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1范圍僅該日期對應的版本適用于本文件。不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本GB/T8170數(shù)字修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定GB/T23414微束分析掃描電子顯微術術語GB/T27788微束分析掃描電鏡圖像放大倍率校準導則(ISO16700:2004IDT)JF1916掃描電子顯微鏡校準規(guī)范3術語和定義GB/T5168,GB/T6611、GB/3.3片狀a片層厚度4方法原理4.1掃描電鏡分析原理4.2圖像分析法原理5試劑或材料6儀器設備6.1掃描電鏡(配置X射線能諧儀):掃描電鏡應按JJF1916校準，其測長示值誤差不超過±5%,正交畸變不超過0.5°,線性失真度小于10%,同時應按GB/T27788校準放大倍率。6.2制樣設備(試樣切割機、鑲嵌機、磨拋機、電解拋光腐蝕設備等),7.1推薦試樣尺寸：邊長10～20mm,高度10～20mm為宜。7.3如需錯嵌，宜采用導電粉錯嵌。非導電粉鑲嵌的試樣，可在試樣邊部粘貼導電膠帶與樣品座相連7.4試樣如需腐蝕，按照GB/T51688.1.1根據(jù)試驗目的設置適合的加速電壓、束流、工作距離。加速電壓宜選擇15kV～25kV,宜選擇在200,500、1000倍拍照，片狀a片層厚度測量建議在1000、2000,5000倍拍照。應避免視場間的重8.1.4n)初生a相含量測定，應在能清晰分辨最小初生a相的放大倍數(shù)，每一視場宜包含100~200個品粒。8.1.7應選擇具有代表性的視場拍照，拍照時宜選擇慢掃模式，獲8.2圖像預處理8.3初生a相含量測定8.3.2軟件自動法：對圖像灰度進行閥值分割，利用a8.3.3測量視場一般不少于5個，不均勻樣品應根據(jù)不均勻情況增加拍8.4.2測量視場一般不少于5個，不均勻樣品應根據(jù)不均勻情8.5.1在掃描電鏡下直接測量或采用圖像軟件核定9試驗結果初生a相、β相含量、片狀a片層厚度測量值的算數(shù)平均值按式(1)計算，計算結果保留3位有效數(shù) (1)設備工作參數(shù)(工作電壓、觀察模式):附錄A(資料性)初生a相含量測量示例鈦合金不同初生a相含量典型圖譜見圖A.1～A.10。圖A.1初生a相含量15%圖A.2初生a相含量20%圖A.3初生u相含量30%圖A.4初生a相含量55%圖A.5初生a相含量65%(資料性)β相含量測量示例β相含量測量示例見圖B.1～B.7。圖B.2β相含量30%圖B.3β相含量55%圖B.4增材制造試樣相含量15%圖B.5增材制造試樣相含量25%

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