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標稱電壓高于1000V的架空線路絕緣子第2部分:交流系統(tǒng)用絕緣子串及2011-01-14發(fā)布GB/T1001.2—2010前言 I 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語和定義 4表征絕緣子串或絕緣子串組的電氣值 25高電壓試驗的一般要求 6電氣試驗的標準大氣條件及校正因數(shù) 37濕試驗的人工雨參數(shù) 38電氣試驗的安裝布置 39雷電沖擊電壓試驗 410濕工頻電壓試驗 11濕操作沖擊電壓試驗 412安裝方法 參考文獻 6IGB/T1001《標稱電壓高于1000V的架空線路絕緣子》分為2個部分:——第1部分:交流系統(tǒng)用瓷或玻璃絕緣子元件定義、試驗方法和接收準則;——第2部分:交流系統(tǒng)用絕緣子串及絕緣子串組定義、試驗方法和接收準則。本部分為GB/T1001的第2部分。本部分修改采用IEC60383-2:1993《標稱電壓高于1000V的架空線路絕緣子第2部分:交流系統(tǒng)用絕緣子串及絕緣子串組定義、試驗方法和接收準則》(英文版)。本部分根據(jù)IEC60383-2:1993重新起草。本部分與IEC60383-2:1993條款編號相同。本部分與——第1章中“注3:電弧試驗目前正在研究中”改為“注3:電弧試驗由GB/T25084《標稱電壓高于1000V的架空線路用絕緣子串和絕緣子串組交流工頻電弧試驗》規(guī)定”。——“規(guī)范性引用文件”引用了與國際標準對應的國家標準,引用的文件4個,比IEC60383-2:1993少一個。 “參考文獻”用相應的國家標準代替了IEC60383-2:1993中的國際標準。與IEC60383-2;1993相比,增加了GB/T25084《標稱電壓高于1000V的架空線路用絕緣子串和絕緣子串組尚無關(guān)于電弧試驗的標準。本部分制定時IEC關(guān)于電弧試驗的標準IEC61467:2008已出版,修改采用此IEC標準的國標為GB/T25此對第1章注3進行了上述修改,同時“參考文獻”也增加了GB/T25084—2010;本部分制定時,IEC60071-3:1982已作廢,并被并人IEC60071-1:1993,本部分引用了GB311.1—1997高壓輸變電設(shè)為便于使用,本部分做了下列編輯性修改。本部分的附錄A是資料性附錄。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國絕緣子標準化技術(shù)委員會(SAC/TC80)歸口。本部分起草單位:西安高壓電器研究院有限責任公司、蘇州電瓷廠有限公司、國網(wǎng)電力科學研究院、南京電氣集團有限公司、NGK唐山電瓷有限公司、大連電瓷有限公司、自貢賽迪維爾有限公司、天津迪艾夫絕緣子有限公司。1標稱電壓高于1000V的架空線路絕緣子第2部分:交流系統(tǒng)用絕緣子串及絕緣子串組定義、試驗方法和接收準則1范圍GB/T1001的本部分規(guī)定了標準電氣試驗程序及接收規(guī)則,以檢驗本部分范圍內(nèi)的絕緣子串和絕緣子串組的規(guī)定特性。本部分適用于標稱電壓高于1000V、頻率不大于100Hz的架空電力線路用瓷或玻璃絕緣子串元件組成的絕緣子串和絕緣子串組。本部分也適用于直流架空牽引線路用的絕緣子串和絕緣子串組。本部分還適用于變電所用的類似結(jié)構(gòu)的絕緣子串和絕緣子串組。本部分還可作為直流架空電力線路用的絕緣子申和絕緣子串組以及復合絕緣子的暫用標準。當需要定義、評定及檢驗這些裝備的電氣特性時,這些試驗及特性給架空線路、絕緣子及線路裝備的設(shè)計者、用戶及供應商提供一個共同的基礎(chǔ)。在這些絕緣子單個地供應,或成串或成申組供應時,這些試驗不能作為強制性試驗。注1:絕緣子串元件的試驗由GB/T1001.1規(guī)定。復合絕緣子的試驗由GB/T19519規(guī)定。注2:本部分不包括人工污穢試驗或無線電干擾試驗。人工污穢試驗由GB/T4585規(guī)定,無線電干擾試驗由注3:電弧試驗由GB/T25084《標稱電壓高于1000V的架空線路用絕緣子串和絕緣子串組交流工頻電弧試驗》規(guī)定。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T1001的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。GB311.1—1997高壓輸變電設(shè)備的絕緣配合(neqIEC60071-1:1993)GB/T311.2-2002絕緣配合第2部分:高壓輸變電設(shè)備的絕緣配合使用導則(eqvIEC60071-2:GB/T2900.8—2009電工術(shù)語絕緣子(IEC60050-471:2007,InternationalElectrotechnicalVocabularyPart471:Insulators,IDT)GB/T16927.1—1997高電壓試驗技術(shù)第1部分:一般試驗要求(eqvIEC60060-1:1989)3術(shù)語和定義本部分采用下列術(shù)語和定義。下列術(shù)語和定義是GB/T2900.8沒有的或與GB/T2900.8不2GB/T1001.2—2010一個或多個串接的絕緣子元件,作架空線路導線撓性支持用,主要承受張力。絕緣子串組insulatorset一個或多個絕緣子串適當?shù)剡B在一起的裝配,它完整地裝有運行中所要求的金具和保護器件。懸垂絕緣子串組suspensioninsulatorset一個在其下端承載一根或多根線路導線并裝有完整金具的絕緣子串組。一個能把一根或多根線路導線保持張緊并裝有完整金具的絕緣子串組。使正常加有運行電壓的兩部件連接起來的絕緣外部的破壞性放電。在規(guī)定的試驗條件下,絕緣子干燥狀態(tài)下能耐受的雷電沖擊電壓。在規(guī)定的試驗條件下,絕緣子在干燥狀態(tài)下發(fā)生閃絡(luò)概率為50%的雷電沖擊電壓值。工頻濕耐受電壓wetpower-frequencywithstandvoltage在規(guī)定的試驗條件下,絕緣子在濕狀態(tài)下能耐受的工頻電壓。在規(guī)定的試驗條件下,測得絕緣子在濕狀態(tài)下閃絡(luò)電壓的算術(shù)平均值。操作沖擊濕耐受電壓wetswitchingimpulsewithstandvoltage在規(guī)定的試驗條件下,絕緣子在濕狀態(tài)下能耐受的操作沖擊電壓。在規(guī)定的試驗條件下,絕緣子在濕狀態(tài)下發(fā)生閃絡(luò)概率為50%的操作沖擊電壓值。4表征絕緣子串或絕緣子串組的電氣值絕緣子串或絕緣子串組可以由下列一個或幾個電氣值表征:a)規(guī)定的雷電沖擊于耐受電壓;b)規(guī)定的操作沖擊濕耐受電壓;c)規(guī)定的工頻濕耐受電壓。3這些特性均為設(shè)備最高電壓的函數(shù),其適用范圍應參照GB311.1—1997、GB/T311.2—2002中絕緣配合的規(guī)定。運行電壓不是絕緣子串或絕緣子串組的特性值。絕緣子在運行條件下的閃絡(luò)及耐受電壓可能有別于標準狀態(tài)下的閃絡(luò)及耐受電壓。這種影響在雷電沖擊試驗時已得到公認,尤其是電壓很高的設(shè)備,但周圍條件和絕緣子布置及配套金具對操作沖擊的影響要大得多,這是由于標準試驗布置與運行的安裝布置之間的電場分布有差異所致。絕緣子串和絕緣子串組的操作沖擊耐受電壓沒有必要作為規(guī)定的特性,因為它在很大程度上取決于桿塔結(jié)構(gòu)及電場形狀,該電場形狀取決于所有金屬部件的形狀和相對位置。因此,檢驗額定操作沖擊耐受電壓一般均要求其安裝布置能夠確切地代表運行條件。因此,安裝布置的細節(jié)應由供需雙方在訂貨時協(xié)議。5高電壓試驗的一般要求a)雷電及操作沖擊電壓以及工頻電壓試驗方法應按GB/T16927.1—1997規(guī)定。b)雷電及操作沖擊電壓應采用其預期峰值表示,工頻電壓應采用峰值除以√2表示。c)在試驗時自然大氣條件與標準值(見6.1)不同時,必須按6.2采用校正因數(shù)。d)在高壓試驗開始前絕緣子應清潔并干燥。e)應采取專門措施防止試品表面凝露,尤其在相對濕度很高時。例如,試品應在試驗場所的周圍溫度下放置足夠長的時間,使之在試驗開始前達到熱平衡。除非制造商與購方另有協(xié)議,如果相對濕度超過85%,不應進行試驗。f)連續(xù)施加電壓的時間間隔應足以使閃絡(luò)或耐受試驗時前次施加電壓的影響降至最小。6電氣試驗的標準大氣條件及校正因數(shù)6.1標準參照大氣標準參照大氣條件應符合GB/T16927.1—1997的規(guī)定。6.2大氣條件的校正因數(shù)校正因數(shù)應符合GB/T16927.1—1997規(guī)定。如果在試驗時大氣條件不同于標準參照大氣,則應計算空氣密度校正因數(shù)(K?)及濕度校正因數(shù)(K?)并決定其乘積K=K?·K?,此時試驗電壓按下式修正。耐受電壓(沖擊及工頻):施加試驗電壓=K×規(guī)定耐受電壓閃絡(luò)電壓(沖擊及工頻):7濕試驗的人工雨參數(shù)應采用GB/T16927.1—1997的標準濕試驗程序。人工雨的特性應符合GB/T16927.1-1997的要求。當試驗在絕緣子水平或傾斜位置試驗時,淋雨方向應由供需雙方協(xié)議。8電氣試驗的安裝布置特定的安裝布置在第12章中規(guī)定。4GB/T1001.2—20109霞電沖擊電壓試驗應采用GB/T16927.1—1997規(guī)定的程序?qū)σ粋€絕緣子串或一個絕緣子申組進行試驗。應采用1.2/50標準雷電沖擊波(見GB/T16927.1—1997)。絕緣子應按第5章和第6章規(guī)定的條件進行試驗。應采用正、負極性兩種沖擊波。但當有證據(jù)說明某種極性得出的耐受電壓較低時,采用此極性試驗即可。測定絕緣子串及絕緣子串組雷電沖擊干耐受電壓的標準程序應為GB/T16927.1-1997規(guī)定的升降法測得50%閃絡(luò)水平進行計算。在絕緣子串及絕緣子串組很長時,其長度取決于污穢性能而不是沖擊電壓,有必要采用15次沖擊的耐受程序。這些試驗不應使絕緣子損壞,但在絕緣件表面有輕徽的痕跡,或者有水泥或其他膠裝材料掉塊應是允許的。10濕工頻電壓試驗應采用GB/T16927.1—1997規(guī)定程序?qū)σ粋€絕緣子串或絕緣子串組進行試驗。試驗回路應符合GB/T16927.1—1997。絕緣子試驗條件應按第5章、第6章、第7章規(guī)定。人工雨特性應符合GB/T16927.1—1997的要求。加在試品上的電壓應為按試驗時大氣條件校正(見6.2)后的規(guī)定工頻濕耐受電壓。試驗電壓在此值下保持1min。注:在對架空牽引線路絕緣子進行試驗時,此試驗電壓的頻率也適用于工作頻率(0~100)Hz的絕緣子。試驗時不應發(fā)生閃絡(luò)或擊穿。為了提供信息,以及在訂貨時專門提出要求時,可以測定絕緣子濕閃電壓。在電壓超過工頻濕耐受電壓約75%后,以大約每秒2%該電壓的速度升壓。閃絡(luò)電壓為5次連續(xù)讀數(shù)的算術(shù)平均值,經(jīng)校正到標準大氣條件(見6.2)后予以記錄。11濕操作沖擊電壓試驗應按GB/T16927.1—1997規(guī)定的程序?qū)σ粋€絕緣子串或絕緣子串組進行試驗。應采用250/2500標準操作沖擊波(見GB/T16927.1—1997)。絕緣子試驗條件按第5章、第6章、第7章規(guī)定。人工雨的特性應按GB/T16927.1—1997要求。應采用正、負兩種極性沖擊。但當有證據(jù)說明某種極性得出的耐受電壓較低時,采用此極性試驗即可。測定絕緣子串及絕緣子串組濕操作沖擊耐受電壓的標準程序應為按GB/T16927.1—1997規(guī)定的升降法測得50%閃絡(luò)水平進行計算。有時在采用50%閃絡(luò)程序時會有些困難,例如由于許多次閃絡(luò)沒有發(fā)生在絕緣子串上,或者由于絕緣子串過長需要過高的試驗電壓。如果出現(xiàn)這些困難,經(jīng)協(xié)議可以采用15次沖擊耐受程序。這些試驗應不造成絕緣子損壞。但絕緣件表現(xiàn)輕微的痕跡或者有水泥或其他膠裝材料的掉塊應是512安裝方法絕緣子串和串組的電氣試驗安裝布置取決于是否要進行操作沖擊試驗(見第4章)以及是否要模擬運行條件。12.1不要求進行操作沖擊試驗的絕緣子串或絕緣子串組的標準安裝布置絕緣子串或串組應采用一根接地鋼絲繩或其他合適的導體垂直懸掛在一支持結(jié)構(gòu)上。絕緣子金屬附件頂端距離支持結(jié)構(gòu)至少為1m。離絕緣子1m或1.5倍絕緣子申長度(兩者取大者)范圍內(nèi)不能有其他物品。絕緣子串下端金具應裝一根有一定長度的導體(例如直而光滑的金屬管或棒),此導體應處于水平位置,導體上表面與瓷件或玻璃件最下一個傘裙的距離應盡可能短,但應大于最下一個絕緣子直徑的0.5倍。此導體的直徑應約為絕緣子串長的1.5%,最小為25mm。此導體長度應至少為絕緣子串長的1.5倍,并應自垂直軸每一側(cè)伸出至少1m。應采取措施防止從導體端部閃絡(luò)。試驗電壓應加在此導體與地之間。12.2要求進行操作沖擊試驗的絕緣子串或絕緣子串組的標準安裝布置絕緣子串或串組應垂直懸掛在模擬塔身及橫擔的裝置上。橫擔用一個水平構(gòu)件模擬,絕緣子串掛在其一端,模擬塔身的垂直構(gòu)件裝在其另一端。此兩個構(gòu)件及支持絕緣子串的連接件均應接地。每個構(gòu)件朝向絕緣子一面的寬度應至少為400mm至絕緣子串長的20%。絕緣子串軸線至模擬塔身的垂直構(gòu)件的距離應在絕緣子串長的1.2~1.5倍之間。絕緣子串頂點至模擬橫擔的水平構(gòu)件下部之間的距離應約等于300mm。模擬塔身的構(gòu)件在模擬橫擔的構(gòu)件下部的長度至少為絕緣子串長的2倍。用兩根直而光滑的金屬桿或管作為雙導線束裝在絕緣子串下部金具上,與橫擔成直角。導線束的兩根導線用水平間隔棒使之保持平行,兩導線間距應約為絕緣子串長的十分之一。線束應自絕緣子串軸線每一側(cè)伸出,長度應大約為絕緣子串長,每根導線直徑應在絕緣子串長的0.75%~1.5%之間。為了避免從線束兩端放電,其每端要用適當?shù)难b置保護(例如用金屬環(huán))。導線離地高度應約等于絕緣子串長的1.5倍,但不小于6m。試驗電壓應加在導線束與地之間,高電壓接在導
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