JT-T-1356.3-2020城市公共交通IC卡檢測規(guī)范第3部分：非接觸卡片電氣特性及通行協(xié)議

ICS03.220.20;35.240.15R07中華人民共和國交通運輸行業(yè)標準JTT1356.32020城市公共交通IC卡檢測規(guī)范第3部分:非接觸卡片電氣特性 及通信協(xié)議TechnicalspecificationonIccardforurbanpublictransportprotocolofcontactlesscard2020-12-30發(fā)布2021-03-o1實施Ⅰ前言 引言 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語和定義 4符號和縮略語 5測試基本要求 6電氣特性測試項目要求 7通信協(xié)議測試項目要求 Ⅲ—第1部分:卡片應(yīng)用;—第2部分:讀寫終端;—第3部分:非接觸卡片電氣特性及通信協(xié)議;—第4部分:非接觸讀寫終端電氣特性及通信協(xié)議。本部分由交通運輸信息通信及導(dǎo)航標準化技術(shù)委員會提出并歸口。本部分起草單位:中國交通通信信息中心、北京中交金卡科技有限公司、北京中交信聯(lián)認證有限公司、江蘇交通一卡通有限公司、北京智慧云測科技有限公司、北京一卡通科技有限公司、北京中電華大電子設(shè)計有限責(zé)任公司、金邦達有限公司、上海復(fù)旦微電子股份有限公司、北京同方微電子有限公司、北京飛天誠信科技有限公司、北京握奇數(shù)據(jù)股份有限公司、北京倍勝智能科技有限公司、北京融通高科微電子科技有限公司、國民技術(shù)股份有限公司、大唐微電子技術(shù)有限公司。Ⅳ引言本部分編寫的主要依據(jù)是JT/T978.2、JT/T978.3和IC卡相關(guān)產(chǎn)品在實際應(yīng)用中的技術(shù)要求。為保證城市公共交通IC卡相關(guān)產(chǎn)品能夠正確實現(xiàn)其技術(shù)要求,制定了本部分的相關(guān)檢測項目。1城市公共交通IC卡檢測規(guī)范第3部分:非接觸卡片電氣特性及通信協(xié)議JT/T1356的本部分規(guī)定了城市公共交通IC卡非接觸卡片電氣特性和通信協(xié)議的測試基本要求及測試項目要求。本部分適用于JT/T978規(guī)定的非接觸卡片電氣特性及通信協(xié)議的檢測。2規(guī)范性引用文件下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。JT/T978(所有部分)城市公共交通IC卡技術(shù)規(guī)范3術(shù)語和定義JT/T978界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1接近式卡proximityICcard一種ID-1型卡,在它上面已裝入集成電路和耦合電路,并且與集成電路的通信是通過與接近式耦合設(shè)備的電感耦合完成的。3.2用電感耦合給接近式卡提供能量并控制與接近式卡交換數(shù)據(jù)的讀/寫設(shè)備。3.3確定一邏輯狀態(tài)的時間。在這段時間結(jié)束時,一個新的位將開始。3.4移相為180°的移相鍵控,從而導(dǎo)致兩個可能的相位狀態(tài)。3.5定義為[a-b]/[a+b],其中a和b分別是信號幅度的峰值和最小值。3.6以頻率fs調(diào)制載波頻率fc而產(chǎn)生的射頻信號。3.7由指明的8位數(shù)據(jù)b1到b8組成,從最高有效位(MSB,b8)到最低有效位(LSB,b1)。23.8在同一時間周期內(nèi),在同一接近式耦合設(shè)備的工作場中,有兩張或兩張以上的接近式卡進行數(shù)據(jù)傳輸,使得接近式耦合設(shè)備不能辨別數(shù)據(jù)是從哪一張接近式卡發(fā)出的。3.9在開始和結(jié)束處有定界符的一序列數(shù)據(jù)位和任選差錯檢測位。屬于應(yīng)用或上層協(xié)議,它不在本部分描述。TypeA防沖突算法所需的一個編號。幀的一種特殊類型,它包含有效協(xié)議數(shù)據(jù)格式。4符號和縮略語下列符號適用于本文件。EGTPCD:PCD幀保護時間。EGTPCD,EoS:PCD發(fā)送載波EoS幀保護時間。EGTPCD,EoS,MAX:PCD發(fā)送載波EoS最大幀保護時間。FDTA,PICC:TypeA幀延遲時間。FDTA,PICC,ACTIVATION:TypeAACTIVATION期間的幀延遲時間。FDTA,PICC,ANTICOLLISION:TypeAANTICOLLISION期間的FDTA,PICC,CHAINING:TypeA鏈接I塊交互期間的幀延遲時間。FDTA,PICC,I-BLOCK:TypeAI塊交互期間的幀延遲時間。FDTA,PICC,MIN:TypeA最小幀延遲時間。FDTA,PICC,SWTX1:TypeAI塊指令和第一個S(WTX)請求之間的時間。FDTA,PICC,SWTX2:TypeA最后一個S(WTX)響應(yīng)和I塊指令之間的時間。FDTB,PICC:TypeB幀延遲時間。FDTB,PICC,ATQB:TypeBATQB期間的幀延遲時間。FDTB,PICC,ATTRIB:TypeBATTRIB期間的幀延遲時間。FDTB,PICC,SWTX1:TypeBI塊指令和第一個S(WTX)請求之間的時間。FDTB,PICC,SWTX2:TypeB最后一個S(WTX)響應(yīng)和I塊指令之間的時間。FWIMAX:最大幀等待指數(shù)。FWTTEMP:臨時幀等待時間。SFGIMAX:最大幀保護時間指數(shù)。3tFSOFF:TypeBPICC在EoS結(jié)束之后到停止發(fā)送副載波的時間。OV,FREEAIR:TESTPCD產(chǎn)生測試場強后CMR的峰—峰值電壓。OV,PICC:PICC放在TESTPCD后CMR的峰—峰值電壓。tPICC,S,2:PCD載波在SoS內(nèi)保持相位為Φ0°時間。tRESET:PICC在工作場關(guān)閉后進入PowerOff狀態(tài)和工作場開VS,OV,MIN:TESTPCD產(chǎn)生的最小測試場強。ΔVOV:PICC放在TESTPCD之前和放之后的CMR的峰-峰值電壓之差。下列縮略語適用于本文件。45測試基本要求對于各檢測項目,測試環(huán)境如下:—測試系統(tǒng)周邊30cm的區(qū)域范圍內(nèi),不應(yīng)有金屬物體或其他干擾源;—測試系統(tǒng)周邊1m的區(qū)域范圍內(nèi),不應(yīng)有非接觸終端及手機等其他天線。5.2測試平臺結(jié)構(gòu)為執(zhí)行測試項目,應(yīng)建立可實現(xiàn)基本功能的測試平臺,確保各個測試項目按要求進行。測試平臺結(jié)構(gòu)見圖1。圖1測試平臺結(jié)構(gòu)5.3測試項目編號測試項目索引見表1。除特殊說明外,所有測試項目均為必選,應(yīng)全部通過。對于非接觸卡片來表1測試項目索引表測試項目類別編號章條電氣特性5表1(續(xù))測試項目類別編號章條電氣特性通信協(xié)議6表1(續(xù))測試項目類別編號章條通信協(xié)議7表1(續(xù))測試項目類別編號章條通信協(xié)議對每一個測試項目進行唯一編號,編號結(jié)構(gòu)為三段式,說明見圖2。第三段編號規(guī)則如下:—如該字段為字母,則參數(shù)值根據(jù)每個項目測試流程指定的參數(shù)表進行設(shè)置;—如該字段為數(shù)字,則參數(shù)值按照數(shù)字內(nèi)容設(shè)置;—如該字段不存在,則項目無須設(shè)置測試參數(shù);—如該字段為x或xy,表示按照案例中的要求x和y的取值進行子案例的組合標識。圖2測試項目編號結(jié)構(gòu)示例1:“CAX_111__000”,表明此測試項目適用于卡片模擬特性測試,TypeA/B都適用,項目測試參數(shù)設(shè)置為示例2:“CAA_121_zrf”,表明此測試項目適用于卡片模擬特性測試,TypeA適用,項目測試參數(shù)根據(jù)項目指定的參數(shù)表進行設(shè)置。示例3:“CDB_001”,表明此測試項目適用于卡片數(shù)字特性測試,TypeB適用,項目無須設(shè)置測試參數(shù)。其中z值為卡片中心點與檢測天線中心點在兩者的平面平行時的垂直距離。r為卡片中心點與檢測天線中心點投影到同一平面上時的距離(當r等于0時,距離為0;當r等于1時,距離為1.5cm;當r等于2時,距離為2.5cm)。f為保持在水平面旋轉(zhuǎn)角度固定,將卡中心點與檢測天線中心點投影到同一平面連接后與檢測天線正X軸的角度。在zrf取不同值的時候,卡片的測試將在圖3所示的空間中進行,測試平面圖見圖4。針對通信協(xié)議的測試項目時,當無此三位數(shù)字時除特殊說明外,位置要求為中心點對中心點。當有兩位字母時,表明為子項目組合。8圖3測試立體結(jié)構(gòu)圖圖4測試平面圖使每個測試項目的測試點符合JT/T978的相關(guān)要求。準備好相應(yīng)配置的卡片以備測試。由測試工具向滿足測試條件的卡片按照步驟順序發(fā)送命令,實現(xiàn)預(yù)期的測試目的。對測試流程中卡片返回數(shù)據(jù)進行判斷,滿足JT/T978的對應(yīng)要求則測試通過,不滿足要求則測試不通過。96電氣特性測試項目要求表2CAA_112_200測試要求測試項目編號測試目的為確保在工作場關(guān)閉后,TypeAPICC能夠在tRESET時間內(nèi)進入測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置測試用模擬終端(TESTPCD)的參數(shù);b)設(shè)置PCD仿真設(shè)備(EmulationDevice)的參數(shù);c)將PICC放在(2,0,0)位置(見表8)處;d)從WUPA命令開始,獲e)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;f)PCD發(fā)送命令與PICC進行交互;g)確定PICC可以正確響應(yīng)RATS命令;h)設(shè)置偵測設(shè)備,使偵測設(shè)備在WUPA開始時觸發(fā);j)驗證PICC是否對WUPA命令進行響應(yīng)測試結(jié)果PICC在工作場關(guān)閉后的tRESET時間內(nèi)進入表3CAA_113_200測試要求測試項目編號測試目的為確保在工作場開啟后,TypeAPICC能夠在tRESET測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD的參數(shù);c)將PICC放在(2,0,0)位置處;d)從WUPA命令開始,獲e)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;f)設(shè)置偵測設(shè)備,使偵測設(shè)備在WUPA開始時觸發(fā);h)驗證PICC是否對WUPA命令進行響應(yīng)測試結(jié)果PICC應(yīng)在工作場關(guān)閉后的tRESET時間內(nèi)進入Pow6.3CAB_112_200表4CAB_112_200測試要求測試項目編號測試目的為確保在工作場關(guān)閉后,TypeBPICC能夠在tRESET時間內(nèi)進入測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD的參數(shù);c)將PICC放在(2,0,0)位置處;d)從WUPB命令開始,獲取1e)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;f)PCD發(fā)送命令與PICC進行交互;g)確定PICC可以正確響應(yīng)ATTRIB命令;h)設(shè)置偵測設(shè)備,使偵測設(shè)備在WUPB開始時觸發(fā);j)驗證PICC是否對WUPB命令進行響應(yīng)測試結(jié)果PICC應(yīng)在工作場關(guān)閉后的tRESET時間內(nèi)進入PowerOff狀態(tài)6.4CAB_113_200表5CAB_113_200測試要求測試項目編號測試目的為確保在工作場開啟后,TypeAPICC能夠在tRESET測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD的參數(shù);c)將PICC放在(2,0,0)位置處;d)從WUPB命令開始,獲取1e)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;f)設(shè)置偵測設(shè)備,使偵測設(shè)備在WUPB開始時觸發(fā);h)驗證PICC是否對WUPB命令進行響應(yīng)測試結(jié)果PICC應(yīng)在工作場關(guān)閉后的tRESET時間內(nèi)進入Pow測試項目編號測試目的為確保PICC對工作場的影響低于最小情況的場強測試條件測試流程a)設(shè)置TESTPCD產(chǎn)生最小情況場強VS,OV,MIN;b)設(shè)置偵測設(shè)備獲取10μs至200μs的信號;c)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;d)測量[(VOV,FREEAIR峰-峰值電壓)與CMRgain]的乘積;e)將PICC放在(2,0,0)位置(表8)處;f)測量[(VOV,PICC峰-峰值電壓)與CMRgain]的乘積;g)計算ΔVOV,ΔVOV等于(VOV,FREEAIR-VOV,PICC)測試結(jié)果PICC產(chǎn)生的壓降ΔVOV不能大于0.7VCAA_121_zrf測試要求見表7,CAA_121_zrf位置見表8。測試項目編號測試目的驗證最小場強下PICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPA命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表8中的所有位置測試結(jié)果TypeAPICC在最小場強下可以正常工作位置f值(0,0,0)000(0,1,0)010(0,1,3)013(0,1,6)016(0,1,9)019(1,0,0)100表8(續(xù))位置f值(2,0,0)200(2,2,0)220(2,2,3)223(2,2,6)226(2,2,9)229(3,0,0)300(3,2,0)320(3,2,3)323(3,2,6)326(3,2,9)329(4,0,0)400(4,1,0)410(4,1,3)413(4,1,6)416(4,1,9)419CAA_122_zrf測試要求見表9,CAA_122_zrf位置見表8。測試項目編號測試目的驗證最大場強下PICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPA命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表8中的所有位置測試結(jié)果TypeAPICC在最大場強下可以正常工作CAA_123_zrf測試要求見表10,CAA_123_zrf位置見表8。測試項目編號測試目的驗證正常場強下PICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPA命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表8中的所有位置測試結(jié)果TypeAPICC在正常場強下可以正常工作表11CAA_124_200測試要求測試項目編號測試目的驗證最小載波頻率下PICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPA命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程測試結(jié)果TypeAPICC在最小載波頻率下可以正常工作表12CAA_125_200測試要求測試項目編號測試目的驗證最大載波頻率下PICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPA命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程測試結(jié)果TypeAPICC在最大載波頻率下可以正常工作測試項目編號測試目的驗證在正常場強、最小t1時間下PICC響應(yīng)靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPA命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表14中的所有位置測試結(jié)果位置f值(0,0,0)000(1,0,0)100(2,0,0)200(3,0,0)300(4,0,0)400測試項目編號測試目的驗證在正常場強、最大t1時間下PICC響應(yīng)靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPA命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表14中的所有位置測試結(jié)果CAA_131_zrf測試要求見表16,CAA_131_zrf的位置要求見表17。測試項目編號測試目的測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)設(shè)置TESTCMR參數(shù);c)將PICC放在(0,0,0)位置處;d)獲取ATQA響應(yīng)中的連續(xù)8個副載波;e)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;f)自動測量不同負載波間的峰-峰值,計算出平均值;g)記錄接口2通道的負載調(diào)制信號;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表17中的所有位置測試結(jié)果TypeAPICC負載調(diào)制信號滿足相應(yīng)要求位置f值(0,0,0)000(0,1,0)010(0,1,3)013(0,1,6)016(0,1,9)019(1,0,0)100(1,1,0)110(1,1,3)113(1,1,6)116(1,1,9)119(2,0,0)200(2,1,0)210(2,1,3)213(2,1,6)216(2,1,9)219(3,0,0)300表18CAA_132_200測試要求測試項目編號測試目的驗證TypeAPICC的副載波頻率和位速率測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從SELECTPPSE指令響應(yīng)開始獲取5ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)將光標放在X1位置,X1為第一個副載波的波峰;g)計算副載波頻率為1344/(X2-X1),位速率為168/(X2-X1);h)更改TESTPCD參數(shù),重復(fù)測試測試結(jié)果表19CAA_133_200測試要求測試項目編號測試目的測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從ATQA響應(yīng)開始獲取10μs的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)觀察副載波調(diào)制響應(yīng)測試結(jié)果通過使用開關(guān)鍵控調(diào)制副載波。應(yīng)答期間,在4個或8個副載波調(diào)制后,存在一定時期的未被調(diào)制狀態(tài);副載波開始或結(jié)束處,不應(yīng)出現(xiàn)過沖或失真表20CAA_143_200測試要求測試項目編號測試目的驗證從PICC至PCD的響應(yīng)編碼符合規(guī)范要求測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPA命令開始,獲取1ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;f)觀察PICC響應(yīng)測試結(jié)果PICC應(yīng)能按照下列格式進行編碼:邏輯1—符號D;邏輯0—符號E;EoS—符號F表21CAA_144_200測試要求測試項目編號測試目的測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeA測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPA命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)將光標X1放在WUPA命令最后一個上升沿起始位置;f)將光標X2放在ATQA響應(yīng)起始位置;g)測量FDTA,PICC,ANTICOLLISION等于X2-X1;h)測量RATS命令和PICC響應(yīng)之間的FDTA,PICC,ACTIVATION;i)測量第一個I塊指令和PICC響應(yīng)之間的FDTA,PICC記錄為FDTA,PICC,I-BLOCK;j)如果PICC發(fā)送帶鏈接的塊,測量第一個R塊指令和PICC響應(yīng)之間的FDTA,PICC記錄為FDTA,PICC,CHAINING;k)如果發(fā)送S(WTX)請求,測量I塊指令和第一個S(WTX)請求之間的時間FDTA,PICC記錄為FDTA,PICC,SWTX1;l)如果發(fā)送S(WTX)請求,測量最后一個S(WTX)響應(yīng)和I塊指令之間的時間FDTA,PICC記錄為FDTA,PICC,SWTX2測試結(jié)果FDTA,PICC時間符合JT/T978.5的要求表22CAB_121_zrf測試要求測試項目編號測試目的驗證最小場強下TypeBPICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表8中的所有位置測試結(jié)果TypeBPICC在最小場強下可以正常工作表23CAB_122_zrf測試要求測試項目編號測試目的驗證最大場強下PICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表8中的所有位置測試結(jié)果TypeBPICC在最大場強下可以正常工作6.20CAB_123_zrf表24CAB_123_zrf測試要求測試項目編號測試目的驗證正常場強下PICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表8中的所有位置測試結(jié)果TypeBPICC在正常場強下可以正常工作6.21CAB_124_200表25CAB_124_200測試要求測試項目編號測試目的驗證最小載波頻率下PICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程測試結(jié)果TypeBPICC在最小載波頻率下可以正常工作6.22CAB_125_200表26CAB_125_200測試要求測試項目編號測試目的驗證最大載波頻率下PICC的靈敏度測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程測試結(jié)果TypeBPICC在最大載波頻率下可以正常工作CAB_126_z00測試要求見表2表27CAB_126__z00測試要求測試項目編號測試目的驗證TypeBPICC在最小調(diào)制指數(shù)下的響應(yīng)測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)將PICC放在(2,0,0)位置處;i)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;j)顯示完整交易流程;k)確認交易成功;l)記錄接口2通道的完整測試流程;m)將PICC放在(2,0,0)位置處;n)設(shè)置TESTPCD參數(shù);o)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;p)顯示完整交易流程;q)確認交易成功;r)記錄接口2通道的完整測試流程;s)將PICC放在(2,0,0)位置處;t)設(shè)置TESTPCD參數(shù);u)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;v)顯示完整交易流程;w)確認交易成功;x)記錄接口2通道的完整測試流程;y)將PICC放在(2,0,0)位置處;z)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;aa)顯示完整交易流程;bb)確認交易成功;cc)記錄接口2通道的完整測試流程測試結(jié)果TypeBPICC在最小調(diào)制指數(shù)下工作正常CAB_127_z00測試要求見表2表28CAB_127__z00測試要求測試項目編號測試目的驗證TypeBPICC在最大調(diào)制指數(shù)下的響應(yīng)測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)確認交易成功;g)記錄接口2通道的完整測試流程;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表14中的所有位置測試結(jié)果TypeBPICC在最大調(diào)制指數(shù)下工作正常CAB_128_z00測試要求見表2表29CAB_128__z00測試要求測試項目編號測試目的驗證TypeBPICC在收到最小場強下最大t1時間的WUPA指令后保持HALT狀態(tài)而不進入PowerOff狀態(tài),除非PICC的PUPI是固定的測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(0,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)記錄交易流程中所有PUPI的值;g)重復(fù)變更測試位置直到完成表14中的所有位置測試結(jié)果TypeBPICC在收到在最小場強下最大t1時間的WUPB指令后功能正常,保持在HALT狀態(tài),且CAB_131_zrf測試要求見表30,CAB_131_zrf位置見表31。測試項目編號測試目的測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)設(shè)置TESTCMR參數(shù);c)將PICC放在(0,0,0)位置處;d)獲取ATQB響應(yīng)中的8個副載波;e)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;f)自動測量不同負載波間的峰-峰值,計算出平均值;g)記錄接口2通道的負載調(diào)制信號;h)重復(fù)變更測試位置直到完成表31中的所有位置測試結(jié)果TypeBPICC在最小場強下可以正常工作表31zrf位置4表位置f值(0,0,0)000(0,1,0)010(0,1,3)013(0,1,6)016(0,1,9)019(1,0,0)100(1,1,0)110(1,1,3)113(1,1,6)116(1,1,9)119(2,0,0)200(2,1,0)210(2,1,3)213(2,1,6)216(2,1,9)219(3,0,0)3006.27CAB_132_200表32CAB_132_200測試要求測試項目編號測試目的驗證TypeBPICC的副載波頻率和位速率測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)獲取一個完整的ATQB響應(yīng);d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)將起始光標放在SoS結(jié)尾位置;f)將結(jié)束光標放在EoS開始位置;g)計算高峰的數(shù)量;h)將起始光標放在SoS結(jié)尾處的最后一個副載波相位變換起始位置;i)將結(jié)束光標放在EoS開始處的最后一個副載波相位變換起始位置;j)計算起始光標和結(jié)束光標之間的時間T;k)計算副載波頻率;l)計算位速率測試結(jié)果6.28CAB_133_200表33CAB_133_200測試要求測試項目編號測試目的測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPB命令第一個相位變化開始獲取10ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;f)觀察副載波調(diào)制響應(yīng)測試結(jié)果PICC應(yīng)使用BPSK調(diào)制副載波;僅在數(shù)據(jù)傳輸時產(chǎn)生副載波6.29CAB_143_20025JT/T1356.3—2020表34CAB_143_200測試要求測試項目編號CAB_143_200測試目的驗證從TypeBPICC至PCD的同步,位編碼和去同步化的響應(yīng)測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取1ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)PCD發(fā)送WUPB命令;測試結(jié)果PICC不應(yīng)在TR0MIN時間內(nèi)產(chǎn)生副載波;在TR0時間后,PICC應(yīng)在TR1時間內(nèi)產(chǎn)生沒有相位變化的副載波;SoS編碼,EoS編碼符合規(guī)范要求;邏輯“0”和“1”編碼正確;在tFSOF6.30CAB_144_200CAB_144_200測試要求見表35。表35CAB_144_200測試要求測試項目編號CAB_144_200測試目的驗證PICC的位邊界測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取1ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)顯示完整交易流程;f)將光標X1放在起始位相位變化前的最后一個副載波的起始點;g)將光標X2放在下一個相位變化前的最后一個副載波的起始點;h)按照上述操作步驟重復(fù)對ATQB中規(guī)定測量的字符間隔進行測量測試結(jié)果6.31CAB_145_200CAB_145_200測試要求見表36。表36CAB_145_200測試要求測試項目編號CAB_145_200測試目的驗證PICC的時序符合規(guī)范要求測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB表36(續(xù))測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取500ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)將光標X1放在WUPB命令最后一個上升沿處起始位置;f)將光標X2放在ATQB響應(yīng)起始位置;g)測量TR0等于X2-X1;h)在不移動X2情況下,將X1放在第一個相位變化前的最后一個副載波起始位置;i)測量TR1等于(X1-X2)+16/fc;j)計算FDTB,PICC,ATQB等于(TR0+TR1);k)將X2放在第二個相位變化前的最后一個副載波起始位置;l)測量tPICC,S,1等于X2-X1;m)測量ATTRIB指令和PICC響應(yīng)之間的FDTB,PICC;n)將X1放在第三個相位變化前的最后一個副載波起始位置;o)測量tPICC,S,2等于X1-X2;p)副載波調(diào)制結(jié)束之前,如果最后一個相位變換發(fā)生時間小于256/fc,將X1放在這個最后一次相位變換前的最后一個副載波的起始位置,如果大于256/fc,將X1放在PICC響應(yīng)結(jié)束位置;q)將X2放在X1之前的最后一次相位變換前的最后一個副載波的起始位置;r)如果X1放在PICC響應(yīng)最后一個相位變化之前,tPICC,E等于X1-X2,如果X1放在了PICC響應(yīng)結(jié)束的位置,tPICC,E等于X1-X2-16/fc;s)將X2放在PICC響應(yīng)結(jié)束的位置,如果X1放在PICC響應(yīng)最后一個相位變化之前,tFSOFF等于X2-X1-16/fc,否則,tFSOFF等于0;t)將X1放在PICC響應(yīng)第一個字符起始位相位變換前的最后一個副載波起始位置;u)將X2放在(X1+9.5etu)之后的第一個相位變化前的最后一個副載波起始位置;w)如果響應(yīng)字符數(shù)量為n,將X1放在PICC響應(yīng)第(n-1)個字符起始位相位變換前的最后一個副載波起始位置;x)將X2放在(X1+9.5etu)之后的第一個相位變化前的最后一個副載波起始位置;z)將X1放在PICC響應(yīng)EoS之前的最后一個副載波起始位置;aa)EGTPICC,EoS等于X2-X1-1bb)將X1放在最后一個ATTRIB序列上升沿的起始位置;cc)將X2放在PICC響應(yīng)的第一個相位變換前的副載波起始位置;dd)FDTB,PICC等于X2-X1+16/fc,記錄為FDTB,PICC,ATTRIB;ee)測量第一個I塊指令和PICC響應(yīng)之間的FDTA,PICC記錄為FDTB,PICC,I-BLOCK;ff)如果PICC發(fā)送帶鏈接的塊,測量第一個R塊指令和PICC響應(yīng)之為FDTB,PICC,CHAINING;gg)如果發(fā)送S(WTX)請求,測量I塊指令和第一個S(WTX)請求之間的時間FDTB,PICC記錄為FDTB,PICC,SWTX1;hh)如果發(fā)送S(WTX)請求,測量最后一個S(WTX)響應(yīng)和I塊指令之間的時間FDTB,PICC記錄為FDTB,PICC,SWTX2測試結(jié)果FDTB,PICC,TR0,TR1,tPICC,S,1,tPICC,S,2,tPICC,E,tFSOFF和EGT時間符合規(guī)范要求6.32CAB_146_200表37CAB_146_200測試要求測試項目編號測試目的驗證從PCD至TypeBPICC的序列使用最大EGTPCD,EoS時,PICC能夠正確響應(yīng)測試條件默認環(huán)境條件,PICC類型為TypeB測試流程a)設(shè)置TESTPCD參數(shù);b)將PICC放在(2,0,0)位置處;c)從WUPB命令開始,獲取10ms的波形;d)為采集波幅時的精確測量,優(yōu)化采集設(shè)備;e)PCD至PICC的序列使用最大EGTPCD和EGTPCD,EoS;f)觀察PICC是否響應(yīng)ATQB測試結(jié)果當收到PCD發(fā)送的使用EGTPCD和EGTPCD,EoS,MAX的序列時,PICC應(yīng)該正確識別并響應(yīng)ATQB7通信協(xié)議測試項目要求城市公共交通IC卡非接觸卡片通信協(xié)議測試包括傳輸協(xié)議TypeA(CDA)、傳輸協(xié)議TypeB(CDB)及塊傳輸協(xié)議執(zhí)行(CDX)的測試項目要求。7.2傳輸協(xié)議測試:TypeA(CDA)表38CDA_001測試要求測試項目編號測試目的確保從PCD至PICC的幀延遲時間FDTA,PICC符合JT/T978.5—2015規(guī)范要求測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持4字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;f)發(fā)送SELECTCL1命令;g)接收返回的SAK;表38(續(xù))測試流程h)發(fā)送HLTA命令;i)發(fā)送REQA命令;j)發(fā)送WUPB命令;k)發(fā)送WUPA命令;l)接收返回的ATQA;m)發(fā)送SELECTCL1命令;n)接收返回的SAK;o)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;p)接收返回的ATS;q)發(fā)送一個I塊,包含SELECTPPSE命令;r)接收返回的I塊;s)發(fā)送一個I塊,包含SELECTADF命令;t)接收返回的I塊;u)發(fā)送一個I塊,包含GPO命令;v)處理返回的S(WTX)請求塊,并接收返回的S塊和I塊;w)發(fā)送一個I塊,包含READRECORD命令;x)接收返回I塊;y)發(fā)送一個S(DESELECT)請求塊;z)接收返回S(DESELECT)響應(yīng)塊;aa)發(fā)送WUPA命令;bb)接收返回的ATQA;cc)發(fā)送HLTA命令;測試結(jié)果對于WUPA,ANTICOLLISION,SELECT命令,FDTA,PICC應(yīng)為FDTA,PICC,MIN。對于RATS命令,FDTA,PICC應(yīng)大于FDTA,PICC,MIN并小于FWTACTIVATION。對于其他命令,FDTA,PICC應(yīng)大于FDTA,PICC,MIN并小于FWT表39CDA_002測試要求測試項目編號測試目的確保從PCD到PICC的幀延遲時間FDTA,PICC符合JT/T978.5—2015規(guī)范要求測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持7字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;f)發(fā)送SELECTCL1命令;g)接收返回的SAK;表39(續(xù))測試流程j)發(fā)送SELECTCL2命令;k)接收返回的SAK;l)發(fā)送HLTA命令;m)發(fā)送REQA命令;n)發(fā)送WUPB命令;o)發(fā)送WUPA命令;p)接收返回的ATQA;q)發(fā)送SELECTCL1命令;r)接收返回的SAK;s)發(fā)送SELECTCL2命令;t)接收返回的SAK;u)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;v)接收返回的ATS;w)發(fā)送一個I塊,包含SELECTPPSE命令;x)接收返回的I塊;y)發(fā)送一個I塊,包含SELECTADF命令;z)接收返回的I塊;aa)發(fā)送一個I塊,包含GPO命令;bb)處理返回的S(WTX)請求塊,并接收返回的S塊和I塊;cc)發(fā)送一個I塊,包含READRECORD命令;dd)接收返回I塊;ee)發(fā)送一個S(DESELECT)請求塊;ff)接收返回S(DESELECT)響應(yīng)塊;hh)接收返回的ATQA命令;ii)發(fā)送HLTA命令; jj)發(fā)送WUPA命令;kk)接收返回的ATQA測試結(jié)果對于WUPA,ANTICOLLISION,SELECT命令,FDTA,PICC應(yīng)為FDTA,PICC,MIN。對于RATS命令,FDTA,PICC應(yīng)大于FDTA,PICC,MIN并小于FWTACTIVATION。對于其他命令,FDTA,PICC應(yīng)大于FDTA,PICC,MIN并小于FWTCDA_010測試要求見表40。表40CDA_010測試要求測試項目編號測試目的確保PICC響應(yīng)格式符合JT/T978.5—2015規(guī)范要求測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持4字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;表40(續(xù))測試流程f)發(fā)送SELECTCL1命令;g)接收返回的SAK;h)發(fā)送HLTA命令;i)發(fā)送REQA命令;j)發(fā)送WUPB命令;k)發(fā)送WUPA命令;l)接收返回的ATQA;m)發(fā)送SELECTCL1命令;n)接收返回的SAK;o)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;p)接收返回的ATS;q)發(fā)送一個I塊,包含SELECTPPSE命令;r)接收返回的I塊;s)發(fā)送一個I塊,包含SELECTADF命令;t)接收返回的I塊;u)發(fā)送一個I塊,包含GPO命令;v)處理返回的S(WTX)請求塊,并接收返回的S塊和I塊;w)發(fā)送一個I塊,包含READRECORD命令;x)接收返回I塊;y)發(fā)送一個S(DESELECT)請求塊;z)接收返回S(DESELECT)響應(yīng)塊;aa)發(fā)送WUPA命令;bb)接收返回的ATQA;cc)發(fā)送HLTA命令;ee)接收返回的ATQA測試結(jié)果SAK長度為1字節(jié),b6為1,b3為0。ATS長度小于22字節(jié),TL等于后續(xù)字節(jié)長度加1,且小于20,MAX,SFGI≤SFGIMAX,TC(1)的b8CDA_011測試要求見表41。表41CDA_011測試要求測試項目編號測試目的確保PICC響應(yīng)格式符合JT/T978.5—2015規(guī)范要求測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持7字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;表41(續(xù))測試流程f)發(fā)送SELECTCL1命令;g)接收返回的SAK;i)接收返回的UIDCL2+BCC;j)發(fā)送SELECTCL2命令;k)接收返回的SAK;l)發(fā)送HLTA命令;m)發(fā)送REQA命令;n)發(fā)送WUPB命令;o)發(fā)送WUPA命令;p)接收返回的ATQA;q)發(fā)送SELECTCL1命令;r)接收返回的SAK;s)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;t)接收返回的ATS;u)發(fā)送一個I塊,包含SELECTPPSE命令;v)接收返回的I塊;w)發(fā)送一個I塊,包含SELECTADF命令;x)接收返回的I塊;y)發(fā)送一個I塊,包含GPO命令;z)處理返回的S(WTX)請求塊,并接收返回的S塊和I塊;aa)發(fā)送一個I塊,包含READRECORD命令;bb)接收返回I塊;cc)發(fā)送一個S(DESELECT)請求塊;dd)接收返回S(DESELECT)響應(yīng)塊;ee)發(fā)送WUPA命令;ff)接收返回的ATQA;gg)發(fā)送HLTA命令;hh)發(fā)送WUPA命令;ii)接收返回的ATQA測試結(jié)果SAK長度為1字節(jié),b6為1,b3為0。ATS長度小于22字節(jié),TL等于后續(xù)字節(jié)長度加1,且小于20,MAX,SFGI≤SFGIMAX,TC(1)的b8CDA_012測試要求見表42。表42CDA_012測試要求測試項目編號測試目的確保PICC響應(yīng)格式符合JT/T978.5—2015規(guī)范要求測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持10字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;f)發(fā)送SELECTCL1命令;g)接收返回的SAK;i)接收返回的UIDCL2+BCC;j)發(fā)送SELECTCL2命令;k)接收返回的SAK;l)發(fā)送ANTICOLLISIONCL3命令;n)發(fā)送SELECTCL3命令;o)接收返回的SAK;p)發(fā)送HLTA命令;q)發(fā)送REQA命令;r)發(fā)送WUPB命令;s)發(fā)送WUPA命令;t)接收返回的ATQA;u)發(fā)送SELECTCL1命令;v)接收返回的SAK;w)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;x)接收返回的ATS;y)發(fā)送一個I塊,包含SELECTPPSE命令;z)接收返回的I塊;aa)發(fā)送一個I塊,包含SELECTADF命令;bb)接收返回的I塊;cc)發(fā)送一個I塊,包含GPO命令;dd)處理返回的S(WTX)請求塊,并接收返回的S塊和I塊;ee)發(fā)送一個I塊,包含READRECORD命令;ff)接收返回I塊;gg)發(fā)送一個S(DESELECT)請求塊;hh)接收返回S(DESELECT)響應(yīng)塊;ii)發(fā)送WUPA命令; jj)接收返回的ATQA;kk)發(fā)送HLTA命令;ll)發(fā)送WUPA命令;測試結(jié)果MAX,SFGI≤SFGIMAX,TC(1)的b8到b3為0表43CDA_116測試要求測試項目編號測試目的確保PICC能夠順利完成防沖突循環(huán)測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持4字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;i)接收返回的UIDCL1+BCC;j)發(fā)送SELECTCL1命令;k)接收返回的SAK;l)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;m)接收返回的ATS測試結(jié)果表44CDA_117測試要求測試項目編號測試目的確保PICC能夠順利完成防沖突循環(huán)測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持7字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;i)接收返回的UIDCL1+BCC;j)發(fā)送SELECTCL1命令;k)接收返回的SAK;l)發(fā)送ANTICOLLISIONCL2命令;表44(續(xù))測試流程r)發(fā)送SELECTCL2命令;s)接收返回的SAK;t)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;u)接收返回的ATS測試結(jié)果表45CDA_118測試要求測試項目編號測試目的確保PICC能夠順利完成防沖突循環(huán)測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持10字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;i)接收返回的UIDCL1+BCC;j)發(fā)送SELECTCL1命令;k)接收返回的SAK;l)發(fā)送ANTICOLLISIONCL2命令;r)發(fā)送SELECTCL2命令;s)接收返回的SAK;y)接收返回的UIDCL3+z)發(fā)送SELECTCL3命令;aa)接收返回的SAK;bb)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;cc)接收返回的ATS測試結(jié)果CDA_204測試要求見表46。表46CDA_204測試要求測試項目編號測試目的確保PICC在IDLE狀態(tài)下能接收一條有效的REQA命令或REQA命令,能忽略所有其他的命令和錯誤,并保持IDLE狀態(tài)測試條件默認環(huán)境條件測試流程a)復(fù)位工作場;c)發(fā)送SELECTCL1命令;e)發(fā)送SELECTCL2命令;g)發(fā)送SELECTCL3命令;h)發(fā)送HLTA命令;i)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;j)發(fā)送WUPB命令;k)發(fā)送REQA命令;l)接收返回的ATQA測試結(jié)果PICC不響應(yīng)REQA命令前的的所有命令表47CDA_206_xy測試要求測試項目編號測試目的確保PICC在READY狀態(tài)下接收到除有效的ANTICOLLISIONCL1和SELECTCL1命令外的其他命令和錯誤時不響應(yīng),并進入IDLE狀態(tài)測試條件默認環(huán)境條件測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;f)x等于0,y等于0:發(fā)送SELECTCL1命令,其中第1個CRC字節(jié)最低位錯誤;g)x等于0,y等于1:發(fā)送SELECTCL1命令,其中第2個CRC字節(jié)最低位錯誤;h)x等于0,y等于2:發(fā)送SELECTCL1命令,其中第1個CRC字節(jié)最高位錯誤;i)x等于0,y等于3:發(fā)送SELECTCL1命令,其中第1個字節(jié)奇偶校驗位錯誤;j)x等于0,y等于4:發(fā)送SELECTCL1命令,其中第1個CRC字節(jié)奇偶校驗位錯誤;k)x等于0,y等于5:發(fā)送HLTA命令;l)x等于0,y等于6:發(fā)送WUPA命令;表47(續(xù))測試流程m)x等于0,y等于7:發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;n)x等于0,y等于8:發(fā)送ANTICOLLISIONCL2命令;o)x等于0,y等于9:發(fā)送SELECTCL2命令;p)x等于1,y等于0:發(fā)送一個I塊,包含SELECTPPSE命令;q)x等于1,y等于1:發(fā)送SELECTCL1命令,其中UID錯誤;r)x等于1,y等于2:發(fā)送ANTICOLLISIONCL1命令,其中包含奇偶校驗位錯誤;t)發(fā)送WUPA命令;u)接收返回的ATQA測試結(jié)果在接收到錯誤的SELECTCL1命令和后續(xù)的ANTICOLLISIONCL1命令時,PICC沒有響應(yīng)。在接收到最后的WUPA命令時,返回ATQA表48CDA_207_xy測試要求測試項目編號測試目的確保PICC在READY狀態(tài)下接收到除有效的ANTICOLLISIONCL2和SELECTCL2命令外的其他命令和錯誤時不響應(yīng),并進入IDLE狀態(tài)測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持7或10字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;f)發(fā)送SELECTCL1命令;g)接收返回的SAK;i)接收返回的UIDCL2+BCC;j)x等于0,y等于0:發(fā)送SELECTCL2命令,其中第1個CRC字節(jié)最低位錯誤;k)x等于0,y等于1:發(fā)送SELECTCL2命令,其中第2個CRC字節(jié)最低位錯誤;l)x等于0,y等于2:發(fā)送SELECTCL2命令,其中第1個CRC字節(jié)最高位錯誤;m)x等于0,y等于3:發(fā)送SELECTCL2命令,其中第1個字節(jié)奇偶校驗位錯誤;n)x等于0,y等于4:發(fā)送SELECTCL2命令,其中第1個CRC字節(jié)奇偶校驗位錯誤;o)x等于0,y等于5:發(fā)送HLTA命令;p)x等于0,y等于6:發(fā)送WUPA命令;q)x等于0,y等于7:發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;r)x等于0,y等于8:發(fā)送ANTICOLLISIONCL1命令;s)x等于0,y等于9:發(fā)送SELECTCL1命令;t)x等于1,y等于0:發(fā)送一個I塊,包含SELECTPPSE命令;u)x等于1,y等于1:發(fā)送SELECTCL2命令,其中UID錯誤;v)x等于1,y等于2:發(fā)送ANTICOLLISIONCL2命令,其中包含奇偶校驗位錯誤;x)發(fā)送WUPA命令;y)接收返回的ATQA測試結(jié)果在接收到錯誤的SELECTCL2命令和后續(xù)的ANTICOLLISIONCL2命令時,PICC沒有響應(yīng)。在接收到最后的WUPA命令時,返回ATQA表49CDA_208_xy測試要求測試項目編號測試目的確保PICC在READY狀態(tài)下接收到除有效的ANTICOLLISIONCL3和SELECTCL3命令外的其他命令和錯誤時不響應(yīng),并進入IDLE狀態(tài)測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持10字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;f)發(fā)送SELECTCL1命令;g)接收返回的SAK;i)接收返回的UIDCL2+BCC;j)發(fā)送SELECTCL2命令;k)接收返回的SAK;l)發(fā)送ANTICOLLISIONCL3命令;n)x等于0,y等于0:發(fā)送SELECTCL3命令,其中第1個CRC字節(jié)最低位錯誤;o)x等于0,y等于1:發(fā)送SELECTCL3命令,其中第2個CRC字節(jié)最低位錯誤;p)x等于0,y等于2:發(fā)送SELECTCL3命令,其中第1個CRC字節(jié)最高位錯誤;q)x等于0,y等于3:發(fā)送SELECTCL3命令,其中第1個字節(jié)奇偶校驗位錯誤;r)x等于0,y等于4:發(fā)送SELECTCL3命令,其中第1個CRC字節(jié)奇偶校驗位錯誤;s)x等于0,y等于5:發(fā)送HLTA命令;t)x等于0,y等于6:發(fā)送WUPA命令;u)x等于0,y等于7:發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;v)x等于0,y等于8:發(fā)送ANTICOLLISIONCL1命令;w)x等于0,y等于9:發(fā)送SELECTCL1命令;x)x等于1,y等于0:發(fā)送一個I塊,包含SELECTPPSE命令;y)x等于1,y等于1:發(fā)送SELECTCL3命令,其中UID錯誤;z)x等于1,y等于2:發(fā)送ANTICOLLISIONCL3命令,其中包含奇偶校驗位錯誤;cc)接收返回的ATQA測試結(jié)果在接收到錯誤的SELECTCL3命令和后續(xù)的ANTICOLLISIONCL3命令時,PICC沒有響應(yīng)。在接收到最后的WUPA命令時,返回ATQA表50CDA_216_xy測試要求測試項目編號測試目的確保PICC在ACTIVE狀態(tài)下接收到除有效的RATS和HLTA命令外的其他命令和錯誤時不響應(yīng),并進入IDLE狀態(tài)測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持4字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;f)發(fā)送SELECTCL1命令;g)接收返回的SAK;h)x等于0,y等于0:發(fā)送RATS(FSD等于256)命令,其中第1個CRC字節(jié)最低位錯誤;i)x等于0,y等于1:發(fā)送RATS(FSD等于256)命令,其中第2個CRC字節(jié)最低位錯誤;j)x等于0,y等于2:發(fā)送RATS(FSD等于256)命令,其中第1個CRC字節(jié)最高位錯誤;k)x等于0,y等于3:發(fā)送RATS(FSD等于256)命令,其中第1個字節(jié)奇偶校驗位錯誤;l)x等于0,y等于4:發(fā)送RATS(FSD等于256)命令,其中第1個CRC字節(jié)奇偶校驗位錯誤;m)x等于0,y等于5:發(fā)送WUPA命令;n)x等于0,y等于6:發(fā)送ANTICOLLISIONCL1命令;o)x等于0,y等于7:發(fā)送SELECTCL1命令;p)x等于0,y等于8:發(fā)送一個I塊,包含SELECTPPSE命令;q)發(fā)送RATS(FSD等于256)命令;r)發(fā)送WUPA命令;s)接收返回的ATQA測試結(jié)果在接收到錯誤RATS命令和后續(xù)RATS命令時PICC沒有響應(yīng)。在收到最后的WUPA命令時返表51CDA_217_xy測試要求測試項目編號測試目的確保PICC在ACTIVE狀態(tài)下接收到除有效的RATS和HLTA命令外的其他命令和錯誤時不響應(yīng),并進入IDLE狀態(tài)測試條件默認環(huán)境條件,且PICC支持7字節(jié)UID測試流程a)復(fù)位工作場;b)發(fā)送WUPA命令;c)接收返回的ATQA;f)發(fā)送SELECTCL1命令;g)接收返回的SAK;表51(續(xù))測試流程i)接收返回的UIDCL2+BCC;j)發(fā)送SELECTCL2命令;k)接收返回的SAK;l)x等于0,y等于0:發(fā)送RATS(FSD等于256)命令,其中第