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文檔簡介

常規(guī)測試,,,,,,

序號(hào),測試內(nèi)容,測試項(xiàng)目,測試目的,測試標(biāo)準(zhǔn),檢驗(yàn)方法,檢驗(yàn)工具

1,溫升測試,程序，PCB，MOS管，大容量電容，熱敏電阻，驅(qū)動(dòng)相關(guān)電子元器件，鋁殼，電源線相線，導(dǎo)熱墊片等進(jìn)行可靠性測試。,新產(chǎn)品的研發(fā)獲取數(shù)據(jù)；對于新型號(hào)產(chǎn)品的可靠性測試（主要為程序更改，鋁殼等硬件更改等），根據(jù)測試的項(xiàng)目而定。,兩只控制器，每只四次測試都通過為合格。,根據(jù)測試的目的不同而定。一般情況下測試電壓為：（額定電壓×9/8+3）V。具體方法依據(jù)型產(chǎn)品研發(fā)測試方法。,1、直流電源；2、熱成像儀；3、示波器；4、電流鉗；5、相應(yīng)定子6、手把；7、霍爾發(fā)生器

2,短路測試,主要對新研發(fā)產(chǎn)品，MOS管，驅(qū)動(dòng)元器件的測試。,對產(chǎn)品的可靠性測試，MOS管的抗浪涌能力，驅(qū)動(dòng)元器件的可靠性。,兩只控制器，測試都通過為合格。,在電壓為(額定電壓×9/8+3)V條件下空載，任意兩相最少短路60次，共180次，不得有異常；任兩相短路啟動(dòng)10次，共30次，沒有異常。,1、直流電源2、電機(jī)3、手把4、電機(jī)架5、尖嘴鉗

3,堵轉(zhuǎn)測試,MOS管，驅(qū)動(dòng),MOS的性能，控制器驅(qū)動(dòng)是否正常,兩只控制器，測試都通過為合格。,1、額定電壓，斷開HALL，手把轉(zhuǎn)動(dòng)到最大，觀察電流，待電流歸0后計(jì)一次，時(shí)間為3S左右，反復(fù)10次（新MOS反復(fù)30次），無異常,1、直流電源2、電機(jī)3、手把4、測功機(jī)或電機(jī)架

4,驅(qū)動(dòng)參數(shù)測試,MOS管的開關(guān)速度，新驅(qū)動(dòng)元器件,MOS的開關(guān)參數(shù)是否符合要求，新驅(qū)動(dòng)元器件是否合格,兩只控制器，測試都通過為合格。,燒驅(qū)動(dòng)測試程序，在額定電壓下主電源斷開，相線接地，示波器接地，使用示波器測試各相上下管的驅(qū)動(dòng)波形上升沿和下降沿及死區(qū)時(shí)間，填寫

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