JBT 9342-2024《光學(xué)計(jì)量?jī)x器用測(cè)帽》

ICS17.180.30CCSN34JB代替JB/T9342-1999ContacttipsforopticalmetricalIJB/T9342—XXXX前言 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語(yǔ)和定義 4型式和分級(jí) 5基本尺寸 5.1共性結(jié)構(gòu)和尺寸 5.2平面測(cè)帽 25.3刃形測(cè)帽 25.4球面測(cè)帽 36技術(shù)要求 37試驗(yàn)方法 錯(cuò)誤！未定義書(shū)簽。7.1試驗(yàn)條件 47.2測(cè)帽安裝孔直徑 47.3平面、刃形測(cè)帽工作面的平面度 47.4中、大平面測(cè)帽和中、大刃形測(cè)帽工作面任何1/4面積內(nèi)的平面度 57.5球面測(cè)帽工作面頂點(diǎn)Φ1mm范圍內(nèi),球面的面形局部偏差 57.6平面測(cè)帽和刃形測(cè)帽工作面與測(cè)帽安裝孔軸線的垂直度 57.7平面測(cè)帽工作面的幾何中心相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量 67.8刃形測(cè)帽工作面幾何中心相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量 67.9球面測(cè)帽工作面頂點(diǎn)相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量 77.10工作面的硬度 77.11外觀及各部分相互作用 77.12運(yùn)輸環(huán)境試驗(yàn) 78檢驗(yàn)規(guī)則 88.1檢驗(yàn)分類 88.2出廠檢驗(yàn)（即交貨檢驗(yàn)） 88.3型式檢驗(yàn) 89標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸及貯存 8附錄A（資料性）檢驗(yàn)測(cè)帽的專用小軸 JB/T9342—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替JB/T9342-1999《光學(xué)計(jì)量?jī)x器用測(cè)帽》.本文件與JB/T9342-1999相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外，主要技術(shù)變化如下：——更改了標(biāo)準(zhǔn)名稱的英譯；——更改了標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍（見(jiàn)第1章）；——增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”一章（見(jiàn)第3章）；——增加了測(cè)帽安裝孔深度尺寸和孔底形狀的要求（見(jiàn)5.1c——將“球面測(cè)帽球面的面輪廓度”（見(jiàn)1999年版的表2序5）更改為“球面測(cè)帽工作面頂點(diǎn)Φ1mm范圍內(nèi),球面的面形局部偏差”（見(jiàn)表1序5），并更改了試驗(yàn)方法（見(jiàn)7.5，1999年版）；——將平面測(cè)帽和刃形測(cè)帽工作面與測(cè)帽安裝孔軸線的垂直度要求“1.5o、3o”（見(jiàn)1999年版的表2序2）更改為“1.5′、3′”，并增加級(jí)別劃分（見(jiàn)表2序1）；——將“平面測(cè)帽和刃形測(cè)帽工作面中心線與測(cè)帽套孔軸心線的同軸度”（見(jiàn)1999年版的表2序3）更改為“平面、刃形測(cè)帽工作面的幾何中心相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量”（見(jiàn)表2序2、3）并更改了試驗(yàn)方法（見(jiàn)7.7、7.8，1999年版的5.7）；——將“球面測(cè)帽球面中心線與測(cè)帽套孔軸心線的同軸度”（見(jiàn)1999年版的表2序4）更改為“球面測(cè)帽工作面頂點(diǎn)相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量”（見(jiàn)表2序4）；——適當(dāng)放寬了對(duì)檢驗(yàn)環(huán)境的溫度要求（見(jiàn)7.1，1999年版的5.1——增加了測(cè)帽工作面平面度的試驗(yàn)方法（見(jiàn)7.3.2，1999年版的5.5——增加了附錄A，將原階梯軸的內(nèi)容移至附錄A（見(jiàn)附錄A，1999年版的5.6.1a）。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本文件由全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC103）歸口。本文件起草單位：貴陽(yáng)新天光電科技有限公司、上海理工大學(xué)、貴州省光學(xué)測(cè)量工程技術(shù)研究中心、河南省計(jì)量科學(xué)研究院、南京江南永新光學(xué)有限公司、蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司、南京東利來(lái)光電實(shí)業(yè)有限責(zé)任公司、寧波永新光學(xué)股份有限公司、寧波湛京光學(xué)儀器有限公司、廣州粵顯光學(xué)儀器有限責(zé)任公司、寧波舜宇儀器有限公司、寧波市教學(xué)儀器有限公司、梧州奧卡光學(xué)儀器有限公司、麥克奧迪實(shí)業(yè)集團(tuán)公司、寧波華光精密儀器有限公司、重慶奧特光學(xué)儀器有限責(zé)任公司。本文件主要起草人：胡清、馮瓊輝、羅武勇、張衛(wèi)東、李晞、韓森、洪宜萍、毛磊、鮑金權(quán)、徐濤、胡森虎、張琪、張景華、章光偉、徐利明、吳國(guó)民。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：——1978年首次發(fā)布為ZBN34004-78；——1990年第一次修訂，發(fā)布為JB/T9342—1990；——1999年第二次修訂，發(fā)布為JB/T9342—1999；——本次為第三次修訂。JB/T9342—XXXX光學(xué)計(jì)量?jī)x器用測(cè)帽作為長(zhǎng)度光學(xué)計(jì)量?jī)x器接觸測(cè)量的觸測(cè)端，是光學(xué)計(jì)量?jī)x器不可缺少的關(guān)鍵部件。本文件規(guī)定了光學(xué)計(jì)量?jī)x器用測(cè)帽的型式、分級(jí)、基本尺寸和技術(shù)要求，描述了相應(yīng)的試驗(yàn)方法，規(guī)定了檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸及貯存，為光學(xué)計(jì)量?jī)x器用測(cè)帽的設(shè)計(jì)、制造、檢驗(yàn)提供了依據(jù)，其目的是促使光學(xué)計(jì)量?jī)x器用測(cè)帽產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、規(guī)范化，同時(shí)為產(chǎn)品質(zhì)量提供可靠保證。JB/T9342-1999《光學(xué)計(jì)量?jī)x器用測(cè)帽》發(fā)布實(shí)施已二十余年，由于技術(shù)的發(fā)展、產(chǎn)品市場(chǎng)的變化和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的更新，已不能適應(yīng)產(chǎn)業(yè)現(xiàn)狀，有必要修訂完善，以不斷適應(yīng)產(chǎn)業(yè)發(fā)展新需求。本次對(duì)JB/T9342的修訂，規(guī)范了技術(shù)參數(shù)名稱、專業(yè)用語(yǔ)及標(biāo)準(zhǔn)的英文名稱，增、減了產(chǎn)品的部分技術(shù)要求，更新和完善試驗(yàn)方法。修訂后，對(duì)規(guī)范市場(chǎng)、指導(dǎo)產(chǎn)品生產(chǎn)、提高產(chǎn)品技術(shù)性能和質(zhì)量水平，促進(jìn)產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展提供可靠的技術(shù)支撐。1JB/T9342—XXXX光學(xué)計(jì)量?jī)x器用測(cè)帽本文件規(guī)定了光學(xué)計(jì)量?jī)x器用測(cè)帽的型式、分級(jí)、基本尺寸和技術(shù)要求，描述了相應(yīng)的試驗(yàn)方法，規(guī)定了檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸及貯存。本文件適用于作為長(zhǎng)度光學(xué)計(jì)量?jī)x器接觸測(cè)量觸測(cè)端的平面測(cè)帽、刃形測(cè)帽和球面測(cè)帽的制造。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T2828.1計(jì)數(shù)抽樣試驗(yàn)程序第1部分：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃GB/T25480儀器儀表運(yùn)輸、貯存基本環(huán)境條件及試驗(yàn)方法3術(shù)語(yǔ)和定義本文件沒(méi)有需要界定的術(shù)語(yǔ)和定義。4型式和分級(jí)4.1依據(jù)觸測(cè)端的大小和形狀，測(cè)帽的型式分類如圖1所示：4.2平面測(cè)帽、刃形測(cè)帽和球面測(cè)帽統(tǒng)稱為測(cè)帽，按照對(duì)測(cè)帽工作面的形狀誤差和位置誤差要求，測(cè)帽分為1級(jí)和2級(jí)二個(gè)級(jí)別。5基本尺寸5.1共性結(jié)構(gòu)和尺寸共性結(jié)構(gòu)和尺寸為本文件所有型式測(cè)帽所通用的結(jié)構(gòu)和尺寸,以下為測(cè)帽的共性結(jié)構(gòu)和尺寸：a)測(cè)帽的基本結(jié)構(gòu)如圖2所示。測(cè)帽由外套、觸測(cè)端和緊固螺釘組成。測(cè)帽頂端為工作面，另一端具有安裝孔；b)測(cè)帽的觸測(cè)端以耐磨材料制造，其與外套可采用TM6.5X0.35-6h特種細(xì)牙螺紋連接；6gc)測(cè)帽安裝孔配合尺寸為Φ6H7，孔的有效深度為8mm，孔的底面為凸球面。JB/T9342—XXXX單位為毫米5.2平面測(cè)帽平面測(cè)帽的樣式和工作面直徑如圖3所示。單位為毫米5.3刃形測(cè)帽刃形測(cè)帽的樣式和工作面尺寸如圖4所示。單位為毫米23JB/T9342—XXXX5.4球面測(cè)帽球面測(cè)帽的的樣式和工作面球面半徑如圖5所示。單位為毫米6技術(shù)要求6.1測(cè)帽安裝孔直徑應(yīng)符合Φ6H7(0.012)mm。6.2測(cè)帽工作面的形狀誤差應(yīng)符合表1中的規(guī)定。123456.3測(cè)帽工作面的位置誤差應(yīng)符合表2中的規(guī)定。132346.4測(cè)帽工作面的表面粗糙度和硬度應(yīng)符合表3中的規(guī)定。4JB/T9342—XXXX12—6.5測(cè)帽的外觀及各部分相互作用應(yīng)符合下列要求：——電鍍和發(fā)藍(lán)表面不應(yīng)有脫皮、斑點(diǎn)和顏色不均現(xiàn)象存在；表面不應(yīng)有毛刺和銹蝕；外部銳邊應(yīng)倒棱；——觸測(cè)端與外套接合處應(yīng)齊整，二者連接應(yīng)無(wú)松動(dòng)現(xiàn)象；——工作面不允許有肉眼能觀察到的麻點(diǎn)、疏松和劃痕等缺陷；——緊固螺釘旋入、旋出應(yīng)順暢且緊固功能可靠。6.6運(yùn)輸貯存基本環(huán)境試驗(yàn)儀器在運(yùn)輸包裝條件下的環(huán)境模擬試驗(yàn)應(yīng)按GB/T25480的規(guī)定。其中選用：高溫+55℃,低溫-40℃,交變濕熱試驗(yàn)相對(duì)濕度95%。7試驗(yàn)方法7.1試驗(yàn)條件測(cè)帽檢驗(yàn)應(yīng)在遠(yuǎn)離震動(dòng)潔凈的室內(nèi)進(jìn)行,室內(nèi)的相對(duì)濕度在60%以下；檢驗(yàn)溫度條件應(yīng)符合表4的規(guī)1℃23h7.2測(cè)帽安裝孔直徑使用Φ6H7孔用塞規(guī)進(jìn)行檢驗(yàn)。7.3平面、刃形測(cè)帽工作面的平面度7.3.1測(cè)量器具1級(jí)測(cè)帽使用1級(jí)Φ30mm平面平晶；2級(jí)測(cè)帽使用2級(jí)Φ30mm平面平晶。7.3.2試驗(yàn)程序?qū)⑵矫嫫骄Х旁诒粰z測(cè)帽工作面上，調(diào)整平面平晶與測(cè)帽工作面的接觸狀態(tài)，使測(cè)帽工作面出現(xiàn)干涉帶，如圖6所示；估計(jì)干涉帶彎曲量與相鄰干涉帶距離之比，按公式（1）計(jì)算工作面的平面度。表1第4項(xiàng)規(guī)定的不計(jì)入平面度的允許塌邊范圍，不參與平面度的評(píng)定。標(biāo)引序號(hào)說(shuō)明:5JB/T9342—XXXXΔh=×..................................................................................(1)式中：Δh——工作面的平面度；b——干涉帶彎曲量；a——相鄰干涉帶距離；λ——照明光的波長(zhǎng)。7.4中、大平面測(cè)帽和中、大刃形測(cè)帽工作面任何1/4面積內(nèi)的平面度按7.3.2相同的方法檢驗(yàn)。7.5球面測(cè)帽工作面頂點(diǎn)Φ1mm范圍內(nèi),球面的面形局部偏差7.5.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：a)干涉顯微鏡；b)2級(jí)Φ30mm平面平晶；c)帶V形槽的平行夾頭。7.5.2試驗(yàn)程序?qū)⒏缮骘@微鏡調(diào)成白光照明。將平面平晶放在干涉顯微鏡工作臺(tái)上,使其工作面在視場(chǎng)中成像,調(diào)整干涉顯微鏡,使視場(chǎng)中的干涉帶從密集到稀疏，直至呈現(xiàn)一片干涉色；取下平面平晶，將平行夾頭端面緊貼平板,用平行夾頭夾住被檢球面測(cè)帽，并使其球面緊貼平板，然后一同置于干涉顯微鏡工作臺(tái)上；調(diào)整工作臺(tái)和焦距，使測(cè)帽球面頂點(diǎn)位于視場(chǎng)中央，并出現(xiàn)環(huán)形干涉帶，如圖7所示。找到中心三條干涉帶范圍內(nèi)的干涉帶局部偏差最大處，估計(jì)干涉帶局部偏差b與相鄰干涉帶距離a之比，按（1）式計(jì)算球面的面形局部偏差。7.6平面測(cè)帽和刃形測(cè)帽工作面與測(cè)帽安裝孔軸線的垂直度7.6.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：a)分度值1ˊ的光學(xué)測(cè)角比較儀；b)專用小軸（參見(jiàn)附錄A）；c)V形鐵。7.6.2試驗(yàn)程序6JB/T9342—XXXX如圖8所示，將V形鐵放在光學(xué)測(cè)角比較儀的工作臺(tái)上；將測(cè)帽裝在專用小軸上并鎖緊，再將小軸的另一端放在V形鐵上；將光學(xué)測(cè)角比較儀的光軸調(diào)整至水平，并垂直于測(cè)帽工作面。使小軸在V形鐵上轉(zhuǎn)動(dòng)一周，讀取光學(xué)測(cè)角比較儀的示值最大變化量，取其1/2作為測(cè)帽工作面與測(cè)帽安裝孔軸線的垂上程序，以4次測(cè)得值得最大值作為檢驗(yàn)結(jié)果。標(biāo)引序號(hào)說(shuō)明:7.7平面測(cè)帽工作面的幾何中心相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量7.7.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：a)投影儀或工具顯微鏡；b)專用小軸（參見(jiàn)附錄A）；c)V形鐵。7.7.2試驗(yàn)程序如圖9所示，將V形鐵放在投影儀的工作臺(tái)上；將測(cè)帽裝在專用小軸上并鎖緊，再將小軸的另一端放在V形鐵上；使小軸在V形鐵上轉(zhuǎn)動(dòng)一周，在投影儀上讀取測(cè)帽外圓一側(cè)輪廓影像的最大位移量，以位移量的1/2作平面測(cè)帽工作面的幾何中心相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量。7.8刃形測(cè)帽工作面幾何中心相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量7.8.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：a)投影儀或工具顯微鏡；b)專用小軸（參見(jiàn)附錄A）；c)V形鐵。7JB/T9342—XXXX7.8.2試驗(yàn)程序測(cè)帽安置同7.7.2。轉(zhuǎn)動(dòng)專用小軸，使測(cè)帽刃形長(zhǎng)度方向平行于成像光軸，用投影儀測(cè)量刃寬的中點(diǎn)坐標(biāo)；將小軸轉(zhuǎn)動(dòng)180。，再次測(cè)量刃寬的中點(diǎn)坐標(biāo)；以兩次測(cè)量坐標(biāo)點(diǎn)位置之差的1/2作為刃形測(cè)帽工作面刃寬幾何中點(diǎn)相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量。將小軸轉(zhuǎn)動(dòng)90。，重新調(diào)焦，按以上程序測(cè)量刃形測(cè)帽工作面刃長(zhǎng)幾何中點(diǎn)相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量。按公式（2）計(jì)算刃形測(cè)帽工作面幾何中心相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量。 Δx2+Δy2.............................................................................式中：e——測(cè)帽工作面幾何中心相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量；Δx——測(cè)帽工作面刃寬幾何中點(diǎn)相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量；Δy——測(cè)帽工作面刃長(zhǎng)幾何中點(diǎn)相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量；7.9球面測(cè)帽工作面頂點(diǎn)相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量7.9.1測(cè)量器具檢驗(yàn)所用測(cè)量器具如下：b)定位塊。7.9.2試驗(yàn)程序如圖10所示，將V形鐵放在投影儀的工作臺(tái)上；將測(cè)帽裝在專用小軸上并鎖緊，再將小軸的另一端放在V形鐵上，并使測(cè)帽的球面頂點(diǎn)頂在定位塊上。使小軸在V形鐵上轉(zhuǎn)動(dòng)一周，在投影儀上讀取球面頂點(diǎn)的最大位移量Δf，以Δf/2作為球面測(cè)帽工作面頂點(diǎn)相對(duì)于測(cè)帽安裝孔軸線的偏離量。7.9.3工作面的表面粗糙度用干涉顯微鏡、輪廓儀或相同精度的表面粗糙度測(cè)量?jī)x器進(jìn)行檢驗(yàn)。7.10工作面的硬度在制造過(guò)程中，用硬度計(jì)進(jìn)行檢驗(yàn)。7.11外觀及各部分相互作用以目測(cè)及手感進(jìn)行檢驗(yàn)。7.12運(yùn)輸環(huán)境試驗(yàn)8JB/T9342—XXXX按GB/T25480的規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)。8檢驗(yàn)規(guī)則8.1檢驗(yàn)分類產(chǎn)品的檢驗(yàn)分為出廠檢驗(yàn)和型式檢驗(yàn)。8.2出廠檢驗(yàn)（即交貨檢驗(yàn)）出廠檢驗(yàn)的樣品數(shù)根據(jù)GB/T2828.1中的一般檢查水平Ⅰ、正常檢驗(yàn)一次抽樣方案，或根據(jù)供需雙方協(xié)商確定。通常從正常檢驗(yàn)開(kāi)始，根據(jù)檢驗(yàn)結(jié)果，隨時(shí)執(zhí)行GB/T2828.1規(guī)定的轉(zhuǎn)移規(guī)則。8.3型式檢驗(yàn)8.3.1產(chǎn)品的型式檢驗(yàn)為可選項(xiàng)目，但產(chǎn)品符合下列情況之一時(shí)，