JJF 1092-2002光切顯微鏡校準規(guī)范

中華人民共和國國家計量技術規(guī)范

JJF1092—2002

光切顯微鏡校準規(guī)范

CalibrationSpecificationforLight-SectionMicroscopes

2002-11-04發(fā)布2003-05-04實施

國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

JJF1092—2002

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光切顯微鏡校準規(guī)范??????????????

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CalibrationSecificationfor代替JJG76—1980?

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Light-SectionMicroscopes

本校準規(guī)范經國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局于年月日批準

2002114,

并自年月日起施行

200354。

歸口單位:全國幾何量工程參量計量技術委員會

主要起草單位:廣西計量測試研究所

陜西省計量測試研究所

上海光學儀器研究所

本規(guī)范委托歸口單位負責解釋

JJF1092—2002

本規(guī)范主要起草人:

全貽智廣西計量測試研究所

()

張磊陜西省計量測試研究所

()

張興德上海光學儀器研究所

()

JJF1092—2002

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻………………

2(1)

概述……………………

3(1)

計量特性………………

4(1)

測微目鏡視場及示值誤差…………

4.1(1)

狹縫像兩邊緣的直線度和平行度…………………

4.2(2)

工作臺縱橫向導軌移動平面對工作臺表面的平行度……………

4.3(2)

狹縫像在垂直方向的彎曲度………

4.4(2)

托架受側向力時引起物方像的位移…………

4.520N(2)

儀器示值誤差………………………

4.6(2)

校準條件………………

5(3)

環(huán)境條件……………

5.1(3)

測量標準器及其他設備……………

5.2(3)

校準項目和校準方法…………………

6(3)

測微目鏡視場及示值誤差…………

6.1(3)

狹縫像兩邊緣的直線度和平行度…………………

6.2(4)

工作臺縱橫向導軌移動平面對工作臺表面的平行度……………

6.3(4)

狹縫像在垂直方向上的彎曲度……………………

6.4(4)

托架受側向力時引起物方像的位移…………

6.520N(4)

儀器示值誤差………………………

6.6(4)

校準結果的表達………………………

7(6)

復校時間間隔…………

8(6)

附錄儀器示值誤差校準結果的測量不確定度評定………………

A(7)

附錄校準證書內容……………………

B(9)

JJF1092—2002

光切顯微鏡校準規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于光切顯微鏡的校準

。

2引用文獻

本規(guī)范引用下列文獻

:

通用計量術語及定義

JJF1001—1998

測量不確定度評定與表示

JJF1059—1999

表面粗糙度參數及其數值

GB/T1031—1995

使用本規(guī)范時應注意使用上述引用文獻的現行有效版本

,。

3概述

光切顯微鏡外形結構如圖所示它以光切法測量原理圖測量表面粗糙度的

1,(2)

輪廓峰高和谷深其測量范圍

,(1.0~80)μm。

圖

1

4計量特性

測微目鏡視場及示值誤差

4.1

測微目鏡鼓輪指示零位時測微目鏡分劃板的毫米刻線應套在雙刻線指標內