JJF 2102-2024 X射線(xiàn)安全檢查計(jì)算機(jī)斷層成像裝置(CT)校準(zhǔn)規(guī)范

中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范JJF2102—2024X射線(xiàn)安全檢查計(jì)算機(jī)斷層成像裝置(CT)校準(zhǔn)規(guī)范CalibrationSpecificationforX-rayComputedTomographySecurityInspectionDevices2024-02-07發(fā)布2024-08-07實(shí)施國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布JJF2102—2024一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一X射線(xiàn)安全檢查計(jì)算機(jī)斷層一一一一一一一一一一一一一一一一成像裝置(CT)校準(zhǔn)規(guī)范JJF2102—2024CalibrationSpecificationforX-rayComputed歸口單位:全國(guó)電離輻射計(jì)量技術(shù)委員會(huì)主要起草單位:江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院北京市計(jì)量科學(xué)研究院參加起草單位:同方威視技術(shù)股份有限公司中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院本規(guī)范委托全國(guó)電離輻射計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋JJF2102—2024本規(guī)范主要起草人:王鵬(江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院)張健(中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院)羅琛(北京市計(jì)量科學(xué)研究院)參加起草人:張麗(同方威視技術(shù)股份有限公司)夏勛榮(江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院)楊勇(中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院)蔣偉(江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院)JJF2102—2024Ⅰ引言 (Ⅱ)1范圍 (1)2引用文件 (1)3術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位 (1)3.1術(shù)語(yǔ) (1)3.2計(jì)量單位 (2)4概述 (2)5計(jì)量特性 (2)5.1空間分辨力 (2)5.2密度分辨力 (2)5.3等效原子序數(shù)測(cè)量值差異性 (2)5.4測(cè)量值相對(duì)偏差 (2)5.5泄漏輻射 (2)6校準(zhǔn)條件 (2)6.1環(huán)境條件 (2)6.2校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)器及配套設(shè)備 (3)7校準(zhǔn)項(xiàng)目與校準(zhǔn)方法 (3)7.1空間分辨力 (3)7.2密度分辨力 (3)7.3等效原子序數(shù)測(cè)量值差異性 (3)7.4測(cè)量值相對(duì)偏差 (4)7.5泄漏輻射 (5)8校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)與處理 (5)8.1校準(zhǔn)記錄 (5)8.2校準(zhǔn)結(jié)果的處理 (5)9復(fù)校時(shí)間間隔 (5)附錄A測(cè)試模體結(jié)構(gòu)圖 (6)附錄B校準(zhǔn)證書(shū)內(nèi)頁(yè)推薦格式 (10)附錄C泄漏輻射測(cè)量結(jié)果不確定度評(píng)定示例 (11)JJF2102—2024ⅡJJF1071—2010《國(guó)家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫(xiě)規(guī)則》、JJF1001—2011《通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義》、JJF1059.1—2012《測(cè)量不確定度評(píng)定與表示》共同構(gòu)成支撐本規(guī)范編制工作的基礎(chǔ)性系列文件。本規(guī)范為首次發(fā)布。JJF2102—20241X射線(xiàn)安全檢查計(jì)算機(jī)斷層成像裝置(CT)校準(zhǔn)規(guī)范1范圍本規(guī)范適用于單能、雙能X射線(xiàn)安全檢查計(jì)算機(jī)斷層成像裝置(CT)的校準(zhǔn)。2引用文件本規(guī)范引用了下列文件:JJF1001通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義JJF1035電離輻射計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義JJF1275X射線(xiàn)安全檢查儀校準(zhǔn)規(guī)范GB∕T37128—2018X射線(xiàn)計(jì)算機(jī)斷層成像安全檢查系統(tǒng)技術(shù)要求凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本規(guī)范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本規(guī)范。3術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位JJF1001、JJF1035、GB∕T37128—2018界定的及以下術(shù)語(yǔ)和定義適用于本規(guī)范。3.1術(shù)語(yǔ)3.1.1X射線(xiàn)計(jì)算機(jī)斷層成像X-raycomputedtomography是一種利用一系列不同角度的X射線(xiàn)透視圖像通過(guò)計(jì)算機(jī)運(yùn)算處理得到物體內(nèi)部截面圖像的成像方法。3.1.2線(xiàn)對(duì)linepair由一根線(xiàn)條和與其寬度相等的相鄰間距所組成。3.1.3空間分辨力spatialresolution系統(tǒng)鑒別和區(qū)分物體微小細(xì)節(jié)特征的能力。注:用系統(tǒng)所能識(shí)別的單位距離內(nèi)的最大線(xiàn)對(duì)(Lp/cm)數(shù)表示。3.1.4密度分辨力densityresolution系統(tǒng)能夠區(qū)分密度相近物質(zhì)的能力。注:用兩種物質(zhì)密度差的絕對(duì)值相對(duì)其中低密度物質(zhì)密度值的百分比表示。3.1.5泄漏輻射leakageradiation穿過(guò)屏蔽體的電離輻射束。3.1.6感興趣區(qū)域regionofinterest圖像中的被測(cè)定區(qū)域,即在一定的時(shí)間內(nèi)特別感興趣的區(qū)域。3.1.7CT值CTnumber反映CT圖像上每個(gè)像素區(qū)域代表的X射線(xiàn)衰減的平均數(shù)值。3.1.8衰減系數(shù)attenuationcoefficientJJF2102—20242反映射線(xiàn)穿過(guò)某一物質(zhì)之后射線(xiàn)衰減的程度。3.1.9干擾物interferingobject在附錄A.4所示的模體中,用來(lái)對(duì)截面圖像測(cè)量工作進(jìn)行干擾的物體。此處的干擾物是不同直徑的不銹鋼材料圓棒。3.2計(jì)量單位3.2.1空間分辨力:線(xiàn)對(duì)每厘米;符號(hào):Lp/cm。3.2.2泄漏輻射:戈[瑞]每小時(shí);符號(hào):Gy/h。4概述X射線(xiàn)安全檢查計(jì)算機(jī)斷層成像裝置(CT)主要由X射線(xiàn)管、高壓發(fā)生器、探測(cè)器、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)、圖像分析軟件和傳送帶等組成。它的基本原理是通過(guò)獲取物體在不同視角下的投影進(jìn)行重建運(yùn)算,得到被檢物體的斷層圖像,進(jìn)而識(shí)別物質(zhì)的衰減系數(shù)、密度、CT值和等效原子序數(shù)等信息,并給出違禁品報(bào)警提示。在機(jī)場(chǎng)、港口等重要場(chǎng)所對(duì)行李、包裹等密封物件進(jìn)行快速、無(wú)損檢查。5計(jì)量特性5.1空間分辨力空間分辨力≥2.00Lp/cm。5.2密度分辨力能分辨模體中直徑為3cm、密度分辨力為3%的圓柱體斷層圖像。5.3等效原子序數(shù)測(cè)量值差異性對(duì)不同尺寸、同一種物質(zhì)的等效原子序數(shù)測(cè)量值的差異≤15%。5.4測(cè)量值相對(duì)偏差測(cè)量值包括:密度值、等效原子序數(shù)、CT值、衰減系數(shù)。a)無(wú)干擾物、同一尺寸條件下,測(cè)量值相對(duì)偏差±1.5%;b)有干擾物、同一尺寸條件下,測(cè)量值相對(duì)偏差±3%;c)無(wú)干擾物、不同尺寸條件下,測(cè)量值相對(duì)偏差±3%。5.5泄漏輻射在距裝置主體(不含輥道)外表面5cm的任意處(包括系統(tǒng)的入口、出口處),X射線(xiàn)的空氣比釋動(dòng)能率≤5μGy/h。注:以上計(jì)量特性指標(biāo)不適用于合格性判定,僅供參考。6校準(zhǔn)條件6.1環(huán)境條件6.1.1環(huán)境溫度:(25±10)℃。6.1.2相對(duì)濕度:30%~75%。6.1.3大氣壓力:86kPa~106kPa。6.1.4儀器周?chē)鸁o(wú)影響使用的震動(dòng)和電磁場(chǎng)干擾。JJF2102—202436.1.5周?chē)h(huán)境劑量當(dāng)量率不超過(guò)0.25μSv/h(高本底地區(qū)除外)。6.2校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)器及配套設(shè)備6.2.1性能測(cè)試模體性能測(cè)試模體見(jiàn)附錄A。6.2.2防護(hù)水平X輻射測(cè)量?jī)x相對(duì)固有誤差-15%~+22%。6.2.3散射體散射體由軟質(zhì)木材制成,尺寸應(yīng)不小于300mm×300mm×75mm。7校準(zhǔn)項(xiàng)目與校準(zhǔn)方法7.1空間分辨力7.1.1將空間分辨力測(cè)試模體(見(jiàn)附錄A.1)置于輸送帶中心位置(見(jiàn)圖1),模體X軸(見(jiàn)圖A.1)與輸送帶運(yùn)動(dòng)方向相同,使用常規(guī)工作條件掃描模體。圖1在輸送帶中間位置擺放模體的示意圖7.1.2在掃描所得的斷層圖像中選擇位于每個(gè)插件(見(jiàn)圖A.1)中間位置的圖像進(jìn)行觀察,調(diào)整圖像的亮度、對(duì)比度,分辨出圖像中一組最小的線(xiàn)對(duì)數(shù)(無(wú)斷點(diǎn)、無(wú)黏連)。7.2密度分辨力7.2.1將密度分辨力測(cè)試模體(見(jiàn)附錄A.2)置于輸送帶中心位置(見(jiàn)圖1),模體X軸(見(jiàn)圖A.3)與輸送帶運(yùn)動(dòng)方向相同,使用常規(guī)工作條件掃描模體。7.2.2在掃描所得的斷層圖像中選擇模體中間位置的圖像進(jìn)行觀察,調(diào)整圖像的亮度、對(duì)比度,記錄圖像中可清晰分辨的圓孔的直徑和密度。7.3等效原子序數(shù)測(cè)量值差異性7.3.1將等效原子序數(shù)測(cè)量值差異性測(cè)試模體(見(jiàn)附錄A.3)置于輸送帶中心位置(見(jiàn)圖1),模體X軸(見(jiàn)圖A.5)與輸送帶運(yùn)動(dòng)方向相同,使用常規(guī)工作條件掃描模體。7.3.2測(cè)量?40mm聚乙烯棒的等效原子序數(shù),測(cè)量值記作Z1;測(cè)量?120mm聚乙烯棒的等效原子序數(shù),測(cè)量值記作Z2,用公式(1)計(jì)算等效原子序數(shù)測(cè)量值的差異性δ1。δ1=×100%(1)式中:Z1—?40mm斷層圖像的等效原子序數(shù)測(cè)量值;JJF2102—20244(2)Z2—?120mm斷層圖像的等效原子序數(shù)測(cè)量值。(2)7.3.3重復(fù)7.3.2的操作,測(cè)量并記錄聚氯乙烯棒的等效原子序數(shù),參考公式(1)計(jì)算其等效原子序數(shù)測(cè)量值的差異性δ2。7.4測(cè)量值相對(duì)偏差7.4.1選擇感興趣區(qū)域后,軟件界面可以指示密度值、等效原子序數(shù)、CT值和衰減系數(shù)中的一項(xiàng)或多項(xiàng),根據(jù)被校準(zhǔn)裝置實(shí)際指示的測(cè)量項(xiàng)目進(jìn)行本項(xiàng)目校準(zhǔn)。7.4.2將感興趣區(qū)域測(cè)量值相對(duì)偏差測(cè)試模體(見(jiàn)附錄A.4)置于輸送帶中心位置(見(jiàn)圖1),模體X軸(見(jiàn)圖A.6)與輸送帶運(yùn)動(dòng)方向相同,使用常規(guī)工作條件掃描模體。7.4.3在掃描插件1(見(jiàn)圖A.7)得到的斷層圖像中選擇中間一幅圖像,畫(huà)一個(gè)與插件聚乙烯圓柱截面內(nèi)接的正方形區(qū)域(見(jiàn)圖2),記錄該區(qū)域顯示的測(cè)量值平均值ρ1,ρ1作為計(jì)算測(cè)量值相對(duì)偏差的參考值。7.4.4分別在掃描插件2(見(jiàn)圖A.8)、插件4(見(jiàn)圖A.10)所得斷層圖像中各選擇中間一幅清晰圖像,分別畫(huà)一個(gè)與插件聚乙烯圓柱截面內(nèi)接的正方形區(qū)域(見(jiàn)圖2),分別記錄該區(qū)域顯示的測(cè)量值平均值ρ2、ρ4。圖2與聚乙烯圓柱截面內(nèi)接的正方形區(qū)域示意圖7.4.5在掃描插件3(見(jiàn)圖A.9)得到的斷層圖像中選擇中間一幅圖像,畫(huà)一個(gè)與插件聚乙烯圓柱截面內(nèi)接的正方形區(qū)域(見(jiàn)圖2),再畫(huà)一個(gè)與?2mm不銹鋼棒干擾物截面外接的正方形區(qū)域(見(jiàn)圖3),用公式(2)計(jì)算插件3的測(cè)量值ρ3。ρ3=式中:N1m1-N2m2N1-N2ρ3—所畫(huà)區(qū)域的測(cè)量值;N1—內(nèi)接正方形區(qū)域的像素點(diǎn)數(shù);m1—內(nèi)接正方形區(qū)域的測(cè)量值平均值;N2—外接正方形區(qū)域的像素點(diǎn)數(shù);m2—外接正方形區(qū)域的測(cè)量值平均值。圖3與不銹鋼棒干擾物截面外接的正方形區(qū)域示意圖7.4.6將測(cè)試模體置于輸送帶上距離邊緣約10cm的位置(見(jiàn)圖4),重復(fù)7.4.2掃描JJF2102—20245模體。圖4在輸送帶邊緣位置擺放模體的示意圖7.4.7重復(fù)步驟7.4.3得到ρ5,重復(fù)步驟7.4.4得到ρ6、ρ8,重復(fù)步驟7.4.5得到ρ7。7.4.8用公式(3)依次計(jì)算ρ2~ρ8與ρ1之間的相對(duì)偏差σn。σn=×100%(3)σ5參考5.4a)的要求;σ3、σ4、σ7、σ8參考5.4b)的要求;σ2、σ6參考5.4c)的要求。7.4.9密度值測(cè)量值相對(duì)偏差用σn表示;等效原子序數(shù)測(cè)量值相對(duì)偏差用εn表示;CT值測(cè)量值相對(duì)偏差用Δn表示;衰減系數(shù)測(cè)量值相對(duì)偏差用θn表示。7.5泄漏輻射設(shè)置在最高工作電壓和相應(yīng)的最大束流下工作,在檢測(cè)通道內(nèi)放入散射體,距裝置主體外表面(包括前后及側(cè)面)5cm處共選擇5個(gè)測(cè)量點(diǎn),用防護(hù)水平X輻射測(cè)量?jī)x進(jìn)行X射線(xiàn)泄漏劑量率測(cè)量。在上述規(guī)定條件下,每個(gè)點(diǎn)測(cè)量10次,選取其中最大值為該X射線(xiàn)安全檢查計(jì)算機(jī)斷層成像裝置(CT)的泄漏輻射。8校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)與處理8.1校準(zhǔn)記錄校準(zhǔn)記錄格式參見(jiàn)附錄B。8.2校準(zhǔn)結(jié)果的處理按本規(guī)范進(jìn)行校準(zhǔn),出具校準(zhǔn)證書(shū),校準(zhǔn)證書(shū)內(nèi)頁(yè)推薦格式見(jiàn)附錄B;校準(zhǔn)結(jié)果應(yīng)給出測(cè)量不確定度(評(píng)定示例見(jiàn)附錄C)。9復(fù)校時(shí)間間隔建議復(fù)校時(shí)間間隔不超過(guò)12個(gè)月。由于復(fù)校時(shí)間間隔的長(zhǎng)短是由儀器的使用情況、使用者、儀器本身質(zhì)量等諸因素所決定的,因此送校單位可根據(jù)實(shí)際使用情況自主決定復(fù)校時(shí)間間隔。JJF2102—20246附錄A測(cè)試模體結(jié)構(gòu)圖測(cè)試模體包括4個(gè)模體:空間分辨力測(cè)試模體(Test1)、密度分辨力測(cè)試模體(Test2)、等效原子序數(shù)測(cè)量值差異性測(cè)試模體(Test3)、感興趣區(qū)域測(cè)量值相對(duì)偏差測(cè)試模體(Test4),每個(gè)模體的結(jié)構(gòu)示意如下。A.1空間分辨力測(cè)試模體(Test1)Test1模體由不少于3個(gè)內(nèi)嵌不同厚度鋁條(鋁材純度≥99%)的插件(長(zhǎng)度100mm~150mm,截面邊長(zhǎng)30mm~50mm)組成,插件的材料為聚乙烯。Test1模體的上方和下方各安裝有1組插件,用來(lái)測(cè)試設(shè)備在距離輸送帶不同位置處的空間分辨力,Test1模體結(jié)構(gòu)如圖A.1和A.2所示。圖A.1Test1模體側(cè)面示意圖圖A.2Test1模體剖面示意圖空間分辨力測(cè)試模體內(nèi)鋁板厚度與其對(duì)應(yīng)的空間分辨力見(jiàn)表A.1。表A.1空間分辨力測(cè)試模體內(nèi)鋁板厚度與其對(duì)應(yīng)的空間分辨力空間分辨力/(Lp/cm)3.332.502.00鋁板厚度/mm1.50±0.012.00±0.012.50±0.01鋁板間距/mm1.50±0.012.00±0.012.50±0.01A.2密度分辨力測(cè)試模體(Test2)JJF2102—20247圖A.3Test2模體側(cè)面示意圖圖A.4Test2模體剖面示意圖Test2模體為聚乙烯材質(zhì)的可密封水箱,使用時(shí)應(yīng)注滿(mǎn)水。模體內(nèi)部嵌有9個(gè)可密封的聚乙烯材質(zhì)圓柱體容器(長(zhǎng)度100mm~150mm),圓柱體直徑分別為(20±1)mm、(30±1)mm、(40±1)mm。相同直徑的3個(gè)圓柱體內(nèi)分別注滿(mǎn)密度為(1.010±0.001)g/mL、(1.020±0.001)g/mL、(1.030±0.001)g/mL的氯化鈉溶液,其對(duì)應(yīng)的密度分辨力分別為1%、2%、3%。Test2模體結(jié)構(gòu)如圖A.3和A.4所示。A.3等效原子序數(shù)測(cè)量值差異性測(cè)試模體(Test3)Test3模體外殼為有機(jī)玻璃,內(nèi)部由兩種不同材質(zhì)、不同尺寸的插件(長(zhǎng)度100mm~150mm)構(gòu)成,直徑分別是(40±1)mm聚乙烯棒、(120±1)mm聚乙烯棒、(40±1)mm聚氯乙烯棒、(120±1)mm聚氯乙烯棒,Test3模體結(jié)構(gòu)如圖A.5所示。圖A.5Test3模體側(cè)面示意圖A.4感興趣區(qū)域測(cè)量值相對(duì)偏差測(cè)試模體(Test4)JJF2102—20248Test4模體外殼材料為有機(jī)玻璃,結(jié)構(gòu)如圖A.6~A.10所示,Test4模體內(nèi)部由4個(gè)插件(長(zhǎng)度100mm~150mm)組成:圖A.6Test4模體側(cè)面示意圖插件1為直徑(50±1)mm的聚乙烯圓柱;插件2為直徑(100±1)mm的聚乙烯圓柱;插件3主體與插件1相同,在圓柱中心插入一根直徑(2.0±0.1)mm的不銹鋼棒干擾物;插件4主體與插件1相同,在距圓柱中心60mm處放置一根直徑(10.0±0.1)mm的不銹鋼棒干擾物。注:聚乙烯材料密度為0.91g/cm3~0.97g/cm3,聚氯乙烯材料密度為1.2g/cm3~1.6g/cm3。圖A.7插件1剖面示意圖圖A.8插件2剖面示意圖JJF2102—20249圖A.9插件3剖面示意圖圖A.10插件4剖面示意圖JJF2102—202410附錄B校準(zhǔn)證書(shū)內(nèi)頁(yè)推薦格式校準(zhǔn)證書(shū)內(nèi)頁(yè)內(nèi)容包括如下:被校設(shè)備型號(hào):制造廠:出廠編號(hào):掃描條件:□手動(dòng)kVmA□自動(dòng)校準(zhǔn)結(jié)果:1.空間分辨力分辨力為L(zhǎng)p/cm2.密度分辨力能分辨模體中直徑為cm、密度分辨力為%的圓柱體斷層圖像3.等效原子序數(shù)測(cè)量值差異性聚乙烯材料的差異性δ1=聚氯乙烯材料的差異性δ2=4.密度值測(cè)量值相對(duì)偏差:σ2=σ3=σ4=σ5=σ6=σ7=σ8=等效原子序數(shù)測(cè)量值相對(duì)偏差:ε2=ε3=ε4=ε5=ε6=ε7=ε8=CT值測(cè)量值相對(duì)偏差:Δ2=Δ3=Δ4=Δ5=Δ6=Δ7=Δ8=衰減系數(shù)測(cè)量值相對(duì)偏差:θ2=θ3=θ4=θ5=θ6=θ7=θ8=5.泄漏輻射在距裝置主體(不含輥道)外表面5cm的任意處(包括裝置的入口、出口處),X射線(xiàn)的空氣比釋動(dòng)能率最大為μGy/h6.測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度:JJF2102—202411附錄C泄漏輻射測(cè)量結(jié)果不確定度評(píng)定示例以某型號(hào)X射線(xiàn)安全檢查計(jì)算機(jī)斷層成像裝置(CT)泄漏輻射測(cè)量為例,對(duì)泄漏輻射測(cè)量結(jié)果做不確定度評(píng)定。C.1測(cè)量條件與測(cè)量方法C.1.1測(cè)量條件C.1.1.1環(huán)境條件溫度15℃~35℃,相對(duì)濕度30%~75%,大氣壓力86kPa~106kPa,儀器周?chē)鸁o(wú)影響使用的震動(dòng)和電磁場(chǎng)干擾,周?chē)h(huán)境劑量當(dāng)量率不超過(guò)0.25μSv/h。測(cè)量溫度24.3℃,相對(duì)濕度66%,氣壓101.2kPa。C.1.1.2測(cè)量設(shè)備C.1.2測(cè)量方法防護(hù)水平X射線(xiàn)劑量?jī)x,校準(zhǔn)因子不確定度Urel=6.0%,包含因子k=C.1.2測(cè)量方法被校準(zhǔn)設(shè)備設(shè)置常規(guī)工作條件,在輸送帶的幾何中間位置放置散射體,距設(shè)備主體外表面(包括前后及側(cè)面)5cm處,用防護(hù)水平X輻射測(cè)量?jī)x進(jìn)行X射線(xiàn)泄漏輻射測(cè)量。C.2測(cè)量模型與靈敏系數(shù)C.2.1測(cè)量模型·K=M×NK×KTP式中:·K—泄漏輻射的空氣比釋動(dòng)能率,μGy/h;M—泄漏輻射的空氣比釋動(dòng)能率測(cè)量示值,μGy/h;NK—泄漏輻射的空氣比釋動(dòng)能率校準(zhǔn)因子;KTP—電離室型探測(cè)器溫度、氣壓密度修正。由于使用的不是電離室,所以其值為1。注:即使是電離室型,但是其為密閉型的電離室,其溫度、氣壓修正值亦為1。C.2.2靈敏系數(shù)對(duì)M、NK的靈敏系數(shù)分別為:·c1=NK·c2=MC.3輸入量的標(biāo)準(zhǔn)不確定度C.3.1輸入量M的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(M)輸入量M的標(biāo)準(zhǔn)不確定度包括儀器測(cè)量重復(fù)性引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u1(M)和劑量JJF2102—202412 儀定位偏差引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u2(M)。前者可以通過(guò)連續(xù)測(cè)量得到測(cè)量列,采用 A類(lèi)方法評(píng)定,后者可以用試驗(yàn)得到測(cè)量值,采用B類(lèi)方法評(píng)定。C.3.1.1測(cè)量重復(fù)性引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u1(M)u1(M)由空氣比釋動(dòng)能率的測(cè)量列獲得,采用A類(lèi)方法進(jìn)行評(píng)定。防護(hù)水平X射線(xiàn)劑量?jī)x在相同條件下相同位置測(cè)量空氣比釋動(dòng)能率的測(cè)量結(jié)果見(jiàn)表C.1(單位:μGy/h)。表C.1空氣比釋動(dòng)能率的測(cè)量結(jié)果測(cè)量次數(shù)12345678910測(cè)量值2.502.552.602.522.492.552.542.612.582.481n讀數(shù)平均值:1nMi=2.54μGy/h實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)差:s=(nM-i)2=0.045μGy