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實(shí)驗(yàn)二存儲(chǔ)器實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)?zāi)康耐ㄟ^看懂教學(xué)計(jì)算機(jī)中已經(jīng)使用的幾個(gè)存儲(chǔ)器芯片的邏輯連接關(guān)系和用于完成存儲(chǔ)器容量擴(kuò)展的幾個(gè)存儲(chǔ)器芯片的布線安排,在教學(xué)計(jì)算機(jī)上設(shè)計(jì)、實(shí)現(xiàn)并調(diào)試出存儲(chǔ)器容量擴(kuò)展的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。其最終要到達(dá)的目的是:1.深入理解計(jì)算機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)器的功能、組成知識(shí);2.深入地學(xué)懂靜態(tài)存儲(chǔ)器芯片的讀寫原理和用他們組成教學(xué)計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器系統(tǒng)的方法〔即字、位擴(kuò)展技術(shù)〕,控制其運(yùn)行的方式;思考并比照靜態(tài)存儲(chǔ)器芯片和動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)器芯片在特性與使用場合等方面的異同。實(shí)驗(yàn)說明教學(xué)計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器系統(tǒng)由8K的ROM和2K的RAM兩個(gè)存儲(chǔ)區(qū)組成,分別用EPROM芯片〔或EEPROM芯片〕和RAM芯片構(gòu)成。TEC-2000教學(xué)計(jì)算機(jī)中還安排了另外幾個(gè)存儲(chǔ)器器件插座,可以插上相應(yīng)存儲(chǔ)器芯片以完成存儲(chǔ)器容量擴(kuò)展的教學(xué)實(shí)驗(yàn),為此必須比擬清楚地了解:1.TEC-XP教學(xué)機(jī)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)的總體組成及其連接關(guān)系;2.TEC-XP教學(xué)機(jī)的有關(guān)存儲(chǔ)器芯片、I/0接口芯片的片選控制和讀寫命令的給出及具體使用方法;3.RAM和EPROM、EEPROM存儲(chǔ)器芯片在讀寫控制、寫入時(shí)間等方面的異同,并正確建立連線關(guān)系和在程序中完成正確的讀寫過程;4.如何在TEC-XP教學(xué)機(jī)中使用擴(kuò)展的存儲(chǔ)器空間并檢查其運(yùn)行的正確性。實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1.要完成存儲(chǔ)器容量擴(kuò)展的教學(xué)實(shí)驗(yàn),需為擴(kuò)展存儲(chǔ)器選擇一個(gè)地址,即將擴(kuò)展存儲(chǔ)器的片選〔標(biāo)有/CS的2個(gè)插孔的上面一個(gè)〕與標(biāo)有MEM/CS的插孔中的一個(gè)相連;2.用監(jiān)控程序的D、E命令對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行讀寫,比擬RAM〔6116〕、EEPROM〔28系列芯片〕EPROM〔27系列芯片〕在讀寫上的異同;3.用監(jiān)控程序的A命令編寫一段程序,對(duì)RAM〔6116〕進(jìn)行讀寫,用D命令查看結(jié)果是否正確;4.用監(jiān)控程序的A命令編寫一段程序,對(duì)擴(kuò)展存儲(chǔ)器EEPROM〔28系列芯片〕進(jìn)行讀寫,用D命令查看結(jié)果是否正確;如不正確,分析原因,改寫程序,重新運(yùn)行。實(shí)驗(yàn)要求1.實(shí)驗(yàn)之前,應(yīng)認(rèn)真預(yù)先準(zhǔn)備,寫出實(shí)驗(yàn)步驟和具體設(shè)計(jì)內(nèi)容,否那么實(shí)驗(yàn)效率會(huì)特別低,一次實(shí)驗(yàn)時(shí)間根本無法完成實(shí)驗(yàn)任務(wù),即使根本做對(duì)了,也很難說學(xué)懂了些什么重要教學(xué)內(nèi)容;2.實(shí)驗(yàn)過程中,應(yīng)認(rèn)真進(jìn)行實(shí)驗(yàn)操作,既不要因?yàn)榇中脑斐啥搪返仁鹿识鴵p壞設(shè)備,又要仔細(xì)思考實(shí)驗(yàn)有關(guān)內(nèi)容,提高學(xué)習(xí)的主動(dòng)性和創(chuàng)造性,把自己想不太明白的問題通過實(shí)驗(yàn)理解清楚,爭取最好的實(shí)驗(yàn)效果,力求到達(dá)教學(xué)實(shí)驗(yàn)的主要目的;3.實(shí)驗(yàn)之后,應(yīng)認(rèn)真思考總結(jié),寫出實(shí)驗(yàn)報(bào)告,包括實(shí)驗(yàn)步驟和具體實(shí)驗(yàn)結(jié)果,遇到的主要問題以及分析與解決問題的思路。實(shí)驗(yàn)報(bào)告中,還應(yīng)寫出自己的學(xué)習(xí)心得和切身體會(huì),也可以對(duì)教學(xué)實(shí)驗(yàn)提出新的建議等。實(shí)驗(yàn)步驟4.AT28C64B的讀操作和RAM一樣,而寫操作需要一定的時(shí)間,大約為1毫秒。因此,需要編寫一段延時(shí)子程序,在對(duì)EEPROM進(jìn)行寫操作時(shí),調(diào)用該延時(shí)子程序,以完成正確的讀寫。1〕用E命令改變內(nèi)存單元的值并用D命令觀察結(jié)果。<1>在命令行提示符狀態(tài)下輸入:E5000↙屏幕將顯示;5000內(nèi)存單元原值:按如下形式鍵入:5000原值:2424〔空格〕原值:3636〔空格〕原值:4848〔空格〕原值:5050↙<2>在命令行提示符狀態(tài)下輸入:D5000↙屏幕將顯示5000H~507FH內(nèi)存單元的值,從5000開始的連續(xù)四個(gè)內(nèi)存單元的值依次為2424363648485050。<3>斷電后重新啟動(dòng),用D命令觀察內(nèi)存單元5000~5003的值。2〕AT28C64B存儲(chǔ)器不能直接用A命令輸入程序〔建議試一試〕,可將編寫好的程序用編程器寫入片內(nèi);也可將程序放到RAM〔6116〕中,調(diào)用延時(shí)子程序,訪問AT28C64B中的內(nèi)存地址。下面給出的程序,在5000H~500FH單元中依次寫入數(shù)據(jù)0000H、0001H、...000FH。<1>從2000H單元開始輸入主程序:〔2000〕MVRDR0,0000MVRDR2,0010 ;R2記錄循環(huán)次數(shù)MVRDR3,5000 ;R3的內(nèi)容為16位內(nèi)存地址〔2006〕STRR[R3],R0 ;將R0存放器的內(nèi)容放到R3給出的內(nèi)存單元中CALA2200 ;調(diào)用延時(shí)子程序INCR0 ;R0加11NCR3 ;R3加1DECR2 ;R2減lJRNZ2006 ;R2不為0跳轉(zhuǎn)到2006HRET<2>從2200H單元開始輸入延時(shí)子程序:〔2200〕PUSHR3MVRDR3,000F〔2203〕DECR3JRNZ2203POPR3RET<3>運(yùn)行主程序,在命令提示符下輸入:G2000↙<4>程序執(zhí)行結(jié)束后,在命令提示符下輸入:D5000↙〔2〕修改延時(shí)子程序,將其延時(shí)改短,可將延時(shí)子程序中R3的內(nèi)容賦成00FF或0FFF等,再看運(yùn)行結(jié)果,并記錄下來。實(shí)驗(yàn)總結(jié):

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