GB/T 6663.1-2007直熱式負溫度系數熱敏電阻器第1部分：總規(guī)范

ICS31.040.30L15中華人民共和國國家標準GB/T6663.1—2007/IEC60539-1:2002QC430000代替GB/T6663-1986直熱式負溫度系數熱敏電阻器第1部分:總規(guī)范Directlyheatednegativetemperaturecoefficientthermistors-Part1:Genericspecification(IEC60539-1:2002,IDT)2007-02-09發(fā)布2007-09-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

GB/T6663.1-2007/IEC60539-1：2002三前言1總則1.1范圍1.2規(guī)范性引用文件2技術數據2.1單位、符號和術語·2.2定義…2.3優(yōu)先值2.4標識質量評定程序……….3103.1總則……3.2初始制造階段·103.3結構相似元件103.4鑒定批準程序…….3.5質量一致性檢驗…3.6放行批試驗記錄證明………3.7延期交貨……………3.8鑒定批準下的B組試驗完成前交貨的放行3.9替代的試驗方法·3.10不檢查參數114試驗和測量程序……………….1111試驗的標準大氣條件·4.2114.3干燥和恢復·..............外觀檢查和尺寸檢查·4.4零功率電阻值………4.5B值或電阻比·4.6絕緣電阻（僅對絕緣型熱敏電阻器）4.7耐電壓(僅對絕緣型熱敏電阻器)4.84.9電阻/溫度特性4.10耗散系數(o)…環(huán)境溫度變化引起的熱時間常數(r.）4.11自熱后冷卻的熱時間常數（z.）4.124.13引出端強度（不適用于表面安裝熱敏電阻器SMT)耐焊接熱4.14······，可焊性4.154.16溫度快速變化4.17振動·…………··18

GB/T6663.1-2007/IEC60539-1：20024.18碰撞4.19沖擊·4.20）自由跌落(如詳細規(guī)范規(guī)定)4.21熱沖擊(如詳細規(guī)范規(guī)定)4.22氣候順序·….4.23寒冷(如分規(guī)范要求)204.24、干熱(如分規(guī)范要求)204.25穩(wěn)態(tài)濕熱4.26耐久性·…·204.27安裝（僅對表面安裝熱敏電阻器）234.28剪切力（附著力）試驗244.29基片折曲(彎曲)試驗244.30元件的耐溶劑性······244.31標志的耐溶劑性254.32鹽霧(如分規(guī)范要求)254.33密封(如分規(guī)范要求)附錄A(規(guī)范性附錄）IEC60410標準規(guī)定的抽樣方案和程序用在IEC電子元件質量評定體系的解釋（IECQ）·附錄B(規(guī)范性附錄)制電子設備用電容器和電阻器詳細規(guī)范的規(guī)則附錄C(資料性附錄)直熱式熱敏電阻器的測試安裝典型示例228

GB/T6663.1-2007/IEC60539-1:2002GB/T6663《直熱式負溫度系數熱敏電阻器》分為以下部分第第1部分：總規(guī)范：-第2部分：分規(guī)范表面安裝負溫度系數熱敏電阻器；本部分為GB/T6663的第1部分，等同采用IEC60539-1:2002(QC430000）《直熱式負溫度系數熱敏電阻器第1部分：總規(guī)范》英文版)。本部分是對GB/T6663—1986《直熱式負溫度系數熱敏電阻器總規(guī)范》的修訂.本部分與（B/T6663—1986的主要區(qū)別是補充了作為抑制浪涌電流元件和表面安裝元件使用時直熱式負溫度系數熱敏電阻器的有關術語定義、性能要求、測量方法、耐久性試驗方法和環(huán)境試驗嚴酷等級的內容;刪除了原標準中鑒定檢驗的固定樣本試驗一覽表和質量一致性檢驗評定水平表及相關內容，刪除的這些內容原本也不是IEC60539-1第一版IEC60539-1:1976的內容。本部分按GB/T1.1-2000作了編輯性修改。本部分的附錄A和附錄B為規(guī)范性的附錄，附錄C為資料性的附錄。本部分由中華人民共和國信息產業(yè)部提出。本部分由全國電子設備用阻容元件標準化技術委員會歸口本部分由中國電子技術標準化研究所(CESI)負責起草。本部分主要起草人：陳勤、向艷、妥萬祿。本部分所代替的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T6663—1986

GB/T6663.1-2007/IEC60539-1:2002直熱式負溫度系數熱敏電阻器第1部分：總規(guī)范T總則1.1范圍GB/T6663的本部分適用于直熱式負溫度系數熱敏電阻器,這類電阻器一般由金屬氧化物半導體材料制成。它規(guī)定了用于電子元件質量評定體系或其他目的分規(guī)范和詳細規(guī)范的標準術語、檢驗程序和試驗方法。1.2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T6663的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本部分.然而.鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。?。宏P于IEC60068號出版物.都將用所引用的版本。GB/T2423.4—1993電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法（eqvIEC60068-2-30:1985)GB/T2423.5—1995電工電子產品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ea和導則：沖擊（idtIEC60068-2-27：1987)第2部分GB/T2423.6—1995電工電子產品環(huán)境試驗試驗方法試驗Eb和導則：碰撞(idtIEC60068-2-29:1987)電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程GB/T2423.17-1993試驗Ka:鹽霧試驗方法（eqvIEC60068-2-11:1981GB/T2423.18—2000電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗試驗Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液)eqvIEC60068-2-52:1984）GB/T2691一1994電阻器和電容器的標志代碼(idtTEC60062:1992)GB/T5076—1985具有兩個軸向引出端的圓柱體元件的尺寸測量(idtIEC60294:1969)GB/T5078—1985單向引出電容器和電阻器所需空間測定方法(idtIEC6O717:1981)GB/T19405.1—2003表面安裝技術第1部分：表面安裝元器件規(guī)范的標準方法（idtIEC61760:1998）IEC60027（所有部分）電子技術用字母符號IEC60050（所有部分）國際電工詞匯基