微束分析 原子序數(shù)不小于11的元素 能譜法定量分析 編制說明

Microbeamanalysis—Quantitativeanalysisusingenergy-dispersivespectrometry(EDS)forelementswithanatomicnumberof11(Na)orabove編制說明(征求意見稿)2況核工業(yè)北京地質(zhì)研究院(以下簡稱“核地研院”隸屬中國核工業(yè)集團有限公，為參編單位及主要起草人工作情況titativeanalysisusingenergydispersivespectrometryEDSforelementswithanatomicnumberofNaorabove版的主要變化情況，對比原標(biāo)準(zhǔn)3。二、標(biāo)準(zhǔn)的制訂原則、主要內(nèi)容與論據(jù)2.1標(biāo)準(zhǔn)制訂的原則幾乎所有的掃描電鏡(SEM)和電子探針分析儀(EPMA)上都安裝了能譜ISO6年發(fā)布了ISO22309:2006Microbeamanalysis—QuantitativeISO2006發(fā)布了《GB/T17359—2012微束分析能譜法定量分析》，該標(biāo)據(jù)質(zhì)量。但隨著能譜儀儀器本身的發(fā)展，硅漂移(SDD)探測器得到大量應(yīng)用，SiLi適應(yīng)技術(shù)的發(fā)ISO22309:2011Microbeamanalysis—QuantitativeanalysisusingenergydispersivespectrometryEDSforelementswithanatomicnumberof11(Na)orabove改為“微束分析原子序數(shù)不小于11的元素能譜法定量分分析要格外小心。同時增加了硅漂移(SDD)探測器的相關(guān)內(nèi)容。代表中國投票確認(rèn)ISO22309:2011繼續(xù)有效，目GBT42.2標(biāo)準(zhǔn)修訂的主要內(nèi)容ISO準(zhǔn)的用我國標(biāo)準(zhǔn)替代(見第2章)Xrayspectrometerswithsemiconductordetectors，IDT)nsIDT——GB/T27788微束分析掃描電鏡圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則(ISO16700，Microbeamanalysis—Scanningelectronmicroscopy—Guidelinesforcalibratingimagemagnification，IDT)——GB/T30705微束分析電子探針顯微分析波譜法實驗參數(shù)測定導(dǎo)則 (ISO14594，Microbeamanalysis—Electronprobemicroanalysis—Guidelinesforthedeterminationofexperimentalparametersforwavelengthdispersivespectroscopy，IDT)3)本文件做了下列最小限度的編輯性改動：圍GBT要求，規(guī)范了范圍的表述，將原文范圍一章中的背景D。將原ISO標(biāo)準(zhǔn)范圍中表述的“定量分析是指用質(zhì)量分?jǐn)?shù)(百分?jǐn)?shù))表示元素將原ISO標(biāo)準(zhǔn)范圍中表述的“目前沒有公認(rèn)的輕元素的準(zhǔn)確能譜儀(EDS)5a)測量峰面積并對比峰強度。如D.2~D.9中所述的原因，這種方法對輕c語文中3.1吸收校正absorptioncorrection，3.7軔致輻射bremsstrahlung，參考物質(zhì)certifiedreferencematerial;CRM，3.35X射線吸收Xrayabsorption語在正文中只出現(xiàn)了一次；3.4原子序數(shù)校正atomic校正fluorescencecorrection，3.17入射電子束能量incidentbeamenergyEDS定量分析quantitativeEDS，3.32溯源性少為25個術(shù)語，相應(yīng)調(diào)整了術(shù)語編號(見第3章)。T——更改了規(guī)范性引用文件(見第2章)；——增加了硅漂移探測器(SDDs)的內(nèi)容(見6.2)；——更改了部分參考文獻(xiàn)(見參考文獻(xiàn))。T三、主要試驗或驗證結(jié)果6等同采用ISO22309:2011Microbeamanalysis—Quantitativeanalysisusingenergy-dispersivespectrometry(EDS)forelementswithana