(biāo)志,是否標(biāo)明
絲印MI目測
3C、UL、TtiV或VDE等認(rèn)證標(biāo)志。
1外觀
引腳是否氧化,元件體是否有毛刺和破損、劃傷,
元件體MI目測
封膠是否有氣孔等。
2尺寸符合產(chǎn)品工程圖MA游標(biāo)卡尺
1.根據(jù)所測安規(guī)電容的容量在電容測試儀設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)容量,根據(jù)電容正耐壓測試
負(fù)偏差設(shè)置上下偏差,然后依據(jù)電容的標(biāo)稱電壓值,設(shè)定損耗角正切儀
值,最后夾上待測電容,“PASS”燈亮表示合格。電容測試
2.用電容測試儀測其電容0.047口F±5%,損耗角WL容(2(TC1KHZ).儀
3電性CR
3.用絕緣電阻測試儀測其RH30000MQ(20℃Imin)漏電流測
4.常溫下100CM高度自由跌落3次,再測其電容值應(yīng)為0.047yF+5%.試儀
5.用耐壓測試儀測其極與極的抗電強(qiáng)度2Ur(2S).絕緣電阻
6.高溫80℃及低溫-20℃時,測其電容值為0.047uF±5%。測試儀
用烙鐵快速一次上錫,要求焊點飽滿,引腳放在230±5℃錫爐中,一烙鐵
4可焊性MI
次上錫面積大于85%。小錫爐
1.所用材料與樣品相符。目測、對比
5材料MA
2.與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。樣品
1.材料用料正確
包裝標(biāo)
62.裝箱方式、數(shù)量無誤MI目測
識
3.(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識單內(nèi)容正確
擬制:審核:批準(zhǔn):
日期日期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/HV-12-008
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
聚酯膜(絳綸)電容第8頁共53頁
抽樣來料檢驗標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MIL-STDT05DTI;MI:AQL=1.5;MA:AQL=0.65;CR:AQL=0.4
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
聚脂膜電容(絳綸):2J103J(630V)(腳距4mm)2JI52J(630V)(腳距4mm)
序檢驗檢驗方
號檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL
項II法
絲印絲印是否清晰可辯,負(fù)極標(biāo)志、絲印標(biāo)識是否與來料相符。MI目測
1外觀
元件體引腳是否氧化,元件體是否有毛刺和破損、劃傷。MI目測
鋼尺或游
2尺寸符合產(chǎn)品工程圖MA
標(biāo)卡尺
1.根據(jù)所測電容器容量在電容測試儀設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)容量,根據(jù)電容正負(fù)
電容測試
偏差設(shè)置上下偏差,然后根據(jù)電容的標(biāo)稱耐壓來設(shè)定損耗角,最后
儀
夾上待測電容,“PASS”燈亮表示為合格。
萬用表
2.用電容測試儀或LCR電橋測其電容0.0001uF±5%(0.00152nF
穩(wěn)壓電源
3電性±5%),損耗角正切值WO.01(20℃lKHZ)oCR
漏電流測
3.用耐壓測試儀測其極與極間的抗電強(qiáng)度2Ur(Ur=630VDC)時間
試儀
5S
絕緣電阻
4.用絕緣電阻測試儀測其R230000MC(20℃Imin)。
測試儀
5.工作溫度范圍40℃?+85℃
用烙鐵快速一次上錫,要求焊點飽滿,引腳放在230±5℃錫爐中,烙鐵
4可焊性MI
一次上錫面積大于85%。小錫爐
1、所用材料與樣品相符。目測、對
5材料MA
2、與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。比樣品
1、材料用料正確。
包裝2、小包裝方式、數(shù)量無誤。
63、裝箱方式、數(shù)量無誤。MI目測
標(biāo)識
4、(內(nèi)包裝、外箱)小標(biāo)簽內(nèi)容正確。
擬制:審核:批準(zhǔn):
日期日期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/HV-12-009
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
二極管IN4007第9頁共53頁
抽樣來料檢驗標(biāo)準(zhǔn):
依據(jù)MIL-STDT05DTI;MI:AQL=1.5;MA:AQL=0.65;CR:AQL=0.4
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
二極管:D1-D5IN4007
松
驗
序
項
M目檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求
VAQL檢驗方法
絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測
1外觀
元件體元件體引腳是否氧化,是否有毛刺和破損。MIII測
2尺寸符合產(chǎn)品工程圖;符合實際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺
1.用晶體管測試儀先后測試二極管正向壓降:0.6?1.IV
和反向耐壓:IN4007>1000V>晶體管測試儀
3電性2.IN4007在最大反向電壓下其最大反向電流值為5.0口CR穩(wěn)壓電源
A(+25℃),平均輸出電流值為1A(+75℃)
萬用表
3.工作溫度范圍為-65℃to+125℃
用40W烙鐵快速一次上錫,要求焊點飽滿,引腳放在230烙鐵
4可焊性MA
±5℃錫爐中,一次上錫面積大于85機(jī)小錫爐
1.所用材料與樣品相符。
5材料MA目測、對比樣品
2.與配料表中型號規(guī)格相符、與工程圖相吻合。
1、包裝材料用料正確。2、小包裝方式、數(shù)量無誤。
包裝
63.裝箱方式、數(shù)量無誤。MI目測
標(biāo)識
4.(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識單內(nèi)容正確。
擬制:審核:批準(zhǔn):
口期口期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/HV-12-009A
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
二極管IN4007第9A頁共53頁
抽樣來料檢驗標(biāo)準(zhǔn):
依據(jù)MIL-STD-105D-II;MI:AQL=1.5;MA:AQL=0.65;CR:AQL=0.4
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
穩(wěn)壓二極管參數(shù):
型號穩(wěn)壓值及精度測試電流正向電壓(VF)
IN47233.3V±5%76mA當(dāng)IF=200mA時,VFW1.2V
IN47324.3V±5%53mA當(dāng)IF=200mA時,VFW1.2V
IN47335.1V±5%49mA當(dāng)IF=200mA時,VFW1.2V
IN47345.6V±5%45mA當(dāng)IF=200mA時,VFW1.2V
IN472312V±5%21mA當(dāng)IF=200mA時,VFWL2V
IN472327V±5%9.5mA當(dāng)IF=200mA時,VFW1.2V
二極管參數(shù):
型號最大反向電壓(VR)正向電壓(VF)正向電流(IF)最大正向輸出電流IAF
IN4001250V<0.7V5.0nA1A
IN40022100VWO.7V5.0uA1A
IN400721000VWO.7V5.0uA1A
IN4148^100VWO.7V5.0uA150mA
BAV99275V<0.7Vl.OnA215mA
擬制:審核:批準(zhǔn):
日期日期日期
廣東順德長品版本:第三版
來料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件編號:WI/HV-12-010
電子有限公司受控狀態(tài):
修改頁:
二極管IN4148第10頁共53頁
抽樣來料檢驗標(biāo)準(zhǔn):
依據(jù)MIL-STD-105D-II;MI:AQL=1.5;MA:AQL=0.65;CR:AQL=0.4
MI:次要缺陷MA:主要缺陷CR:致命缺陷
二極管:D6-D7IN4148
序檢驗
檢驗標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗方法
號項目
絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測
1外觀
元件體引腳是否氧化,是否有毛刺和破
元件體MI目解
損。
鋼尺或游標(biāo)卡
2尺寸符合產(chǎn)品工程圖;符合實際裝配。MA
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