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μ- 兩臺(tái)工控電腦,DOS操作系統(tǒng),主要負(fù)責(zé)測(cè)量數(shù)據(jù)的處理,機(jī)器動(dòng)作的控制WINDOWS操作系統(tǒng),wintau32操作軟件被二.微波光電導(dǎo)衰退法(Microwavephotoconductivitydecay)測(cè)試少子壽命,主要包括激光注入產(chǎn)生電子-空穴對(duì)和微波探測(cè)信號(hào)的變化這兩個(gè)過(guò)程。904nm的激光注入(對(duì)于硅,注入30um)產(chǎn)生電子-空穴對(duì),導(dǎo)致樣品電導(dǎo)率的增加,當(dāng)撤去外界光注入時(shí),電μ-PCD測(cè)試的是少子有效壽命,它受兩個(gè)因素影響:體壽命和表面壽命。1

dd

diff

dππn,

τsurf=試壽命;dDn,Dp分別為電子和空穴的擴(kuò)散系數(shù);S1S1cm/s10cm/s1000μs數(shù)量級(jí)的體壽命,10cm/s或更小的情況下,對(duì)1000μs數(shù)量級(jí)高體壽命的樣品,測(cè)試壽命也能用來(lái)表示體壽命。LBICWT-2000LBIC4100um的LaserLaserBeamScatteredlightDirectreflectionLasercontrollerandlock-inSolarContact2:IQEQE LBIC

Ielectron/Iphoton其中RRecorderCalibrate/Flux菜單。LBIC頭將移直反射(directreflectance)統(tǒng)底端指定的位置,點(diǎn)擊Calibrate/directreflection并且依次輸入四種激光器常數(shù)(constantamplitude)34,輸入四種激光的偏差(offset)0。之后,直反射將自動(dòng)校正。漫反射(scatteredrelectance)被定義,Calibrate/scatteredreflectionOK即可自動(dòng)校正。SHRSHR探頭在中心有一個(gè)激光源,緊跟著有兩個(gè)同心圓環(huán)形電容電極,激光的頻率能被SHR信號(hào)并且它能向橫向擴(kuò)散,內(nèi)外探頭獲取表面勢(shì)。材料的方塊電阻通過(guò)在兩 SHR

SHRSHRfunction\compensateSHR的真實(shí)值。functions\save,取文件名,保存較正文件。在晶體生長(zhǎng),加工或運(yùn)輸過(guò)程中,F(xiàn)e是一種很容易沾污的金屬,-PCD能夠?qū)e的沾4所示。4FeBFeiSPVPCD這種大注入設(shè)備,F(xiàn)eBFei,在分解過(guò)程中,少子壽命升高,停止光照,F(xiàn)eiFeB,導(dǎo)致少子壽命降低并達(dá)到飽B濃度。這個(gè)過(guò)程5所示。5FeBFeB對(duì)分解前后的少子壽命,可通過(guò)式(3)Fe

=Cμ?PCD?

1? 其中:Cμ?PCD

?

aftermeasureinitializemeasure\options\loading下選擇樣品的形狀(wafershape).參考面(orientedby),找邊capacitanceconsolemeasure/loadsample上料。LBIC,要連接好金屬探針,(optical,微波(capacitance2.1)已Measure\waferfinderupcdLBIC,5.6.filesaveasfileexporthtml格式。windowspdf打印機(jī),打印時(shí)點(diǎn)擊點(diǎn)擊Print/pdf即可。6:BoatFeBoatFe圖9:980nm405nm

10:IQE不要用手移動(dòng)每天測(cè)量前,請(qǐng)用吸塵器清理設(shè)備中的贓物并用無(wú)塵布擦洗將機(jī)器為避免電腦中毒,最好不要用優(yōu)盤拷貝數(shù)據(jù)對(duì)于拋光過(guò)或表面特別均勻的腐蝕過(guò),而且是表面沒(méi)有氧化層的樣片,5%HF

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