高效技術(shù)路線之下 如何評估光伏組件LeTID風(fēng)險

———高效技術(shù)路線之下如何評估光伏組件LeTID風(fēng)險？光致衰減

(LightInducedDegradation)的討論已經(jīng)被大家所熟知。由于硅片中硼氧對復(fù)合、硼鐵的分別，導(dǎo)致光伏組件運行的最初時間內(nèi)，可能會發(fā)生超過3%的功率衰減，依據(jù)IEC61215-2:2022的初始穩(wěn)定測試程序，可以評估此類現(xiàn)象。光注入、改進退火工藝等抗LID方案也投入了產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。

熱幫助光致衰減

(LightandElevatedTemperatureInducedDegradation)相比LID有著更緩慢的衰減速率，且主要發(fā)生在50℃以上的環(huán)境中。目前LeTID發(fā)生氣理不夠明確，可能與氫離子、金屬雜質(zhì)有關(guān)。

鈍化放射極背表面接觸太陽電池技術(shù)（PERC/PERT/PERL）市場份額于2022年達到50%，并會在將來十年內(nèi)持續(xù)主導(dǎo)光伏市場。然而，這類太陽電池極易受到LID與LeTID的影響而導(dǎo)致實際輸出功率衰減。

資料來源：ITRPV

測試標(biāo)準(zhǔn)

LeTID測試面臨的困難

a.較低的施加電流或者測試溫度可能會導(dǎo)致LeTID發(fā)生速率過低，短周期測試無法探測衰減結(jié)果。

b.較高的施加電流或者測試溫度可能導(dǎo)致過快的功率恢復(fù)，會抵消LeTID的衰減，使測試衰減被低估。

TüV北德推出P12.4-AA-06LeTID測試程序

a.初始穩(wěn)定性測試后，測試組件初始功率Pinitial。

b.將組件連接到電流源，放入到環(huán)境箱中，加熱組件到75°C后，然后施加Isc和Impp差值的電流，維持162h(+8/-0h)。

c.待組件冷卻至25°C后，測試功率。

d.重復(fù)b,c直到

-連續(xù)兩輪環(huán)境箱后測試功率衰減小于1%

-或者最終一輪測量的功率比上一輪后的功率上升

e.每塊進行以下公式的判定：

Pfinal≥0.95xPinitialx(1???)

在考慮可重復(fù)性的前提下，假如不滿意該公式，則測試樣品被認定為LeTID敏感性組件。

數(shù)據(jù)共享

從TüV北德相關(guān)LeTID測試結(jié)果看，N型Topcon與PERT組件表現(xiàn)最好。另外同一廠家的測試衰減比較接近，可能是其相同的質(zhì)量管理體系下，電池的缺陷掌握水平較為全都。

TüV北德LeTID認證測試服務(wù)

當(dāng)光伏組件經(jīng)過TüV北德的專業(yè)測試，結(jié)果判定為LeTID不敏感類型的，將獲得TüV北德頒發(fā)的LeTID證書。

光致衰減

(LightInducedDegradation)的討論已經(jīng)被大家所熟知。由于硅片中硼氧對復(fù)合、硼鐵的分別，導(dǎo)致光伏組件運行的最初時間內(nèi)，可能會發(fā)生超過3%的功率衰減，依據(jù)IEC61215-2:2022的初始穩(wěn)定測試程序，可以評估此類現(xiàn)象。光注入、改進退火工藝等抗LID方案也投入了產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。

熱幫助光致衰減

(LightandElevatedTemperatureInducedDegradation)相比LID有著更緩慢的衰減速率，且主要發(fā)生在50℃以上的環(huán)境中。目前LeTID發(fā)生氣理不夠明確，可能與氫離子、金屬雜質(zhì)有關(guān)。

鈍化放射極背表面接觸太陽電池技術(shù)（PERC/PERT/PERL）市場份額于2022年達到50%，并會在將來十年內(nèi)持續(xù)主導(dǎo)光伏市場。然而，這類太陽電池極易受到LID與LeTID的影響而導(dǎo)致實際輸出功率衰減。

資料來源：ITRPV

測試標(biāo)準(zhǔn)

LeTID測試面臨的困難

a.較低的施加電流或者測試溫度可能會導(dǎo)致LeTID發(fā)生速率過低，短周期測試無法探測衰減結(jié)果。

b.較高的施加電流或者測試溫度可能導(dǎo)致過快的功率恢復(fù)，會抵消LeTID的衰減，使測試衰減被低估。

TüV北德推出P12.4-AA-06LeTID測試程序

a.初始穩(wěn)定性測試后，測試組件初始功率Pinitial。

b.將組件連接到電流源，放入到環(huán)境箱中，加熱組件到75°C后，然后施加Isc和Impp差值的電流，維持162h(+8/-0h)。

c.待組件冷卻至25°C后，測試功率。

d.重復(fù)b,c直到

-連續(xù)兩輪環(huán)境箱后測試功率衰減小于1%

-或者最終一輪測量的功率比上一輪后的功率上升

e.每塊進行以下公式的判定：

Pfinal≥0.95xPinitialx(1???)

在考慮可重復(fù)性的前提下，假如不滿意該公式，則測試樣品被認定為LeTID敏感性組件。

數(shù)據(jù)共享

從TüV北德相關(guān)LeTID測試結(jié)果看，N型Topcon與PERT組件表現(xiàn)最好。另外同一廠家的測試衰減比較接近，可能是其相同的質(zhì)量管理體系下，