電子技術(shù)與技能實(shí)訓(xùn)08晶閘管的檢測(cè)

電子技術(shù)與技能實(shí)訓(xùn)

晶閘管的檢測(cè)2083知識(shí)鏈接一、晶閘管的外形、結(jié)構(gòu)和符號(hào)

晶閘管外部有三個(gè)電極，內(nèi)部是由PNPN四層半導(dǎo)體構(gòu)成，最外層的P層和N層分別引出陽(yáng)極A和陰極K，中間的P層引出門(mén)極(或稱(chēng)控制極)G，內(nèi)部有三個(gè)PN結(jié)J1、J2、J3。

晶閘管，俗稱(chēng)可控硅，是一種以弱電控制強(qiáng)電的電子元件，是電子電路的核心元件，常用在可控整流、調(diào)壓、調(diào)速、變頻、逆變等電路中。4知識(shí)鏈接一、晶閘管的外形、結(jié)構(gòu)和符號(hào)

晶閘管的外形：二、晶閘管的工作特性

晶閘管具有可控的單向?qū)щ娦浴?知識(shí)鏈接二、晶閘管的工作特性知識(shí)鏈接三、晶閘管型號(hào)7知識(shí)鏈接四、晶閘管的識(shí)別和檢測(cè)

（一）根據(jù)封裝識(shí)別晶閘管的各個(gè)電極

（二）用萬(wàn)用表判別晶閘管的各個(gè)電極

根據(jù)常見(jiàn)晶閘管的外形封裝形式可以判斷普通晶閘管的各個(gè)引腳所對(duì)應(yīng)的電極。

根據(jù)普通晶閘管的結(jié)構(gòu)可知，其門(mén)極G與陰極K之間為一個(gè)PN結(jié)，具有單向?qū)щ娞匦裕?yáng)極A與門(mén)極G之間有兩個(gè)反極性串聯(lián)的PN結(jié),陽(yáng)極A與陰極K之間有三個(gè)反極性串聯(lián)的PN結(jié)。因此，通過(guò)用萬(wàn)用表R×100Ω或R×1KΩ擋測(cè)量普通晶閘管各引腳之間的電阻值，即能確定三個(gè)電極8知識(shí)鏈接四、晶閘管的識(shí)別和檢測(cè)

（三）用萬(wàn)用表判斷晶閘管的質(zhì)量好壞

測(cè)G與K之間的正、反向電阻值，正常時(shí)正向電阻值較小，反向電阻值較大。若兩次測(cè)量的電阻值均很大或均很小，則說(shuō)明該晶閘管G，K極之間開(kāi)路或短路。若正、反電阻值均相等或接近，則說(shuō)明G、K極間PN結(jié)己失去單向?qū)щ娮饔谩?/p>

測(cè)A與G之間的正、反向電阻，正常時(shí)兩個(gè)阻值均應(yīng)為幾百千歐姆或無(wú)窮大。若出現(xiàn)正、反向電阻值不一樣，則是G、A極之間反向串聯(lián)的兩個(gè)PN結(jié)中的一個(gè)已擊穿短路。

測(cè)A與K之間的正、反向電阻，正常時(shí)均應(yīng)為無(wú)窮大。若A，K之間的正、反向電阻值為零或阻值較小，則說(shuō)明晶閘管內(nèi)部擊穿短路或漏電。9知識(shí)鏈接四、晶閘管的識(shí)別和檢測(cè)

（四）用萬(wàn)用表檢測(cè)晶閘管的觸發(fā)能力

測(cè)量時(shí)黑表筆接A，紅表筆接K（相當(dāng)于在A和K之間加上正向電壓，此時(shí)晶閘管不導(dǎo)通），萬(wàn)用表指針不動(dòng)，顯示阻值為無(wú)窮大。

用鑷子或?qū)Ь€將晶閘管的A與G短路（相當(dāng)于給G和K之間也加上了正向電壓，此時(shí)晶閘管滿足導(dǎo)通條件，晶閘管導(dǎo)通），此時(shí)若電阻值為幾歐姆至幾十歐姆，則表明晶閘管因正向觸發(fā)而導(dǎo)通。

再斷開(kāi)A與G的連接（A，K極上的表筆不動(dòng)，只將G極的觸發(fā)電壓斷掉），若表針位置不動(dòng)，則說(shuō)明此晶閘管的觸發(fā)性能良好（晶閘管導(dǎo)通后，門(mén)極失去控制作用）。10訓(xùn)練要求

本任務(wù)以小組為單位，通過(guò)嚴(yán)謹(jǐn)細(xì)致的分工、嚴(yán)格規(guī)范的操作，共同完成晶閘管的外形識(shí)別，會(huì)區(qū)分各個(gè)引腳對(duì)應(yīng)的電極，會(huì)通過(guò)型號(hào)確定晶閘管的額定電壓和額定電流，會(huì)用萬(wàn)用表測(cè)試正反向電阻的方法來(lái)判斷晶閘管極性及質(zhì)量壞。

一、能獨(dú)立查找資料，了解常見(jiàn)晶閘管的型號(hào)及參數(shù)

二、會(huì)根據(jù)外形封裝識(shí)別晶閘管的各個(gè)電極

三、會(huì)用指針式萬(wàn)用表判別晶閘管的各個(gè)電極

四、會(huì)用指針式萬(wàn)用表判斷晶閘管的質(zhì)量好壞

五、會(huì)用指針式萬(wàn)用表檢測(cè)晶閘管的觸發(fā)能力

六、會(huì)用數(shù)字式萬(wàn)用表判別晶閘管的各個(gè)電極

七、會(huì)用數(shù)字式萬(wàn)用表判斷晶閘管的質(zhì)量好壞

八、會(huì)用數(shù)字式萬(wàn)用表檢測(cè)晶閘管的觸發(fā)能力11一、根據(jù)封裝識(shí)別晶閘管的各個(gè)電極

根據(jù)常見(jiàn)晶閘管的外形封裝形式可以判斷普通晶閘管的各個(gè)引腳所對(duì)應(yīng)的電極。訓(xùn)練實(shí)施12二、用萬(wàn)用表判別晶閘管的各個(gè)電極

普通晶閘管其門(mén)極G與陽(yáng)極K之間為一個(gè)PN結(jié)，具有單向?qū)щ娞匦?，而?yáng)極A與門(mén)極G之間有兩個(gè)反極性串聯(lián)的PN結(jié)。因此，通過(guò)用萬(wàn)用表R×100Ω或R×1KΩ擋測(cè)量普通晶閘管各引腳之間的電阻值，即能確定三個(gè)電極訓(xùn)練實(shí)施13三、用萬(wàn)用表判斷晶閘管的質(zhì)量好壞訓(xùn)練實(shí)施測(cè)G與K之間的正、反向電阻，正常時(shí)正向阻值較小，反向阻值較大。測(cè)A與G之間的正、反向電阻，正常兩個(gè)阻值均為幾百千歐或無(wú)窮大。測(cè)A與K之間的正、反向電阻，正常時(shí)均應(yīng)為無(wú)窮大。14四、用萬(wàn)用表檢測(cè)晶閘管的觸發(fā)能力訓(xùn)練實(shí)施

測(cè)量時(shí)黑表筆接A，紅表筆接K，萬(wàn)用表指針不動(dòng)。

用鑷子或?qū)Ь€將晶閘管的A與G短路，此時(shí)若電