GB/Z 18859-2002封閉式低壓成套開關設備和控制設備在內(nèi)部故障引起電弧情況下的試驗導則

ICS29.130.20K36中華人民共和國國家標準化指導性技術文件GB/Z18859—2002idtIEC/TR361641:1996封閉式低壓成套開關設備和控制設備在內(nèi)部故障引起電孤情況下的試驗導則Enclosedlow-voltageswitchgearandcontrolgearassemblies-Guidefortestingunderconditionsofarcingduetointernalfault2002-10-08發(fā)布2003-04-01實施華中和八發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

中華人民共和國國家標準化指導性技術文件封閉式低壓成套開關設備和控制設備在在內(nèi)部故障引起電弧情況下的的試驗導則GB/Z18859-2002中中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵政編碼：100045電話：63787337、637874472003年4月第一版2004年11月電子版制作書號：155066·1-19345版權專有侵權必究舉報電話：（010)68533533

GB/Z18859—2002本指導性技術文件等同采用國際電工委員會IEC技術報告61641《封閉式低壓成套開關設備和控制設備在內(nèi)部故障引起電弧情況下的試驗導則》在技術內(nèi)容和編寫格式上均與IEC技術報告61641致。通過將IEC技術報告61641以等同的形式轉換為國家標準化指導性技術文件，使我國在對封閉式低壓開關設備內(nèi)部故障對人員造成傷害的評價有了試驗依據(jù).適應國際貿(mào)易、技術經(jīng)濟的需要。本指導性技術文件僅供參考。有關對本指導性技術文件的建議和意見，向國務院標準化行政主管部門反映。本指導性技術文件由中國電器工業(yè)協(xié)會提出本指導性技術文件由電氣傳動成套控制設備標準化技術委員會歸口。本指導性技術文件負責起草單位：電氣傳動成套控制設備標準化技術委員會本指導性技術文件主要起草單位：天津電氣傳動設計研究所、北京電器研究所。本指導性技術文件參加單位：福州第一開關廠、湛江電力開關設備有限公司、上海埃通電氣股份有限公司、沈陽華利能源設備制造有限公司。本指導性技術文件主要起草人：韓寶善、歐惠安、羅重、牛云藍、徐東晟、李會文、顧雪芹、馬惠

GB/Z18859-2002IEC前言1)國際電工委員會（IEC)是一個由其所有成員國國家電工委員會組成的國際性標準化組織。IEC的目的是在電力電子領域內(nèi)，就所有標準化問題進行國際合作。為此目的,IEC出版了國際標準。標準的編制工作由技術委員會擔任：任何對所涉及的項目感興趣的IEC國家委員會均可參加編制工作。與IEC有協(xié)作關系的國際組織，政府和非政府組織也可參加標準的編制工作。IEC與國際標準化組織（ISO)按照雙方的協(xié)議進行密切合作。2）IEC關于技術問題的正式?jīng)Q定或協(xié)議盡可能地表達了所有對該問題感興趣的國家技術委員會的一致意見。3）IEC的標準、技術規(guī)范、技術報告和導則以推薦的形式供國際上使用和出版,在此意義上,它被各國家委員會所接受。4）為了促進國際上的統(tǒng)一.IEC國家委員會承擔將IEC國際標準最大程度地轉化為相應的國家標準和地方標準.IEC標準和相應的國家標準之間的任何不一致處應在其國家標準和地方標準中盡可能給予清楚的說明。5）IEC對任何宣布符合IEC某項標準的產(chǎn)品，不提供認可標志6）特別注意,在本國際標準中某些地方可能涉及到專利權，IEC將不負責對所有這些專利權給子確定。EC1641是第3種形式的技術報告，由IEC第17委員會：開關設備和控制設備第17D分委會：低壓成套開關設備和控制設備起草。該技術報告基于以下文件：委員會草案投票報告17D（SEC）14117D（SEC）158在上表所列的投票報告中，可獲得有關批準此技術報告時所進行表決的詳細資料該報告見1995年5月在華盛頓舉行的SC17D會議決議，該報告是第3種形式的提示性技術報告，不視為國際標準說明該報告的目的是對封閉式低壓成套開關設備和控制設備在內(nèi)部故障引起電弧情況下的試驗方法給予指導。這一試驗的唯一目的是評價成套設備限制由內(nèi)部故障造成人員傷害風險的能力。該試驗不是一種型式試驗或規(guī)定的試驗,它是由制造廠和用戶之間達成協(xié)議的特殊試驗以試驗報告形式給出試驗結果，不受試驗檢驗結果的解釋由制造廠和用戶達成協(xié)議

中華人民共和國國家標準化指導性技術文件封閉式低壓成套開關設備和控制設備在內(nèi)部故障引起電弧情況下GB/Z18859—2002的試驗導則idtIEC/TR361641:1996Enclosedlow-voltageswitchgearandcontrolgearassemblies-Guidefortestingunderconditionsofarcingduetointernalfault1總則封閉式低壓成套開關設備和控制設備(以下簡稱“成套設備”)內(nèi)產(chǎn)生電弧伴隨著各種物理現(xiàn)象·例如：在外殼內(nèi)正常氣壓下空氣中產(chǎn)生的電弧，其能量將引起內(nèi)部壓力升高和局部過熱，將造成成套設備的機械應力和熱應力·此外.涉及到的材料可能產(chǎn)生熱變產(chǎn)物,以氣體或蒸汽的形式釋放到殼體的外部。本指導性技術文件考慮內(nèi)部過壓力作用在盞板、門等上面，也考慮電弧或弧根作用到外殼上的熱效應和噴射出的熱氣體和流動粒子的熱效應，要求不應損壞內(nèi)部隔板。它不包括構成危險的所有熱效應如毒氣。試驗程序只模仿門和蓋板都關閉并處于正確的使用狀態(tài)。1.1范圍與目的本指導性技術文件適用于按GB7251.1—1997制造的封閉式低壓成套開關設備和控制設備.該試驗根據(jù)制造廠和用戶之間的協(xié)議而定。該試驗不作為型式試驗1.2引用標準下列標準所包含的條文，通過在本指導性技術文件中引用而構成為本標準的條文。本指導性技術文件出版時.所示版本均為有效。所有標準都會被修訂.使用本指導性技術文件的各方應探討使用下列標準最新版本的可能性。GB7251.1-1997低壓成套開關設備和控制設備第一部分：型式試驗和部分型式試驗成套設備（idtIEC60439-1:1992)2定義2電弧情況下允許預期電流permissibleprospectivecurrentunderarcingconditions由制造廠給出一個值，該值為進線單元端子上的預期短路電流最大允許值,它與相應的允許電弧持續(xù)時間一起(見2.2)來滿足該試驗規(guī)定的要求。該值是電流交流分量的方均根值。相應的功率因數(shù)和峰值在（B7251.1—1997的7.5.3中給出。2.2許電弧持續(xù)時間permissiblearcduration由制造廠給出一個最大允許電弧持續(xù)時間值，它與在電弧情況下相應的允許預期電流值一起（見2.