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文檔簡介
1/1光學頻率梳在光口技術中的應用第一部分光頻梳概念及其制備方法介紹 2第二部分光梳源頻率輸出及調(diào)控技術闡述 3第三部分光口技術基本原理及其重要性 5第四部分光學頻率梳在光口技術中的應用優(yōu)勢 7第五部分光學頻率梳用于光口時間間隔測量系統(tǒng) 9第六部分光學頻率梳用于光口波長測量系統(tǒng) 10第七部分光學頻率梳用于光口光功率測量系統(tǒng) 13第八部分光學頻率梳在光口技術中的未來發(fā)展展望 15
第一部分光頻梳概念及其制備方法介紹關鍵詞關鍵要點【光頻梳概念】:
1.光頻梳是一種由相干、均勻間隔的光譜線組成的光譜,具有極高的相干性和頻率穩(wěn)定性,廣泛應用于光學精密測量、光通信、光譜學等領域。
2.光頻梳通常由超短脈沖激光器或連續(xù)波激光器與光學諧振腔或非線性光學元件結(jié)合產(chǎn)生。
3.光頻梳的線寬極窄,通常在千赫茲以下,頻率間隔固定且均勻,通常在幾千赫茲到幾太赫茲之間。
【光頻梳制備方法】:
#光學頻率梳概念及其制備方法介紹
光學頻率梳概念
光學頻率梳(opticalfrequencycomb,OFC)是一種具有均勻、間距的頻率分布的光譜。這種光譜由一系列相干的光梳狀線組成,每個梳齒對應一個精確的光學頻率。梳齒之間的頻率間隔稱為梳齒間距($\Deltaf$),通常在幾百千赫至幾百太赫之間。
光學頻率梳具有許多獨特的性質(zhì),使其在光學、原子物理、天文學和其他領域具有廣泛的應用。這些性質(zhì)包括:
1.高相干性:光學頻率梳的梳齒具有很高的相干性,這使得它們可以用于非常精確的測量。
2.超短脈沖:光學頻率梳可以被轉(zhuǎn)換成超短脈沖,這些脈沖的持續(xù)時間可以達到飛秒或更短。
3.寬光譜:光學頻率梳的光譜可以覆蓋從紫外到紅外的大范圍,這使其適用于許多不同的應用。
4.可調(diào)諧性:光學頻率梳的頻率可以很容易地調(diào)整,這使得它們可以用于各種不同的測量和成像應用。
光學頻率梳的制備方法
有許多不同的方法可以制備光學頻率梳。最常用的方法之一是模式鎖激光器。
#模式鎖激光器
模式鎖激光器是一種激光器,其激光束由一系列超短脈沖組成。這些脈沖的間隔時間等于腔長與光速之比。通過使用適當?shù)闹C振腔和增益介質(zhì),可以產(chǎn)生具有均勻間距的脈沖序列,從而產(chǎn)生光學頻率梳。
模式鎖激光器可以產(chǎn)生非常短的脈沖,持續(xù)時間可以達到飛秒或更短。這些脈沖非常適合用于各種應用,包括光學通信、光學成像和原子物理。
#其他方法
除了模式鎖激光器之外,還有許多其他方法可以制備光學頻率梳。這些方法包括:
*光參量放大器(opticalparametricamplifier,OPA)
*光學相位鎖環(huán)(opticalphase-lockedloop,OPLL)
*光學頻率合成器(opticalfrequencysynthesizer,OFS)
這些方法各有優(yōu)缺點,具體使用哪種方法取決于應用的具體要求。第二部分光梳源頻率輸出及調(diào)控技術闡述關鍵詞關鍵要點光梳源頻率輸出技術
1.光梳源的基本結(jié)構和工作原理:概述光梳源的組成和基本原理,包括光學諧振腔、增益介質(zhì)、和泵浦光源。
2.光梳源頻率的輸出方法:介紹光梳源頻率輸出的各種方法,包括連續(xù)波輸出、脈沖輸出和相位鎖定輸出。
3.光梳源頻率輸出的穩(wěn)定性:分析光梳源頻率輸出的穩(wěn)定性,包括頻率漂移、噪聲和抖動。
光梳源頻率調(diào)控技術
1.光梳源頻率調(diào)控的基本原理:闡述光梳源頻率調(diào)控的基本原理,包括相位調(diào)制、頻率調(diào)制和頻率鎖定。
2.光梳源頻率調(diào)控的方法:介紹光梳源頻率調(diào)控的各種方法,包括壓電陶瓷調(diào)制、熱光調(diào)制和電光調(diào)制。
3.光梳源頻率調(diào)控的性能:分析光梳源頻率調(diào)控的性能,包括調(diào)控范圍、調(diào)控精度和調(diào)控速度。光梳源頻率輸出及調(diào)控技術闡述
光梳源是產(chǎn)生等間隔光譜線的光源,具有高相干性、高穩(wěn)定性和寬光譜等特點。近年來,光梳源在光口技術中得到了廣泛的應用,如光頻標、光原子鐘、光通信等。
光梳源頻率輸出及調(diào)控技術主要包括以下幾個方面:
1.光梳源頻率輸出技術
光梳源頻率輸出技術主要包括兩大類:
*基于腔體的光梳源頻率輸出技術
基于腔體的光梳源頻率輸出技術是利用腔體的諧振特性來產(chǎn)生等間隔的光譜線。腔體諧振頻率由腔體的長度和形狀決定,通過改變腔體的長度或形狀,可以實現(xiàn)光梳源頻率的輸出。
*基于非腔體的光梳源頻率輸出技術
基于非腔體的光梳源頻率輸出技術是利用非腔體介質(zhì)的非線性特性來產(chǎn)生等間隔的光譜線。非腔體介質(zhì)的非線性特性是指介質(zhì)在強光照射下會產(chǎn)生非線性極化,導致光波的傳播速度發(fā)生變化。這種非線性效應可以用來產(chǎn)生光梳源。
2.光梳源頻率調(diào)控技術
光梳源頻率調(diào)控技術主要是利用外部因素來改變光梳源的頻率。光梳源頻率調(diào)控技術主要包括以下幾種:
*基于熱效應的光梳源頻率調(diào)控技術
基于熱效應的光梳源頻率調(diào)控技術是利用熱效應來改變光梳源的頻率。熱效應是指材料在溫度變化時會發(fā)生熱膨脹或熱收縮。利用這種效應,可以改變光梳源腔體的長度,從而實現(xiàn)光梳源頻率的調(diào)控。
*基于壓電效應的光梳源頻率調(diào)控技術
基于壓電效應的光梳源頻率調(diào)控技術是利用壓電效應來改變光梳源的頻率。壓電效應是指某些材料在受到壓力時會產(chǎn)生電荷。利用這種效應,可以改變光梳源腔體的長度,從而實現(xiàn)光梳源頻率的調(diào)控。
*基于電光效應的光梳源頻率調(diào)控技術
基于電光效應的光梳源頻率調(diào)控技術是利用電光效應來改變光梳源的頻率。電光效應是指某些材料在受到電場時會發(fā)生折射率變化。利用這種效應,可以改變光梳源腔體的長度,從而實現(xiàn)光梳源頻率的調(diào)控。
光梳源頻率輸出及調(diào)控技術是光梳源應用的基礎。通過對光梳源頻率的輸出和調(diào)控,可以實現(xiàn)光梳源在各種光口技術中的應用。第三部分光口技術基本原理及其重要性關鍵詞關鍵要點【光口技術基本原理】:
1.光口技術是一種利用光纖直接傳輸光信號而不進行電光轉(zhuǎn)換的技術。
2.光口技術的基本原理是光纖作為傳輸介質(zhì),光載波作為信號載體,光調(diào)制器作為信號調(diào)制器,光接收機作為信號接收器。
3.光口技術具有高帶寬、低延遲、抗干擾能力強等優(yōu)點。
【光口技術的重要意義】:
光口技術基本原理及其重要性
光口技術是一種利用光學頻率梳作為光源實現(xiàn)高精度光譜測量的技術。光學頻率梳是一種具有均勻間隔的頻率模式的光源,其頻率間隔由腔體的長度和光速決定。當光學頻率梳照射到待測樣品時,樣品中的分子會吸收或散射光子,從而在光學頻率梳中產(chǎn)生一系列吸收或散射峰,這些峰的頻率與樣品中分子的振動、轉(zhuǎn)動或電子能級結(jié)構等信息相關。通過分析這些峰的頻率,就可以獲得有關樣品中分子的信息。
光口技術具有以下幾個優(yōu)點:
1.測量精度高:光口技術利用光學頻率梳作為光源,光學頻率梳具有非常高的頻率精度,因此光口技術可以實現(xiàn)非常高的測量精度。
2.測量速度快:光口技術利用光學頻率梳作為光源,光學頻率梳可以同時測量多個頻率,因此光口技術可以實現(xiàn)非??斓臏y量速度。
3.測量范圍寬:光口技術可以對從紫外到紅外波段的光譜進行測量,因此光口技術具有非常寬的測量范圍。
4.樣品制備簡單:光口技術不需要對樣品進行復雜的制備,因此光口技術非常適用于原位測量或在線測量。
光口技術在以下幾個領域具有重要的應用:
1.環(huán)境監(jiān)測:光口技術可以用于監(jiān)測大氣中污染物濃度,水體中污染物濃度以及土壤中污染物濃度。
2.化學分析:光口技術可以用于分析化學物質(zhì)的成分和結(jié)構,包括有機物和無機物。
3.生物分析:光口技術可以用于分析生物分子的成分和結(jié)構,包括蛋白質(zhì)、核酸和脂類。
4.醫(yī)學診斷:光口技術可以用于診斷疾病,包括癌癥、糖尿病和心臟病。
5.材料科學:光口技術可以用于分析材料的成分和結(jié)構,包括金屬、陶瓷和半導體。
6.工業(yè)過程控制:光口技術可以用于控制工業(yè)過程,包括化學反應、石油加工和食品加工。第四部分光學頻率梳在光口技術中的應用優(yōu)勢關鍵詞關鍵要點【光學頻率梳的超高精度測量】:
1.光學頻率梳具有超高的精度,可以達到飛秒甚至皮秒量級,這使得它能夠精確地測量光信號的頻率和相位。
2.光學頻率梳還可以用于測量光信號的功率、偏振態(tài)和時間延遲等參數(shù),具有極高的靈敏度和分辨率。
3.光學頻率梳的超高精度測量能力使其在光通信、光傳感、光學測量等領域具有廣泛的應用前景。
【光學頻率梳的高穩(wěn)定性】:
光學頻率梳在光口技術中的應用優(yōu)勢
光學頻率梳是一種具有均勻間隔和相干性的光譜線組,在光口技術中具有許多獨特的優(yōu)勢,使其成為光口技術研究領域的重要工具。
1.高分辨率和寬掃描范圍
光學頻率梳具有很高的分辨率和寬的掃描范圍,能夠同時測量多條光譜線,從而實現(xiàn)對光譜的高精度測量。在光口技術中,光學頻率梳可以用于測量光纖的色散、損耗和非線性特性,以及光器件的傳輸特性等。
2.高靈敏度和高信噪比
光學頻率梳具有很高的靈敏度和信噪比,能夠檢測到非常微弱的光信號。在光口技術中,光學頻率梳可以用于測量微弱的光信號,例如來自光纖傳感器的信號,以及對光器件的性能進行表征。
3.多功能性和可調(diào)諧性
光學頻率梳是一種多功能的光源,可以通過改變其輸出光譜線的間距和頻率來實現(xiàn)不同的應用。此外,光學頻率梳還具有可調(diào)諧性,能夠根據(jù)需要對輸出光譜線進行調(diào)整。在光口技術中,光學頻率梳可以用于實現(xiàn)各種光口技術,例如光譜分析、光纖傳感和光通信等。
4.相干性和穩(wěn)定性
光學頻率梳具有很好的相干性和穩(wěn)定性,能夠產(chǎn)生相位穩(wěn)定和頻率穩(wěn)定的光脈沖。在光口技術中,光學頻率梳可以用于實現(xiàn)相位噪聲測量、光學時域反射(OTDR)和光纖色散測量等。
5.高時空分辨率和成像能力
光學頻率梳可以實現(xiàn)高時空分辨率的光學成像,例如全息成像和相干斷層掃描(OCT)成像。在光口技術中,光學頻率梳可以用于實現(xiàn)高速光纖成像、光纖傳感和光纖通信等。
總體而言,光學頻率梳在光口技術中具有許多獨特的優(yōu)勢,使其成為光口技術研究領域的重要工具。這些優(yōu)勢包括高分辨率、寬掃描范圍、高靈敏度、高信噪比、多功能性和可調(diào)諧性、相干性和穩(wěn)定性、以及高時空分辨率和成像能力等。這些優(yōu)勢使得光學頻率梳在光口技術中具有廣泛的應用前景,并為光口技術的研究和發(fā)展提供了新的機遇。第五部分光學頻率梳用于光口時間間隔測量系統(tǒng)關鍵詞關鍵要點光學頻率梳用于光口時間間隔測量系統(tǒng)
1.光學頻率梳具有高分辨率、高精度、高穩(wěn)定性的特點,非常適合用于光口時間間隔測量。
2.光學頻率梳可以作為時鐘信號源,為光口時間間隔測量系統(tǒng)提供準確的時間基準。
3.光學頻率梳還可以作為分光器,將光信號分解成一系列頻率分量的光信號,以便于后續(xù)的時間間隔測量。
光學頻率梳用于光口距離測量系統(tǒng)
1.光學頻率梳具有高分辨率、高精度、高穩(wěn)定性的特點,非常適合用于光口距離測量。
2.光學頻率梳可以作為光源,發(fā)出具有已知頻率的光信號。
3.光口距離測量系統(tǒng)可以利用光學頻率梳的光信號進行距離測量,并根據(jù)光信號的傳播時間來計算出光口間的距離。光學頻率梳用于光口時間間隔測量系統(tǒng)
光學頻率梳在光口時間間隔測量系統(tǒng)中的應用主要包括以下幾個方面:
1.光口時延測量:利用光學頻率梳的高相干性,可以測量光口中的時延。通過測量光學頻率梳的相位差,可以獲得光口中的時延信息。這種測量方法具有很高的精度,可以達到皮秒甚至飛秒量級。
2.光口色散測量:光口中的色散會引起光信號的脈沖展寬,從而影響光口的傳輸性能。利用光學頻率梳的高分辨率,可以測量光口中的色散。通過測量光學頻率梳的相位差,可以獲得光口中的色散信息。這種測量方法具有很高的精度,可以達到皮秒甚至飛秒量級。
3.光口損耗測量:光口中的損耗會影響光信號的傳輸性能。利用光學頻率梳的高靈敏度,可以測量光口中的損耗。通過測量光學頻率梳的光功率,可以獲得光口中的損耗信息。這種測量方法具有很高的精度,可以達到百分之幾甚至千分之幾量級。
光學頻率梳用于光口時間間隔測量系統(tǒng)具有諸多優(yōu)點:
*高精度:光學頻率梳的相干長度很長,可以達到數(shù)百公里,因此可以測量很長距離的光口時延。
*高分辨率:光學頻率梳的頻率間隔很小,可以達到千兆赫甚至兆赫量級,因此可以測量很短的光口時延。
*高靈敏度:光學頻率梳的光功率很高,可以達到毫瓦甚至瓦特量級,因此可以測量很小的光口損耗。
光學頻率梳用于光口時間間隔測量系統(tǒng)具有廣闊的應用前景,可以應用于光纖通信、光纖傳感、光纖測量等領域。第六部分光學頻率梳用于光口波長測量系統(tǒng)關鍵詞關鍵要點光學頻率梳用于光口波長測量系統(tǒng)的優(yōu)點
1.高精度:光學頻率梳具有很高的精度,能夠精確地測量光信號的波長,相對不確定度可以達到10^-11量級以下,甚至可以達到10^-15量級。
2.寬動態(tài)范圍:光學頻率梳可以同時測量多個光信號的波長,并且能夠在很寬的波長范圍內(nèi)進行測量,覆蓋從紫外到紅外波段的光信號。
3.快速測量:光學頻率梳的測量速度非??欤軌蛟趲缀撩雰?nèi)完成對多個光信號波長的測量,這使得其非常適用于動態(tài)測量的場合。
4.非接觸式測量:光學頻率梳是一種非接觸式測量技術,這使得其能夠在不影響被測光信號的情況下進行測量,特別適用于測量光纖內(nèi)傳播的光信號波長。
光學頻率梳用于光口波長測量系統(tǒng)的局限性
1.成本高:光學頻率梳的成本相對較高,這使得其在一些應用場合受到限制。
2.復雜性高:光學頻率梳的系統(tǒng)集成度較低,需要使用多個光學元件和電子器件,這使得其在使用和維護方面具有較高的復雜性。
3.體積大:光學頻率梳的體積相對較大,這使得其在一些空間受限的場合受到限制。
4.功耗高:光學頻率梳的功耗相對較高,這使得其在一些對功耗有要求的場合受到限制。一、緒論
光學頻率梳(OFC)是一種具有均勻分布的離散頻率線的光譜,在光口技術中具有廣泛的應用前景。在光口波長測量系統(tǒng)中,OFC可用于實現(xiàn)高精度、高分辨率的波長測量。
二、OFC用于光口波長測量系統(tǒng)的原理
OFC用于光口波長測量系統(tǒng)的原理是基于光學干涉原理。當OFC與待測光波同時照射到光電探測器時,由于OFC中各個頻率線具有均勻的分布,因此與待測光波發(fā)生干涉時會產(chǎn)生一系列等間距的干涉條紋。通過測量干涉條紋的間距,即可得到待測光波的波長。
三、OFC用于光口波長測量系統(tǒng)的優(yōu)勢
OFC用于光口波長測量系統(tǒng)具有以下優(yōu)勢:
1.高精度:OFC具有很高的頻率穩(wěn)定性,因此可以實現(xiàn)高精度的波長測量。通常情況下,OFC用于光口波長測量系統(tǒng)的精度可以達到亞飛秒量級。
2.高分辨率:OFC具有很高的分辨本領,因此可以實現(xiàn)高分辨率的波長測量。通常情況下,OFC用于光口波長測量系統(tǒng)的分辨率可以達到皮秒量級。
3.寬動態(tài)范圍:OFC具有寬闊的頻譜范圍,因此可以測量不同波段的光波。通常情況下,OFC用于光口波長測量系統(tǒng)的動態(tài)范圍可以達到幾個太赫茲甚至幾十個太赫茲。
4.測量速度快:OFC用于光口波長測量系統(tǒng)具有很高的測量速度。通常情況下,OFC用于光口波長測量系統(tǒng)的測量速度可以達到幾百赫茲甚至千赫茲。
四、OFC用于光口波長測量系統(tǒng)的應用
OFC用于光口波長測量系統(tǒng)具有廣泛的應用前景,主要包括以下幾個方面:
1.激光波長測量:OFC可用于測量激光器的波長,包括連續(xù)波激光器和脈沖激光器。通過測量激光器的波長,可以對激光器的性能進行評估,并及時發(fā)現(xiàn)激光器的故障。
2.光纖通信波長測量:OFC可用于測量光纖通信系統(tǒng)中的光波波長。通過測量光波波長,可以對光纖通信系統(tǒng)的性能進行評估,并及時發(fā)現(xiàn)光纖通信系統(tǒng)中的故障。
3.光學器件波長測量:OFC可用于測量光學器件的波長響應特性。通過測量光學器件的波長響應特性,可以對光學器件的性能進行評估,并及時發(fā)現(xiàn)光學器件的故障。
4.天文學波長測量:OFC可用于測量天文學中的光譜線波長。通過測量光譜線波長,可以對天體進行研究,并及時發(fā)現(xiàn)天體的變化。
五、結(jié)論
OFC用于光口波長測量系統(tǒng)具有廣泛的應用前景。OFC用于光口波長測量系統(tǒng)具有高精度、高分辨率、寬動態(tài)范圍和測量速度快的優(yōu)勢。因此,OFC用于光口波長測量系統(tǒng)將成為一種重要的測量技術。第七部分光學頻率梳用于光口光功率測量系統(tǒng)關鍵詞關鍵要點光學頻率梳用于光口光功率測量系統(tǒng)的優(yōu)勢
1.寬動態(tài)范圍:光學頻率梳具有極寬的動態(tài)范圍,可實現(xiàn)從毫瓦到千瓦級的光功率測量,滿足不同應用場景的需求。
2.高精度:光學頻率梳的頻率精度極高,可實現(xiàn)高精度的光功率測量,滿足精密測量要求。
3.快響應速度:光學頻率梳具有快響應速度,可實現(xiàn)快速的光功率測量,滿足動態(tài)測量需求。
光學頻率梳用于光口光功率測量系統(tǒng)的挑戰(zhàn)
1.高成本:光學頻率梳的成本較高,限制其在某些應用場景中的普及。
2.體積龐大:光學頻率梳的體積龐大,使其在某些應用場景中的使用受到限制。
3.復雜性:光學頻率梳的系統(tǒng)復雜性較高,需要專業(yè)人員進行操作和維護,增加了使用難度。
光學頻率梳用于光口光功率測量系統(tǒng)的應用前景
1.光學通信:光學頻率梳可用于光通信系統(tǒng)中的光功率測量,保證光通信系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。
2.激光技術:光學頻率梳可用于激光技術中的光功率測量,幫助激光器進行參數(shù)優(yōu)化和性能評估。
3.光學傳感器:光學頻率梳可用于光學傳感器中的光功率測量,提高光學傳感器的靈敏度和精度。一、光學頻率梳用于光口光功率測量系統(tǒng)
光學頻率梳(OFC)是一種具有均勻間隔且連續(xù)可調(diào)的頻率線組,在光功率測量領域具有廣闊的應用前景。與傳統(tǒng)的連續(xù)波(CW)激光器相比,OFC具有以下優(yōu)勢:
(1)寬光譜范圍:OFC可以覆蓋從紫外到紅外波段的寬光譜范圍,滿足不同波段光功率測量的需求。
(2)高功率穩(wěn)定性:OFC的功率譜密度均勻且穩(wěn)定,不會隨時間發(fā)生漂移,保證了光功率測量的準確性和可靠性。
(3)高分辨率:OFC的頻率間隔可以達到皮秒甚至飛秒量級,提供高分辨率的光功率測量。
二、應用方案
在光口光功率測量系統(tǒng)中,光學頻率梳可以被用作以下幾種應用方案:
(1)絕對光功率測量:通過將OFC與光功率計相結(jié)合,可以實現(xiàn)對光口光功率的絕對測量。OFC提供已知的光功率值,而光功率計則測量OFC的光功率,通過比較兩者之間的功率差,即可得到被測光功率的絕對值。
(2)相對光功率測量:OFC可以實現(xiàn)對光口光功率的相對測量,即測量兩個光信號之間的功率差。這可以通過將兩個光信號耦合到OFC中,然后測量OFC中相應頻率分量的功率差來實現(xiàn)。這種方法在光器件的增益、損耗等參數(shù)的測量中具有廣泛的應用。
(3)光譜分析:OFC可以作為一種光譜分析器,測量光信號的功率譜分布。這可以通過將光信號耦合到OFC中,然后測量OFC中相應頻率分量的功率來實現(xiàn)。光譜分析在光纖通信、光器件表征等領域具有重要應用。
三、實例介紹
目前,光學頻率梳技術已在光口光功率測量系統(tǒng)中得到了廣泛的應用。例如,英國國家物理實驗室(NPL)使用OFC開發(fā)了一種高精度、高動態(tài)范圍的光口光功率測量系統(tǒng),該系統(tǒng)可以實現(xiàn)對從飛瓦到瓦特范圍內(nèi)的光功率進行絕對測量,測量不確定度優(yōu)于0.1%。
此外,美國國家標準技術研究所(NIST)也使用OFC開發(fā)了一種光口光功率測量系統(tǒng),該系統(tǒng)可以實現(xiàn)對從皮瓦特到瓦特范圍內(nèi)的光功率進行相對測量,測量不確定度優(yōu)于0.01%。
四、結(jié)語
光學頻率梳技術在光口光功率測量系統(tǒng)中具有廣闊的應用前景。隨著OFC技術的發(fā)展,其在該領域的應用將更加廣泛和深入,為光通信、光傳感、光器件表征等領域的發(fā)展提供有力支持。第八部分光學頻率梳在光口技術中的未來發(fā)展展望關鍵詞關鍵要點【光口頻率梳技術在光口技術中的集成】:
1.通過異質(zhì)集成將光口頻率梳技術與其他光口器件集成在單個芯片上,實現(xiàn)更高水平的集成度和功能性。
2.探索基于硅光子學或其他先進材料平臺的光口頻率梳集成技術,實現(xiàn)高性能、低成本的集成解決方案。
3.研究光口頻率梳集成技術的封裝和可靠性問題,確保集成器件的穩(wěn)定性和可靠性。
【光口頻率梳技術在光口通信中的應用】:
光學頻率梳在光口技術中的未來發(fā)展展望
#1.提
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