Minitab操作指南專業(yè)知識(shí)講座

Minitab操作指南第1頁(yè)統(tǒng)計(jì)DOE田口法創(chuàng)建田口設(shè)計(jì)統(tǒng)計(jì)DOE田口法分析田口設(shè)計(jì)一、正交表試驗(yàn)設(shè)計(jì)第2頁(yè)二、測(cè)量系統(tǒng)分析線性與偏倚分析MINITAB提供五種進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)精確性分析辦法，1）GageRunChart,2）GageR&R(Crossed),3）GageR&R(Nested),4）AttributeGageStudy(AnalyticMethod)第3頁(yè)GagelinearityandbiasstudyStat>qualitytools>gagestudy>gagelinearityandbiasstudy第4頁(yè)輸入?yún)?shù)這個(gè)數(shù)據(jù)怎么來？第5頁(yè)輸出成果第6頁(yè)GageRunChart提供各測(cè)量數(shù)據(jù)鏈圖，幫助你分析不一樣操作者和工件之間測(cè)量成果差異；GageR&R(Crossed)用于分析當(dāng)每一被測(cè)工件都能夠被多種操作者反復(fù)測(cè)量時(shí)GR&R分析；GageR&R(Nested)用于分析當(dāng)每一被測(cè)工件不能夠被多種操作者反復(fù)測(cè)量（即進(jìn)行破壞性測(cè)量）時(shí)GR&R分析；上述三種選擇均針對(duì)計(jì)量型（連續(xù)型）數(shù)據(jù)而言。AttributeGageStudy(AnalyticMethod)則是針對(duì)計(jì)數(shù)型（邏輯型）數(shù)據(jù)分析。第7頁(yè)Minitab中操作stat>qualitytools>gagestudy>gageR&Rstudy(crossed)；MINITAB提供了兩種分析辦法，XBARandR法和ANOVA法，能夠在在進(jìn)行實(shí)際分析時(shí)選擇二者中一種。其中前者將總體偏差分解為工件與工件之間（part-to-part）偏差，反復(fù)性（repeatability）及再現(xiàn)性（reproducibility）三種，而后者則深入將再現(xiàn)性（reproducibility）分化為操作者偏差及操作者與被測(cè)工件之間交互偏差，由上，我們提議一般采取ANOVA法進(jìn)行計(jì)量型數(shù)據(jù)非破壞性測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)分析，不推薦使用XBARandR辦法。第8頁(yè)在對(duì)話框中設(shè)置如下，選擇ANOVA辦法第9頁(yè)點(diǎn)擊“gageinfo”,輸入量具信息，點(diǎn)擊“options”,輸入設(shè)置選項(xiàng)如下列圖USL-LSL=0.50上規(guī)范限(USL)下規(guī)范限(LSL)第10頁(yè)分別點(diǎn)擊OK后即可得分析成果如下：第11頁(yè)第12頁(yè)GageR&Rstudy(Nested)Stat>QualityTools>GageStudy>GageR&RStudy(Nested).同一測(cè)量部件不能被多種測(cè)量員測(cè)量，但可由同一測(cè)量員測(cè)量數(shù)次。第13頁(yè)在對(duì)話框中設(shè)置如下，第14頁(yè)分別點(diǎn)擊OK后即可得分析成果如下：第15頁(yè)第16頁(yè)AttributeGageStudystat>qualitytools>gageAttributeGageStudy(AnalyticMethod).MINITAB提供了兩種數(shù)據(jù)構(gòu)造分析，一為頻數(shù)表，二為原始數(shù)據(jù)。在這里我們使用頻數(shù)表數(shù)據(jù)。第17頁(yè)在對(duì)話框中設(shè)置如下，第18頁(yè)分別點(diǎn)擊OK后即可得分析成果如下：第19頁(yè)GageRunChartStat>QualityTools>GageStudy>GageRunChart.提供各測(cè)量數(shù)據(jù)鏈圖，幫助你分析不一樣操作者和工件之間測(cè)量成果差異；第20頁(yè)在對(duì)話框中設(shè)置如下，第21頁(yè)分別點(diǎn)擊OK后即可得分析成果如下：第22頁(yè)MINITAB計(jì)量型工序能力指數(shù)分析操作CapabilityAnalysis(Normal)CapabilityAnalysis(Between/Within)CapabilityAnalysis(Weibull)CapabilitySixpack(Normal)CapabilitySixpack(Between/Within)CapabilitySixpack(Weibull)第23頁(yè)CapabilityAnalysis(Normal)該命令會(huì)劃出帶理論正態(tài)曲線直方圖，這可直觀評(píng)定數(shù)據(jù)正態(tài)性。輸出報(bào)告中還包括過程能力統(tǒng)計(jì)表，包括子組內(nèi)和總體能力統(tǒng)計(jì)。操作：MINITAB->STAT->QUALITYTOOL->NORMAL第24頁(yè)案例樣本X1X2X3X4X5199.7098.72100.24101.28101.20299.32100.97100.8799.2498.21399.8999.83101.4899.56100.90499.1599.7199.1799.3098.80599.66100.80101.06101.16100.45697.7498.8299.2498.6498.737101.18100.2499.6299.3399.918101.54100.96100.62100.67100.499101.49100.6799.36100.38102.101097.1698.2697.59100.0999.78現(xiàn)有某工序五組樣本數(shù)據(jù)如下，已知上規(guī)格103下規(guī)格97，規(guī)格中心100，求其工序能力指數(shù)。第25頁(yè)輸入選項(xiàng)輸入上下規(guī)格界限根據(jù)不一樣數(shù)據(jù)輸入方式選擇分析辦法Box-Cox轉(zhuǎn)換第26頁(yè)選擇標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)辦法一般選擇復(fù)合標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)方式第27頁(yè)選項(xiàng)輸入假如需要計(jì)算Cpm則需要輸入目標(biāo)值過程能力體現(xiàn)形式選擇第28頁(yè)以Cpk,Ppk成果輸出樣本數(shù)值超過度析規(guī)格界限分布率模擬曲線落在控制線以外分布率第29頁(yè)以Zbench方式輸出Z能力是指（Usl-Lsl）/2σ＝3Cpk第30頁(yè)CapabilityAnalysis(Between/Within)該命令會(huì)劃出帶理論正態(tài)曲線直方圖，能夠直觀評(píng)定數(shù)據(jù)正態(tài)性。該命令適用于子組間存在較大變差場(chǎng)所。輸出報(bào)告中還包括過程能力統(tǒng)計(jì)表，包括子組間／子組內(nèi)和總體能力統(tǒng)計(jì)。操作：MINITAB->STAT->QUALITYTOOL->Between/Within第31頁(yè)第32頁(yè)CapabilityAnalysis(Nonnormal)此項(xiàng)分析是用在當(dāng)制程不是展現(xiàn)正態(tài)分布時(shí)所使用。由于假如制程不是正態(tài)分布硬用正態(tài)分布來分析時(shí)，容易產(chǎn)生誤差，因此此時(shí)能夠使用其他分布來進(jìn)行分析，會(huì)更貼近真實(shí)現(xiàn)像。操作：MINITAB->STAT->QUALITYTOOL->Nonnormal第33頁(yè)練習(xí)請(qǐng)使用同前之?dāng)?shù)據(jù)來進(jìn)行分析。上規(guī)格：103下規(guī)格：97規(guī)格中心：100第34頁(yè)輸入有關(guān)參數(shù)Select:Stat>QualityTools>Nonnormal第35頁(yè)填入選項(xiàng)要求第36頁(yè)成果圖形第37頁(yè)Minitab可提供控制圖計(jì)量型Xbar-RXbar-sI-MRI-MR-sZ-MR計(jì)數(shù)型PNpCU第38頁(yè)Xbar-R

Select:Stat>ControlChart>Variableschartsforsubgroups>Xbar-R第39頁(yè)輸入?yún)?shù)第40頁(yè)鑒別準(zhǔn)則第41頁(yè)輸出成果第42頁(yè)I-MR

Select:Stat>ControlChart>Variableschartsforsubgroups>I-MR第43頁(yè)輸出成果第44頁(yè)CapabilitySixpack(Normal)復(fù)合了下列六個(gè)圖形XbarR原始數(shù)據(jù)分布（plot）直方圖正態(tài)分布檢定CPK,PPK第45頁(yè)第46頁(yè)五、SQC工具Pareto圖因果圖直方圖散點(diǎn)圖第47頁(yè)1.Pareto圖項(xiàng)次缺陷項(xiàng)數(shù)量1虛焊5002漏焊3003強(qiáng)度不夠2004外觀受損1505其他160第48頁(yè)輸入數(shù)據(jù)（使用頻率數(shù)）操作:Stat>Qualitytools>ParetoChart第49頁(yè)填好各項(xiàng)參數(shù)輸入缺陷列輸入頻數(shù)列其他項(xiàng)所占比率第50頁(yè)成果輸出第51頁(yè)輸入數(shù)據(jù)（使用原始數(shù)據(jù)）操作:Stat>Qualitytools>ParetoChart第52頁(yè)填好各項(xiàng)參數(shù)第53頁(yè)成果輸出第54頁(yè)輸入數(shù)據(jù)（使用分層數(shù)據(jù)）操作:Stat>Qualitytools>ParetoChart第55頁(yè)填好各項(xiàng)參數(shù)第56頁(yè)成果輸出第57頁(yè)2、因果分析圖人機(jī)料法環(huán)測(cè)不夠純熟設(shè)備沒有保養(yǎng)原料沒有檢查沒有設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)化措施溫度太高儀器偏差太大培訓(xùn)不夠設(shè)備不常清掃原料含水太高抽樣方式不合理濕度太高儀器R&R太高監(jiān)督不夠沒有進(jìn)行首模驗(yàn)收第58