
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
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改善SC312FT測(cè)試穩(wěn)定性
測(cè)試一廠R340黃敬晉中正大學(xué)電機(jī)系華邦電子測(cè)試二廠測(cè)試工程師
林廷慶臺(tái)灣技術(shù)學(xué)院機(jī)械系華邦電子測(cè)試二廠測(cè)試工程師許瑞仁義守大學(xué)電子系華邦電子測(cè)試二廠測(cè)試工程師R340DOEIMPROVETEAMOUTLINE
現(xiàn)況分析要因分析第一階段實(shí)驗(yàn)第二階段實(shí)驗(yàn)第三階段再現(xiàn)性實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化選題理由SC312TESTERFT測(cè)試輕易發(fā)生兩頭差異,使得機(jī)臺(tái)穩(wěn)定性不佳。因兩頭差異旳產(chǎn)生,造成良率loss,批結(jié)良率不高。利用“D.O.E”手法,找出最佳生產(chǎn)條件,以提升測(cè)試效率?,F(xiàn)況分析R340現(xiàn)況分析(1)SC312測(cè)試FT7/8/9月各機(jī)臺(tái)MTBF比較TestingI/R340現(xiàn)況分析(2)TestingI/R340現(xiàn)況分析(3)TestingI/R340SC-4測(cè)試SB55213/4/5/6/7/8月平均良率預(yù)期目標(biāo)求穩(wěn)–
1.機(jī)臺(tái)MTBF>1500分鐘2.兩頭差異當(dāng)機(jī)INDEX貢獻(xiàn)<2.0%求準(zhǔn)–
1.正批測(cè)試良率(批結(jié)不重測(cè))>97%TestingI/R340要因分析R340特征要因圖為何FT測(cè)試會(huì)有兩頭差異Tester有問(wèn)題PE/card有問(wèn)題PE/card品質(zhì)不良PE/cardlevelshiftTestheadmount機(jī)不佳Head與handlermount機(jī)位置不佳Tester位置不佳head沒(méi)水平Head水平位置不正支撐架支撐不當(dāng)太緊太鬆Contact不良Contact壓力不當(dāng)太大太小Socket不良Socket阻值太大測(cè)太久氧化沾有異物Socket損壞壓2顆IC測(cè)太久變形Contactblade不良?jí)汉厶顗鹤鶕p壞Contactblade安裝不良?jí)|片厚度不當(dāng)線貨有問(wèn)題包裝有問(wèn)題膠體太厚膠體太薄POGOpin有問(wèn)題凹陷線貨yield不佳太厚太薄測(cè)太久壓2顆ICContact壓力太大L/Board有問(wèn)題L/B上焊點(diǎn)不佳L/B斷線豐田原則像話原則特征要因圖為何FT測(cè)試會(huì)有兩頭差異Testheadmount機(jī)不佳Head與handlermount機(jī)位置不佳Tester位置不佳head沒(méi)水平Head水平位置不正支撐架支撐不當(dāng)太緊太鬆Contact不良Contact壓力不當(dāng)太大太小Socket不良Socket阻值太大測(cè)太久氧化沾有異物Socket損壞壓2顆IC測(cè)太久變形Contactblade不良?jí)汉厶顗鹤鶕p壞Contactblade安裝不良?jí)|片厚度不當(dāng)太厚太薄測(cè)太久壓2顆ICContact壓力太大豐田原則像話原則要因分析TestingI/R340實(shí)驗(yàn)因子篩選表因子選擇步驟一:控制力篩選步驟二:技術(shù)性篩選母數(shù)1.水準(zhǔn)可被指定2.指定之水準(zhǔn)有自主權(quán)
策略一:第一階段實(shí)驗(yàn)–篩選主要因子
策略二:第二階段實(shí)驗(yàn)–找出最佳生產(chǎn)條件
策略三:
再現(xiàn)性實(shí)驗(yàn)
實(shí)驗(yàn)策略有清楚旳實(shí)驗(yàn)策略比急著去做實(shí)驗(yàn)更主要第一階段實(shí)驗(yàn)R340直交配置TestingI/R340實(shí)驗(yàn)因子篩選表
實(shí)驗(yàn)策略:篩選主要因子第一階段實(shí)驗(yàn)?zāi)繒A:篩選因子因子:多水準(zhǔn):少ANOVA結(jié)果:顯著建議配置:2N型(L16)直交配列表TestingI/R340121315104121411356GBAFDCe798L162
點(diǎn)線圖15ExperimentPlan
實(shí)驗(yàn)隨機(jī)編號(hào)
實(shí)驗(yàn)配置順序A-SupporterB-Tester水平角度C-Socket測(cè)試次數(shù)D-DropIn測(cè)試F-Machine速度G-Contact壓力14A1B1C1D2F2G125A2B1C2D1F2G1311A1B2C1D2F1G2412A2B1C1D2F2G2514A2B2C2D1F1G262A2B2C1D1F2G171A1B1C1D1F1G188A2B1C2D2F1G199A2B1C1D1F1G2103A2B2C1D2F1G11116A1B1C2D2F1G2126A1B2C2D1F1G1137A1B2C2D2F2G11410A1B2C1D1F2G21513A1B1C2D1F2G21615A2B2C2D2F2G2TestingI/R340TestingResultTestingI/R340ANOVAanalysis(1)
TestingI/R340St=4725.00@(%).=81.69%
St=3263.75@(%).=86.74%
Yield_DifferentANOVA分析表TotalYieldANOVA分析表
ANOVAanalysis(2)
TestingI/R340TotalYieldVARIANCEYield_DifferentVARIANCEANOVAanalysis(3)
TestingI/R340Totalyield貢獻(xiàn)度柏拉圖Yield_different貢獻(xiàn)度柏拉圖TestingI/R340ANOVAanalysis(4)
Total_yield交互作用分析Yield_different交互作用分析TestingI/R340ANOVAanalysis(5)
第一階段實(shí)驗(yàn)結(jié)論
CrossTableTestingI/R340兩害相權(quán)取其輕兩利相權(quán)取其重第二階段實(shí)驗(yàn)R340最佳生產(chǎn)條件期望端定義:1.生產(chǎn)成本要低2.產(chǎn)品品質(zhì)要好
第一階段實(shí)驗(yàn)結(jié)論成本考量有利端保險(xiǎn)端(水準(zhǔn)一)(水準(zhǔn)三)(水準(zhǔn)二)直交配置TestingI/R3403N型直交配置實(shí)驗(yàn)常數(shù)項(xiàng)策略二:找出最佳生產(chǎn)條件第二階段實(shí)驗(yàn)?zāi)繒A:找出最佳生產(chǎn)條件因子:少水準(zhǔn):多ANOVA結(jié)果:不顯著建議配置:3N型(L27)直交配列表TestingI/R340CeGF125,6,7,8,10,11,12,133,49L273
點(diǎn)線圖13第二階段實(shí)驗(yàn)配置TestingI/R340直交配列表隨機(jī)實(shí)驗(yàn)TestingResultTestingI/R340TestingI/R340ST=71.18@(%).=22.79%ANOVAanalysis(1)
ANOVAResultVARIANCE無(wú)顯著因子!!!TestingI/R340ANOVAanalysis(2)
貢獻(xiàn)度柏拉圖隨機(jī)誤差第二階段實(shí)驗(yàn)結(jié)論TestingI/R340最佳生產(chǎn)條件第三階段再現(xiàn)性實(shí)驗(yàn)Seeingisbelieving!!ExperimentPlanTester&Handler:SC-4SEIKO-4Product:SB5521FactorSettings:第二階段實(shí)驗(yàn)之最佳生產(chǎn)條件DataCollection:10/16–10/23觀察重點(diǎn):機(jī)臺(tái)穩(wěn)定性
及測(cè)試良率TestingI/R340MachineStabilityTestingI/R340註:10/16–10/23RTCRECORD表達(dá)當(dāng)機(jī)表達(dá)生產(chǎn)表達(dá)工程表達(dá)setupSC-4測(cè)試狀況Conclusion(1)TestingI/R340SC-4測(cè)試週MTBF比較MachineStabilityRaise!MTBF=8512分TestYield(Histogram)TestingI/R340Realtime測(cè)試良率統(tǒng)計(jì)量分配分析TestingI/R340(σ=0.72%)(μ=97.79%)LCL=μ-3σxTestYield(realtime_spc)TestingI/R340σx=σ/√nTestYield(bylot)AverageYield=97.20%TestingI/R34010/16–10/23各批測(cè)試良率Conclusion(2)TestingI/R34097.59%96.29%94.10%97.19%96.87%96.79%92%93%94%95%96%97%98%MarchAprilMayJuneJulyAugustOctober(16-23)月份良率Testin
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