NBT 47013.11-2015 承壓設備無損檢測 第11部分：X射線數(shù)字成像檢測

2015-04-02發(fā)布2015-04-02發(fā)布前言 404 4053術語和定義 4054一般要求 5檢測方法 6圖像質量及評定 4137檢測結果評定和質量分級(驗收) 4188圖像保存與存儲 4199檢測記錄和報告 419附錄A(規(guī)范性附錄)系統(tǒng)分辨率核查方法 420附錄B(資料性附錄)典型透照方式 附錄C(規(guī)范性附錄)雙線型像質計的識別 425附錄D(規(guī)范性附錄)歸一化信噪比測試方法 426附錄E(資料性附錄)檢測報告格式 427 第5部分：滲透檢測 第13部分：脈沖渦流檢測。第11部分：X射線數(shù)字成像檢測GB/T23901.1無損檢測射線照相底片像質第1部分：線型像質計像質指數(shù)的測定GB/T23901.5無損檢測射線照相底片像質第5部分：雙線型像質計圖像不清晰度的測定NB/T47013.1承壓設備無損檢測第1部分：通用要求NB/T47013.2承壓設備無損檢測第2部分：射線檢測分辨力resolution在無物理(幾何)放大的條件下，檢測系統(tǒng)的最大分辨率。4.2.2.2動態(tài)范圍應不小于2000:1。4.2.2.3A/D轉換位數(shù)不小于12bit。a)亮度不低于250cd/m2;b)灰度等級不小于8bit;c)圖像顯示分辨率不低于1024×768;1被檢測工件的類型、規(guī)格(形狀、尺寸、壁厚和材質)234檢測工藝(透照方式、透照參數(shù)、幾何參數(shù)、運動參數(shù)等)56工藝試驗報告74.4.3應根據(jù)工藝規(guī)程的內容以及被檢工件的檢測要求編制操作指導書，其內容除滿足NB/Tb)檢測設備器材(包括：X射線機(規(guī)格)、探測器(規(guī)格)、濾波板、像質計、標記、檢4.5.1檢測環(huán)境應滿足系統(tǒng)運行對環(huán)境(溫度、濕度、接地、電磁輻射、振動等)的要求。應保證X射線主射束垂直(或對準)透照被檢工件并到達探測器的有效成像區(qū)域。a)T(壁厚)≤8mm;b)g(焊縫寬度)≤D?/4。應控制圖像的開口寬度(上下焊縫投影最大間距)在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢NB/T47013.11—2015圖1為成像幾何透照示意圖，有效焦點尺寸d按NB/T47013.2相關規(guī)定計算。b為被檢工件表小，但減小值不應超過規(guī)定值的50%。小，但減小值不應超過規(guī)定值的20%。5.2.4透照幾何參數(shù)的估算理論上，對于給定的檢測系統(tǒng)，可由式(1)計算最佳放大倍數(shù)。 (1)d——焦點尺寸；U探測器固有不清晰度(約等于探測器像素大小的2倍)。式(2)給出了圖像分辨率與透照幾何參數(shù)之間的關系，對于給定的檢測系統(tǒng)和被檢工件，可結合實際檢測工況，基于式(2)選擇系統(tǒng)宜采用的透照幾何參數(shù)。M——放大倍數(shù)[計算見式(3)];U應達到的圖像分辨力(約等于應分辨的雙絲絲徑的2倍)。5.4.1小徑管環(huán)向焊接接頭100%靜態(tài)成像a)當T/D?≤0.12,相隔90°透照2次；b)當TID?>0.12,相隔120°或60°透照3次。5.4.3對于曲面外徑大于100mm,且小于探測器有效成像尺寸的被檢工件，在滿足表2透照厚度壓可適當高于圖2限定值。 b)線陣列探測器可通過合理選擇曝光時間和管電流來控制曝光量。用數(shù)字或字母表示分段標記。對環(huán)焊縫檢測可按順時針方向用記號筆進行標識；對直焊縫可按左到5.6.5標記一般應放置在距焊縫邊緣至少5mm以外的部位，還應符合NB/T47013.2中有關標記的規(guī)定。所有標記的影像不應重疊，且不應有干擾有效評定范圍內的影像。5.7無用X射線和散射線屏蔽應采用濾波板、準直器(光闌)、鉛箔、鉛板等適當措施，減少散射線和無用X射線。6圖像質量及評定6.1圖像質量6.1.1一般要求6.1.1.1應同時保證圖像靈敏度和圖像分辨率的要求。6.1.1.2測定圖像質量的像質計分為線型像質計和雙線型像質計。6.1.1.3圖像靈敏度采用線型像質計進行測定，線型像質計的型號和規(guī)格應符合GB/T23901.1的規(guī)定。6.1.1.4圖像分辨率采用雙線型像質計進行測定，雙線型像質計的型號和規(guī)格應符合GB/T23901.5的規(guī)定。6.1.1.5圖像質量驗證應在每一種焊接接頭的第一次透照時進行或在此之前專門進行工藝驗證。驗證圖像質量的透照布置應擺放線型和雙線型兩種像質計。6.1.2線型像質計6.1.2.1線型像質計的放置原則6.1.2.1.1單壁單影或雙壁雙影透照時，放置在X射線機側；6.1.2.1.2雙壁單影透照時，放置在探測器側。6.1.2.1.3當線型像質計放置在探測器側時，應在適當位置放置鉛字“F”作為標記，“F”標記的圖像應與像質計的標記同時出現(xiàn)在圖像上，且應在檢測報告中注明。6.1.2.2線型像質計的使用6.1.2.2.1線型像質計的金屬絲材料應與被檢工件的材料相同或相近。在滿足圖像靈敏度要求的前提下，低密度線型像質計可用于高密度材料的檢測。6.1.2.2.2線型像質計的材料、材料代碼和不同材料線型像質計適用的范圍應符合表3的規(guī)定。表3不同材料線型像質計適用范圍線型像質計材料代號Fe(鋼)Ni(鎳)Ti(鈦)Al(鋁)Cu(銅)工業(yè)純鋁適用的材料范圍鋼6.1.2.2.3線型像質計一般應放置在焊接接頭的一端，在被檢測區(qū)長度的1/4左右位置，金屬絲應橫跨焊縫，細絲置于外側。當一張圖像上同時透照同規(guī)格同類型的多條焊接接頭時，線型像質計應放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。6.1.2.2.4原則上每張圖像上都應有線型像質計的影像。在透照參數(shù)和被檢工件不變的情況下(如一條焊縫的連續(xù)成像),可只在第一幅圖像中放置線型像質計。6.1.2.2.5小徑管可選用通用線型像質計或專用線型像質計，金屬絲應橫跨焊縫放置。6.1.2.3線型像質計的識別在圖像灰度均勻部位(一般是鄰近焊縫的母材區(qū))能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)的像質計絲影像時，則該絲認為是可識別的。專用線型像質計至少應能識別兩根金屬絲。6.1.3雙線型像質計6.1.3.2雙線型像質計的使用6.1.3.2.1雙線型像質計應放置在被檢測區(qū)長度的1/4左右位置的母材上，金屬絲與圖像(或探測器)的行或列成較小的夾角(如2°~5°),且細絲置于外側。6.1.3.2.2原則上每張圖像上都應有雙線型像質計的影像。在透照參數(shù)和檢測對象不變的情況下(如一條焊縫的連續(xù)成像),可只在第一幅圖像中放置雙線型像質計，細絲置于外側。6.1.3.2.3若雙線型像質計無法放置在規(guī)定的位置，應采用表4和表5中的最小厚度的對比試件圖像分辨率/(lp/mm)注：對于雙壁單影透照方式，應取公稱厚度圖像分辨率/(lp/mm)注：對于雙壁單影透照方式，應取公稱厚度按照檢測技術等級的要求，圖像分辨率分別滿足表4和表5的規(guī)定。則達到W15和D10可提供等效的檢測靈敏度。補償最大不超過應識別絲號(絲徑/mm) 注：管或支管外徑≤120mm時，管座角焊縫的圖像靈敏度值可降低一個等級。應識別絲號(絲徑/mm)B級應識別絲號(絲徑/mm)表8(續(xù))應識別絲號(絲徑/mm)—6.2.1一般要求a)AB級圖像的灰度值應控制在滿量程的20%～80%;b)B級圖像的灰度值應控制在滿量程的40%～80%。6.2.4.1應滿足表9和表10對歸一化信噪比的最低要求。歸一化信噪比NB/T47013.11—2015表10歸一化信噪比最低要求(鋁及其合金)歸一化信噪比6.2.5圖像存儲6.2.5.1存儲格式宜按照DICONDE格式執(zhí)行。6.2.5.2單位代碼、工件編號、焊縫編號、透照規(guī)格、檢測人員代碼、識別標記等信息應寫入圖像文件的描述字段中，這些信息應具備不可更改性。6.2.5.3焊縫編號應與圖像編號相對應。6.2.6缺陷的識別與評定6.2.6.1缺陷的識別可采用人工識別或計算機輔助識別方法。6.2.6.2缺陷的評定可采用人工評定或計算機輔助評定方法。6.2.6.3人工識別可通過系統(tǒng)軟件工具對圖像進行線性拉伸來改變圖像顯示的灰度范圍，達到人眼識別的最佳效果。6.2.7缺陷幾何尺寸的測量應通過系統(tǒng)軟件對缺陷的幾何尺寸進行測量，測量公式可參考式(4): (4)式中：S——幾何尺寸；Ns由計算機測量缺陷圖像尺寸得到的像素個數(shù)。在缺陷測量前，可結合實際檢測要求，在實際檢測條件下，采集已知尺寸試件的X射線數(shù)字圖像對其幾何尺寸進行標定，幾何尺寸因子的計算參見式(5):δ=L/NL標定所用試件的尺寸(mm);N由計算機測量標定用試件圖像尺寸得到的像素個數(shù)。6.2.8缺陷深度的測量缺陷深度的測量可采用模擬試件，得到不同深度(厚度)與圖像灰度的變化規(guī)律，由系統(tǒng)軟件計算實現(xiàn)。7檢測結果評定和質量分級(驗收)7.1承壓設備焊接接頭焊縫X射線數(shù)字成像檢測的結果評定和質量分級按照NB/T47013.2的規(guī)定1)對于輕合金材料：管電壓90kV,1mm鋁濾波板；3)對于鋼、銅、鎳及其合金材料：厚度>20mm時，管電壓220kV,2mm銅濾波板。(資料性附錄)典型透照方式B.1對接焊縫典型透照方式圖B.1～B.6給出了常用的對接焊縫典型透照方式示意圖，可供透照布置時參考。圖中d表示X射線機有效焦點尺寸，F(xiàn)表示射線機到探測器的距離，b表示被檢工件至探測器的距離，f表示X射線機至被檢工件的距離，T表示公稱厚度，D。表示管子外徑，1表示探測器，2表示被檢工件。圖B.1環(huán)焊縫X射線機在外雙壁單影透照方式(1)圖B.2環(huán)焊縫X射線機在外雙壁單影透照方式(2)圖B.6縱、環(huán)縫X射線機在內單壁透照方式B.2管座角焊縫典型透照方式圖B.7~B.9給出了常用的管座角焊縫典型透照方式示意圖，圖中d表示X射線機有效焦點尺寸，T表示公稱厚度，b表示被檢工件至探測器的距離，1表示探測器，2表示被檢工件，可供透照圖B.7插入式接管角焊縫單壁X射線機在內中心透照方式圖B.8插入式接管角焊縫X射線機在外單壁透照方式NB/T47013.11—2015NB/T47013.11—2015(規(guī)范性附錄)雙線型像質計的識別C.1雙線型像質計的布置雙線型像質計的放置應與圖像(或探測器)的行或列成較小的夾角(如2°~5°)。C.2雙線型像質計可識別率的測量方法C.2.1雙線型像質計的識別和測量應在圖像上灰度均勻的區(qū)域內進行，應使用不少于21行像素疊加平均。C.2.2按照圖C.1所示，在能夠清晰地分辨最細線對的影像處，按式(C.1)計算絲的可識別率R。C.2.3本部分要求滿足R>20%,即滿足邊緣分離大于20%的要求，則這一線對可識別。C.2.4雙線型像質計圖像中第一組不大于20%的線對，即為表4和表5要求的最小分辨率。圖C.1雙線型像質計可識別率圖示(規(guī)范性附錄)P——探測器像素大小(μm);D.2測量信噪比(資料性附錄)產品類別檢測比例質量等級驗收等級焊縫長度焊縫編號