GB/T 5095.2-1997電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第2部分：一般檢查、電連續(xù)性和接觸電阻測(cè)試、絕緣試驗(yàn)和電壓應(yīng)力試驗(yàn)

ICS31.220L23中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5095.2-1997idtIEC512-2:1985電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第2部分：一般檢查、電連續(xù)性和接觸電阻測(cè)試、絕緣試驗(yàn)和電壓應(yīng)力試驗(yàn)ElectromechanicalcomponentsforelectronicequipmentBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart2:Generalexamination,electricalcontinutyandcontactresistancetestsinsulationtestsandvoltagestresstests1997-12-26發(fā)布1998-10-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5095.2-1997前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC512-2：1985《電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第2部分：一般檢查、電連續(xù)性、接觸電阻測(cè)試、絕緣試驗(yàn)和電壓應(yīng)力試驗(yàn)》及共修改市1（1994年）是對(duì)GB5095.2-86進(jìn)行的第一次修訂，增加了試驗(yàn)1c:功能操作(開關(guān))。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電子設(shè)備用機(jī)電元件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口本標(biāo)準(zhǔn)由電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：余玉芳、汪其龍、張菊華、王玉堂。

GB/T5095.2-1997IEC前言1）IEC（國(guó)際電工委員會(huì))在技術(shù)問(wèn)題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對(duì)這些問(wèn)題特別關(guān)切的國(guó)家委員會(huì)參加的技術(shù)委員會(huì)制定的，對(duì)所涉及的間題盡可能地代表了國(guó)際上的一致意見。2）這些決議或協(xié)議以標(biāo)準(zhǔn)，技術(shù)報(bào)告或?qū)t的形式發(fā)布，以推薦的形式供國(guó)際上使用，并在此意義上，為各國(guó)家委員會(huì)認(rèn)可。3）為了促進(jìn)國(guó)際上的統(tǒng)一，各IEC國(guó)家委員會(huì)有責(zé)任使其國(guó)家和地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)盡可能采用IEC標(biāo)準(zhǔn)IC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國(guó)家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)之間的任何差異應(yīng)在國(guó)家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)中指明。IEC引言國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC512-2由IEC/TC48(電子設(shè)備用機(jī)電元件)制定的。本標(biāo)準(zhǔn)第二版取代了1976年出版的第一版IEC512-2及其修定1（1983年)和1980年出版的第次補(bǔ)充IEC512-2A.本標(biāo)準(zhǔn)與第1部分：總則(IEC512-1:1984)一同使用整套標(biāo)準(zhǔn)包括的其他試驗(yàn)項(xiàng)目在IEC512-1的附錄A中給出了總的計(jì)劃。這些試驗(yàn)項(xiàng)目在制定后就發(fā)布。本標(biāo)準(zhǔn)預(yù)定取代IEC130-1《頻率低于3MH2連接器號(hào)第1部分：一般要求和試驗(yàn)方法》中相應(yīng)的試驗(yàn)項(xiàng)目、本標(biāo)準(zhǔn)文本以下列文件為依據(jù)：六個(gè)月法表決報(bào)告二個(gè)月程府表決報(bào)告48（C0)13548(C0)169.169A48（C0150.150A48（C0)15648（C09548(C0)10948（C012948（C015448（C0)9648(C0)11548（C08848（C010648（C0)27848（C028548（C08948(CO)10748（C025248（CO26448（C0)9048(C0)10848（C0)9148(C0)11348(C0)13648(C0)15948（C0))23248（CO)236表決批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)資料可在上表列出的表決報(bào)告中查閱。本標(biāo)準(zhǔn)引用下列標(biāo)準(zhǔn)：IEC270:1981局部放電測(cè)量。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法第2部分：一般檢查、電連續(xù)GB/T5095.2-1997性和接觸電阻測(cè)試、絕緣idtiec512-2：1985試驗(yàn)和電壓應(yīng)力試驗(yàn)代替GB5095.2-86ElectromechanicalcomponentsforelectroniccquipmcntBasictestingproceduresandmeasuringmethodsPart2.Generalexamination.clcctricalcontinuityandcontactresistancetests.insulationtestsandvoltagestresstests第一篇一般檢查范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)方法，在IEC/TC48范圍內(nèi)·的電子設(shè)備用機(jī)電元件的詳細(xì)規(guī)范要求時(shí)，應(yīng)給以采用。類似元件的詳細(xì)規(guī)范要求時(shí)，也可以采用。1試驗(yàn)1a:外觀檢查1.1目的是確立詳細(xì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法，以檢查電子設(shè)備用機(jī)電元件的外觀。1.2總則外觀檢查就是檢查產(chǎn)品的標(biāo)志、外觀、加工質(zhì)量和鍍涂層是否符合有關(guān)規(guī)范。當(dāng)詳細(xì)規(guī)范有規(guī)定時(shí)可采用1.4中規(guī)定的光學(xué)輔助手段。外觀檢查在一定程度上是一種主觀方法，所以應(yīng)細(xì)心地進(jìn)行檢查，以達(dá)到公正的判斷。偏離標(biāo)準(zhǔn)的缺陷，或由于應(yīng)力引起的變化，應(yīng)按重要性或作用進(jìn)行細(xì)心地辨別。1.3需要檢查的外觀特征外觀特征的檢查項(xiàng)目如下：a）加工質(zhì)量及鎖涂層；b）標(biāo)志：TC48的范圍：制定用于通信設(shè)備和采用類似技術(shù)的電子裝置的具有機(jī)電連接和