TYPEC數(shù)據(jù)線規(guī)格書

關(guān)鍵詞：TYPEC、數(shù)據(jù)線之遲辟智美創(chuàng)作摘要：本文介紹了數(shù)據(jù)線的規(guī)格，性能及測試規(guī)范縮略語：1范圍標(biāo)準(zhǔn)適用于TYPEATOC數(shù)據(jù)線需求規(guī)格書，未盡規(guī)格描述以TYPEC協(xié)會規(guī)范V1.1為準(zhǔn).2編寫依據(jù)序號No.文件編號DocNo.文件名稱DocTitle1GJB1217電連接器試驗方法2MILSTD202GTestmethodstandardelectronicandelectricalcomponentparts3GB/T3048電線電纜電性能試驗方法4GB4098射頻電纜試驗方法5EIA364101AttenuationTestProcedureforElectricalConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems6EIA364106StandingWaveRatio(SWR)TestProcedureforElectricalConnectors7EIA364108Impedanee,ReflectionCoefficient,ReturnLoss,andVSWRMeasuredintheTimeandFrequencyDomainTestProcedureforElectricalConnectors,CableAssembliesorInterconnectionSystems8工作電容試驗電橋法9EIA364103PropagationDelayTestProcedureforElectricalConnectors,Sockets,CableAssembliesorInterconnectionSystems10IEC6821基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:寒冷11電工電子產(chǎn)物基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 A:高溫試驗方法12IEC6822基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:干熱13電工電子產(chǎn)物基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 B:高溫試驗方法14IEC68210電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗第2部份：試驗方法試驗J和導(dǎo)則：長霉0020的15電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗第2部份：試驗方法試驗J和導(dǎo)則：長霉J16ASTMG21StandardPracticeforDeterminingResistaneeofSyntheticPolymericMaterialstoFungi17IEC615871Mechanicalstructuresforelectronicequipment —TestsforIEC60917andIEC60297 —Part1Climaticmechanicaltestsandsafetyaspectsforcabinetsrackssubracksandchassis18GR487GenericRequirementsforElectronicEquipmentCabinets19IEC68230基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db及導(dǎo)則：交變濕熱（12+12h循環(huán)）20電工電子產(chǎn)物基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 Db:交變濕熱試驗方法21IEC68252電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗第2部份：試驗試驗Kb:鹽霧，交變（氯化序號No.文件編號DocNo.文件名稱DocTitle鈉浴液）22電工電子產(chǎn)物環(huán)境試驗第2部份：試驗試驗Kb:鹽霧，交變（氯化鈉溶液）23IEC529Degreesofprotectionprovidedbyenclosure(IPcode)24GB4208外殼防護品級（IP代碼）25EIA36438BCablepullouttestprocedureforelectricalconnectors26EIA36441CCableflexingtestprocedureforelectricalconnectors27IEC60950Safetyofinformationtechnologyequipment28EN60950Safetyofinformationtechnologyequipment29UL60950Safetyofinformationtechnologyequipment30GB4943信息技術(shù)設(shè)備的平安31IEC60332Testsonelectriccabiesunderfireconditions32GB/T18380電纜在火焰條件下的燃燒試驗33UL1581Referencestandardforelecticalwires,cables,andflexiblecords34GR1217Genericrequirementsforseparableelectricalconnectorsusedintelecommunicationshardware35GR950GenericRequirementsforOpticalNetworkUnit(ONU)Closures363數(shù)據(jù)線正常工作和存儲條件3.1數(shù)據(jù)線應(yīng)能在下列條件下正常工作：3.1.1工作環(huán)境溫度：20C?+55C；（僅作單體驗證目的，與整機匹配時以整機試驗環(huán)境為準(zhǔn)）；3.1.2相對濕度：5%?95%;3.1.3年夜氣壓力：86kPa?106kPa;3.1.4數(shù)據(jù)線的存儲溫度：40C?+85C;4數(shù)據(jù)線主要參數(shù)4.1數(shù)據(jù)線連線規(guī)格詳細(xì)尺寸以及工藝要求以 3D圖檔為準(zhǔn)1、 typeC金屬插頭，要求必需是整體拉伸成型，不能是折彎成型，不接受接縫；2、 金屬插頭部份，要求做不銹鋼原色，概況噴砂處置50u”?150uMATTNICKELPLATINGOVERALL3、保證至少3A通流能力整條線纜產(chǎn)物詳細(xì)規(guī)格（BOM清單,包括端子圖紙2D&可拆解版本的3D）要有確認(rèn)才華認(rèn)可（認(rèn)證時必需提供以上文件）.4.2線材主體信息：4.2.1外觀5V/3AAplugTOCplug,cover式，白色半霧面，素材細(xì)咬花處置，MT110064.2.2主體結(jié)構(gòu)項目規(guī)格說明長度16mm不含金屬插頭部份顏色白色半霧面材質(zhì)Overmold&Cable&Housing&其他輔料NONPVC無鹵滿足ROSH,且無如下有害物質(zhì)添加：溴系阻燃劑BrominatedFlameRetardants氯系阻燃劑ChlorinatedFlameRetardants聚氯乙烯PolyvinylChloride(PVC)鄰苯二甲酸酯Phthalates三氧化銻AntimonyTrioxide鈹及其化合物Beryllium(Be)anditscompounds接口USBiB receptacle toTYPECplug滿足5V3A其他VoltageRating:30VAC/DC導(dǎo)體材質(zhì)規(guī)格如下:材質(zhì)：鍍錫銅SignalNameWireGauge(AWG)VBUS/GND端到端阻抗不年夜于80mQ絕緣材質(zhì)NONPVC，須滿足5.2章節(jié)測試性能要求423關(guān)鍵尺寸423.1USB2.0Bplug參考協(xié)會規(guī)范4.2.3.2TYPECplug紅圈標(biāo)示尺寸為重點尺寸，其余尺寸依據(jù)協(xié)會規(guī)范要求各組件BOMLIST原資料信息需明確到具體牌號4.2.3.3鍍層厚度測試區(qū)域規(guī)定關(guān)于鍍層測試區(qū)域和方法：TYPEC/A:TYPEC/A發(fā)生接觸的關(guān)鍵區(qū)域為 PIN針頭部觸點，因此鍍層工藝為考慮本錢一般只覆蓋 PIN針觸點位置，其他區(qū)域為flashAu,所以鍍層的量測范圍界說在PIN針觸點弧頂?shù)淖罡咛?.2.4線序Table320USBTypeCtoUSB2.0AMWiringUSBTypeCPlugUSB2.0AMPinSignalNamePinSignalName

A1,B1,A12,B12GND4GNDA4,B4,A9,B9VBUS1VBUSA5CCA6Dp13D+A7Dn12D-ShellShieldShellShieldNotes:PinA5(CC)oftheUSBTypeCplugshallbeconnectedtoVBUSthrougharesistorRp.SeeSection4.5.322andTable413forthefunctionaldescriptionandvalueofRp.ContactsB6andB7shouldnotbepresentintheUSBTypeCplug.AllVBUSpinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBTypeCplug.BypasscapacitorsarenotrequiredfortheVBUSpinsatthiscable.AllGroundreturnpinsshallbeconnectedtogetherwithintheUSBTypeCplug.AllUSBTypeCplugpinsthatarenotlistedinthistableshallbeopen(notconnected).Table413DFPCCTermination(Rp)RequirementsDFPAdvertisementCurrentSourceto1.7-5.5VResistorpullupto4.75-5.5VResistorpullupto3.3V±5%DefaultUSBPower80uA士20%56kQ士20%(Note-)36kQ士20%1.5A@5V180uA士8%22kQ士5%12kQ士5%3.0A@5V330uA士8%10kQ士5%4.7kQ士5%Notes:1.ForRpwhenimplementedintheUSBTypeCplugonaUSBTypeCtoUSB3.1StandardACableAssembly,aUSBTypeCtoUSB2.0StandardACableAssembly,aUSBTypeCtoUSB2.0MicroBReceptacleAdapterAssemblyoraUSBTypeCcaptivecableconnectedtoaUSBhost,avalueof56k Q士5%sshallrlDerdertoprovidetoleraneetoIRdroponVBUSandGNDinthecableassembly.5技術(shù)要求5.1 線材外觀要求5.1.1線材外觀要求如下:外觀金屬插頭/pin腳檢查1、 參照樣品和PDM圖紙檢驗，線纜兩端插頭的結(jié)構(gòu)外型（型號）要求與樣品一致；2、 插頭不允許氧化/生銹、殘缺、變形；3、 用干布（無塵布）能擦除的臟污，允許；用干布（無塵布）不能擦除的臟污，不允許；【注：金屬插頭臟污不良超越 1%（不良數(shù)/樣本數(shù)）時，提交分歧格電子流確認(rèn)】4、 插頭上不允許有油漬；5、 劃痕L<2mm,WS0.1mm用手觸摸無深度感，允收一條；6、 USBA公插頭內(nèi)不允許有溢膠的現(xiàn)象；7、 USBA公插頭內(nèi)的連接器PIN腳不允許氧化/生銹、翹高、變形、PIN腳內(nèi)陷/斷裂不良；標(biāo)簽檢查1、 參照樣品和PDM圖紙檢驗，標(biāo)簽上的印刷圖案和字體要求一致；2、 標(biāo)簽不允許破損、漏貼；注塑部位1、注塑部位（USBA公外膜、DC插頭外膜、磁環(huán)外膜）不允許缺

膠、破損；2、 合模線（毛邊）H<0.2mm3、水口位（毛邊）在不刺手的前提下， HW1mm可接收；4、壓痕L<5mm,WW0.2mm,USBA公外膜每面允收一條， DC外膜允收一條；5、點狀壓痕DW1.5mm,USBA公外膜每面允收一條， DC外膜允收一條；線材外觀1、 線材不允許有破損、漏銅；2、 線材上不允許有臟污；3、 點狀壓痕DW2.5mm,DS>25mm,允收6個；4、 線狀壓痕LW5mmWW1mm,DS>25mm,允收3條；扎帶下的壓痕允許；5、有感刮傷：LW5mm,WW1mm,DS>25mm,允收2條；無感刮傷：LW30mm,WW1mm,DS>30mm,允收3條;未盡事宜參考《終端數(shù)據(jù)線檢驗通用把持指導(dǎo)書》5.2線材性能要求TestconditionTemperature:15°Cto35CAirpressure:86to106kPaRelativehumidity:25%to85%NOTestdescriptionTestprocedurePerformaneeRelatedstandard1插拔耐久測試數(shù)據(jù)線插頭無破損，配件插頭尺寸在規(guī)格內(nèi)，接觸良好，電氣性能正常.測試前，測試后插拔力應(yīng)滿足要求，樣品外觀結(jié)構(gòu)、功能及電氣性能應(yīng)正常，允許端子接觸點概況有正常磨損，但不允許有物理損壞以拔出力和拔出力測試標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)，測試TYPEC端子插拔次數(shù)10000次（正反方向各5000次，每2500次換一個方向）做元25次插拔之后，插拔力變動不能超越33%A公插拔1500次測試結(jié)束后端子外觀無異常、插拔力需要滿足要求EIA364092拔出力EIA36413插拔耐久測試前后：TypeC:拔岀力5?20N；USBAM:35N（MAX）EIA364133拔出力EIA36413插拔耐久測試前后：TypeC:拔岀力8?20NUSBAM:10N（Min）EIA36413

4滾筒測試跌落高度1米，跌落次數(shù)150次，每50檢查一次，跌落速度參考值 1012次/分次(以跌落在滾筒鐵板中心位置為準(zhǔn))測試后，樣品外觀、機械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和電氣性能正應(yīng)常的5端子強度測試1.F1/F2(+/Y) =50N，做到75N觀察損壞 情 況F3,F4(+/X) =50NF5(+Z) =100NF1和F2方向的測試均采納新樣品測試，F(xiàn)3F5方向視情況進行互用施力點為接口到 SR處15mm(從外殼平面量起15mm；如SR缺乏15mm，以SR的末端為施力位置，如SR末端剛性缺乏以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置)測試速度：5mm/min上下左右4個方向力量要求年夜于5.0Kg，拔岀方向要求年夜于10Kg，連接器不允許有失效，接口允許有可恢復(fù)的變形，數(shù)據(jù)線電氣性能正常；結(jié)構(gòu)無松脫，無斷裂6殼體抗拉脫器件選型標(biāo)準(zhǔn)：公頭鐵殼上掛重10kgf，繼續(xù)時間1分鐘進料檢驗標(biāo)準(zhǔn)：公頭鐵殼上掛重6kgf，繼續(xù)時間1分鐘兩端殼體都需要測試抗拉脫力，測試后兩端殼體不應(yīng)有脫落現(xiàn)象7端子強度耐久測試測 試 力： F仁F2=2kgf測試次數(shù)：2000次/方向；施力點為接口到 SR處15mm(從靠近金屬頭尾部量起 15mm.如SR缺乏15mm，以SR的末端為施力位置，如SR末端剛性缺乏以施加力，則以剛性位置的末端為施力位置)；測試速度：1015次/min數(shù)據(jù)線外觀結(jié)構(gòu)、功能及電氣性能應(yīng)正常，端子不應(yīng)有損壞或嚴(yán)重變形8端子鍍層膜厚膜厚測試儀.TypeC端/uB母座.最少樣品數(shù)量：每個端子 3pcsTypeC/BplugPlatinggoldAu不小于30aPhgNi不小于809制品電阻測試1、 CTOA測試2、 屏蔽層測試殼對殼3、 壽命前后均要滿足阻抗要求25C時實驗室測試標(biāo)準(zhǔn)：線材規(guī)格1M,電 源22AWG10溫升測試TYPECVbus/GND通電5A（4對pin），USBAM單VBUS/GND通電3ATYPEC/USBAM非電源pin腳通流0.25A；利用shield//GND回流，通流不低于3A25C時測試溫度穩(wěn)定30分鐘后測試針對plug單體和cable組件整體的兩項測試均需滿足任意點溫升不允許超越30度USBTypeCCable andConnectorSpecification11接觸阻抗LLCR是從REC焊接點的尾部到Plug焊點,包括Plug端和Rec所有內(nèi)部的VBUS/GND初始接觸阻抗30mQ,其他pin初始接觸阻抗連接器

端子和PaddleCards*使用四線測試法*測試電壓20mV最年夜，電流100mA.40mQMax最年夜所有Pin環(huán)境測試后LCCR最年夜增量為10mQ13耐壓測試兩兩pin之間打（含外殼）14絕緣電阻兩兩pin之間打（含外殼）認(rèn)證測試：300VDC60S100MQ15高溫存儲轉(zhuǎn)接頭：（70+2）C,24H完成后返回常溫停留 24小時以上，進行測試連接器：（105±2）C,120H完成后返回常溫停留 24小時以上，進行測試部品外觀無損壞；線纜電氣性能正常16高溫存儲（40±2）C,120H完成后返回常溫停留 24小時以上，進行測試樣品外觀無損壞；線纜電氣性能正常17溫度沖擊采納兩箱法，高溫40C，高溫70C，高高溫各停留很多于 20分鐘，最年夜轉(zhuǎn)換時間為 20秒，10個循環(huán).測試后，樣品外觀、機械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和電氣性能應(yīng)正常18鹽霧測試5%NaCI,35°C,連續(xù)噴霧48小時（針對pin針，uB鐵殼部份應(yīng)可接受至少24H連續(xù)噴霧），噴霧時接口需斜向下放置，確保鹽霧能進入，但同時不能在接口中形成積水.然后移岀進行2小時晾干.試驗后，樣品外觀應(yīng)無明顯銹蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象.VBUS/GND初始接觸阻抗30nQ,其他pin初始接觸阻抗40nQMax最年夜，所有Pin環(huán)境測試后LCCR最年夜增量為10mQ（僅針對連接器）EIA36419高溫高濕試驗溫度（70±2）C，濕度（85±）%RH，進行168小時樣品外觀無損壞；主要考察膠料和線料20交變濕熱25?55C，相對濕度（ 95±3）%,168小時測試后，樣品外觀、機械結(jié)構(gòu)應(yīng)正常，功能和電氣性能應(yīng)正常主要考察端子21混合氣體腐蝕測試測試時間：7天，產(chǎn)物狀態(tài)：5天非配插，5天配插，溫濕度：70%RH，30C,氣體種類：Cl2:10+/3ppb,NO2:200+/50ppb,H2S:10+/5ppb,SO2:100+/20ppb試驗后，樣品外觀應(yīng)無明顯腐蝕、變色、及鍍層剝落等現(xiàn)象，功能應(yīng)正常.VBUS/GND初始接觸阻抗30nQ,其他pin初始接觸阻抗40nQMax最年夜，所有Pin環(huán)境測試后LCCR最年夜增量為10連接器

mQ（僅針對連接器）22耐化學(xué)溶劑測試將家用化學(xué)物品（1.護手霜；2.防曬乳液；3.口紅；4.化妝粉底；5.驅(qū)蟲凍膠；6.食用油，所用化學(xué)用品型號或配方為我司終端現(xiàn)有用品）涂在線纜、SR、殼體上.放置72小時后用水清洗失落家用化學(xué)品再放置兩個小時后檢查2.將以下溶劑（1.汽油；2.酒精；3.人工汗液；4.5%食鹽水，所用化學(xué)用品型號或配方為我司終端現(xiàn)有用品）涂在線纜、 SR、殼體上.放置72小時（汽油放置24小時）后用水清洗失落溶劑再放置兩個小時后檢查線纜、SR、殼體不會有明顯腐蝕、開裂23耐UV輻射測試耐UV輻照進行1個循環(huán)為24小時的測試，具體為在干熱 40C下，太陽輻射強度為 1120W/就，堅持20小時，再關(guān)閉太陽輻射源4小時，試驗繼續(xù)循環(huán)96小時24EMCEMCclassA標(biāo)準(zhǔn)CE/FCC25DifferentialImpedaneeThistestensuresthattheD+/D-linesofthecableassemblyhavetheproperimpedanee.Fortheentirecableassembly.75ohmsminand105ohmsmax.400psrisetime(20%80%).EIA36410826PropagationDelayThepurposeofthetestistoverifytheendtoendpropagationoftheD+/D-linesofthecableassembly.20nsmax.400psrisetime(20%80%).EIA36410327IntrapairSkewThistestensuresthatthesignalonboththeD+andD-linesofcableassemblyarriveatthereceiveratthesametime.100psmax.400psrisetime(20%80%).EIA364-103D+/D-PairAttenuationThistestensurestheD+/D-pairofacableass