DT56涂鍍層測(cè)厚儀說(shuō)明書(shū)

DT-156涂鍍層測(cè)厚儀說(shuō)明書(shū)簡(jiǎn)述〔AUTO〕下，兩種原理可視測(cè)量的基體自動(dòng)轉(zhuǎn)換，或可通過(guò)菜單進(jìn)展自動(dòng)模式和非自動(dòng)模式轉(zhuǎn)換。特點(diǎn)可測(cè)量涂鍍層：任何磁性物質(zhì)外表的非磁性涂鍍層厚度；任何非磁性金屬外表的絕緣涂鍍層厚度易于操作的菜單設(shè)計(jì)連續(xù)和單次測(cè)量方式直接工作模式和組工作模式可統(tǒng)計(jì)并顯示：平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)方差、統(tǒng)計(jì)數(shù)格外便利的進(jìn)展一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)320個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)供隨時(shí)下載至計(jì)算機(jī)處理實(shí)時(shí)刪除測(cè)量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)凹凸限報(bào)警低電和錯(cuò)誤提示USB傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析統(tǒng)計(jì)可設(shè)置的自動(dòng)關(guān)機(jī)功能應(yīng)用本儀表可應(yīng)用在無(wú)損的、快速和高精度涂鍍層測(cè)厚領(lǐng)域。它是油漆、防腐蝕、電鍍、汽車工業(yè)、輪船運(yùn)輸、飛機(jī)制造等相關(guān)行業(yè)抱負(fù)的關(guān)心制造生產(chǎn)工具。它可以穩(wěn)定地工作于試驗(yàn)室，車間現(xiàn)場(chǎng)和戶外。同時(shí)，它可以工作在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下，完成不同涂鍍層的測(cè)厚任務(wù)。功能概述當(dāng)測(cè)量鐵鎳等磁性金屬和合金基體外表涂層時(shí)，本儀表將工作于電磁感應(yīng)原理。當(dāng)測(cè)量非LCD顯示，背光保證您在黑暗的環(huán)境中能順當(dāng)工作。本儀表設(shè)計(jì)有兩種工作模式：直接模式和組模式。直接模式〔DIR〕:此工作模式一般進(jìn)展簡(jiǎn)潔，快速和隨便的測(cè)量。本模式下，可以進(jìn)展80個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)，但全部數(shù)據(jù)在儀表關(guān)機(jī)后永久喪失，不能進(jìn)展保存。關(guān)機(jī)前，您可以通過(guò)菜單調(diào)出之前的測(cè)量數(shù)據(jù)查看。請(qǐng)留意，從直接模式到組模式后，直接模式下面的全部測(cè)量數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)將永久喪失。組模式〔GR：此工作模式下，全部測(cè)量數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)將被保存，斷電、模式切換或80個(gè)數(shù)據(jù)能被保存，進(jìn)入組模式下，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)把當(dāng)前組的全部數(shù)據(jù)80后，最舊的數(shù)據(jù)將被刪除。附件說(shuō)明1.5V干電池包裝箱操作說(shuō)明書(shū)鋼鐵和鋁塊基體各一塊，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)薄片假設(shè)干USB連接線纜CDWindows98/XP/Vista探頭探頭被安裝在帶V型槽的保護(hù)外殼內(nèi)，探頭頂部鑲有紅寶石，具有很強(qiáng)的耐腐蝕和耐磨作用。測(cè)量時(shí)，垂直快速地置探頭于待測(cè)基體上，探頭底部彈簧將有助于使接觸保持在肯定力作用范圍內(nèi)，避開(kāi)用力過(guò)度使待測(cè)基體變形，且接觸嚴(yán)密。性能指標(biāo)傳感器探頭工作原理測(cè)量范圍誤差(相對(duì)當(dāng)前讀數(shù))精度測(cè)量最小曲率半徑最小測(cè)量面積〔直徑表示〕可測(cè)量基體最小厚度工作溫度工作濕度

鐵磁性磁感應(yīng)0~1250um0~49.21mils0~850um(+/-3%+1um)850um~1250um(+/-5%)0~33.46mils(+/-3%+0.039mils)(+/-5%)0~50um(0.1um)50um~850um(1um)850um~1250um(0.01mm)0~1.968mils (0.001mils)1.968mils~33.46mils(0.01mils)33.46mils~49.21mils(0.1mils)1.5mm7mm0.5mm0℃~40℃(32℉~104℉)20%~90%

非鐵磁性渦流0~1250um0~49.21mils0~850um(+/-3%+1.5um)850um~1250um(+/-5%)0~33.46mils(+/-3%+0.059mils)(+/-5%)0~50um(0.1um)50um~850um(1um)850um~1250um(0.01mm)0~1.968mils (0.001mils)1.968mils~33.46mils(0.01mils)33.46mils~49.21mils(0.1mils)3mm5mm0.3mm功能模塊說(shuō)明12131415

11ProbePowerON/OFFkey10 3.ZeroCalibrationkey9 4.Down/Rightkey8 5.BluekeyforESC/NO/BACK7 functioninmenumode,or6backlightON/OFFInworkingmode656.Maindisplayforcoatingthickness7.Measuringunit8.NFe:indicatesreadingson4non-ferrousmetals;Fe:indicatesreadingsonferrousmetals2 39.Indicatestheprobeworkingprinciple:AUTO,MagneticinductionorEddycurrentIndicatesthatthegaugeiscurrentlycontrolledviapcUSBconnectingport1 12.LowbatteryWorkingmodeindication:DIRECTorGROUPStatisticdisplay:AVG,MAX,MIN,SDEVThestatisticnumberofmeasuringreadingsRedkeyforOK/YES/MENU/SELECTinmenumodeUp/Leftkey1.探頭2.開(kāi)關(guān)機(jī)按鍵3.零校準(zhǔn)鍵4.向下或向右翻滾或遞增按鍵5.藍(lán)色按鍵，在菜單模式下，用于退出、否、后退功能?；蛘咴谡９ぷ鞣绞较?，用于背光開(kāi)關(guān)鍵6.主顯示區(qū)7.測(cè)量單位顯示8.NFe:指示測(cè)量所得讀數(shù)為非鐵磁性金屬涂層讀數(shù)Fe:指示測(cè)量所得讀數(shù)為鐵磁性金屬涂層讀數(shù)9.指示探頭工作原理：AUTO探頭工作模式。F方式下只工作在磁感應(yīng)原理。N方式下只工作在渦流原理。10.指示儀表和計(jì)算機(jī)通信連接正常11.USB連接端口12.低電指示13.儀表工作模式指示：直接模式和組模式14.15.測(cè)量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)數(shù)16.紅色鍵在菜單模式下用于確定、是、菜單進(jìn)入等菜單操作功能。17.向上或向左翻滾或遞減按鍵預(yù)備開(kāi)頭電源按按鍵開(kāi)機(jī)。假設(shè)沒(méi)有任何動(dòng)作和LCD顯示，請(qǐng)檢查是否裝好電池或者可能電池已經(jīng)耗盡，建議更換電池。假設(shè)顯示標(biāo)明電池快要耗盡，此時(shí)儀表會(huì)在幾秒內(nèi)自動(dòng)關(guān)機(jī)，請(qǐng)更換電池后重開(kāi)頭。替換電池放置儀表于適宜位置且反面朝上。您會(huì)看到電池盒固定螺釘，用適宜梅花螺絲刀扭出螺釘便可去掉電池盒蓋，拔掉電池并重安裝電池，之后裝好電池盒蓋扭好螺釘，電池更換完成。菜單和根本設(shè)置〔留意：此章節(jié)，在以后全部章節(jié)都會(huì)提到，建議隨時(shí)查閱〕開(kāi)機(jī)后，儀表處于測(cè)量模式，按紅色按鍵可以進(jìn)入菜單模式，下面列舉了全部菜單工程，了解各菜單項(xiàng)功能將有助于您順當(dāng)完成各項(xiàng)工作：Menu菜單>Statisticview統(tǒng)計(jì)值掃瞄>>Averageview 平均值>>Minimumview 最小值>>Maximumview 最大值>>Numberview 統(tǒng)計(jì)數(shù)>>Sdev.View 標(biāo)準(zhǔn)方差>Options選項(xiàng)>>Measuremode測(cè)量方法>>>Singlemode 單次測(cè)量>>>Continuousmode連續(xù)測(cè)量>>Workingmode工作模式>>>Direct 直接模式>>>Group1組1工作模式>>>Group2組2工作模式>>>Group3組3工作模式>>>Group4組4工作模式>>Usedprobe探頭工作原理>>>AUTO 依據(jù)基體自動(dòng)選擇>>>Fe 磁感應(yīng)〔適用鐵磁性基體〕>>>NoFe 渦流(適用非磁性金屬基體)>>Unitsettings單位設(shè)置>>>um 微米>>>mils英制單位(中國(guó)大陸地區(qū)一般不用此單位)>>>mm毫米>>Backlight背光>>>ON 開(kāi)>>>OFF關(guān)>>LCDStatistic測(cè)量模式下統(tǒng)計(jì)顯示選項(xiàng)>>>Average平均值`>>>Maximum最大值>>>Minimum最小值>>>Sdev. 標(biāo)準(zhǔn)方差>>Autopoweroff 自動(dòng)關(guān)機(jī)設(shè)置>>>Enable 自動(dòng)關(guān)機(jī)功能開(kāi)啟>>>Disable 禁用自動(dòng)關(guān)機(jī)>Limit界限報(bào)警設(shè)置>>Limitsettings界限設(shè)置>>>Highlimit高限值設(shè)置>>>Lowlimit低限值設(shè)置>>Deletelimit 刪除恢復(fù)界限值設(shè)置到默認(rèn)>Delete刪除>>Currentdata刪除最近測(cè)量數(shù)據(jù)>>Alldata 刪除當(dāng)前工作組全部測(cè)量數(shù)據(jù)>>Groupdata 刪除當(dāng)前工作組全部測(cè)量數(shù)據(jù)同時(shí)刪除全部校準(zhǔn)數(shù)據(jù)>Measurementview測(cè)量值掃瞄>Calibration校準(zhǔn)設(shè)置>>Enable使能一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)并進(jìn)展LCD指示>>Disable禁用一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)并取消LCD指示，最近完成的校準(zhǔn)將對(duì)測(cè)量有效>>DeleteZeroN非鐵基體上零校準(zhǔn)恢復(fù)出廠默認(rèn)值>>DeleteZeroF鐵基體上零校準(zhǔn)恢復(fù)出廠默認(rèn)值根本設(shè)置請(qǐng)參考以上菜單安排，依據(jù)LCD指示，按紅色按鍵進(jìn)展確認(rèn)、是、菜單進(jìn)入、選擇等功能操作。按藍(lán)色鍵進(jìn)展退出、否、后退等功能操作。按向上或向下鍵翻滾選擇項(xiàng)。測(cè)量方式連續(xù)測(cè)量法：此法適合探頭無(wú)需抬起而連續(xù)測(cè)量并觀看讀數(shù)的場(chǎng)合。此種狀況下，蜂鳴只在探頭接觸到待測(cè)物件時(shí)鳴響一聲，之后將不再鳴響。在連續(xù)測(cè)量工作方式下，讀數(shù)被自動(dòng)進(jìn)展統(tǒng)計(jì)計(jì)算，直到存儲(chǔ)空間滿。單次測(cè)量法：探頭垂直快速的置于待測(cè)物件之上，每測(cè)量一點(diǎn)同時(shí)伴隨一聲蜂鳴，讀數(shù)被LCD5cm1.5秒前方可進(jìn)展下一次測(cè)量。每一次測(cè)量的數(shù)據(jù)和連續(xù)方式一樣將被保存和統(tǒng)計(jì)。探頭選擇我們一體化探頭可以工作在三種模式下：AUTO:探頭依據(jù)待測(cè)物件性質(zhì)〔鐵磁性物質(zhì)或非鐵磁性金屬〕自動(dòng)轉(zhuǎn)入相應(yīng)工作模式。假設(shè)待測(cè)物件是鐵鎳等磁性金屬物質(zhì)，探頭將轉(zhuǎn)入磁感應(yīng)原理工作模式。假設(shè)待測(cè)物件是非磁性的金屬物質(zhì)，探頭將轉(zhuǎn)入渦流原理工作模式。Fe：探頭將是磁感應(yīng)原理工作模式No-Fe：探頭將是渦流原理工作模式單位設(shè)置您能便利的在公制〔微米、毫米〕和英制〔mils〕單位之間切換。請(qǐng)認(rèn)真閱讀菜單安排，依據(jù)屏幕提示操作。特別需要提示的是，在“微米”單位下，當(dāng)讀數(shù)數(shù)值超過(guò)850微米時(shí)，總復(fù)位總復(fù)位將擦除存儲(chǔ)器保存的全部數(shù)據(jù)，包括全部工作模式的讀數(shù)和設(shè)置〔恢復(fù)出廠默認(rèn)還有它們的統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值和上下限報(bào)警值。但是此操作不會(huì)影響出廠根本校準(zhǔn)值，用戶可放心適用此功能。要進(jìn)展總復(fù)位操作，操作如下：關(guān)機(jī)同時(shí)按ZERO+鍵LCD將顯示“suretoreset”此時(shí)按紅色鍵確定進(jìn)展總復(fù)位，否則退出按藍(lán)色鍵。儀表自動(dòng)重開(kāi)機(jī)背光請(qǐng)看菜單安排章節(jié)，您可以通過(guò)菜單開(kāi)關(guān)背光。此外，在正常測(cè)量模式下，您可以按藍(lán)色按鍵一次以開(kāi)關(guān)背光。LCD顯示統(tǒng)計(jì)設(shè)置您可以通過(guò)菜單設(shè)置在工作模式下LCD顯示的統(tǒng)計(jì)選項(xiàng)〔平均值、最大值、最小值和標(biāo)準(zhǔn)方差，設(shè)置完成返回后，被設(shè)置的統(tǒng)計(jì)工程將顯示在LCD右下方。同時(shí)當(dāng)前統(tǒng)計(jì)數(shù)將顯LCD左下方。通過(guò)“statisticview”菜單項(xiàng)，您可以遍覽當(dāng)下工作組全部統(tǒng)計(jì)值。讀數(shù)掃瞄通過(guò)“Measurementview自動(dòng)關(guān)機(jī)請(qǐng)認(rèn)真閱讀菜單安排章節(jié)，您可以通過(guò)菜單關(guān)閉和開(kāi)啟自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。測(cè)量、存儲(chǔ)和數(shù)據(jù)處理1~44組?！睤IR〕可以通過(guò)菜單掃瞄全部已存數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值，但一旦關(guān)機(jī)、系統(tǒng)掉電或者從直接模式切換到組工作模式，這些數(shù)據(jù)將全部自動(dòng)喪失。此模式下讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值和統(tǒng)計(jì)數(shù)被同時(shí)LCD80個(gè)數(shù)據(jù)，一旦超出，最讀數(shù)將替換最舊讀數(shù)并保存更統(tǒng)計(jì)值。此模式下，可以單獨(dú)進(jìn)展一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)，單獨(dú)設(shè)置凹凸界限報(bào)警。組測(cè)量模式(GRO1~4)80個(gè)數(shù)據(jù)、5個(gè)統(tǒng)計(jì)值。一點(diǎn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)和凹凸界限報(bào)警可以單獨(dú)設(shè)置和保存。關(guān)機(jī)和掉電，全部保存值不會(huì)喪失，并且組與組之間相互獨(dú)立不受影響。需要?jiǎng)h除保存的值，可以通過(guò)菜單操作進(jìn)80個(gè)，數(shù)據(jù)測(cè)量可以連續(xù)進(jìn)展，但是所得數(shù)據(jù)將不被保存和統(tǒng)計(jì)計(jì)算，如有需要，您可以通過(guò)菜單刪除組數(shù)據(jù)，請(qǐng)認(rèn)真參閱菜單安排章節(jié)。請(qǐng)通過(guò)菜單項(xiàng)選擇擇當(dāng)前工作組模式：DIR或GRO1~4按鍵同時(shí)探頭請(qǐng)遠(yuǎn)離任何金屬5cm以上，開(kāi)機(jī)后，儀表默認(rèn)工作在DIR模式下。LCD將保持顯示最近的測(cè)量讀數(shù)。校準(zhǔn)和測(cè)量校準(zhǔn)概述校準(zhǔn)方法我們擁有四種校準(zhǔn)方法，表達(dá)如下根本校準(zhǔn)：適用于測(cè)量光滑物件外表涂層，或者測(cè)量物件的材料、面積和曲率和我們隨機(jī)附帶基體接近。零點(diǎn)校準(zhǔn)：建議開(kāi)頭任何一項(xiàng)測(cè)量任務(wù)前都進(jìn)展零點(diǎn)校準(zhǔn)，測(cè)量中途消滅可疑誤差，也可隨時(shí)作歸零操作。一點(diǎn)校準(zhǔn)：預(yù)先估量待測(cè)量涂層厚度，使校準(zhǔn)點(diǎn)盡量靠近待測(cè)厚度，可以有效實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。此校準(zhǔn)方法可以輕松地使測(cè)量誤差掌握在+-(1%...3%)+1um/1.5um(傳感器自身系統(tǒng)誤差)二點(diǎn)校準(zhǔn)：和一點(diǎn)校準(zhǔn)相像，盡量使待測(cè)涂層厚度范圍與兩點(diǎn)校準(zhǔn)點(diǎn)接近，以更好修正待測(cè)范圍內(nèi)的誤差。該校準(zhǔn)用于粗糙外表涂層測(cè)量和高精度的光滑涂層外表測(cè)量。校準(zhǔn)值保存在任何模式下，您所完成的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)都自動(dòng)保存，全部的測(cè)量也將以最的校準(zhǔn)為準(zhǔn)修正Groupdata”恢復(fù)到出廠默認(rèn)。具體請(qǐng)參閱有關(guān)章節(jié)。提示：校準(zhǔn)讀數(shù)，在以下?tīng)顩r，您必需重校準(zhǔn)，否則可能測(cè)量有誤---明顯不正確的讀數(shù)---校準(zhǔn)時(shí)儀表關(guān)機(jī)校準(zhǔn)實(shí)例校準(zhǔn)是影響測(cè)量精度的關(guān)鍵因素。準(zhǔn)確測(cè)量必需校準(zhǔn)，校準(zhǔn)樣本越接近被測(cè)樣本，校準(zhǔn)和測(cè)量就越準(zhǔn)確。例如：假設(shè)被測(cè)樣本是一個(gè)直徑為6mm的低碳鋼柱，那么無(wú)涂層校準(zhǔn)樣本的直徑和材料也應(yīng)當(dāng)盡量一樣。標(biāo)準(zhǔn)樣本必需在以下幾點(diǎn)上與被測(cè)樣本相符：外表曲率半徑基體材料基體厚度被測(cè)面積標(biāo)準(zhǔn)樣本上，校準(zhǔn)點(diǎn)位置盡量與產(chǎn)品的測(cè)量點(diǎn)全都，尤其測(cè)量于小樣本或邊角位置，此時(shí)用周密支架定位最好。高精度測(cè)量校準(zhǔn)為得到高精度測(cè)量，校準(zhǔn)時(shí)，建議在每一點(diǎn)上做屢次反復(fù)校準(zhǔn)，這樣儀器會(huì)自動(dòng)用其平均4.2，這種方法在非平滑，例如噴丸外表，格外有用。清潔測(cè)點(diǎn)校準(zhǔn)前，測(cè)量和探頭頂部的油漬，金屬屑物等必需去除干凈，少量的雜質(zhì)也會(huì)影響測(cè)量，轉(zhuǎn)變讀數(shù)。校準(zhǔn)特別提示對(duì)于大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合，根本校準(zhǔn)〔出廠默認(rèn)校準(zhǔn)作，本說(shuō)明書(shū)省去了此章節(jié)，假設(shè)用戶使用中，通過(guò)零點(diǎn)校準(zhǔn)，一點(diǎn)校準(zhǔn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)，仍舊不能解決問(wèn)題，請(qǐng)致電售后效勞，我們將為您供給技術(shù)支持。通過(guò)以下方法，您可以進(jìn)入一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)模式，依據(jù)屏幕提示，您可以正確完成校準(zhǔn)：(Menu->Calibration->EnableLC屏將會(huì)顯示Caln(orZeron(ory”。n表示沒(méi)有任何點(diǎn)校準(zhǔn)〔前者〕或沒(méi)有零校準(zhǔn)〔后者”表示已進(jìn)展過(guò)零校準(zhǔn)〔當(dāng)前測(cè)量是以此零點(diǎn)為準(zhǔn)?！癈al1~2”12個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)〔1表示一點(diǎn)校準(zhǔn)，2表示兩點(diǎn)校準(zhǔn)。提示：零點(diǎn)校準(zhǔn)可以不用進(jìn)入此校準(zhǔn)模式，在測(cè)量模式，探頭置于待測(cè)無(wú)ZERO按鍵，聽(tīng)到嘀一聲響后松開(kāi)便成功進(jìn)展一次歸零操作，如此反復(fù)操作可以得到一個(gè)零校準(zhǔn)平均值，可有效防止零點(diǎn)校準(zhǔn)偶然誤差。雖然在校準(zhǔn)模式同樣可以正確測(cè)量，但為避開(kāi)誤校準(zhǔn)操作，完成校準(zhǔn)后，我們建議通過(guò)MUNE一點(diǎn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)為準(zhǔn)，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)展修正，顯示和保存修正后的數(shù)值。校準(zhǔn)前的預(yù)備工作：5厘米以上，遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)待測(cè)基體和必要的校準(zhǔn)箔片〔5種規(guī)格薄片〕設(shè)置工作模式：通過(guò)菜單系統(tǒng)設(shè)置連續(xù)或單次測(cè)量模式零點(diǎn)校準(zhǔn)(無(wú)需任何校準(zhǔn)箔)把探頭快速垂直地放在無(wú)涂層基體上。LC顯示<x.xum>.在連續(xù)方式和單一方式下測(cè)量方式稍有不同，在本說(shuō)明書(shū)之前已有介紹。.5厘米以上。ZERO1.5秒，LC0.0um，校準(zhǔn)完成。4..可重復(fù)以上步驟幾次，校準(zhǔn)系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)計(jì)算和使用其平均值。留意：有時(shí)，在進(jìn)展零校準(zhǔn)之前，有必要通過(guò)菜單刪除舊的零校準(zhǔn)點(diǎn)〔具體菜單項(xiàng)，可參看前面章節(jié)。由于，我們所用的零校準(zhǔn)實(shí)際上是最多5次零校準(zhǔn)的平均值。依據(jù)以上步驟每完成一次，就保存一個(gè)零校準(zhǔn)值，當(dāng)超過(guò)5次后，最舊的值將被最的替換，如此依次，系統(tǒng)自動(dòng)將用最近5次校準(zhǔn)值計(jì)算平均得到實(shí)際零校準(zhǔn)值。試想，假設(shè)這些操作中，有一次大的誤差操作，確定對(duì)最終平均值影響很大，假設(shè)做一次刪除操作，系統(tǒng)將全部參數(shù)歸0，固然就不存在這個(gè)問(wèn)題了。另外，重開(kāi)關(guān)機(jī)也可得到和刪除同樣的效果。一點(diǎn)校準(zhǔn)此方法用于較高精度測(cè)量。4.2.1將校準(zhǔn)箔片放在無(wú)涂層基體上，得到穩(wěn)定數(shù)據(jù)后提起探頭。按UPDOWN調(diào)整顯示值至所測(cè)箔片厚度。重復(fù)幾次以上步驟，校準(zhǔn)系統(tǒng)會(huì)計(jì)算平均值作為最終校準(zhǔn)值。使用最校準(zhǔn)值試測(cè)量必要時(shí)需要?jiǎng)h除校準(zhǔn)，例如輸入一個(gè)錯(cuò)誤的校值時(shí)，進(jìn)入MENU->delete->deletegroupdata。留意：這將會(huì)刪除全部測(cè)量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)、上下限報(bào)警數(shù)據(jù)，一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，但此操作不影響零點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。刪除全部數(shù)據(jù)后，出廠根本校準(zhǔn)可以保證肯定誤差范圍內(nèi)的測(cè)量，用戶不必?fù)?dān)憂誤操作。假設(shè)高精度測(cè)量，請(qǐng)重做一點(diǎn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)。特別提示：請(qǐng)認(rèn)真觀看屏幕“Calx Zero“之前黑色方塊,每次按UP或者DOWN鍵一次，它將重開(kāi)頭計(jì)時(shí)，在30S時(shí)間內(nèi)，你可以按一下藍(lán)色的按鍵取消當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn)。在此時(shí)間內(nèi)，55次后最的校準(zhǔn)值會(huì)替換最舊的校準(zhǔn)值，此和零點(diǎn)校準(zhǔn)格外相像，可參考零點(diǎn)校準(zhǔn)。30s后，ZERO一次，可使當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn)強(qiáng)制生效。即使長(zhǎng)期進(jìn)展一系列的連續(xù)測(cè)試工作，校準(zhǔn)也是有必要常?？紤]的，它直接影響測(cè)量準(zhǔn)確性兩點(diǎn)校準(zhǔn)建議在單次測(cè)量方式下進(jìn)展，請(qǐng)通過(guò)菜單轉(zhuǎn)換工作方式。兩點(diǎn)校準(zhǔn)需要使用2個(gè)不同的箔片。請(qǐng)粗略估測(cè)您實(shí)際工作需要測(cè)量的厚度范圍，此范圍不宜過(guò)大，范圍越小，能獲得的測(cè)量精度越高。然后選擇兩點(diǎn)校準(zhǔn)所需要的2個(gè)不同厚度標(biāo)準(zhǔn)箔片，此兩標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度盡量靠近并包含實(shí)際工作需要測(cè)量的厚度測(cè)量范圍。此方法尤其適用于非平滑，例如噴丸外表或用于高準(zhǔn)確地測(cè)量。校準(zhǔn)步驟如下:4.2.14.2.22使用最校準(zhǔn)值試測(cè)量。說(shuō)明：二點(diǎn)校準(zhǔn)實(shí)際上就是兩次一點(diǎn)校準(zhǔn)。假設(shè)系統(tǒng)只存入了一點(diǎn)的校準(zhǔn)值，則修正方式就是一點(diǎn)修正方式，假設(shè)再次存入一點(diǎn)校準(zhǔn)，則修正方式自動(dòng)成為二點(diǎn)修正方式。最終實(shí)際顯示和存儲(chǔ)的讀值則是根本校準(zhǔn)下所得數(shù)據(jù)加零點(diǎn)修正、一點(diǎn)或者二點(diǎn)修正值，留意，一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)不會(huì)同時(shí)存在。噴丸外表校準(zhǔn)方法噴丸外表的物理性質(zhì)會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)偏差，平均覆層厚度可用下面的方法確定〔統(tǒng)計(jì)程序在這里格外有用：方法一：4.2.24.2.3試件相近。在無(wú)覆層的經(jīng)過(guò)同樣噴丸處理的外表測(cè)量10次左右，得到一個(gè)平均值，記作Xo。10Xm。XmXo的差(Xm-Xo)±SSXmXo兩者標(biāo)準(zhǔn)方差中的較大者。方法二：50um的箔片組成，箔厚盡量與估量涂層厚度接近。測(cè)量待噴丸涂層厚度，此厚度應(yīng)為5-10個(gè)單次測(cè)量結(jié)果的平均值。統(tǒng)計(jì)程序在這里格外有用。方法三：4.2.32點(diǎn)校準(zhǔn)。為了50um的校5-10個(gè)單次測(cè)量結(jié)果的平均值。留意：對(duì)于大于300um的涂層，粗糙程度的影響并不格外重要且沒(méi)有必要使用上述校準(zhǔn)方法。測(cè)量中的計(jì)算方法認(rèn)真校準(zhǔn)以后，全部測(cè)量偏差將會(huì)在我們承諾的誤差范圍之內(nèi)。發(fā)電機(jī)等大功率電器設(shè)備四周的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)影響讀數(shù)，建議盡量遠(yuǎn)離。當(dāng)使用統(tǒng)計(jì)程序獵取平均值的時(shí)候，建議將探頭放置于具有典型意義的測(cè)點(diǎn)上連續(xù)測(cè)量屢次?？赏ㄟ^(guò)菜單系統(tǒng)刪除任何錯(cuò)誤或者不符讀數(shù)。最終的讀數(shù)由統(tǒng)計(jì)程序和我們承諾的測(cè)量誤差