凌達光電品質(zhì)訓(xùn)練制程能力分析

GIANTPLUSOPTOELECTRONICS製程能力分析凌達光電品質(zhì)訓(xùn)練第一頁，共二十頁。GIANTPLUSOPTOELECTRONICS大綱名詞解釋製程能力分析步驟第二頁，共二十頁。GIANTPLUSOPTOELECTRONICS變異一般與特殊原因一般原因:製程中某些微小而不可避免的原因,現(xiàn)象所此造成之分配與時間的關(guān)系是穩(wěn)定而可重複,可預(yù)測的.特殊原因:製程中不常發(fā)生但造成製程變異的原因,此現(xiàn)象所造成之分配與時間的關(guān)系是不穩(wěn)定且無法預(yù)期的名詞解釋第三頁，共二十頁。GIANTPLUSOPTOELECTRONICS製程能力當我們的製程處于穩(wěn)定狀態(tài)時,即對製程進行研究分出一般原因與特殊原因,消除特殊原因,只存在一般原因,此時的製程狀況處于穩(wěn)定狀態(tài)即是我們所謂的製程能力偵查製程是否處于穩(wěn)定狀態(tài),需要借助于管制圖,通過管制圖找出一般原因與特殊原因,確定製程狀況,方可進行製程能力分析第四頁，共二十頁。GIANTPLUSOPTOELECTRONICS製程準確度Ca(Capabilityofaccuracy)生產(chǎn)中所獲得產(chǎn)品資料的實績平均值(X)與規(guī)格中心值(u)其間偏差的程度即稱之為(製程準確度),即衡量製程平均值與規(guī)格中心值兩者間的一致性Ca=實際平均值-規(guī)格中心值規(guī)格公差/2*100%=(x-u)/T/2*100%注明:當為單邊規(guī)格時無Ca值第五頁，共二十頁。GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCa值的評估Ca值越小,品質(zhì)越佳,為了便于區(qū)分製程實績值(X)的好壞一般將Ca值分成4個等級作為評估的標準.A級:理想的狀態(tài)故維持現(xiàn)狀B級:盡可能調(diào)整﹑改進為A級C級:應(yīng)立即檢討並予以改善D級:采取緊急措施,並全面檢討,必要時應(yīng)考慮停止生產(chǎn)第六頁，共二十頁。Ca反應(yīng)工序?qū)嶋H平均值與規(guī)格中心值之間的差異GIANTPLUSOPTOELECTRONICSUCLLCL規(guī)格中心值製成平均值Ca=23%第七頁，共二十頁。GIANTPLUSOPTOELECTRONICS製程精密度Cp(Capabilityofprecision)以規(guī)格公差(T)與自生產(chǎn)中所獲得產(chǎn)品資料的6個估計績標準差()其間相差程度,即在衡量規(guī)格公差範圍與製程變異寬度兩者之間相差的程度

Cp值=規(guī)格公差6個估計實績標準差=T/6雙邊規(guī)格時第八頁，共二十頁。GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值=規(guī)格上限-平均值3個估計實績標準差=USL-X/3Cp值=3個估計實績標準差=X-LSL/3單邊規(guī)格時規(guī)格下限-平均值第九頁，共二十頁。GIANTPLUSOPTOELECTRONICSCp值的評估Cp值越大,品質(zhì)越佳,為了便于區(qū)分製程實績估計標準差的好壞,一般將Cp值分成5個等級作為評估的標準.第十頁，共二十頁。A+級:產(chǎn)品變異如大一些也不要緊,考慮管理的簡單化或成本降低方法A級:理想的狀態(tài)故維持現(xiàn)狀B級:確實進行製程管理,使其保持在管制狀態(tài),當Cp

接近於1時,恐怕會產(chǎn)生不良品,盡可能改善為A級C級:生產(chǎn)不良品,產(chǎn)品須全數(shù)選別,並管理,改善製程D級:品質(zhì)無法在滿足的狀態(tài),須進行品質(zhì)的改善,探求原因.須要採取緊急對策,並重新檢討規(guī)格GIANTPLUSOPTOELECTRONICS第十一頁，共二十頁。uLSLUSLCp說明尺寸分布的范圍大小﹐並不說明尺寸分布跼中心位置的遠近

GIANTPLUSOPTOELECTRONICS規(guī)格中心值,製成中心值製成中心值Cp=1第十二頁，共二十頁。製程能力指數(shù)Cpk將Ca與Cp兩值同時參考而對製程作一個客觀評價的指標即Cpk,既考慮到變異的寬度,又考慮實績平均值與規(guī)格中心值兩者的比較.其計算公式有兩種Cpk=(1-K)T6=(1-|Ca|

)CpK=|X-u|T/2=|Ca|(1)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS第十三頁，共二十頁。當Ca=0時Cpk=Cp(單邊規(guī)格時,Cpk即以Cp值計之)=Rd2(2)Cpk=Zmin3Zmin=[Su-X與-(Sl-X)]的最小值d2之參考表GIANTPLUSOPTOELECTRONICS(1)(2)=

i=1n(Xi-X)n-1(X為所有數(shù)據(jù)之平均值)=Rd2Zmin=[Su-X與-(Sl-X)]的最小值i=1n(Xi-X)n-1

=

3第十四頁，共二十頁。示例:在內(nèi)胎壓出工程其長度規(guī)格為750+/-10mm,而十一月份壓出工程長度之實際平均值為749mm,實際估計標準差為4mm,計算十一月份之Ca,Cp,Cpk為何?十一月份Ca值=(x-u)/T/2*100%=(749-750)/10*100%=-10%(A級)Cp=T/6=20/6*4=0.83(C級)Cpk=Cp*(1-|Ca|)=0.83*(1-|-10%|)=0.747(C級)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS第十五頁，共二十頁。示例:GIANTPLUSOPTOELECTRONICS第十六頁，共二十頁。第十七頁，共二十頁。ProcessCapability第十八頁，共二十頁。製程能力分析步驟確切了解要調(diào)查的品質(zhì)特性與調(diào)查範圍確定製程是處于穩(wěn)定的狀態(tài)計算製程能力指數(shù)判斷製程能力是否足夠,如不足時,則加以改善這四個步驟可以循環(huán)使用,直到獲得滿意的製程能力為止.GIANTPLUSOPTOELECTRONICS第十九頁，共二十頁。內(nèi)容總結(jié)GIANTPLUSOPTOELECTRONICS。GIANTPLUSOPTOELECTRONICS。特殊原因:製程中不常發(fā)生但造成製程變異的原因,此現(xiàn)象所造成之分配與時間的關(guān)系是不穩(wěn)定且無法預(yù)期的。製程準確度Ca(Capabilityofaccuracy)。(x-u)/T/2*100%。Ca值越小,品質(zhì)越佳,為了便于區(qū)分製程實績值(X)的