集成電路測試和可測性設(shè)計

/集成電路測試和可測性設(shè)計ICTestingandDesignforTestability教學(xué)大綱課程名稱：集成電路測試和可測性設(shè)計課程編號：M702004課程學(xué)分：3適用學(xué)科：集成電路工程、電子科學(xué)和技術(shù)一、課程性質(zhì)本課程的授課對象為集成電路工程專業(yè)探討生和電子和科學(xué)技術(shù)專業(yè)探討生，課程屬性為專業(yè)基礎(chǔ)必修課（對電子和科學(xué)技術(shù)專業(yè)探討生為專業(yè)選修課）。本課程主要講授集成電路測試尤其是大規(guī)模集成電路測試的基本概念、基本方法，數(shù)字集成電路測試向量生成算法、可測試性設(shè)計、可測試性度量、數(shù)?；旌闲盘栯娐窚y試方法以及測試設(shè)備和測試過程等內(nèi)容。通過基本思想、基本算法的引入、推導(dǎo)并配以大量的實例進行分析，使學(xué)生能夠?qū)y試相關(guān)理論有全面的理解，并能夠利用所學(xué)的方法解決實際的電路測試及可測試性設(shè)計方面的問題。二、課程教學(xué)目的學(xué)生通過本課程的學(xué)習(xí)，應(yīng)能夠理解集成電路測試及可測性的基本概念、基本思想；駕馭重要的測試向量生成算法以及典型的可測性設(shè)計的結(jié)構(gòu)；了解集成電路測試的發(fā)展趨勢及面臨的主要問題。通過利用可測性設(shè)計方法構(gòu)建實際的可測性方案，熬煉培育解決測試問題的實踐動手實力。同時通過對主要算法的發(fā)展歷程、思想演化等的學(xué)習(xí)，培育發(fā)覺問題、解決問題的實力以及創(chuàng)新思維。為今后從事集成電路測試方面的工程或探討工作打下基礎(chǔ)。三、教學(xué)基本內(nèi)容及基本要求第一章 測試理論基礎(chǔ)教學(xué)內(nèi)容：1.1引言1.2VLSI測試過程和設(shè)備教學(xué)要求：1、駕馭：集成電路測試的工作原理和工作過程。2、理解：集成電路測試的基本概念。3、了解：集成電路測試的特點，測試技術(shù)的發(fā)展及現(xiàn)狀。其次章 測試經(jīng)濟學(xué)故障和故障模擬教學(xué)內(nèi)容：2.1測試經(jīng)濟學(xué)和產(chǎn)品質(zhì)量2.2故障模型教學(xué)要求：1、駕馭：測試的經(jīng)濟性和故障定義。2、理解：故障的含義和分類方法。3、了解：測試和產(chǎn)品質(zhì)量間的關(guān)系。第三章邏輯和故障模型教學(xué)內(nèi)容：3.1

用于設(shè)計驗證的模擬3.2用于設(shè)計評估的模擬3.3用于模擬的模型電路3.4用于真值模擬的算法3.5故障模擬算法3.6故障模擬的統(tǒng)計學(xué)方法教學(xué)要求：1、駕馭：模型電路概念及類型，真值模擬的算法和故障模擬算法。2、理解：用于真值模擬的算法以及故障模擬算法的原理及意義。3、了解：設(shè)計驗證和測試評估的模擬，故障模擬的統(tǒng)計。第四章可測試性度量教學(xué)內(nèi)容：4.1

SCOAP可限制性和可觀測性4.2

高層次可測試性度量教學(xué)要求：1.駕馭：集成電路測試中SCOAP可限制性和可觀測性概念理論。2.理解：SCOAP可限制性和可觀測性理論，以及VLSI電路可測試性的行為綜合。3.了解：集成電路測試的可限制性和可觀測性概念。第五章組合電路測試生成教學(xué)內(nèi)容：5.1

算法和表示5.2

冗余識別5.3

全局測試問題5.4重要的組合ATPG算法5.5測試生成系統(tǒng)5.6測試矢量壓縮教學(xué)要求：1、駕馭：重要的組合ATPG算法，測試生成和壓縮。2、理解：冗余識別，全局測試相關(guān)理論。3、了解：算法和冗余識別的概念；算法在集成電路測試中的作用。第六章時序電路的測試矢量生成教學(xué)內(nèi)容：6.1

單時鐘同步電路的ATPG6.2

時間幀綻開方法6.3

基于模擬的時序電路ATPG教學(xué)要求：1、駕馭：時間幀的綻開方法。2、理解：基于模擬的時序電路ATPG和時間幀的綻開理論。3、了解：時序電路的測試矢量生成的具體過程。第七章數(shù)字電路DFT和掃描設(shè)計教學(xué)內(nèi)容：12.1

特定的DFT方法12.2

掃描設(shè)計12.3

部分掃描設(shè)計12.4掃描的變種教學(xué)要求：1、駕馭：數(shù)字電路的可測性設(shè)計以及掃描設(shè)計的相關(guān)理論。2、理解：掃描設(shè)計的原理和實現(xiàn)方法。3、了解：特定的可測性設(shè)計方法，掃描設(shè)計和它的演化。第八章內(nèi)建自測試教學(xué)內(nèi)容：13.1

BIST的經(jīng)濟性狀況13.2

隨機邏輯BIST13.3

存儲器BIST13.4延遲故障BIST教學(xué)要求：1、駕馭：內(nèi)建自測試的工作原理和實現(xiàn)方法。2、理解：內(nèi)建自測試的工作原理和實現(xiàn)方法。3、了解：內(nèi)建自測試的經(jīng)濟性狀況。第九章邊界掃描標準教學(xué)內(nèi)容：14.1

邊界掃描的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)14.2

邊界掃描的描述語言教學(xué)要求：1、駕馭：邊界掃描標準定義的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。2、理解：邊界掃描語言。3、了解：邊界掃描的相關(guān)學(xué)問。第十章模擬測試總線標準教學(xué)內(nèi)容：15.1

模擬電路的可測試性設(shè)計15.2

模擬測試總線教學(xué)要求：1、駕馭：模擬電路的可測性設(shè)計相關(guān)理論，模擬測試總線要求。2、理解：模擬測試和測試總線的相關(guān)概念和具體要求。3、了解：模擬電路可測試性和測試總線的具體實現(xiàn)方法。四、本課程和其它相關(guān)課程的聯(lián)系和分工在學(xué)習(xí)本課程之前，應(yīng)對數(shù)字集成電路、模擬集成電路和超大規(guī)模集成電路設(shè)計有深化的了解。本課程的先修課程為《數(shù)字集成電路》和《模擬集成電路》。五、實踐環(huán)節(jié)教學(xué)內(nèi)容的支配和要求無六、本課程課外練習(xí)的要求每章布置確定的思索題或探討題，學(xué)生須要自己上網(wǎng)搜集資料，課堂上針對問題狀況和學(xué)生反饋支配探討。有時須要留少量的作業(yè)要求學(xué)生完成。七、本課程的教學(xué)方法及運用現(xiàn)代化教學(xué)手段方面的要求1、本課程以課堂講授為主，輔以確定的探討環(huán)節(jié)。2、運用MSPowerPoint幻燈片作為主要教學(xué)幫助工具，主要方法用軟件演示其效果。八、本課程成果的考查方法及評定標準本課程成果由平常成果及期末考試成果二部分組成。課程成果以百分制計算，平常成果占30%（其中出勤成果占10%，作業(yè)成果占20%），期末考試成果占70%。九、教材及參考書教材：MichaelL.Bushnell,VishwanniD.Agrawal著，將安平、馮建華等譯，超大規(guī)模集成電路測試——數(shù)字、存儲器和混合信號系統(tǒng)，電子工業(yè)出版社，2005.8參考書：雷紹充等著，超大規(guī)模集成電路測試，電子工業(yè)出版社，2008.5十、課程各章節(jié)學(xué)時支配章節(jié)內(nèi)容總學(xué)時講授課時探討、論文、試驗、設(shè)計備注第一章測試理論基礎(chǔ)22其次章測試經(jīng)濟學(xué)故障和故障模擬22第三章邏輯和故障模型22作業(yè)第四章可測試性度量422作業(yè)第五章組合電路測