NI 利用模塊化硬件幫助提高PCB的生產(chǎn)測試效率-基礎(chǔ)電子

精品文檔-下載后可編輯NI利用模塊化硬件幫助提高PCB的生產(chǎn)測試效率-基礎(chǔ)電子多年來，NI一直專注于軟件將其測試設(shè)備連接在一起并獲得開發(fā)時(shí)的數(shù)據(jù)，以幫助科技公司縮短產(chǎn)品上市時(shí)間并構(gòu)建更好的產(chǎn)品。

但在其年度NIConnect活動中，NI還推出了一種名為TestScale的新硬件產(chǎn)品，用于測試消費(fèi)電子、醫(yī)療和其他大容量電子設(shè)備的電路板。

TestScale基于模塊化的現(xiàn)成硬件。NI表示，客戶可以將數(shù)字和模擬I/O和電源模塊插入底板，通過USB連接到運(yùn)行應(yīng)用軟件的PC，以便在出廠前測試PCB。NI表示，這些模塊可以按自定義配置進(jìn)行排列，以滿足不同的功能測試需求。該公司計(jì)劃在未來添加其他儀器模塊。

NI表示，TestScale為測試工程師和系統(tǒng)集成商填補(bǔ)了其產(chǎn)品組合中的空白。TestScale適合NI的基于PXI的高性能自動化測試設(shè)備。

每個(gè)PCB設(shè)計(jì)在生產(chǎn)過程中都經(jīng)過嚴(yán)格的測試和驗(yàn)證，以確保整個(gè)系統(tǒng)及其上的所有組件都沒有可能對現(xiàn)場產(chǎn)品性能產(chǎn)生不利影響的故障。制造電路板的步驟之一是功能測試，用于檢查終產(chǎn)品的功能及其是否符合規(guī)范。

在功能測試中，電路板受到一系列模擬操作條件的電信號和電源的影響。根據(jù)PCB的復(fù)雜性和客戶需求，這些測試可能涉及簡單地檢查產(chǎn)品是否可以打開，或者深入研究其功能是否安全可靠。

在許多情況下，公司必須使用大量類似于數(shù)據(jù)中心服務(wù)器機(jī)架的高端測試設(shè)備來運(yùn)行成品電路板所需的全部測試——稱為“測試覆蓋率”。

但NI表示，TestScale將使其客戶能夠?qū)⒐δ軠y試分布在幾個(gè)不同的階段，以控制成本，每個(gè)測試電路板可圍繞不同方面設(shè)計(jì)。

據(jù)NI稱，這非常適合測試醫(yī)療、工業(yè)和消費(fèi)電子產(chǎn)品中的電路板，以及其他大量制造的設(shè)備——或者那些汽車電子中的多個(gè)電路板的產(chǎn)品。

NI表示，由于其占地面積更小，TestScale也非常靈活，允許其客戶更快速地交換測試模塊并復(fù)制測試系統(tǒng)以更經(jīng)濟(jì)地?cái)U(kuò)大生產(chǎn)規(guī)模。

小巧的外形還允許將TestScale硬件安裝在測試系統(tǒng)內(nèi)，將其直接放置在被測產(chǎn)品下方，從而節(jié)省空間。將測試系統(tǒng)安裝在盡可能靠近PCB的位置會創(chuàng)建更短的信號路徑，以幫助簡化系統(tǒng)中的布線。NI表示，與定制板級硬件相比，這也減少了故障點(diǎn)，具有更好的質(zhì)量和可靠性。

據(jù)NI稱，夾具內(nèi)架構(gòu)可將終測試系統(tǒng)的占地面積減少多達(dá)50%。與標(biāo)準(zhǔn)的基于機(jī)架的箱式儀器相比，它還有望將測試站成本降低多達(dá)40%。

硬件使用公司的NI-DAQmx庫連接到NI和第三