AD536A在液晶屏測(cè)試儀中的應(yīng)用-設(shè)計(jì)應(yīng)用

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摘要：介紹了TH-LCDTester液晶屏測(cè)試儀。該測(cè)試儀可對(duì)各種規(guī)格的液晶屏進(jìn)行閾值電壓的目測(cè)、響觰匭緣哪坎?、葲瞿稻岉d牟飭亢透韉緙淶畝搪芳觳欏Ｌ致哿艘壕斂饈砸塹墓ぷ髟恚黃飾雋薘MS/DC轉(zhuǎn)換集成電路AD536A的工作原理和典型應(yīng)用。

關(guān)鍵詞：測(cè)試儀器有效值LCD

TH-LCDTester液晶屏測(cè)試儀是在生產(chǎn)線上對(duì)各種規(guī)格的液晶屏進(jìn)行質(zhì)量檢查的必備儀器。該儀器可進(jìn)行閾值電壓的目測(cè)、響觰匭緣哪坎?閃光試驗(yàn))；全屏功耗電流的測(cè)量和各電極之間的短路檢查。其中后兩項(xiàng)是測(cè)試全顯電流和段電流的有效值。由于液晶屏的背電極和段電極之間是灌注了液晶材料的，因此在外加電壓驅(qū)動(dòng)下，可等效為一個(gè)電容性負(fù)載。所以，液晶屏的電流采樣電路是一個(gè)典型的微分電路，其輸出電壓是一個(gè)窄脈沖序列，使用RMS/DC轉(zhuǎn)換集成電路AD536A可以實(shí)時(shí)測(cè)試不同窄脈沖電壓的有效值。

1液晶屏測(cè)試儀的系統(tǒng)組成

系統(tǒng)的組成可分為三部分。其一，是產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)LCD樣品的不同頻率、不同幅度的對(duì)稱方波電壓，主要由DAC1、DAC2和波形變換電路組成；其二，是選擇待測(cè)LCD樣品的不同背電極和段電極的開(kāi)關(guān)矩陣電路；其三，是測(cè)量選中的背電極和段電極之間的功耗電流電路，主要由LM411電流采樣電路、RMS/DC轉(zhuǎn)換電路和測(cè)量電路組成。所有這三部分皆是在主控CPU(8032)的控制下有序地工作。液晶測(cè)試儀原理方框圖如圖1所示。其中，LM411構(gòu)成典型的微分電路，AD574A構(gòu)成數(shù)據(jù)采集電路，大家很熟悉，這里不再討論。RMS/DC轉(zhuǎn)換電路AD536A則是本文討論的重點(diǎn)。

2功耗電流測(cè)量電路

功耗電流測(cè)量電路原理方框圖見(jiàn)圖2。

因?yàn)榇郎y(cè)的LCD樣品是容性負(fù)載，則由外接的精密測(cè)量電阻R、LCD樣品的等效電容C和LM411AH構(gòu)成的電流采樣電路是典型的微分電路，其輸出電壓Vout的典型波形見(jiàn)圖3。

由于電流采樣電路的輸出電壓是占空比很小的微分窄脈沖序列，所以電流測(cè)量就有兩種方案：一是測(cè)量其平均值MAD，這是美國(guó)R．P．G．Electronics公司3200型LCD測(cè)試儀采取的方案；二是測(cè)量其有效值RMS，這是本儀器采用的方案。兩者的測(cè)試結(jié)果是不同的，而且與電流采樣電壓脈沖的形狀和占空比關(guān)系極大。

本方案采用RMS/DC轉(zhuǎn)換集成電路

AD536A對(duì)復(fù)雜的電壓波形(交流成分加直流成分)的有效值進(jìn)行測(cè)量。而平均值MAD和有效值RMS之間的關(guān)系是隨波形的形狀不同而不同的，從表1幾個(gè)例子可以看出。

3RMS/DC轉(zhuǎn)換芯片AD536A介紹

3.1AD536A的工作原理

AD536A是將真有效值轉(zhuǎn)換成直流的單片集成電路，可以連續(xù)、實(shí)時(shí)地計(jì)算輸入信號(hào)的平方、平均值，且得到的直流電壓值正比于輸入信號(hào)的有效值RMS。

AD536Ａ計(jì)算RMS時(shí)，首先求得(整流電路)；第二步進(jìn)行平方計(jì)算；第三步是平均計(jì)算，即除以反饋回來(lái)的輸出電壓；再經(jīng)濾波得出結(jié)果。這里很重要的一條是要求平均的時(shí)間常數(shù)要遠(yuǎn)大于待測(cè)信號(hào)的周期，這樣才能保證測(cè)試的精度。

3.2AD536A電路分析

AD536A的典型RMS連接圖如圖4所示。

AD536A由以下四部分組成：

·電路(整流電路)；

·平方電路和平均電路；

·電流鏡電路；

·緩沖放大器電路。

AD536A的電路原理圖如圖5所示。

運(yùn)算放大器A1、A2和晶體管Q6的B-E結(jié)及電阻R3、R4、R5、R6組成的部分是典型的求電路，該電路的主要作用是實(shí)現(xiàn)的電壓/電流轉(zhuǎn)換。

I1＝(1)

運(yùn)算放大器A3和晶體管Q1、Q2、Q3、Q4組成的是單象限乘法/除法(平均)電路。I1流過(guò)晶體管Q1、Q2，I3流過(guò)Q3，分別作用于Q4的發(fā)射極和基極，從而得到：

I4＝I12/I32

電流I4流過(guò)低通濾波電路R1和CAV(外接電容)后又返回驅(qū)動(dòng)電流鏡產(chǎn)生I3，當(dāng)時(shí)間常數(shù)R1CAV遠(yuǎn)大于待測(cè)信號(hào)的周期時(shí)，則I3就是I4的平均值。

由有效值的定義和式2可知，I4實(shí)際上就是I1的有效值I1rms。

電壓輸出是由Iout產(chǎn)生的。從電流鏡電路可知Iout＝2I4即Iout＝2I1rms。經(jīng)過(guò)電阻R2，轉(zhuǎn)換成輸出電壓：

Vout＝IoutR2＝2I1rms×R4＝I1rmsR4＝VINrms3

式中，R4＝50kΩ

R2＝25kΩ

3.3AD536A測(cè)量精度分析

AD536A使用極其方便，只有一個(gè)外接電容CAV。因此，求平均值時(shí)的時(shí)間常數(shù)是R1CAV。時(shí)間常數(shù)的大小是影響測(cè)量精度的主要因素。

若輸入信號(hào)是變化緩慢的直流信號(hào)，AD536A的輸出能夠準(zhǔn)確地跟蹤輸入信號(hào)。

對(duì)于較高頻率變化的輸入信號(hào)，AD536A的輸出就近似等于輸入信號(hào)的有效值RMS，存在直流誤差和波紋起伏。

直流誤差的大小取決于輸入信號(hào)的頻率和外接電容CAV的值。

輸出信號(hào)尚有波紋的起伏變化。有兩種方法可減小波紋：一是增加外接電容ＣＡＶ的值。因?yàn)椴y的大小是反比于CAV值的，所以增加CAV的值可以有效地減小波紋的大小。對(duì)于測(cè)量低占空比的脈沖系列(這正是液晶屏采樣電流脈沖的特點(diǎn))的輸入信號(hào)，要求平均的時(shí)間常數(shù)R1CAV至少等于7倍輸入信號(hào)周期。例如脈沖序列是100Hz，取R1CAV≥100ms，CAV約為4uF。二是采用后接濾波器的方式，可以是一階或二階濾波器。這里要說(shuō)明的是，在使用中要由實(shí)驗(yàn)來(lái)選定CAV的值，因?yàn)橹绷髡`差是取決于CAV值的，而不受后接濾波器的影響。

4TH-LCDTester和3200型LCD測(cè)試儀的比較

在實(shí)際測(cè)量中，LCD驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)的頻率一般是128Hz，采樣周期為7.8ms。而LCD樣品的測(cè)量電壓波形持續(xù)的平均時(shí)間略小于10us，則樣品的電流采樣脈沖電壓的占空比η＜0.01，所以RMS的測(cè)量值約十幾倍于MAD的測(cè)量值。若待測(cè)的樣品是阻性負(fù)載，則RMS的測(cè)量值約等于MAD的測(cè)量值。

表2兩種測(cè)試方法比較

單像素A

單像素B

電阻20KΩ

電阻200KΩ

3200型

1.45uA

2.99uA

153uA

15.3uA

TH-LCDTester

16.41uA

31.31uA

159uA

15.5uA€

表2是對(duì)兩種測(cè)試方法的比較。在這里，美國(guó)3200型LCD測(cè)試儀測(cè)量的是樣品的MAD值；TH-LCDTester測(cè)量的是樣品的RMS值；待測(cè)的樣品是象素LCD和電阻；測(cè)試條件是驅(qū)動(dòng)電壓為3V，頻率為128Hz。

通過(guò)對(duì)以上測(cè)試數(shù)據(jù)的比較可知：