DB34∕T 3368.2-2019 印制電路板中有害物質(zhì)分析方法 第2部分：鹵素(氯和溴)的測定 離子色譜法　　_第1頁
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DB34DB34/T3368.2—2019印制電路板中有害物質(zhì)分析方法第2部分：鹵素（氯和溴）的測定離子色譜法MethodsfortheanalysisofharmfulsubstancesinprintedcircuitboardsPart2：Determinationofhalogens（ChlorineandBromine）byionchromatography2019-07-01發(fā)布2019-08-01實施安徽省市場監(jiān)督管理局發(fā)布I本部分參與起草單位：銅陵有色金屬集團控股有限公司檢測研究中心。1氯離子的方法檢出限為0.0009溴離子的方法檢出限為0.0009％。GB/T6682分析實驗室用水規(guī)4.5氯化物（Cl-）標(biāo)準貯存溶液:1000μ2氧彈內(nèi)燃燒后的含鹵氣體被充分吸收。30min后，用泄氣/%>0.57.4.2淋洗液：0.0045mol/L碳酸鈉（4.2）+7.4.6抑制器：ASRAUltraⅡ,4mm或者性能相當(dāng)者；30——空白溶液的質(zhì)量濃度（mg/L）；）；注：若測定元素的質(zhì)量分數(shù)小于0.10％,表示至小數(shù)點后第三位；測定元素的質(zhì)量分數(shù)小于0.01％時，表示至小質(zhì)量分數(shù)/%重復(fù)性限（r）/%9.2再現(xiàn)性），4質(zhì)量分數(shù)/%再現(xiàn)性限（R）

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