chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料

Chroma6000測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料

制作：周正

chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第1頁。

系統(tǒng)結(jié)構(gòu)介紹測試程序編寫chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第2頁。一，系統(tǒng)結(jié)構(gòu)介紹系統(tǒng)硬件介紹測試參數(shù)介紹chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第3頁。傳統(tǒng)的測試系統(tǒng)LOAD1LOAD2LOAD3LOAD4LOADXMeasurementCircuitRelayMatrixSwitchingPowerSupplyACINPUTDCOUTPUTchroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第4頁。測試速度慢無法全面的模擬動態(tài)測試功能繼電器組切換容易產(chǎn)生不知名的干擾信號。干擾正常的輸出信號的測量。因繼電器組的延時，會造成時序量測出現(xiàn)誤差傳統(tǒng)的測試系統(tǒng)chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第5頁。Chroma6000SMPSATEchroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第6頁。系統(tǒng)架構(gòu)DCSourceACSource負(fù)載1負(fù)載2負(fù)載3負(fù)載4負(fù)載NEMU601OVPSOURCESPSN:Max=12chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第7頁。系統(tǒng)特性輸出電壓量測采用了14-bitA/D轉(zhuǎn)換器,輸出電壓噪聲的量測采用了8段低通濾波器，進(jìn)行差模放大方式來量測的。時序量測采用了24-bit計數(shù)器.同步平行測試。比傳統(tǒng)測試方法快約3倍由MOSFET構(gòu)成的電子負(fù)載，可以更真實(shí)更快速更準(zhǔn)確的模擬被測物的實(shí)際工作狀態(tài)(如負(fù)載電流大小、電流變化率、動態(tài)負(fù)載狀態(tài)等各種狀態(tài)模擬系統(tǒng)可測試1~12組輸出的多種AC/DC、DC\DC電源產(chǎn)品；可以通過系統(tǒng)中的6組內(nèi)建繼電器和16–bit的邏輯控制信號及10組電壓量測點(diǎn)與其它儀器設(shè)備連接作業(yè)；模塊化的系統(tǒng)架構(gòu)及圖形界面；操作簡單；內(nèi)建41測試參數(shù)。測量準(zhǔn)確度

測試速度測試可靠性

及穩(wěn)定性可擴(kuò)充性

其它c(diǎn)hroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第8頁。系統(tǒng)硬件組成開關(guān)電源分析儀

擴(kuò)展測量單元

-model601可程控交/直流源OVP可程控直流源6000SMPSATE其它測試設(shè)備chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第9頁。系統(tǒng)硬件組成

開關(guān)分析儀可程控電子負(fù)載41/2DMM時序分析系統(tǒng)控制測試軟件電流變化率

(2.5A/us)Voncontrol動態(tài)負(fù)載

(125KHz)Voltage:Vdc,dVCurrent:IdcNoise:Vpp,Vn8組時序定時器外部/內(nèi)部控制信號CPU控制IEEE-488通訊接口標(biāo)準(zhǔn)打印機(jī)接口完善標(biāo)準(zhǔn)的測試項(xiàng)目全自動測試chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第10頁。系統(tǒng)硬件組成

開關(guān)分析儀

可模擬被測物開機(jī)瞬間各種狀態(tài)如開機(jī)角度的控制，帶載點(diǎn)的控制負(fù)載電流變化的快慢chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第11頁。系統(tǒng)硬件組成開關(guān)分析儀OvershootingOutputdisabledbyOVPcircuittUUTOutputVoltageActiveLoadSinkCurrent

chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第12頁。OutputdisabledbyOVPcircuittUUTOutputVoltageActiveLoadSinkCurrent

系統(tǒng)硬件組成開關(guān)分析儀chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第13頁。UUTOutputtRatedLoadRiseRateVon系統(tǒng)硬件組成開關(guān)分析儀chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第14頁。

可模擬高速動態(tài)負(fù)載狀態(tài)可以根據(jù)被測物負(fù)載應(yīng)用特性，仿真被測物負(fù)載電流的實(shí)際狀態(tài)。負(fù)載電流范圍：0～50A負(fù)載電流變化率：0.0001～

2.5A/us負(fù)載電流變化時間：4us～10mS系統(tǒng)硬件組成

開關(guān)分析儀chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第15頁。tUUTOutputVoltageLoadCurrentVs1Vs2Load1Load2riseratefallrateT1T2系統(tǒng)硬件組成開關(guān)分析儀chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第16頁。系統(tǒng)硬件組成

擴(kuò)展測量單元-601可控制被測物輸入交流電源的開機(jī)角度和關(guān)機(jī)角度可模擬各種復(fù)雜電源輸入波形?？赡M從0.1mS到650mS瞬間電源輸入波形斷電狀態(tài)可量測被測物輸入之特性，包括浪涌電流、均方根電流、電壓、真實(shí)功率、功率因素等。chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第17頁。可測量短路時的短路電流過壓保護(hù)測試的保護(hù)點(diǎn)及保護(hù)時間內(nèi)建10組電壓量測點(diǎn)，可分別量測被測物內(nèi)的任意點(diǎn)的直流電壓及均方根電壓。

通過6組內(nèi)建繼電器和16–bit的邏輯控制信號，可與其它儀器設(shè)備連線作業(yè)。系統(tǒng)硬件組成

擴(kuò)展測量單元-601chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第18頁。系統(tǒng)硬件組成

擴(kuò)展測量單元-601被測物輸入真實(shí)功率的量測

TruePower=Vac(t)xIac(t)dtTT01chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第19頁。tVoltageCurrentInputOn/OffPhaseControl&InrushCurrentMeasurement系統(tǒng)硬件組成

擴(kuò)展測量單元-601chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第20頁。系統(tǒng)硬件組成

ACandDCPowerSourceInputPowerSourceIncludingACandDCsourcesforapplyingpowertotheUUTduringtestexecution.OVPPowerSourceTheDCPowerSourceforimplementingOverVoltage/UnderVoltageprotectiontests.chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第21頁。系統(tǒng)硬件DosVersionPowerPro/WindowsVersionWindows95WindowsNTchroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第22頁。系統(tǒng)軟件

測試參數(shù)CompleteTestingCapabilitiesforAC/DCPowerSuppliesandDC/DCConverters直流輸出電壓

DCOutputVoltage輸出峰值噪聲PeaktoPeakNoise輸出噪聲有效值RMSNoise動態(tài)響應(yīng)DynamicResponse(Max.125KHzrate)輸入調(diào)整率LineRegulation負(fù)載調(diào)整率LoadRegulation交叉調(diào)整率CrossRegulationchroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第23頁。測試參數(shù)復(fù)合調(diào)整率

CombineLine/LoadRegulation綜合調(diào)整率TotalRegulation開機(jī)時間TurnonTime上升時間RiseTime下降時間FallTime關(guān)機(jī)時間Hold-upTime輸出電壓特性StableTime

chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第24頁。測試參數(shù)過沖電壓

OvershootVoltageUndershootVoltage電源輸出上升時序PowerUpSequence電源輸出下降時序PowerDownSequencePowerGoodSignalPowerFailSignal擴(kuò)展時序測試ExtraTimingTest過載保護(hù)點(diǎn)OverloadTripPoint過載時間OverloadTripTimechroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第25頁。測試參數(shù)恢復(fù)時間

RecoveryTime(afterOverload)短路電流峰值ShortCircuitPeakCurrent短路電流有效值ShortCircuitRMSCurrent過電壓保護(hù)OverVoltageProtectionTest過功率保護(hù)OverPowerProtectionTest擴(kuò)展電壓測試ExtendedVoltagesTest在線輸出調(diào)整InTest,Hold-OnAdjustment浪涌電流InputInrushCurrent輸入電流有效值InputRMSCurrentchroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第26頁。測試參數(shù)重復(fù)峰值電流InputRepetitivePeakCurrent輸入真實(shí)功率

InputTruePower功率因素PowerFactor效率Efficiency輸入電壓步進(jìn)測試InputVoltageRampUp輸入頻率步進(jìn)測試ACFrequencyRampUp電源瞬間干擾特性ACCycleDropOut

噪聲穿透測試ACNoiseFeedThrough外部波形測試ExternalWaveTest外部動態(tài)測試ExternalDynamicTestchroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第27頁。二，測試程序編寫chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第28頁。程序編寫雙擊此圖標(biāo)chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第29頁。程序編寫輸入ID號和密碼后點(diǎn)擊“OK”鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第30頁。程序編寫單擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第31頁。程序編寫點(diǎn)擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第32頁。程序編寫參照產(chǎn)品規(guī)格書設(shè)定參數(shù)根據(jù)實(shí)際需要設(shè)定負(fù)載數(shù)量和序號先點(diǎn)擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第33頁。程序編寫接上步點(diǎn)擊此鍵設(shè)定需要測試每一組電壓設(shè)定每組電壓的開始拉載點(diǎn)電壓設(shè)定每組SA控制外接設(shè)備UUT信號chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第34頁。程序編寫設(shè)定SA的電流檔位，一般為“1A,20A,50A”設(shè)定SA的帶載模式參照產(chǎn)品規(guī)格書設(shè)定帶載電流最大值，正常值和最小值設(shè)定負(fù)載的抖動率接上步點(diǎn)擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第35頁。程序編寫設(shè)定SA的電壓檔位，一般為“10V,100V”選擇電壓量測點(diǎn)在產(chǎn)品的位置端根據(jù)產(chǎn)品特點(diǎn)選擇產(chǎn)品輸出端的測試頻率根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格書設(shè)定產(chǎn)品輸出端的電壓參數(shù)接上步點(diǎn)擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第36頁。程序編寫接上步點(diǎn)擊此鍵設(shè)定測試產(chǎn)品Vpp和均方根值的頻率，通常我們設(shè)定為“20M”依據(jù)產(chǎn)品規(guī)格書設(shè)定Vpp的范圍設(shè)定負(fù)載變化對產(chǎn)品輸出電壓偏差中心值的范圍chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第37頁。設(shè)定完畢后點(diǎn)擊返回“Exit”鍵，畫面重新回到程序編輯框（如下）程序編寫chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第38頁。程序編寫

參照規(guī)格書或者測試計劃直接雙擊需要的測試程序項(xiàng)目,項(xiàng)目會顯示在畫面的左邊編輯框里:chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第39頁。程序編寫

測試項(xiàng)目編寫完成后,雙擊左邊編輯框內(nèi)測試項(xiàng)目（如下圖):雙擊項(xiàng)目名稱chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第40頁。程序編寫

設(shè)定本項(xiàng)測完關(guān)閉時間chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第41頁。程序編寫

將繼電器狀態(tài)設(shè)定為“01”chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第42頁。

此項(xiàng)設(shè)定完后，點(diǎn)擊“Exit”鍵返回到程序編輯欄，按照以上“37、38、39”的方法并對未設(shè)置的測試項(xiàng)目中的每一項(xiàng)參照規(guī)格書（測試計劃），須仔細(xì)核對產(chǎn)品樣機(jī)和原理圖以及結(jié)合產(chǎn)品本身特點(diǎn)進(jìn)行編寫參數(shù)程序編寫

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設(shè)定完成后：點(diǎn)擊此鍵保存chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第44頁。程序編寫

在“ReportFile”欄點(diǎn)擊“

”鍵選擇需要的報告顯示方式，（通常根據(jù)產(chǎn)品輸出組數(shù)來定義此內(nèi)容）點(diǎn)擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第45頁。程序編寫

以同樣的方式在“SPCLogFile”欄點(diǎn)擊“

”鍵進(jìn)行設(shè)定點(diǎn)擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第46頁。程序編寫輸入機(jī)種名輸入編寫人名完成后點(diǎn)擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第47頁。程序編寫

注意：此項(xiàng)只限于在本機(jī)編寫程序時使用點(diǎn)擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第48頁。程序編寫

從左邊的測試程序設(shè)置菜單中上下拖動光標(biāo)條，選擇所需要進(jìn)行測試的機(jī)種，單擊“OK”鍵進(jìn)入到下一畫面注意：此項(xiàng)只限于在本機(jī)編寫程序時使用chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第49頁。程序編寫

1，系統(tǒng)進(jìn)入到此畫面后點(diǎn)擊“F8”鍵系統(tǒng)進(jìn)入自動檢測負(fù)載階段：

如畫面沒有提示，代表檢測正常，接上產(chǎn)品（必須為OK品）可以點(diǎn)擊“F10”鍵進(jìn)行測試。如畫面出現(xiàn)報錯提示，則需要點(diǎn)擊“Exit”退出此畫面，再進(jìn)入到程序編輯菜單對報錯項(xiàng)進(jìn)行修正后，進(jìn)入到此畫面重新檢測直到?jīng)]有報錯提示后才能進(jìn)行測試。2，測試結(jié)果顯示：

如出現(xiàn)“PASS”，說明可以執(zhí)行下一步操作。如顯示“Finish”,點(diǎn)擊“F3”確認(rèn)不良項(xiàng)目，同樣進(jìn)入程序編輯菜單對程序進(jìn)行修正后重新進(jìn)行測試3，程序測試“PASS”后按“Exit”鍵退出該畫面注意：此項(xiàng)只限于在本機(jī)編寫程序時使用測試結(jié)果顯示chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第50頁。程序編寫

點(diǎn)擊此鍵進(jìn)入到下一畫面chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第51頁。程序編寫

1,點(diǎn)擊“TestProgram”鍵2,選擇需要注冊的機(jī)種名3,點(diǎn)擊“ReleaseDate”鍵選擇發(fā)布日期點(diǎn)擊此鍵chroma測試系統(tǒng)培訓(xùn)資料全文共60頁，當(dāng)前為第52頁。程序編