GB/T 3352-2012人造石英晶體規(guī)范與使用指南

ICS31140

L21.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T3352—2012

代替

GB/T3352—1994,GB/T3353—1995,GB/T6628—1996

人造石英晶體

規(guī)范與使用指南

Syntheticquartzcrystal—

Specificationsandguidetotheuse

(IEC60758:2008,MOD)

2012-11-05發(fā)布2013-02-15實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

人造石英晶體

規(guī)范與使用指南

GB/T3352—2012

*

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行

北京市朝陽區(qū)和平里西街甲號

2(100013)

北京市西城區(qū)三里河北街號

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

/p>

年月第一版

20133

*

書號

:155066·1-46244

版權(quán)專有侵權(quán)必究

GB/T3352—2012

目次

前言…………………………

Ⅲ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

術(shù)語和定義………………

31

原生長人造石英晶體技術(shù)要求…………

44

標(biāo)準(zhǔn)值………………

4.14

要求和測量方法……………………

4.26

標(biāo)志…………………

4.311

人造石英晶體制材技術(shù)要求……………

511

標(biāo)準(zhǔn)值………………

5.111

要求和測量方法……………………

5.212

交貨條件……………

5.312

人造石英晶體及其制材的檢驗規(guī)則……………………

612

原生長人造石英晶體的檢驗規(guī)則…………………

6.112

人造石英晶體制材的檢驗規(guī)則……………………

6.214

人造石英晶體使用指南…………………

714

概述…………………

7.114

人造石英晶體的形狀和尺寸………………………

7.215

鑒定人造石英晶體質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)方法………………

7.315

檢驗人造石英晶體質(zhì)量的其他方法………………

7.416

α級別………………

7.517

僅定貨時用的可選級別包裹體腐蝕隧道含量……………

7.6:、、Al17

定貨…………………

7.718

附錄資料性附錄常用的包裹體抽樣程序…………

A()27

附錄資料性附錄包裹體密度計算舉例……………

B()29

附錄資料性附錄包裹體密度標(biāo)準(zhǔn)樣品選取示例…………………

C()30

附錄資料性附錄點式卡尺的說明…………………

D()31

附錄資料性附錄紅外吸收系數(shù)α值補償…………

E()32

附錄資料性附錄本標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)性差異及其原因……………

F()IEC60758:200835

參考文獻……………………

37

圖用Z切籽晶生長的人造石英晶體理想截面………

118

圖石英晶體的軸和面的名稱…………

219

圖AT切小菱面切X切Y切和Z切的晶片切割的典型示例……

3、、、20

Ⅰ

GB/T3352—2012

圖試驗樣品頻率溫度特性……………

4-21

圖石英晶體軸和面的名稱……………

521

圖用X軸向尺寸小的Z切籽晶生長的人造石英晶體………………

622

圖世紀(jì)年代初人造石英晶體的紅外吸收系數(shù)與Q值之間的關(guān)系示例……

7207023

圖人造石英晶體制材的外形和尺寸X軸Y軸和Z軸方向………

8(、)23

圖基準(zhǔn)面角度偏差……………………

924

圖相對于Z軸或Z軸尺寸的籽晶中心位置………

10′25

圖點式卡尺…………………………

D.131

圖數(shù)字式點式卡尺…………………

D.231

圖測量示意圖………………………

E.132

圖在αα和α三個波數(shù)下α測量與平均值的關(guān)系曲線………………

E.23500、35853410,34

表包裹體密度級別………………………

15

表紅外質(zhì)量級別…………………………

25

表腐蝕隧道密度級別……………………

36

表組逐批檢驗的試驗條件及要求………………

4A()13

表組逐批檢驗的試驗條件及要求………………

5B()13

表逐批檢驗的試驗條件及要求………………………

614

表α修正數(shù)據(jù)舉例………………

E.1358533

表α修正數(shù)據(jù)舉例………………

E.2350033

表α修正數(shù)據(jù)舉例………………

E.3341034

Ⅱ

GB/T3352—2012

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)代替人造石英晶體人造石英晶體使用指南和

GB/T3352—1994《》、GB/T3353—1995《》

人造石英晶體制材與和

GB/T6628—1996《》,GB/T3352—1994,GB/T3353—1995GB/T6628—

相比主要變化如下

1996,:

增加了條術(shù)語和定義

———17;

原包裹體密度等級級改為級重新規(guī)定級

———ⅠaⅠb,Ⅰa;

紅外質(zhì)量級別級三個波數(shù)的極限值均有微調(diào)

———Aa;

腐蝕隧道密度級別中刪除級增加了級和級

———5,1a1aa;

α值的測量方法由只規(guī)定一種方法改為二種方法可任選一種

———,;

增加了用標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)補償α值測量值的方法

———;

修改了和的抽樣方案

———GB/T3352—1994GB/T6628—1996;

附錄的內(nèi)容寫入標(biāo)準(zhǔn)正文附錄改為常用的包裹體抽樣程序

———GB/T3352—1994A,A《》;

增加了附錄附錄附錄附錄和附錄

———B、C、D、EF。

本標(biāo)準(zhǔn)使用重新起草法修改采用人造石英晶體規(guī)范與使用指南英文版

IEC60758:2008《》()。

本標(biāo)準(zhǔn)與相比存在技術(shù)性差異這些差異涉及的條款已通過在其外側(cè)頁邊空白位

IEC60758:2008,

置的垂直單線進行了標(biāo)示附錄中給出了相應(yīng)技術(shù)性差異及其原因的一覽表

(|)。F。

本標(biāo)準(zhǔn)還作了下列編輯性修改

:

壓力的值和單位換算為國際單位制的值和單位

———“Atm”“MPa”;

角度改為

———“35.25°”“35°15′”;

附錄中表第五行左側(cè)的改為

———EE.3“0.2148”“0.2194”。

本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國頻率控制與選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC182)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位北京石晶光電科技股份有限公司中國電子材料行業(yè)協(xié)會壓電晶體材料分會中

:、、

國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所爍光特晶科技有限公司

、。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人趙雄章章怡李曉英王曉剛經(jīng)和貞

:、、、、。

本標(biāo)準(zhǔn)代替了和

GB/T3352—1994,GB/T3353—1995GB/T6628—1996。

的歷次版本發(fā)布情況為

GB/T3352—1994:

GB3352—1982、GB/T3352—1994;

的歷次版本發(fā)布情況為

GB/T3353—1995:

GB3353—1983、GB/T3353—1995;

的歷次版本發(fā)布情況為

GB/T6628—1996:

GB6628—1986、GB/T6628—1996。

Ⅲ

GB/T3352—2012

人造石英晶體

規(guī)范與使用指南

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了頻率控制和選擇壓電元件用人造石英晶體原晶和制材的術(shù)語和定義技術(shù)要求測量

、、

方法檢驗規(guī)則及使用指南

、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于制造頻率控制和選擇壓電元件用人造石英晶體

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗概述和指南

GB/T2421.1—2008(IEC60068-1:1988,IDT)

計數(shù)抽樣檢驗程序第部分按接收質(zhì)量限檢索的逐批檢驗抽樣計劃

GB/T2828.11:(AQL)

(GB/T2828.1—2003,ISO2859-1:1999,IDT)

石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范第部分總規(guī)范

GB/T12273—19961:

(IEC1178-1:1993,IDT)

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