測(cè)控儀器設(shè)計(jì)智慧樹知到答案章節(jié)測(cè)試2023年青島理工大學(xué)

第一章測(cè)試按照系統(tǒng)工程的技術(shù)觀點(diǎn)將產(chǎn)品生產(chǎn)的技術(shù)結(jié)構(gòu)分為（）。

A:技術(shù)流

B:能量流

C:信息流

D:材料流

答案:BCD測(cè)量范圍包含示值范圍包含儀器的調(diào)節(jié)范圍。（）

A:錯(cuò)

B:對(duì)

答案:B鑒別力是顯示裝置能有效辨別的最小示值。（）

A:錯(cuò)

B:對(duì)

答案:A示值誤差越小則儀器的準(zhǔn)確度越高。（）

A:錯(cuò)

B:對(duì)

答案:B測(cè)控儀器的要求有（）。

A:精度要求

B:可靠性要求

C:經(jīng)濟(jì)性要求

D:檢測(cè)效率要求

答案:ABCD第二章測(cè)試（）是系統(tǒng)誤差大小的反映。

A:精密度

B:準(zhǔn)確度

C:正確度

D:精確度

答案:C精密度高則正確度一定高。（）

A:對(duì)

B:錯(cuò)

答案:B把一對(duì)運(yùn)動(dòng)副上的一個(gè)源誤差所引起的作用線上的附加位移稱為（）。

A:作用誤差

B:運(yùn)動(dòng)誤差

C:附加誤差

D:位移誤差

答案:A隨機(jī)誤差的合成方法有（）。

A:極限誤差法

B:均方法

C:代數(shù)和法

D:絕對(duì)和法

答案:AB已定誤差的合成方法有（）。

A:絕對(duì)和法

B:極限誤差法

C:代數(shù)和法

D:均方法

答案:C第三章測(cè)試采用串聯(lián)方法對(duì)硅壓力傳感器進(jìn)行零點(diǎn)漂移補(bǔ)償后，電阻的溫度系數(shù)會(huì)（）。

A:升高

B:不確定

C:降低

D:不變

答案:C愛彭斯坦光學(xué)補(bǔ)償方法是一種用結(jié)構(gòu)布局來補(bǔ)償阿貝誤差的方法。（）

A:錯(cuò)

B:對(duì)

答案:B測(cè)控儀器的設(shè)計(jì)原理有（）。

A:平均讀數(shù)原理

B:比較測(cè)量原理

C:獨(dú)立作用原理

D:補(bǔ)償原理

答案:ABD光柵和激光干涉條紋屬于增量碼標(biāo)準(zhǔn)量。（）

A:對(duì)

B:錯(cuò)

答案:A在設(shè)計(jì)零件時(shí)遵循坐標(biāo)系基準(zhǔn)統(tǒng)一的原則可以避免附加誤差。（）

A:對(duì)

B:錯(cuò)

答案:A第四章測(cè)試為正確進(jìn)行信號(hào)調(diào)制，要求載波信號(hào)的頻率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于被測(cè)信號(hào)的變化頻率，通常至少要求（）倍以上。

A:1

B:2

C:100

D:10

答案:C為降低地線的長(zhǎng)度在高頻場(chǎng)合多數(shù)采用單點(diǎn)接地。（）

A:錯(cuò)

B:對(duì)

答案:A干擾的耦合方式有（）。

A:靜電耦合

B:電磁耦合

C:漏電流耦合

D:共阻抗耦合

答案:ABCD軟件的可靠性設(shè)計(jì)方法有（）。

A:數(shù)字濾波

B:冗余設(shè)計(jì)

C:軟件看門狗

D:指令冗余

E:軟件陷阱