GB/T 34831-2017納米技術(shù)貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像高角環(huán)形暗場(chǎng)法

ICS171800137020

;

N33...

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T34831—2017

納米技術(shù)貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像

高角環(huán)形暗場(chǎng)法

Nanotechnologies—Electronmicroscopyimagingofnoblemetalnanoparticles—

Highangleannulardarkfieldimagingmethod

2017-11-01發(fā)布2018-05-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T34831—2017

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

高角環(huán)形暗場(chǎng)成像原理

4…………………1

儀器和設(shè)備

5………………3

試劑

6………………………3

樣品制備

7…………………3

實(shí)驗(yàn)步驟

8…………………3

實(shí)驗(yàn)報(bào)告

9…………………3

附錄資料性附錄貴金屬納米顆粒高角環(huán)形暗場(chǎng)成像方法實(shí)例

A()…………………5

附錄資料性附錄貴金屬納米顆粒高角環(huán)形暗場(chǎng)成像的實(shí)驗(yàn)報(bào)告

B()………………8

參考文獻(xiàn)

………………………9

Ⅰ

GB/T34831—2017

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)科學(xué)院提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC279)。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位國(guó)家納米科學(xué)中心北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)

:、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人齊笑迎常懷秋朱曉陽(yáng)賀蒙高原

:、、、、。

Ⅲ

GB/T34831—2017

引言

貴金屬納米顆粒由于具有量子效應(yīng)小尺寸效應(yīng)及表面效應(yīng)呈現(xiàn)出許多特有的物理化學(xué)性質(zhì)在

、,、,

催化能源光學(xué)電子和生物等領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景由于貴金屬納米顆粒的尺寸團(tuán)聚情況顆

、、、。、、

粒均勻性等與其性能密切相關(guān)因此對(duì)其形貌特征的表征顯得尤為重要在實(shí)際應(yīng)用中貴金屬納米顆

,。,

粒通常與其載體形成復(fù)合體系普通的掃描電子顯微成像透射電子衍射襯度成像和高分辨相位襯度成

,、

像等技術(shù)無(wú)法有效地區(qū)分貴金屬顆粒和其載體高角環(huán)形暗場(chǎng)成像是一種在掃描透射模式下利用環(huán)

。,

形探測(cè)器收集高角度散射電子成像的方法所得圖像的襯度與元素的原子序數(shù)的平方近似成正比因此

,,

可以有效地區(qū)分出復(fù)合體系中的貴金屬顆粒并且具有原子級(jí)的分辨率非常適合于貴金屬納米顆粒的

,,

成像該方法對(duì)微米級(jí)顆粒的成像同樣適用

。。

目前高角環(huán)形暗場(chǎng)成像方法是一種成熟的表征方法在配備了掃描線圈和高角環(huán)形暗場(chǎng)探測(cè)器的

,,

透射電子顯微鏡或掃描電子顯微鏡上都可以實(shí)現(xiàn)由于其圖像襯度與原子序數(shù)密切相關(guān)在貴金屬納

。,

米顆粒的表征方面越來(lái)越多的人開(kāi)始使用這一技術(shù)來(lái)分析納米顆粒樣品該方法在貴金屬納米顆粒表

,,

征方面的有效性也逐漸得到認(rèn)可在科研和生產(chǎn)工作中發(fā)揮了重要作用

,。

Ⅳ

GB/T34831—2017

納米技術(shù)貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像

高角環(huán)形暗場(chǎng)法

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用電子顯微鏡高角環(huán)形暗場(chǎng)成像技術(shù)對(duì)貴金屬納米顆粒成像的方法

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于單一貴金屬納米顆粒和復(fù)合材料中貴金屬納米顆粒的成像

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

納米材料術(shù)語(yǔ)

GB/T19619

3術(shù)語(yǔ)和定義

界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T19619。

31

.

納米顆粒nanoparticle

三個(gè)維度的外部尺寸都在納米尺度的納米物體

。

注如果納米物體最長(zhǎng)軸和最短軸的長(zhǎng)度差別顯著大于時(shí)應(yīng)用納米棒和納米片來(lái)表示納米顆粒

:(3),。

定義

[GB/T32269—2015,4.1]

32

.

貴金屬noblemetal

金銀和鉑族金屬的統(tǒng)稱

、。

定義

[GB/T17684—2008,2.1]

33

.

掃描透射電子顯微術(shù)scanningtransmissionelectronmicroscopySTEM

;

通過(guò)探測(cè)器同步接收會(huì)聚電子束在樣品上產(chǎn)生的透射電子或散射電子進(jìn)行成像的一種分析技術(shù)

。

注一般用于場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡中有的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡也配有掃描透射模式也有專門(mén)的掃描透射電

:,,

子顯微鏡

。

34

.

高角環(huán)形暗場(chǎng)