(高清版)GBT 7424.22-2021 光纜總規(guī)范 第22部分：光纜基本試驗(yàn)方法 環(huán)境性能試驗(yàn)方法

部分代替GB/T7424.2—2008Basicopticalcable國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)IGB/T7424.22—2021 Ⅲ 1 13方法F1:溫度循環(huán) 1 5 9 9 8方法F10:水下光纜耐靜水壓 9方法F11:護(hù)套收縮(用于接插軟線的光纜) 10方法F12:終端組件用光纜的溫度循環(huán) 11方法F13:微管耐氣壓 13方法F15:光纜外部冰凍 15方法F17:光纜收縮(光纖伸出) 16方法F18:接續(xù)裝置中直通松套管溫度循環(huán) 附錄A(資料性附錄)本部分與IEC60794-1-22:2017相比的結(jié)構(gòu)變化情況 附錄B(規(guī)范性附錄)顏色的持久性 ⅢGB/T7424分為以下9個(gè)部分：——光纜總規(guī)范第1部分：總則；—光纜總規(guī)范第21部分：光纜基本試驗(yàn)方法——光纜總規(guī)范第24部分：光纜基本試驗(yàn)方法電氣試驗(yàn)方法；-—光纜第3部分：分規(guī)范室外光纜；——光纜第4部分：分規(guī)范光纖復(fù)合架空地線；本部分為GB/T7424的第22部分。GB/T7424.20～GB/T7424.24共同代替GB/T7424.2—2008《光纜總規(guī)范第2部分：光纜基本試驗(yàn)方法》。本部分代替GB/T7424.2—2008中的第21章~第28章。本部分與GB/T7424.2—2008 ●用修改采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T●用修改采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T●用修改采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T●用等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T●用等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T●刪除了IEC60304;●刪除了IEC60811-503;●增加引用了GB/T6995.2;●增加引用了GB/T7424.20—2021;●增加引用了GB/T26168.1?！狦B/T7424.1—1998(第3章和第6章); lGB/T2423.22—2012環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14:GB/T6995.2電線電纜識(shí)別標(biāo)志方法第2部分：標(biāo)準(zhǔn)顏色GB/T7424.20—2021光纜總規(guī)范第20部分：光纜基本試驗(yàn)方法總則和定義(IEC60794-1-2:2017,MOD)GB/T15972.54光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第54部分：環(huán)境性能的測(cè)量方法和試驗(yàn)程序伽瑪輻照(GB/T15972.54—2008,IEC60793-1-54GB/T16422.2塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第2部分：氙弧燈(GB/T16422.2—2014,GB/T16422.3塑料實(shí)驗(yàn)室光源暴露試驗(yàn)方法第3部分：熒光紫外燈(GB/T16422.3—2014,GB/T26168.1電氣絕緣材料確定電離輻射的影響第1部分：輻射相互作用和劑量測(cè)定(GB/T26168.1—2018,IEC60544-1:2013,IDT)2a)卷繞直徑宜足夠大，以保持光纖適應(yīng)熱脹冷縮差的能力。卷繞直徑宜顯著大于光纜交貨纜盤b)因溫度產(chǎn)生的光纜熱脹冷縮不應(yīng)受到限制。尤其要特別小心避免試驗(yàn)期間在光纜上殘留張d)測(cè)試光纖數(shù)及分布要求見GB/T7424.20—2021中4.9.1及附錄B。a)1臺(tái)適合測(cè)定衰減變化的衰減測(cè)量設(shè)備，測(cè)量設(shè)備應(yīng)符合GBb)1個(gè)溫度箱，其大小應(yīng)適合于容納光纜試樣，其溫度應(yīng)控制在規(guī)定試驗(yàn)溫度的±3℃以內(nèi)。適用的溫度箱示例見GB/T2423.22—2012的第8章。溫度穩(wěn)定性，而不是僅僅用表1規(guī)定的熱均衡時(shí)間t?。3圖1和圖2分別為單一溫度的循環(huán)程序和組合溫度的循環(huán)程序。它們表明了溫度循環(huán)的順序。如a)把處于環(huán)境溫度下的試樣放進(jìn)處于同樣環(huán)境溫度下的溫度箱b)除非另有規(guī)定，應(yīng)把溫度箱內(nèi)的溫度降低到低溫TA?,冷卻速率不得超過60℃/h。d)最小熱均衡時(shí)間見表1;無論如何，熱均衡時(shí)間te)除非另有規(guī)定，溫度箱內(nèi)的溫度升高到高溫T,升溫速率不得超過60℃/h。g)以適當(dāng)?shù)睦鋮s速率把溫度箱內(nèi)的溫度降低到室溫值。這個(gè)程序構(gòu)成1個(gè)循環(huán)(見圖1或h)重復(fù)步驟b)～步驟g),繼續(xù)下一次循環(huán)。除非相關(guān)詳細(xì)規(guī)范另有要求，試樣應(yīng)經(jīng)受至少2個(gè)循環(huán)。按照?qǐng)D1,單一溫度循環(huán)應(yīng)由1個(gè)低溫和1個(gè)高溫組成，最后1個(gè)循環(huán)應(yīng)是1個(gè)低溫和1個(gè)高溫，如圖1所示。如果需要多個(gè)低溫和高溫，則最后1個(gè)循環(huán)應(yīng)包括2個(gè)或2個(gè)以上的低溫和2個(gè)或2個(gè)以上的高溫，如圖2所示。在最后1個(gè)循環(huán)，如果規(guī)定了多個(gè)溫度，則試樣持適當(dāng)時(shí)間t?。i)第1個(gè)循環(huán)開始時(shí)在室溫下、最后1個(gè)循環(huán)中每個(gè)規(guī)定的溫度臺(tái)階上(Ta、TA?、Tb、Tg)熱最小熱均衡時(shí)間th0.35以下1248注：試驗(yàn)人員的職責(zé)在于確保熱均衡時(shí)間足以使光纜達(dá)到規(guī)定溫4溫度b)受試光纖數(shù)(當(dāng)不同于3.2時(shí))。5h)在規(guī)定波長(zhǎng)下的最大衰減變化(見3.5)熱均衡時(shí)間t?,如果與表1中規(guī)定的不同。4方法F5:滲水本試驗(yàn)適用于連續(xù)阻水的光纜。其目的在于確定光纜阻止水沿著規(guī)定長(zhǎng)度遷移的能力，有3種應(yīng)按詳細(xì)規(guī)范中的規(guī)定，采用3個(gè)方法(F5A、F5B或F5C)之一在光纜試樣上檢驗(yàn)合格性。方法F5A試驗(yàn)纜芯和護(hù)套之間的水遷移，而方法F5B和F5C試驗(yàn)全截面的水遷移。方法F5C包括一個(gè)預(yù)4.2試樣試樣應(yīng)足夠長(zhǎng)，它包括試驗(yàn)端長(zhǎng)度、剝除護(hù)套的長(zhǎng)度和足以用端帽堵住相反一端的長(zhǎng)度。通常4.2.2方法F5B64.2.3方法F5C(適用于含吸水膨脹材料的光纜)合適的試驗(yàn)安排分別見圖3～圖8。方法F5A見圖3,方法F5B見圖4,方法F5C見圖5～圖8。除4.3.3細(xì)管(方法F5C)4.4.1方法F5A和F5B4.4.2方法F5C對(duì)于方法F5A、F5B和F5C,在規(guī)定的試驗(yàn)期間內(nèi)試樣未密封端應(yīng)檢測(cè)不到水。如果使用熒光染7注：4.4的試驗(yàn)程序是基本的要求。對(duì)日常評(píng)定，可以用較短長(zhǎng)度的試樣試驗(yàn)較短的時(shí)間。a)采用方法F5A、F5B或F5C(見圖3～圖8);水水水8水水水水9試樣應(yīng)符合GB/T15972.54的規(guī)6方法F8:氣阻6.4程序的相對(duì)濕度為5%或更低。光纜的另一端應(yīng)向大氣敞開。施加穿過光纜的氣壓宜為62kPa,其相對(duì)誤差為±2%,采用定標(biāo)到±10%的流量計(jì)記錄穩(wěn)態(tài)空氣完成1次測(cè)量后應(yīng)以反方向的氣流進(jìn)行第2次測(cè)量，其測(cè)量結(jié)果應(yīng)分別記錄。按公式(1)計(jì)算得出氣阻R。c)氣壓(當(dāng)不同于62kPa時(shí))。7方法F9:老化本試驗(yàn)適用于高溫和溫度循環(huán)試驗(yàn)的光纜，以模擬光纜衰減的壽命特性或詳細(xì)規(guī)范規(guī)定的物理7.2試樣試樣應(yīng)與方法F1溫度循環(huán)中敘述的相同。如果將本試驗(yàn)方法與方法F1串聯(lián)進(jìn)行，則先執(zhí)行F1, 最后1個(gè)循環(huán)后5個(gè)試樣相對(duì)于初始長(zhǎng)度的平均護(hù)套收縮量不應(yīng)超過詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定值。a)溫度箱和暴露的高溫的細(xì)節(jié)；b)高溫暴露時(shí)間(如果不是1h);b)平均護(hù)套收縮值；10方法F12:終端組件用光纜的溫度循環(huán)中第8章的規(guī)定；b)符合GB/T15972.40和GB/T15972.46的衰減監(jiān)測(cè)設(shè)備。裝有連接器。這些固定方法不應(yīng)對(duì)試樣的衰減產(chǎn)生影響。光纖兩端(在溫度箱外)可臨時(shí)與尾纖相連 以上程序即為1個(gè)循環(huán)。冷卻和加熱速率應(yīng)不超過60℃/h。11方法F13:微管耐氣壓本試驗(yàn)確保在一個(gè)溫度范圍內(nèi)安全運(yùn)行。試驗(yàn)壓力按詳細(xì)規(guī)范要求選擇為微管的最大工作壓力，卻室。典型溫度范圍是-20℃~+60℃。通常，隨著溫度升高聚合物微管的耐壓性下降。氣壓源應(yīng)由用戶與供方商定。通常，它是1臺(tái)壓縮機(jī)或氣瓶。宜采用人身防護(hù)裝備(PPE),如眼試樣通過光輻照期，隨后是溫度發(fā)生變化的無輻射期?？倳r(shí)間120min的循環(huán)周期為：在輻照之后，6個(gè)試樣的平均拉伸強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率應(yīng)至少是未輻照試樣的80%。13方法F15:光纜外部冰凍成圈放在水中冰凍的光纜長(zhǎng)度應(yīng)至少為50m,成圈直徑由詳細(xì)規(guī)范規(guī)定。光纜圈與水槽壁之間的水箱應(yīng)放在一個(gè)適于凍結(jié)水并使它保持在規(guī)定溫度±3℃以內(nèi)的溫度箱內(nèi)。用1臺(tái)溫度監(jiān)測(cè)裝置b)按照詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定實(shí)施初始衰減測(cè)量。c)如果采用溫度監(jiān)測(cè)裝置，則溫度箱內(nèi)溫度可以低至-40℃,直到水完全凍結(jié)，冰的溫度為d)把溫度箱的溫度上升到-2℃,并保持這個(gè)溫度1h。e)按詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定測(cè)量衰減。水達(dá)到15℃。然后把溫度箱溫度調(diào)回到23℃,并保持這個(gè)溫度直到水溫升高到(23±5)℃。a)試驗(yàn)期間和試驗(yàn)后衰減的變化；14方法F16:復(fù)合物滴流a)從試樣一端去除一段100mb)預(yù)處理細(xì)節(jié)(當(dāng)允許時(shí)):2)與14.4c)規(guī)定的預(yù)處理程序的差異；3)預(yù)處理通過/失效的判據(jù)(當(dāng)有別于上述規(guī)定時(shí))。d)驗(yàn)收判據(jù)(當(dāng)另有驗(yàn)收判據(jù)時(shí))。15方法F17:光纜收縮(光纖伸出)按方法F1的規(guī)定。除非另有規(guī)定，被測(cè)光纜樣品應(yīng)松繞成最小直徑為60剝除至與光纜護(hù)套平齊。暴露的光纖二次被覆層或光纖松套管剝除長(zhǎng)度應(yīng)不小于100mm,使光纖裸初始的光纖伸出應(yīng)從光纖二次被覆或光纖套管邊緣，以及光纜護(hù)套邊緣來測(cè)量(見圖10),光纜兩GB/T7424.22—2圖9光纜端的制備制備好的光纜試樣按照方法F1和下列參數(shù)進(jìn)行溫度循環(huán)試驗(yàn)：除非另有相關(guān)詳細(xì)規(guī)范規(guī)定，最后1次循環(huán)結(jié)束后，光纜試樣應(yīng)在室溫恢復(fù)至少1h。應(yīng)在光纜兩端對(duì)光纖伸出進(jìn)行測(cè)量(見圖10)。圖10光纖伸出測(cè)試 (3)式中：L?bi——元構(gòu)件i溫度循環(huán)前距離光纖二次被覆或光纖松套管邊緣的光纖伸出長(zhǎng)度，單位為毫米a)光纜盤圈直徑；e)所有光纖二次被覆或光纖套管的光纖伸出長(zhǎng)度的最大變化量；光纜試樣應(yīng)足夠長(zhǎng)，以便進(jìn)出溫度箱。試樣包括中間裸露的直通松套管，以及與其連接的完整接的兩側(cè)光纜應(yīng)至少各有6m,以防止