電路板編修培訓(xùn)

主題:電路板維修電路板故障分析維修方式介紹ASA維修技術(shù)ICT維修技術(shù)傳統(tǒng)維修方式的障礙沒(méi)有線(xiàn)路圖,無(wú)從修起電路板太複雜,維修困難維修經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)不足無(wú)法維修的死板,廢棄可惜送電中作動(dòng)態(tài)維修,危險(xiǎn)性極高傳統(tǒng)維修方式的障礙備份板太多,積壓資金送國(guó)外維修費(fèi)用高,維修時(shí)間長(zhǎng)對(duì)老化零件無(wú)從查起無(wú)法預(yù)先更換維修速度及效率無(wú)法提升,造成公司負(fù)擔(dān),客戶(hù)埋怨投資大量維修設(shè)備,操作複雜,績(jī)效不彰元件故障分佈統(tǒng)計(jì)圖態(tài)類(lèi)比性故障：開(kāi)路、短路、操作不當(dāng)導(dǎo)致故障,明顯破壞元件的VI特性接點(diǎn)不良：焊點(diǎn)裂化,介面接觸不良,介面接點(diǎn)氧化動(dòng)態(tài)故障：熱效應(yīng),時(shí)序問(wèn)題,系統(tǒng)不穩(wěn)定元件功能異常:元件老化,元件劣化,偏離工作點(diǎn)其它：雜訊抑制能力差,高頻電路阻抗未匹配,電路設(shè)計(jì)不良接點(diǎn)不良動(dòng)態(tài)故障元件功能異常其它類(lèi)比性故障維修市場(chǎng)的需求突破示波器,邏輯分析儀等操作困難之問(wèn)題沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的新手亦能輕鬆做好維修工作需具備功能強(qiáng)大但操作簡(jiǎn)單之特點(diǎn)不需拆零件、不需電路圖、不需送電也能進(jìn)行維修電路板維修測(cè)試技術(shù)示波器/電表邏輯分析儀CPU/ROM模擬器BOARDFUNCTIONALTESTERSIN-CIRCUITMEASUREMENT(VI)IN-CIRCUITFUNCTIONALTESTERSASA靜態(tài)測(cè)試類(lèi)比信號(hào)分析法,可以適用在所有種類(lèi)的電路板,目前市場(chǎng)的維修主流ICT動(dòng)態(tài)測(cè)試電路板內(nèi)IC功能測(cè)試,可以解決ASA無(wú)法探索的IC內(nèi)部問(wèn)題類(lèi)比信號(hào)分析法(ASA)產(chǎn)生SINEWAVE

電壓信號(hào)取回測(cè)試端電流信號(hào)測(cè)試端顯示VI

阻抗特性曲線(xiàn)類(lèi)比信號(hào)分析法(ASA)不同元件具有不同的VI特性阻抗好的元件與故障元件VI特性阻抗不同利用比較方式找出故障元件沒(méi)有線(xiàn)路圖也能維修維修速度快可靠性佳不需供給電源,靜態(tài)下測(cè)試非常安全,不會(huì)造成電路板二次破壞由於操作簡(jiǎn)單所以可以彌補(bǔ)維修若在經(jīng)驗(yàn)及技術(shù)上之不足亦可搭配治具在製程中做品管測(cè)試類(lèi)比信號(hào)分析法

(ASA)可測(cè)試任何型式之電子元件操作簡(jiǎn)單,非專(zhuān)業(yè)人員也會(huì)操作,也可成為維修專(zhuān)家不須加電源至故障電路板,相當(dāng)安全投資費(fèi)用低,回收成本高任何特別元件均可檢查不須延伸板維修率達(dá)85%特點(diǎn)電阻(RESISTORS)電容和電感

(CAPALITORSANDINDUCTORS)電晶體

(TRANSISTORS)基極---射極之圖形與齊納二極體相似NPNTRANSISTORBASE-EMITTER基極---射極之圖形與傳統(tǒng)的二極體圖形相似NPNTRANSISTORBASE-COLLECTOR電晶體

(TRANSISTORS)基極---射極之圖形類(lèi)似二極體再串聯(lián)一齊納二極體NPNTRANSISTOREMITTER-COLLECTOR電晶體

(TRANSISTORS)二極體SIGNALDIODE齊納二極體8.2V齊納二極體8.2VZENERDIODE齊納二極體鐵蕊變壓器一次測(cè)FERRITETRANSFORMERPRIMARYWINDING鐵蕊變壓器一次測(cè)鐵蕊變壓器一次測(cè)操作者可選擇範(fàn)圍檔中的LOW,MED等頻率檔作為適當(dāng)?shù)臏y(cè)試頻率。在電容器中,測(cè)過(guò)的電流愈高,流過(guò)的電流愈多,使得產(chǎn)生的圖形垂直部分較大;在電感器中,頻率愈低,流過(guò)電流愈多,使得產(chǎn)生的圖形水平部分較大。電阻二極體串聯(lián)電路中

二極體短路之故障IV洩漏電容IV

BUSSHORT

(JUNCTIONRANGE)IVIC匯流排短路A0～A7製程中LED接反IV開(kāi)集極電容故障IVMDAFaults

提升電阻故障IVR當(dāng)連接在電路時(shí),此外部電路(電阻)提升此接腳至VCC0Vcc電路例題:電源供給電路此圖是電源供應(yīng)器電路的圖形,當(dāng)其測(cè)試變壓器二次側(cè)線(xiàn)圈所得圖形如下圖,其使用LOW和LOW頻率檔,圖形有迴圈的部份最主要乃由電容(C1)所造成。而橢圓形傾斜的斜率乃由電路二橿體的電阻所引起,而橢圓兩端的〝膝部形狀〞(KNEES)乃由橋式整流中二極體所造成。COMCHANNELAT1D4D3D1D2C1電源供給電路二次側(cè)好的圖形IV二次側(cè)D3短路時(shí)之圖形IV串聯(lián)電路電阻電容二極體電容並聯(lián)電路REF227nFDUT2K2ASA測(cè)試器ASA測(cè)試器並聯(lián)電路DUTREFDUTREFDUTREFJunctionrangedev38%圖2cLogicrangedev20%圖2bLowrangedev4%圖2a如果沒(méi)有好的電路板該怎麼辦?配合測(cè)試治具及電腦存檔能力發(fā)揮最大功效不需準(zhǔn)備好的電路板儲(chǔ)存好的電路板之所設(shè)定參數(shù)及資料檔案可附加輔助說(shuō)明儲(chǔ)存ASA及ICT之測(cè)試結(jié)果之信號(hào)可建立測(cè)試結(jié)果及報(bào)告利用PC控制的優(yōu)點(diǎn)Board-Learning的優(yōu)點(diǎn)建立備品板資料庫(kù)解決原廠電路板更新版本所造成的困擾以備品板資料庫(kù)與待測(cè)電路板做比較,因此能大幅提高維修率大幅降低準(zhǔn)備備品板所需成本電路板內(nèi)元件功能測(cè)試法

(In-Circuit-Functional-Tester)In-Circuit-Functional-Tester輸入端輸入預(yù)設(shè)的信號(hào)或波形判斷輸出端的輸出信號(hào)是否正確不需電路圖也可維修不需好的電路板也可維修動(dòng)態(tài)測(cè)試,可測(cè)出IC內(nèi)部是否正常BACKDRIVING當(dāng)送一TESTPATTERN，給待測(cè)IC的輸入端，強(qiáng)迫至所要的邏輯狀態(tài)，且蓋過(guò)此IC原有的靜態(tài)邏輯狀態(tài),此種技術(shù)稱(chēng)為BACKDRIVING強(qiáng)迫LOWTOHIGHIsink電流在LowtoHigh時(shí),有一大電流流經(jīng)地線(xiàn)Isink驅(qū)動(dòng)LOWTOHIGHQ3Q2VccQ1強(qiáng)迫HIGHTOLOWIsource電流流經(jīng)Q2集極負(fù)載,限制了電流流過(guò)驅(qū)動(dòng)HIGHTOLOWQ3Q2VccQ1熱Isource數(shù)位IC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)INTDEFSTAN00-53/1SectionOneGeneralSectionTwoguidetoIn-CircuitTestingSectionThreeBackdrivingLimits目的：1.避免nodeforcingtechniques錯(cuò)誤使用造成數(shù)位元件損壞2.提醒一些潛在問(wèn)題，提供解決方法GUARD技術(shù)測(cè)試U1時(shí)，可對(duì)U2，U3，U4做Guarding動(dòng)作，使U2，U3

，U4不動(dòng)作，而不會(huì)影響U1之測(cè)試U462256SRA