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文檔簡介
一、工作簡況
1、任務來源
本項目任務來源于中國電子元件行業(yè)協(xié)會“關于下達2020年第二批中國電子元件行
業(yè)協(xié)會團體標準制定項目計劃的通知”,計劃編號為YX202004003,起草單位為東莞立訊技
術有限公司、中國電子技術標準化研究院、華為技術有限公司、新華三技術有限公司、浪
潮電子信息產業(yè)股份有限公司、浙江兆龍互連科技股份有限公司、貴州航天電器股份有限
公司、中航光電科技股份有限公司、浙江永貴電器股份有限公司、深圳市計算機行業(yè)協(xié)會、
中國長城科技集團股份有限公司、研祥智能科技股份有限公司、寶德科技集團股份有限公
司、深圳微步信息股份有限公司、深圳市連接器行業(yè)行業(yè)協(xié)會、深圳市得潤電子股份有限
公司、深圳市興萬聯(lián)電子有限公司、深圳金信諾高新技術股份有限公司等共同編制團體標
準《數(shù)通設備用板載多用途56G矩形連接器》,技術歸口單位為中國電子元件行業(yè)協(xié)會電
接插元件分會,計劃要求編制時間為2020年4月至2020年11月。
2、主要工作過程
本項目計劃下達后,由東莞立訊技術有限公司公司牽頭成立了編制工作組,并制定工
作計劃,開始對標準編制要求與框架進行確定,標準編制小組進一步與國內外的相關標準
進行對比分析,于2020年4月底完成了標準草案。
于2019年5月初組織編制工作組討論會,在編制工作組內征求意見,標準草案經工
作組內部討論后統(tǒng)一意見,將工作組討論稿轉為征求意見稿,并于2020年5月15日提交
中國電子元件行業(yè)協(xié)會電接插元件分會審查。
3、主要參加單位和工作組成員及其所做的工作
主要參加單位和工作組成員及其所做的工作見下表:
序號成員姓名編制組成員單位組內職務職責
負責完成標準各階段文
項目件的編寫、修改,標準項
1陳瓊南
負責人目計劃的進度控制,以及
與其他單位的溝通協(xié)調。
東莞立訊技術有限公司
負責協(xié)助開展各階段標
2郭榮哲
標準化準文本編寫格式審查、各
人員階段提出意見落實情況
3金龍
審查等。
4朱茗中國電子技術標準化研究院編制組協(xié)助項目負責人完成標
序號成員姓名編制組成員單位組內職務職責
5郝順華為技術有限公司成員準各階段文件的編寫、修
改,協(xié)助項目負責人完成
6蔡利東
相關方意見征集并反饋
7陳向明新華三技術有限公司項目負責人,按期完成項
8李利城目負責人分派的其它工
作任務等。
9宗艷艷浪潮電子信息產業(yè)股份有限公司
10陳俊旭
浙江兆龍互連科技股份有限公司
11黃南翔
12曹永泉
貴州航天電器股份有限公司
13木青峰
14潘波
中航光電科技股份有限公司
15袁俊峰
16蔡社民
浙江永貴電器股份有限公司
17易小剛
深圳計算機行業(yè)協(xié)會/中國長城科技集
18何林
團股份有限公司
19陳超研祥智能科技股份有限公司
20李祥磊
寶德科技集團股份有限公司
21李寧
22丁永波深圳微步信息股份有限公司
23劉海濤深圳市連接器行業(yè)行業(yè)協(xié)會
24林宗彪深圳市得潤電子股份有限公司
25蔡友華
深圳市興萬聯(lián)電子有限公司
26李建
27祝平衡深圳金信諾高新技術股份有限公司
二、標準編制原則和主要內容
1、標準編制原則
為保證本標準的技術內容能適應目前國內對高速連接方案的需求,并且與國際上同類
型產品標準相對應,體現(xiàn)出標準的先進性、適用性和可操作性,結合國內該類型板載連接
器產品研制生產狀況以及國內標準化工作導則的相關要求,編制中遵循下述原則:
a)標準編寫中的內容和技術指標的準確性,主要內容和技術指標的確定主要結合上
游客戶要求和國際先進企業(yè)要求制定和補充;試驗分組按照電性能、機械性能、環(huán)境性能
1
進行分組;
b)本標準為產品標準,編寫中切實注意標準的可執(zhí)行性,同時在編寫中注意用字用
詞的統(tǒng)一性、規(guī)范性;
c)本標準編制符合GB/T1.1-2009《標準化工作導則第1部分:標準的結構和編寫》,
按標準制定的程序進行工作,廣泛征求行業(yè)內有關意見,保證技術內容的正確性;
d)本標準為推薦性標準。
2、主要指標和確定依據
2.1總則
本標準是數(shù)通設備用板載多用途56G矩形連接器,插頭插座的連接方式為插拔結構,
在插頭側為PCB金手指接觸的方式,同時插頭本體設有鎖扣結構,插入連接器具備鎖緊功
能,先解鎖后拔出插座;插座為彈針觸點結構,在連接器底部設有用于焊接的pin腳,安
裝方式為SMT方式。
作為內部高速互聯(lián)接口,性能指標參考當前國際主流協(xié)議PCIe,同時考慮該連接器技
術的通用性,參考國際規(guī)范PCIe5.0(PCI-SIG協(xié)會規(guī)范)進行定義。
2.2接觸件插入力和分離力
性能指標依據現(xiàn)有產品,接觸件摸底試驗的次數(shù)為2次,每次樣本數(shù)量為5個,插入
力的測試值范圍為≤0.5N;分離力測試值范圍為1.5N最小
確定指標如下:
單孔插入力單孔分離力
序號接觸件規(guī)格
NN
150路帶外殼插座連接器≤0.51.5最小
試驗方法:按照GB/T5095.8-1997中試驗16e條規(guī)定的方法A對單獨的插孔進行試驗。
2.3插入力和拔出力
性能指標依據現(xiàn)有產品,兼容行業(yè)內通用指標,并考慮到通用性,具體指標見下表。
50路帶外殼連接器產品摸底試驗的次數(shù)為2次,每次樣本數(shù)量為5個,插入力的測試值范
圍為30N最大;扣鎖狀態(tài)下的保持力不小于50N,未鎖緊狀態(tài)下連接器的拔出力測試值范
圍為2N最小。
確定指標如下:
2
連接器插入力自鎖狀態(tài)下的保持力未鎖緊狀態(tài)下的連接器的拔出力
序號芯數(shù)
NNN
138路≤24≥50≥1.5
250路≤30≥50≥2
374路≤42≥50≥3
4124路≤67≥50≥5
5148路≤79≥50≥6
試驗方法:連接器按GB/T5095.7-1997中試驗13b的規(guī)定程序進行測量。
2.1接觸電阻
國內同行類似產品接觸件接觸電阻不大于2.5mΩ,8芯產品摸底試驗的次數(shù)為1次,
每次樣本數(shù)量為3個,16#接觸件接觸電阻0.92mΩ~2.41mΩ。
確定指標如下:
接觸電阻
序號接觸件規(guī)格
mΩ
116#≤2.5
試驗方法:按照GB/T5095.2-1997的試驗2b對插合好的連接器進行試驗。
2.2絕緣電阻
國外同行類似產品絕緣電阻不大于2000MΩ。本產品摸底試驗的次數(shù)為1次,每次樣
本數(shù)量為6個,常溫下測試值為9000MΩ,濕熱試驗后176.5MΩ~241.5MΩ
確定指標如下:常溫≥5000MΩ;≥100MΩ(濕熱試驗后)
試驗方法:按照GB/T5095.2-1997中試驗3a條規(guī)定的方法A對插合好的連接器進行
試驗。
2.3耐電壓
國外同行此類高速連接器產品耐電壓300V。50路帶外殼連接器產品摸底試驗的次
數(shù)為2次,每次樣本數(shù)量為5個,常溫常態(tài)下耐電壓測試時漏電流為0.015mA~0.024mA,
均滿足不大于5mA的要求。
確定指標如下:
3
試驗電壓(AC有效值)試驗時間
序號環(huán)境狀態(tài)
Vmin
1常溫常態(tài)3001
試驗方法:按照GB/T5095.2-1997中試驗4a條規(guī)定的方法A對插合好的連接器進行
試驗。
2.4機械壽命
國外同行類似高速連接器產品鍍金接觸件機械壽命200次。本產品摸底試驗的次數(shù)為
1次,每次樣本數(shù)量為5個,試驗后產品應無機械損傷,但金屬零件磨擦表面允許有輕微
磨損。
指標如下:
序號接觸件鍍層插拔次數(shù)
1鍍金≥200
試驗方法:連接器按GB/T5095.5-1997中試驗9a規(guī)定進行試驗。
2.5溫度沖擊
戶外開關箱設備使用溫度為-40℃~70℃。本產品摸底試驗的次數(shù)為1次,每次樣
本數(shù)量為5個(產品使用溫度為-40℃~85℃),進行驗證后,連接器零件無變形、裂紋,
鍍層無起泡、脫落等損傷。
指標如下:使用溫度-40℃~85℃,低溫:-40±3℃,高溫:+85℃±3℃,循環(huán)
次數(shù):5次;在兩種溫度中暴露時間t1為30min,轉換時間t2為2min
試驗方法:插合好的連接器按GB/T5095.6-1997中試驗11d規(guī)定進行試驗。
2.6低溫
本產品摸底試驗的次數(shù)為1次,每次樣本數(shù)量為5個。進行驗證后,連接器零件無變
形、裂紋,鍍層無起泡、脫落等損傷。
指標如下:將連接器放入試驗箱內,降溫至-40℃±2℃并保持2h;在標準大氣條
件下進行檢測,恢復時間為2h。
試驗方法:插合好的連接器按GB/T5095.6-1997中試驗11j的規(guī)定進行試驗。
2.7高溫
本產品摸底試驗的次數(shù)為1次,每次樣本數(shù)量為5個。進行驗證后,連接器零件無變
4
形、裂紋,鍍層無起泡、脫落等損傷。
指標如下:將連接器放入試驗箱內,升溫至85℃±2℃并保持16h;在標準大氣條
件下進行檢測,恢復時間為2h。
試驗方法:插合好的連接器按GB/T5095.6-1997中試驗11i的規(guī)定進行試驗。
2.8穩(wěn)態(tài)濕熱
本產品摸底試驗的次數(shù)為1次,每次樣本數(shù)量為5個。進行驗證后,涂覆層允許光澤
顏色減退,除局部邊棱處外,應無起泡、起皺、脫落、基體金屬腐蝕等缺陷,非金屬材料
無明顯泛白、膨脹、起泡、皺裂、麻坑等缺陷;
指標如下:相對濕度93±3%,溫度40±2℃,按照GB/T2423.3-2008“試驗Cab:恒
定濕熱試驗”中試驗Cab進行試驗,持續(xù)時間12h,在標準大氣條件下進行檢測,恢復時
間2h。
試驗方法:插合好的連接器按照GB/T5095.6-1997中試驗11c條規(guī)定的方法進行試
驗。
2.9振動
本產品摸底試驗的次數(shù)為1次,每次樣本數(shù)量為5個。進行驗證后,無外觀和機械損
傷,無超過1μs的瞬斷。
指標如下:頻率10Hz~2000Hz;加速度147m/s2,在三個互相垂直的方向上進行
振動,其中有一個方向應與試驗樣品軸線平行,每個方向上掃頻循環(huán)12次,每個方向持
續(xù)4h,全部持續(xù)時間12h。
試驗方法:插合好的連接器按照GB/T5095.4-1997中試驗6d規(guī)定進行試驗。
2.10沖擊
本產品摸底試驗的次數(shù)為1次,每次樣本數(shù)量為5個。進行驗證后,無外觀和機械損
傷,無超過1μs的瞬斷。
指標如下:沖擊波形,半正弦沖擊,峰值加速度490m/s2,脈沖持續(xù)時間11ms,在
三個互相垂直的軸向上,每個方向做三次。
試驗方法:插合好的連接器按GB/T5095.4-1997中試驗6c的規(guī)定進行試驗。
2.11鹽霧
5
本產品摸底試驗的次數(shù)為1次,每次樣本數(shù)量為5個。進行驗證后,涂漆層除局部邊
棱處外,應無起泡、起皺、脫落、基體金屬不得腐蝕,非金屬材料應無明顯泛白、膨脹、
起泡、皺裂、麻坑等。
按照GB/T5095.6-1997中試驗11f條規(guī)定的試驗方法對插合好的連接器進行試驗。
3、解決的主要問題
本標準中的高速連接器定義了國內高速卡邊緣連接器及線纜組件互聯(lián)界面,滿足
PCIe4.0/PCIe5.0,兼容內部56GPAM4互聯(lián)。
本標準技術內容包括:范圍、規(guī)范性引用文件、要求、質量保證規(guī)定、交貨準備、說
明事項和型號命名等,并詳細規(guī)定了該系列產品的外形尺寸、結構形式等,主要研究了內
部高速OmniEdgeASM連接器性能指標等,填補了該類電連接器國家標準和行業(yè)標準的空
白。
三、主要試驗(或驗證)情況分析
首次連接器樣板SI測試數(shù)據滿足PCIEGen5和56GPAM4的規(guī)格,如下:
1.滿足56GPAM4的規(guī)格線和初版測試報告
1.1插入損耗實測指標
6
1.2回波損耗實測指標
1.3近端串擾實測指標
7
1.4遠端串擾實測指標
2.滿足PCIe_CEM_SPEC_R5_V0_7規(guī)格線和目前初版測試報告。
2.1插入損耗實測指標
8
2.2回波損耗實測指標
2.3近端串擾實測指標
9
2.4遠端串擾實測指標
四、知識產權情況說明
本標準的發(fā)布機構提請相關采用人注意,該團體標準模板中可能涉及到與連接器結構
相關的專利的使用,專利申請?zhí)?01921496408.7、201921494812.0、201921488179.4、
201921488178.X、202010335251.0、202010334214.8、202010335250.6、202010334204.4。
五、產業(yè)化情況
該標準涉及的產品市場以服務器產品為例,全球服務器年發(fā)貨量在1200多萬臺,平
均每臺服務器內部高速連接應用多達數(shù)十個,而近年來國內服務器成長迅速,已占全球份
額30%,且逐年上漲,未來市場前景良好。
六、采用國際標準和國外先進標準情況
作為內部高速互聯(lián)接口,當前主流協(xié)議為PCIe,所以考慮該連接器技術的通用性主要
參考國際規(guī)范PCIe5.0(PCI-SIG協(xié)會規(guī)范)進行定義。
七、與相關國家標準、行業(yè)標準及其他標準的協(xié)調性
本標準按照GB/T1.1-2009《標準化工作導則第一部分:標準的結構和編制》格式
進行編制;本標準無相關國家、行業(yè)及其他標準;本標準中的試驗方法主要采用了下面的
相關標準。
GB/T2408-2008塑料燃燒性能的測定水平法和垂直法
GB/T2421.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗概述和指南
10
GB/T2828.1-2012計數(shù)抽樣檢驗程序第1部分:按接收質量限(AQL)檢索的逐批
檢驗抽樣計劃
GB/T4210-2015電工術語電子設備用機電元件
GB/T5095.2-1997電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第2部分:一般
檢查、電連續(xù)性和接觸電阻測試、絕緣試驗和電壓應力試驗(IEC512-2:1985,IDT)
GB/T5095.3-1997電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第3部分:載流
容量試驗(IEC512-3:1976,IDT)
GB/T5095.4-1997電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法第4部分:動態(tài)
應力試驗(IEC512-4:1992,IDT)
GB/T5095.5-1997
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